Пятно фокусировки излучения

Пиковые плотности мощности в пятне фокусировки излучения при работе с телескопическим HP достигают значений 10 -Вт/см2, что на 2-3 порядка больше, чем при работе с плоским резонатором. Однако в плоскости фокусировки наблюдаются колебания пятен, особенно от пучка с дифракционной расходимостью, а на осциллограмме пички импульсов излучения этих пучков размыты, т. е. имеет место нестабильность положения оси диаграммы направленности и импульсной энергии. При увеличениях резонатора порядка 10 смещение пятна дифракционного пучка может быть соизмеримо с его расходимостью, а нестабильность импульсной энергии достигать значений 10-15%. Эта нестабильность обусловлена высокой чувствительностью HP к внешним механическим и акустическим воздействиям, к воздушным и тепловым потокам, к пыли, а также, возможно, нестабильностью и неоднородностью горения разряда и др. [c.119]

Пятно фокусировки излучения 234 [c.306]

Высокая концентрация энергии в пятне нагрева благодаря острой фокусировке излучения. [c.126]

ППС НА МЕТАЛЛИЗИРОВАННЫХ ЛАВСАНОВЫХ ПЛЕНКАХ ЗА ПРЕДЕЛАМИ ПЯТНА ФОКУСИРОВКИ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ ПРИ ОБРАБОТКЕ СО СКАНИРОВАНИЕМ В ПРОН,ЕССЕ ПРЯМОЙ ЛАЗЕРНОЙ ГРАВИРОВКИ ОФСЕТНЫХ ПЕЧАТНЫХ ФОРМ [c.95]

Особенно велико световое давление в месте фокусировки излучения мощных лазеров. С помощью высококачественной оптики лазерное излучение можно сфокусировать в пятно [c.183]

Основными параметрами режимов лазерной обработки являются мощность излучения, диаметр пятна фокусировки, скорость перемещения обрабатываемого материала относительно луча. [c.245]

Лазеры на центрах окраски имеют следующие параметры. Типичная пороговая мощность накачки составляет порядка нескольких десятков милливатт (при фокусировке излучения накачки в кристалле в пятно диаметром 20 мкм). Получена непрерывная генерация мощностью 1 Вт при дифференциальном КПД до 7 % для / л-центров и до 60 % Для центров окраски. То, что дифференциальные КПД этих двух типов лазеров различаются почти на порядок, нуждается в пояснении. Такое различие [c.427]

Создание лазеров — источников когерентного света, основанных на использовании вынужденного излучения в атомных системах,— оказало большое влияние на развитие различных областей науки и техники. Замечательные свойства лазерного излучения, к которым относятся высокие плотности энергии и мощности излучения, исключительно высокая направленность, возможность фокусировки излучения в пятно малого размера, широкий диапазон регулирования временных и энергетических параметров, превратили лазерный луч в уникальный по своим возможностям и надежный инструмент для выполнения различных технологических операций и научных исследований. [c.3]

ЛПМ обладает уникальным сочетанием выходных параметров высокой частотой повторения импульсов (ЧПИ) излучения (5-30 кГц) и относительно высокой средней мощностью (1-750 Вт) при КПД 0,5-2% на относительно коротких волнах (510,6 и 578,2 нм). ЛПМ отличает короткая длительность импульсов излучения (10-50 не) и большие усиления активной среды (10 -10 Дб/м), относительно низкая энергия в импульсе (0,1-100 мДж) и, наоборот, высокая пиковая мощность (10-1000 кВт), расходимость близкая к дифракционной и дифракционная. При этих расходимостях в пятне фокусировки достигаются высокие плотности пиковой мощности — до 10 -10 Вт/см . [c.5]

По данным, приведенным в таблице, построены зависимости расходимости излучения от увеличения М для числа проходов п = 1, 2 и 3 (рис. 4.7), что соответствует трем резонаторным пучкам (3, 4 и 5 на рис. 4.6). Значения расходимости, измеренные методом фокального пятна, практически совпадают с расчетными данными. Из хода кривых следует, что для формирования пучка дифракционного качества требуется как минимум два двойных прохода при М 60. При М = 100 расходимости пучков (см. таблицу) различаются в три раза, при М = = 200 — в два раза, при М = 300 — в 1,5 раза. Поэтому измерение мощности малорасходящихся пучков методом диафрагмирования неэффективно, к тому же имеют место колебания их пятен в плоскости фокусировки. Единственный способ, позволяющий оценить мощности этих пучков, заключается в расчетах площади пучков по распределению их интенсивности в плоскости фокусировки излучения, т. е. в дальней зоне (см. рис. 4.6, б при М 60). Определяется площадь распределения интенсивности для каждого отдельного пучка (S s и 54) и общая площадь ( з + 4) и рассчитывается мощность излучения в пучках согласно следующим выражениям [c.120]

