Кристаллография индексы плоскостей направлений

Кристаллографические плоскости. Направления кристаллографических плоскостей рт.носительно выбранных осей координат определяются особыми индексами. В кристаллографии эти индексы, , [c.17]

При выборе кристаллографических осей необходимо придерживаться правил (см. табл. 1.1), принятых в кристаллографии и обязательных для всех исследователей. Выполнение этих правил сводит к минимуму возможный в этом случае произвол. Следует всегда помнить, что от расположения осей координат зависят кристаллографические индексы, определяющие положение узловых плоскостей и направлений в кристалле. [c.16]

Понятие об индексах и обозначении посредством их гео.метрически.х форм кристалла дает гео.метрическая кристаллография. Замети.м только, что индексы получаются из параметров и что параметры представляют целые числа, указывающие отношение отрезков осей кристалла, отсекаемых взятой плоскостью на воображаемой координатной системе. Например, для куба три указанные направления его плоскостей будут иметь следующие индексы (фиг. 15, а, 6, в). [c.18]

Индексы кристаллических решеток, В кристаллографии принято характеризовать плоскости и направления так называемыми индексами Миллера. Индексация в удобной форме определяет различные положения плоскостей и направлений в кристаллической решетке. Используемая индексация основана на том, что все параллельные плоскости в кристаллической решетке, построенные идентично, должны иметь одинаковые индексы. [c.117]

Из кристаллографии известно, что индексы направления и нер-пендякулярной к нему плоскости одинаковы. Тогда пл0(ск0сть (hkl) перпендикулярна [hkl], лежащему в (uvw) и, следовательно, этой плоскости. Косинус угла ф между перпендикулярными плоскостями равен О, а числитель выражения для os ф в кубических рещетках и есть сумма произведений индексов плоскостей, расположенных под углом ф друг к другу. Отсюда os [c.49]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...