Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Индекс направленности

Это напряжение действует в деформированном теле и отнесено к площади сечения в его деформированном состоянии, а величина vy есть проекция на направление ej вектора напряжения, действующего на площадке с ортом v. Далее эта система обозначений сохранена и первый индекс у 0,7 обозначает ориентацию площадки, на которой определено напряжение, а второй индекс — направление, в котором вычислена проекция вектора напряжения. Так как деформации относительного удлинения считаем малыми в сравнении с единицей, то площадка АЛ, ограниченная контуром Г в ее недеформированном состоянии, с погрешностью порядка деформации в сравнении с единицей равновелика площадке ДА, ограниченной контуром Г, в который при деформировании переходит контур Г. Таким образом, с погрешностью е в сравнении с единицей вектор можно считать отнесенным к единице площади в недеформированном состоянии.  [c.108]


Для ячеек кубической симметрии индексы какой-нибудь плоскости имеют то же численное значение, что и индексы направления, перпендикулярного к этой плоскости.  [c.26]

Излом 10, 78 Изнашивание 104, 106 И 3 н ос ос той кость 105 Индексы направлений 16 Интерметаллиды 41 Ирвина параметр 93 Испытания динамические 98 статические 88  [c.521]

Считая материалы волокон и матрицы изотропными, опустим индекс направления х и преобразуем уравнение (7.5)  [c.80]

Кинематика планетарных передач. Передаточное отношение обозначают буквой с индексами, например. Нижние индексы — направление передачи движения,"верхний — неподвижное звено, относительно которого рассматривается движение.  [c.298]

Например, координаты ближайшего атома вдоль оси ох выразятся через 100. Этими цифрами принято обозначать индекс направления вдоль оси ох и параллельных ему направлений [100].  [c.9]

Индексы направлений вдоль осей оу и 02 и параллельных им направлений выразятся соответственно через [010] и [001], а направления вдоль диагоналей граней хог, хоу, уог и диагонали куба получат индексы соответственно [101], [110], [011] и [111] (см. рис. 1.2, а).  [c.9]

Рис. 1.7. Кристаллографические индексы направлений (а) и плоскостей (б) Рис. 1.7. <a href="/info/319181">Кристаллографические индексы направлений</a> (а) и плоскостей (б)
Индексы направлений - это три числа, заключенных в квадратные скобки и представляющих собой приведенные к целым значениям координаты любой точки направления после его параллельного переноса в начало координат. За единицы длины принимают параметры кристаллической решетки. Например, направление, совпадающее с пространственной диагональю куба, имеет индексы [111]. Если направление имеет отрицательные координаты, то над соответствующим индексом ставится знак минус.  [c.20]

Это отношение, выраженное в децибелах, называется индексом направленности Q = = 10 lgQ.  [c.64]

Индекс направленности — 20-кратный десятичный логарифм коэффициента направленности.  [c.112]

На предельный индекс тракта существенно влияет направленность микрофона, поэтому при звукоусилении выбирают микрофон с возможно большим Значением индекса направленности. Предельный индекс тракта зависит от частоты, поэтому он определяется для всего передаваемого диапазона частот и Во всем диапазоне он не должен превышать фактический индекс тракта.  [c.217]


Индекс направленности — коэффициент направленности, выраженный в децибелах,  [c.76]

Для ненаправленного микрофона Л м.о = Л диф и индекс направленности равен нулю. Это означает, что такой микрофон не подавляет шум по отношению к сигналу.  [c.76]

Приемник градиента давления даже при удаленном. расположении микрофона от исполнителя вносит дискриминацию в прием шума индекс направленности его  [c.83]

Меняя параметр д, можно получать различные характеристики направленности с соответствующим изменением индекса направленности и фронт/тыл (см. [1], с. 117—119). На рис. 5.6а приведены зависимости этих индексов от параметра д. А на рис. 5.66 изображены диаграммы направленности 1—окружность для приемника давления д=0) 2—кардиоида для комбинированного приемника с одинаковой чувствительностью 6  [c.86]

Расчет индекса направленности этой группы дает величину 8 дБ. Если применить кардиоид-ные микрофоны, то общий индекс направленности будет составлять 8+4,8=112,8 дБ.  [c.90]

Индексами направления т, п, р являются координаты любой точки на прямой, проходящей через начало координат параллельно заданному направлению. Индексы направлений в кристаллических решетках обозначают цифрами, заключенными в квадратные скобки. Например, на рис. 38, в в плоскости (111) направление аЬ обозначается  [c.91]

