Спектрометр поляризационный

Спектрометр поляризационный 265 Сплавы, теория окисления 164 Стали, сопротивление окислению 320 Стронций, окисление в водяном паре [c.427]

Современные высокоавтоматиэир. ЛОВ-спектрометры, в к-рых как управление процессом из.мерения, так и обработка полученных данных измерений осуществляются ЭВМ, дают возможность получать в реальном масштабе времени амплитудные, разовые и поляризационные спектральные характеристики эл.-магн. волны до и после её взаимодействия с исследуемым объектом, в т. ч, в условиях разл, внеш. воздействий (темп-ра, давление, постоянные электрич. и магн. поля, эл.-магн. излучение разл. частот). Спец. матем. программы позволяют по этим данны.м вЫ числять зависимость от частоты фундам. параметров ис- [c.17]

После освоения технологии синтеза МИС наиболее активно, пожалуй, развивалось (и продолжает развиваться) такое их приложение, как диагностика плазмы. Прежде всего — создание обзорных спектрометров с умеренным спектральным разрешением, фильтров поляризационные измерения получение спектров с пространственным, и временным разрешением пост роение изображений короткоживуш,их плазменных объектов в узких спектральных участках МР-диапазона [46, 61, 91, 94]. В работе [24] вольфрам-углеродная МИС использована для получения спектров лазерной плазмы бериллия в области X ni 5,9щ6,4 нм. Отождествлены линии Is — Зр, is — 4р и 1.S — Ър иона Ве IV. [c.118]

Получается картина, аналогичная образованию полос муара, но меняется здесь не амплитуда прошедшей волны, а состояние ее поляризации. Дешифровка образовавшейся в выходной фокальной плоскости интерференционной картины осуществляется путем вращения выходного поляризатора. При бх = 0 модулируется весь световой поток. Увеличение бх приводит к тому, что в пределах растра появляются зоны с эллиптической поляризацией излучения, а также противофазной поляризацией. В итоге средняя глубина модуляции уменьшается. Поскольку соотношение (31) вполне аналогично формуле (23), становится очевидным, что при прямоугольной форме кодирующих поляризационных пластин мы получим аппаратную функцию, аналогичную растровому спектрометру. Для круглых пластин аппаратная функция будет несколько шире, но побочные максимумы будут спадать быстрее, т. е. контур будет аподизи-рован. [c.54]

Уинтерботтом [167, 169] описал усовершенствованный тип прибора Транстада, в котором используется поляризационный спектрометр с аналогичным расположением поляризатора, пластинки в четверть волны и анализатора. Кроме того, Уинтерботтом [633, 636 на основе строгой теории вывел выражение, связывающее толщину плевки с экспериментальны.ми значениями г и Д, измеренными с помощью его прибора. Вначале с помощью выражения, полученного из оптической теории, он определял по значениям tan и Д оптические постоянные для чистого металла. Затем он наносил значения tan и Д для чистого металла и для пленки на различных стадиях ее роста в полярных координатах, причем радиальной координатой являлся tan ф, а угловой — Д. После этого он подгонял к получившейся кривой различные теоретические кривые, построенные для заданных [c.265]

Крылова Т. Н. [638] измеряла толщину окисных пленок на разных металлах поляризационным спектрометром, а Янг, Кэткарт и Гуатми [289] пользовались им для определения скорости образования окисных пленок на различных кристаллографических плоскостях монокристаллов меди. [c.268]

Первый из этих методов служит для определения толщины поверхностных пленок на стекле, подвергавшемся воздействию воды или растворов кислот. Поверхность стекла при наличии на ней слоя с иным показателем преломления при отражении превращает прямолинейно поляризованный свет в эллиптически поляризованный. Измеряя эллиптическую поляризацию отраженного света с помощью поляризационного спектрометра, можно рассчитать оптическую толщину пленок. Если величина пленки не превышает 0.1 доли световой волны, толпщну ее можно рассчитать по формуле Друде—Гроссмюлера, при больших величинах пользуются более точными данными. Метод эллиптической поляризации обычно применяется для исследования оптических стекол. [c.54]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...