Тогда для определения плотности мощности излучения в пятне фокусировки имеем следующую формулу [c.126]

Применение ЛПМ для прецизионной (микро)обработки материалов определяется параметрами его излучения короткой длиной волны (0,51 и 0,58 мкм), малой длительностью импульсов (10-50 не), высокой частотой (5-30 кГц), малой энергией в импульсе (0,1-100 мДж) и высокой интенсивностью в пятне фокусировки (10 -10 Вт/см ). Таким сочетанием параметров не обладает ни один из известных коммерческих лазеров. Потенциальные возможности использования излучения ЛПМ для прецизионной обработки достаточно хорошо представлены в книге [10]. Для сварки ЛПМ непригоден из-за малой длительности и энергии импульсов излучения [231. [c.234]

В работах [248, 249] проведены вычисления для алюминиевой и стальной мишеней в случае одноимпульсного воздействия при плотности пиковой мощности излучения в пятне фокусировки 10 Вт/см на Л = 0,51 мкм. Средняя мощность излучения ЛПМ при этом составляла 45 Вт на ЧПИ 4,5 кГц, длительность импульсов — 70 не, диаметр пятна — 50 мкм. Расчетная максимальная температура поверхности при этих параметрах равна 12000°С после 5 не облучения, затем, по истечении 30 не, падает до 6500 °С. К этому моменту удаляется слой стали толщиной 0,5 мкм при прогреве мишени на глубину до 2 мкм. После этого, через 3 мкс, удаляется слой толщиной 1,1 мкм, а глубина зоны расплава составляет 8 мкм при температуре поверхности 3000°С. Данные расчеты показали, что через 8 не после начала облучения в течение следующих 4 не нагрев поверхности непосредственно лазерным излучением снижается до уровня 5% в результате образования плазмы. В целом в течение одного импульса 15% лазерной энергии достигает дна мишени напрямую , в 85% передается на поверхность плазменными электронами. [c.237]

Плотность пиковой мощности излучения в пятне фокусировки, Вт/см с телескопическим HP (М = 180) с одним выпуклым зеркалом, Rs — 3 (или 5) см (0,57-2,6) 10 2 1,4 (или 5 10 ) [c.248]

Плотность пиковой мощности излучения в пятне фокусировки, Вт/см 10 -10 [c.260]

Важной практической характеристикой АЛТУ является расходимость выходного пучка излучения, которая при выбранном фокусирующем объективе определяет минимальный диаметр пятна фокусировки и его интенсивность и соответственно эффективность обработки материала. [c.263]

В табл. 39 приведены режимы и результаты резки различных металлических материалов излучением непрерывного СОг-лазера (диаметр пятна фокусировки d = 0,2 мм), в табл. 40 -нержавеющей стали излучением непрерывного ИАГ-лазера. [c.578]

При исследовании был применен метод послойного анализа на вре-мя-пролетном лазерном масс-спектрометре. Анализ проводился при плотности мощности лазерного излучения 6 = 2-105 Вт/м и пятне фокусировки площадью 0,1 мм по однозарядным ионам с энергией около 300 эВ. Средняя [c.268]

Значительное влияние на геометрию отверстия, а также на характер разрушения материала оказывают условия фокусировки излучения. В сходящемся световом пучке характерным является конический профиль отверстия, а в расходящемся - цилиндрический. За счет неравномерности распределения излучения по сечению светового пятна и во времени в течение импульса, а также вследствие теплопроводности и гидродинамических явлений, профиль отверстия, задаваемый ходом лучей, искажается. В частности, появляется характерная воронка на входе и плавный переход от дна к стенкам, а при больших расфокусировках профиль отверстия становится параболическим. [c.305]

Условия быстрого нагрева малой массы области первоначального инициирования предъявляют весьма жесткие требования к параметрам зажигающего драйвера. Такой драйвер должен обеспечивать плотность потока доставляемой на мишень энергии не менее 10 -10 Вт-см в пятне фокусировки с радиусом в несколько десятков микрон при длительности импульса в несколько десятков пикосекунд (и все это при энергии несколько десятков кДж). С точки зрения современного прогресса в области концентрации энергии импульсных источников энергии наиболее перспективными представляются варианты зажигающих драйверов, основанные на использовании мощных коротких импульсов излучения твердотельного лазера. В настоящее время достиг- [c.49]