В произвольном направлении в кристаллах в общем случае могут распространяться три объемные волны ква-зипродольная (QL) и две квазипоперечные — быстрая (FS) и медленная (SS) со скоростью poa = M, где М — действующий адиабатический модуль упругости, зависящий от направления распространения и поляризации волны. В таблицах нижний индекс — направление распространения, верхний — поляризация (направление колебательного смещения). В кубических кристаллах действующий модуль для разных типов волн  [c.133]

Индексы направления. Для описания направления в кристалле выбирается прямая, проходящая через начало координат. Ее направление однозначно определяется индексами тпр] первого узла, через который она проходит (рис. 1.9, а). Поэтому индексы узла одновременно являются и индексами на-иравления. Индексы направления обозначаются так [тпр].  [c.14]

Индексы направлений. Для определения индексов направлений расположения рядов атомов в кристаллической решетке необходимо из семейства параллельных плоскостей выбрать направление плоскостей, проходящих через начало координат. Далее, приняв за единицу длину ребра элементарной ячейки (или период решетки), определяют координаты любой точки этого направления. Полученные значения координат точки приводят к отношению трех наименьших чисел. Эти числа, заключенные в квадратные скобки luvw], являются индексами данного направления и всех параллельных ему направлений, Основные направления в кубической решетке приведены на рис, 8, г. Индексы осей решетки х— [100], у [010] иг— [001]. Индексы пространственной диагонали [111]. Для кубической решетки индексы направлений [uvw, перпендикулярных к плоскости (hkl), численно равны индексам этой плоскости. Например, индексы оси X равны [100], а индексы плоскости, перпендикулярной к оси х, равлы (100).  [c.16]

Наиболее удобный способ единообразного описания пространственного расположения кристаллографических плоскостей и направлений заключается в приписывании им определенных индексов индицирова-нии). Кристаллографическое направление характеризуется индексами вектора, выходящего из начала принятой в кристаллической решетке системы координат, т.е. тремя целыми, взаимно простыми числами и, v и W, пропорциональными координатам любого узла кристаллической решетки, лежащего на этом направлении. Индексы направления записывают в одинарных квадратных скобках [uvw] и называют символом направления.  [c.30]

Кристаллографические индексы направлений (и плоскостей) определяют положение в пространстве кристалла семейства параллельных прямых (и плоскостей), проходящих через узлы ПР. Основной характеристикой кристаллографического направления является период идентичности (/и,с,ш) — расстояние между соседними узлами основная характеристика кристаллографической плоскости (точнее, семейства плоскостей) — межплоскостное расстояние (дькс).  [c.102]


Miller indi es — Индексы Миллера. Система для идентификации плоскостей и направлений в любой кристаллической системе посредством наборов целых чисел. Индексы плоскости относятся к отрезкам, отсекаемым на координатной оси плоскостью с осями элементарной ячейки индексы направления, — к множественным параметрам решетки, которые представляют собой координаты точки в линии, параллельной к направлению и проходящей через начало произвольно выбранной элементарной ячейки.  [c.1002]

Вычислим предельный индекс тракта по диффузному полю, так как для распределенной системы предельный индекс тракта по прямому звуку очень мал. Подставляя значения индекса направленности для микрофона ДЭМШ и акустического отношения, находим искомые индексь тракта. Для частоты 500 Гц Скр=  [c.283]

Коэффициент направленности вычисляют по формуле Йм = ос/ диф, где Еос и диф — чувствительности по свободному и диффузному полю, мВ/Па. Индекс направленности вычисляют по формуле = 101gQJ или по / , где R — отношение чувствительности под углом к осевой чувствительности.  [c.291]

Если микрофон приближать ко рту исполнителя, то на низких частотах вследствие разности амплитуд фронтальной и тыльной волн дискриминация шума будет повышаться, так как чувствительность микрофона к шумам остается прежней, а чувствительность к сигналу, исходяихему от исполнителя, увеличивается [см. (5.16)] в /г=1/со8 [). Например, при расстоянии от рта исполнителя, равном 2 см, на частоте 100 Гц коэффициент к = = 27, т. е. дискриминация шума будет равна 20 g27 = 28,6 дБ. С учетом индекса направленности подавление шума будет Рм = 28,6+4,8 = 33,4 дБ. Если к тому же учесть, что при приближении к исполнителю уровень сигнала повышается (при уменьшении расстояния с 0,5 м до 2 см он увеличивается на 201 (50/2) =28 дБ), то общая дискриминация шума будет составлять 33,4+ +28>60 дБ. Такие приемники звука называют шумозащищенными. На более высоких частотах дискриминация шума будет значительно меньше, так как поправка Аг/г уже не влияет на чувствительность. Вследствие этого шумозащищенность снижается до 30 дБ. При дальнейшем повышении частоты она несколько растет, так как размеры микрофона становятся соизмеримыми с длиной волны, и поэтому звуковые волны плохо огибают микрофон.  [c.84]