Особые свойства лазерного излучения — высокая спектральная чистота и пространственная когерентность — позволяют, сильно увеличивая давление света, найти ему разные применения. Это стало возможным благодаря фокусировке лазерного луча в пятно с радиусом, равным одной длине волны. Оказалось, что силы давления, вызываемые сфокусированным лазерным светом, достаточно велики для перемещения маленьких частиц в различных средах. Используя сфокусированный лазерный пучок, удается сообщить как крошечным микроскопическим частицам, так и отдельным атомам и молекулам ускорения, в миллионы раз превосходящие ускорение свободного падения. Подобное увеличение давления света в луче лазера может найти весьма широкие применения в разных областях науки и практики. Так, например, используя такое высокое давление, в принципе возможно производить разделение изотопов, разделение частиц в жидкости, ускорение до больших скоростей электрически нейтральных частиц, проведение анализа атомных пучков и т. д. [c.353]

Влияние степени фокусировки на геометрические параметры наплавляемых валиков неоднозначно. С уменьшением степени фокусировки при постоянной мощности снижается плотность мощности излучения, что приводит к уменьшению количества расплавленного порошка и высоты расплавленного валика. Ширина же валика первоначально возрастает за счет увеличения размеров пятна излучения, а затем уменьшается. [c.314]

В процессе прямой лазерной гравировки офсетных печатных форм на лазерных гравировальных автоматах разработки АО НИИПолигрифмавд используются лаисановые пленки с вакуумными покрытиями на основе Ti, TiN, нержавеющей стали и др. производства ТОО Растр-технология с характерными толщинами покрытия в пределах 0,1—0,3 мкм. Специфика технологического процесса требует высокой скорости движения плепки по отношению к пятну фокусировки излучения (до 10—12 м/с) при малых размерах самого пятна. В отличие от микроэлектронных применений мощности лазерного иа- [c.95]

Предлагается качественнш модель формирования ППС ближ-ней зоны . Лазерное излучение испаряет материал покрытия, формируя факел паров, распространяющийся в ближайшей окрестности пятна фокусировки со сверхзвуковой скоростью. 1 1а фронте ударной волны реализуются условия для плазмообразования в поле лозерного [c.96]

Для получения таких интенсивностей необходимо располагать лазерными система1Ш, генерирующими излучение мощностью РЕ 1 ТВт (10 Вт). Фокусировка излучения в пятно площадью о ж Ю см , вполне реальная в видимом и ближнем ИК-диапазоне, приводит в этом случае к / = ТЕ/о ж Ю Вт/см . [c.294]

На рис. 4.11 приведены экспериментальные зависимости средней мощности излучения в качественном (/, 3, 5) и фоновом 2, 4, 6) пучках сверхсветимости, а на рис. 4.12 — расчетные (1, 5) и экспериментальные 2, 6) зависимости расходимости качественного пучка (D = = 2 см) и зависимости плотности мощности излучения в пятне фокусировки (.5, 4, 7) от радиуса выпуклого зеркала для АЭ ГЛ-201 и ГЛ-201 Д. По мере уменьшения радиуса зеркала R мощность и расходимость качественного пучка падают, стремясь соответственно к нулю и дифракционному пределу 0диф = 0,07 мрад. Для АЭ ГЛ-201 с прямой схемой накачки изменение радиуса кривизны зеркала R от 10 до 0,6 см [c.126]

Рис. 4.12. Расчетные (/, 5) и экспериментальные 2, 6) зависимости расходимости качественного сколлимированного пучка с диаметром D — Вк — 2 сш и плотности мощности излучения в пятне фокусировки (5, 4, 7) от радиуса кривизны выпуклого зеркала для АЭ ГЛ-201 (1-4) и АЭ ГЛ-201Д (5-7). Кривая 3 снята при прямой схеме накачки

С точки зрения применения лазера для целей микрообработки материалов важным параметром является плотность мощности излучения в пятне фокусировки. С уменьшением радиуса зеркала плотность мощности сначала возрастает, достигая максимума, а затем убывает, стремясь к нулю (рис. 4.12, кривые 3, 4, 7). Возрастание плотности мощности (правые ветви кривых) связано с более резким уменьшением площади пучка в пятне фокусировки по сравнению с уменьшением мощности излучения, что хорошо согласуется с формулами (4.5) и (4.6). Левые ветви кривых, наоборот, соответствуют более быстрому падению мощности по сравнению с площадью. Для АЭ ГЛ-201 с прямой схемой исполнения модулятора накачки максимум плотности мощности приходится на R — 3 см (1 отн. ед. — см. кривую 3), со схемой удвоения напряжения — на i = 2 см (3 отн. ед. — кривая 4), а для АЭ ГЛ-201Д — на i = 1 см (11 отн. ед. — кривая 7). Таким образом, с улучшением условий возбуждения и удлинением АЭ максимум, возрастая по величине, перемещается в область малых радиусов кривизны. Оценки для короткофокусных оптических элементов (F = 3-5 см) показали, что при использовании промышленного АЭ ГЛ-201 с выпуклым зеркалом, имеющим R = 1-3 см, плотности пиковой мощности излучения в пятне фокусировки достигают 2 х X 10 Вт/см , а при использовании ГЛ-201 Д — до 2 10 Вт/см . Эти значения примерно на порядок больше, чем при работе с плоским резонатором, но на два порядка меньше, чем при работе с HP. [c.128]

С помощью ПФК 9-11 на рис. 5.8, а), размещенного между ЗГ (/) и УМ (2), осуществлялось выделение качественного пучка ЗГ из фонового пучка с низкой пространственной когерентностью, преобразование выделенного пучка в параллельный с минимальной расходимостью и согласование его с апертурой разрядного канала УМ [131]. Диафрагма // устанавливалась в плоскости фокусировки качественного пучка ЗГ. Для эффективного подавления фонового излучения диаметр отверстия диафрагмы выбирался близким к диаметру пятна фокусировки качественного пучка. Выходное зеркало 10, фокус которого совмещен с плоскостью фокусировки, выполняет функцию преобразующего и согласующего элемента. [c.143]

Рис. 5.11. Зависимости экспериментальной (/) и расчетной (2) расходимостей 0реал, средней мощности излучения (3) и плотности мощности в пятне фокусировки р (4) выходного пучка излучения лазерной системы, съема мощности с УМ (5) и мощности пучка на входе УМ (б) от радиуса кривизны выпуклого зеркала ЗГ

Энергия, выходящая из ЛПМ небольшими порциями с большой пиковой мощностью при высокой ЧПИ, обеспечивает высокорегулируемое и прогнозируемое удаление материала из обрабатываемого участка при образовании минимальной зоны термического влияния. Короткоимпульсное излучение ЛПМ создает заметно более низкий порог по энергии для эффективной обработки материала, чем лазеры непрерывного излучения, которые приводят к образованию экранирующей плазмы [239]. Зона удаления (обработки) материала жестко ограничивается пятном фокусировки, которое у ЛПМ меньше, чем у любого ИК-лазера. Например, пятно фокусировки пучка с дифракционной расходимостью у газового СОг-лазера в 20 раз больше, чем у ЛПМ. В твердотельных лазерах на YAG Nd из-за возникающих в нем тепловых деформаций качество пучка излучения в несколько раз ниже дифракционного предела [240]. Еще одно преимущество ЛПМ перед ИК-лазерами состоит в том, что металлы имеют меньший коэффициент отражения в диапазоне излучения ЛПМ (40-50%), чем в ИК-диапазоне (> 95%) [241]. Такие металлы, как Л1 и Си, обрабатывать с помощью СО2- и других ИК-лазеров весьма затруднительно из-за сочетания высокого отражения ИК-излучения и очень высокой удельной теплопроводности металлов. Поэтому получить расплав с помощью этих лазеров очень сложно [233, 242. Наличие в излучении ЛПМ двух длин волн в видимой области спектра (0,51 и 0,58 мкм) позволили легко обрабатывать и алюминий, и медь. Многие другие материалы также эффективно обрабатываются с помощью ЛПМ. Например, ЛПМ режет кремний в 10 раз быстрее, нежели другие лазеры, близкие по назначению [243]. Сравнение скорости резки, выполненной короткоимпульсным YAG Nd-лaзepoм [c.235]

Выбор метода обработки, вообще говоря, зависит от толщины материала и от требуемого коэффициента формы. Высокий коэффициент формы может быть получен при прямом сверлении. В металлах толщиной до 1 мм данным методом получаются отверстия диаметром 20-25 мкм. При плотности мощности излучения 10 -10 Вт/см можно делать и меньшие отверстия, но эти отверстия на выходе сходятся на конус [248]. При прямом сверлении разброс по размеру отверстия составляет обычно 10% его диаметра. Сверление отверстий диаметром выше 50-100 мкм производится чаще всего методом контурной резки. Этот метод позволяет получать глубокие отверстия, но, естественно, с малым коэффициентом формы. Шероховатость кромки обработки определяется распределением интенсивности в пятне фокусировки, степенью стабильности оси диаграммы направленности и точностью перемещения луча сканирующим устройством. При многопроходном сканировании поверхность реза выравнивается и полируется. Разумеется, если необходимо сделать большое количество микроотверстий за единицу времени, первый метод удобнее, но он требует более высоких мощностей. Если высокая точность необязательна, то для подачи излучения ЛПМ на заготовку можно использовать оптические световоды [237]. Качество отверстия при волоконном сверлении близко к качеству обычных механических методов обработки. [c.239]

Фокусировка излучения ЛПМ на обрабатываемый материал, который устанавливается на координатном столе XY, производится с помощью ахроматического объектива с фокусным расстоянием 100 мм (возможна установка объектива с фокусным расстоянием до 200 мм). За счет движения стола Z сфокусированное пятно излучения наводится на мишень. Перемещение осуществляется двигателем ШД-5Д1М со скоростью 0,1 мкм за один импульс (шаг). Объектив состоит из двух склеенных между собой линз. Транспортировка пучка излучения ЛПМ до рабочего объектива осуществляется оптической системой из трех поворотных плоских зеркал с коэффициентом отражения 99%. Зеркала имеют многослойное диэлектрическое покрытие (Mgp2, ZnS). Со стороны мишени, непосредственно перед объективом для его защиты от запыления продуктами разрушения материала установлена защитная тонкостенная плоскопараллельная стеклянная пластина, имеющая просветляющее покрытие (Mgp2), при котором потери составляют 0,5%. Пластина съемная и при запылении меняется на новую. Общие расчетные потери в оптическом тракте составляют 10%, но в процессе эксплуатации они могут возрастать до 30-40%. Поэтому оптические элементы необходимо регулярно чистить. Срок службы поворотных зеркал составляет не менее 2000 ч, объектива — не более 700 ч. В объективе происходило выгорание клеевого материала, что [c.246]

ЛПМ обладает уникальным сочетанием положительных свойств, какого нет ни у одного из известных коммерческих лазеров, и находит широкое применение в науке, технике и медицине. Основные характеристики его видимый диапазон излучения (Л — 0,51 и 0,58 мкм), высокая частота повторения импульсов (5-30 кГц), высокая средняя мощность излучения (Ризл — 1-750 Вт) и относительно большой практический КПД (0,5-2%), малая длительность импульсов излучения (10-50 не), большие усиления активной среды (10 -10 дБ/м), низкая энергия в импульсе (0,1-100 мДж) и высокая пиковая мощность (10-1000 кВт), расходимость излучения близкая к дифракционному пределу и дифракционная, высокая плотность пиковой мощности в пятне фокусировки (до Вт/см ). Этими характеристиками [c.279]

Особенности технологической задачи определяют размер пятна, характеризуемый величинами 6 и сго, в который необходимо фокусировать лазерное излучение. Папример, при лазерной резке листовых материалов — это требуемая толш ипа 2сго и глубина 26 реза. Соотношения (4.118) и (4.119) показывают, что требуемый размер фокального пятна однозначно определяет как параметры используемого объектива, т.е. отношение фокусного расстояния к анертуре объектива //(Т/, так и требуемое качество поперечной структуры лазерного излучения Г]. Из соотношения (4.118) видно также, что при данном объективе, возможность фокусировки излучения лазера целиком определяется качеством пучка. [c.248]

Изменение параметров световой волны, модулированной данными, содержащимися на носителе, преобразуется в изменение интенсивности на фотоприемнике. Фотоприемник преобразует мощность оптического излучения в электрические сигналы, которые несут информацию не только о битах, содержащихся в воспроизводимом массиве данных, но и о пространственном положении луча относительно этого массива. Когда микроуглубление находится точно по центру воспроизводящего светового пятна, в направлении фотоприемника распространяется дифракционный минимум отраженного света. Для автоматической фокусировки излучения на дно микроуглублений система, состоящая из объектива 9, цилиндрической линзы 11 и четырехквадрантной фотоприемной матрицы 13, настраивается так, чтобы при совпадении фокальной плоскости объектива с указанной информационной поверхностью на фотоприемной матрице проектировалось круглое световое пятно. Если информационная поверхность носителя не совпадает с фокальной плоскостью объектива, пятно приобретает форму эллипса (рис. 6.6). При этом соответствующим включением усилителей воспроизведения можно определять величину и направление расфокусировки. В качестве приводного двигателя системы автоматической фокусировки объектива чаще всего применяют линейный магнитоэлектрический двигатель. Устройство слежения за воспроизводимой дорожкой аналогично устройству автофокусировки. При этом для освещения смежных с воспроизводимой дорожек используются боковые лучи, формируемые дифракционной решеткой 3 (см. рис. 6.5), и боковые фотоприемники 14. Эти фотоприемники располагают так, чтобы они одинаково освещались только тогда, когда воспроизводящий луч находится по центру воспроизводимой дорожки. Если луч сходит с дорожки, знак и величина напряжения на выходе дифференциального усилителя, объединяющего боковые фотоприемники, указывают направление и величину его смещения. В качестве привода перемещения луча в системе смещения за дорожкой используется подвижное зеркало 7 (зеркальный гальванометр). [c.147]

Также в соответствии с геометрическим приближением перемещения одного из зеркал в продольном направлении вызьюают изменение кривизны выходящей из резонатора волны. В случае телескопического резонатора таким путем можно сфокусировать пучок на заданном расстоянии d > L от лазера, увеличив длину резонатора по сравнению с длиной L при конфокальном расположении тех же зеркал на величину порядка (Af+1) / [ iM— ) d] (фокусировка на расстоянии J также возможна, однако сопровождается падением выходной мощности за счет конусности светового пучка внутри активного элемента). В конце 60-х — начале 70-х годов нами на ВДНХ экспонировался лазер с выходной энергией в несколько сотен джоулей, излучение которого фокусировалось подобным образом в пятно диаметром несколько миллиметров на дистанции 50 м. [c.212]

Лазерное излучение подвергается фокусировке простыми оптическими средствами, оно проникает сквозь прозрачные вещества (стекло, кварц и др.) и может быть непосредственно направлено к месту пайки изделия, находящегося в изолированном, например, стеклянном контейнере, наполненном аргоном, или вакуумированном до требуемой степени остаточного давления. Для управления интенсиШостью лазерного излучения изменяют длительность воздействия, площадь пятна нагрева (фокального пятна), выходную энергию. [c.459]

В телескопическом HP, имеющем отверстие в центре глухого зеркала, формируется лишь один узконаправленный пучок 3 (см. рис. 4.6, а), который отстает от пучка сверхсветимости 2 на время одного двойного прохода излучения в резонаторе (At = 10 не — см.рис. 4.6, в). Это объясняется тем, что в такой оптической системе приосевые пучки — как сжимающиеся, так и многопроходные расширяющиеся — резонатором не поддерживаются. Расходимость пучка 3, как и при работе с резонатором без отверстия, при изменении М в пределах 5 < М 300 уменьшается от 2,5 до 0,115 мрад. В плоскости фокусировки при визуальном наблюдении видно одно яркое пятно, имеющее достаточно высокую стабильность. В распределении интенсивности в дальней зоне имеется несколько пичков (см. рис. 4.6, б), появление которых, вероятнее всего, связано с отражением излучения от границы отверстия в глухом зеркале. Относительная нестабильность положения оси диаграммы направленности и импульсной энергии пучка 3 значительно меньше, чем дифракционного. Характеристики выходного излучения исследовались при диаметрах отверстия 4, 8 и 10 мм. Мощность резонаторного пучка (рис. 4.9, кривая З ) при диаметре отверстия 8 мм для М — 5 составила 19 Вт (66% общей мощности), для М = 100 - 9,5 Вт (37%), для М 300 - 4,5 Вт (20%). [c.123]

Геометрическую расходимость пучков можно уменьшить до определенного предельного значения с помощью линзы, зеркала или коллиматора на их основе. Чем меньше радиус кривизны выпуклого зеркала (7 на рис. 5.8, б), тем ближе расходимость качественного пучка с 0геом = = 18 мрад к дифракционному пределу. Для экспериментальной оценки расходимости выходное излучение фокусировалось зеркалом 19 с радиусом кривизны R — 2,5 м (см. рис. 5.8, б), установленным на расстоянии 175 см от АЭ, и снималось распределение интенсивности в плоскости фокусировки качественного пучка (см. рис. 5.9, б), по которому вычислялся диаметр его пятна (без учета дифракционных крыльев). Далее измерялось расстояние от плоскости фокусиров- [c.141]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...