Наибольший индекс фронт/тыл получается при суперкардиоиде Рф/т=11,6 дБ. Наибольший индекс направленности получается при геперкардиоиде Qм= = 6 дБ. Наибольший перепад чувствительностей получается для кардиоиды ). Для приемника градиента давления индекс направленности равен 4,8 дБ, а индекс  [c.87]

Из сказанного следует, что групповые приемники звука имеют более высокий индекс направленности, чем одиноч1ные приемники. Увеличение индекса направленности определяется индексом направленности группы (5.19), т. е. ее длиной.  [c.90]

Это озиачает, что одинаковый индекс направленности получится, если длина линейной, пр1уппы приемника и расстояние между отверстиями самой длинной и самой короткой трубок Dtp в трубчатом приемнике будут находитЫся. в соопношемии  [c.91]

Для работы в условиях акустических шумов повышенного уровня (60—70 дБ) и для уменьшения обратной акустической связи применяют комбинацию двух микрофонов с характеристиками направленности карди-оидного типа. Например, расположенные один за другим микрофоны типа МД-44 создают бикардиоидный микрофон МДО-1. Его характеристика направленности определяется ф-лой i ( 0) =0,25(1+ со8 0)2. У такого микрофона острая направленность и соответственно повышенный индекс направленности фронт/тыл (до 15— 18 дБ). Из-за относительно большого расстояния между капсюлями не удается получить равномерную передачу в широком частотном диапазоне. Например, в диапазоне 150—8000 Гц неравномерность составляет 12 дБ. Частотная характеристика имеет спад в сторону низких частот, обусловленный тем, что акустическая характеристика пропорциональна квадрату частоты в диапазоне до 1000 Гц. Поэтому этот микрофон непригоден для музыкальных передач. Для передачи речи его характеристика близка к оптимальной, поэтому его используют только для ее звукоусиления 1) в условиях акустических шумов повышенного уровня.  [c.97]

Измерение характеристик микрофона Б реверберационной камере. В этой камере измеряют только индексы направленности микрофона. Размещая измерительный микрофон в зоне чисто диффузного поля, поблизости от испытуемого микрофона, измеряют развиваемое м напряжение. Отношение осевой чув ствителыности микрофона, измеренной в заглушенной камере, к чувствительности, измеренной в реверберационной, дает диффузный индекс направленности (5.7)  [c.255]

Из кристаллографии известно, что индексы направления и нер-пендякулярной к нему плоскости одинаковы. Тогда пл0(ск0сть (hkl) перпендикулярна [hkl], лежащему в (uvw) и, следовательно, этой плоскости. Косинус угла ф между перпендикулярными плоскостями равен О, а числитель выражения для os ф в кубических рещетках и есть сумма произведений индексов плоскостей, расположенных под углом ф друг к другу. Отсюда os [c.49]

ДЛЯ всех плоскостей кубической систелгы и ряда плоскостей тетрагональной системы индексы направления совпадают с нормалями к плоскостям с теми же индексами. Это несправедливо, однако, для других систем [Л. 4]. На рис. 7-4 приведены прихмеры  [c.141]


Смотреть страницы где упоминается термин Индекс направленности : [c.17]    [c.26]    [c.576]    [c.140]    [c.13]    [c.103]    [c.121]    [c.4]    [c.217]    [c.283]    [c.76]    [c.230]    [c.268]    [c.7]    [c.190]    [c.140]   
Электроакустика (1978) -- [ c.76 ]



ПОИСК



Индекс

Индекс направленности предельный

Индекс направленности рациональный

Индекс направленности фактический

Индексы кристаллографические направления

Индексы направлений

Индексы направлений

Коэффициент концентрации и индекс направленности

Кристаллографические индексы плоскостей и направлений

Кристаллография индексы плоскостей направлений

Определение обратной решетки 96 Обратная решетка как решетка Брав 97 Решетка, обратная к обратной 97 Важные примеры 98 Объем элементарной ячейки обратной решетки 98 Первая зона Бриллюэна 99 Атомные плоскости Индексы Миллера атомных плоскостей Некоторые правила обозначения направлений Задачи Определение кристаллических структур с помощью дифракции рентгеновских лучей

Решетка кристаллическая индексы направлений



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте