Поле Плоскостности

Отклонение от плоскостности определяется как наибольшее расстояние от точек реальной поверхности до прилегающей плоскости в пределах нормируемого участка. Поле допуска плоскостности — область в пространстве, ограничен- [c.286]

Отклонения формы плоских поверхностей. Отклонение от плоскостности определяют как наибольшее расстояние А от точек реальной поверхности до прилегающей плоскости в пределах нормируемого участка (рис. 8.5, а). Поле допуска плоскостности — область в пространстве, ограниченная двумя параллельными плоскостями, отстоящими одна от другой па расстоянии, равном допуску плоскостности Т (рис. 8.5, б). Частными видами отклонений от плоскостности являются выпуклость (рис. 8.5, в) и вогнутость (рис. 8.5, г). Отклонение от прямолинейности в плоскости (рис. 8.5, д) определяют как наибольшее расстояние Д от точек реального профиля до прилегающей прямой. Поле допуска прямолинейности в плоскости показано на рис, 8,5, д. [c.177]

Р ис. 2.10. Поле линий скольжения и эпюры напряжений ст и гю центральному сечению сварных соединений с плоскостным дефектом в центре шва а — с учетом вовлечения металла Т в пластическую деформацию, б — при недеформируемом основном металле [c.51]

Наибольшее возмущение магнитного потока и образование больших полей рассеивания вызывают дефекты, расположенные перпендикулярно магнитным линиям. Плоскостные дефекты, направленные вдоль данных линий, не препятствуют распространению магнитного потока, не об- [c.191]

Питание задающих обмоток феррозондов осуществляется от блока генераторов синусоидальным напряжением частотой 100 кГц. В блоке генераторов формируется также импульсное напряжение частотой 10 Гц для запуска формирователя импульсов блока контрастного изображения, который предназначен для выдачи на блок регистрации сигналов, обеспечивающих построчное воспроизведение на бумажной ленте плоскостного полутонового изображения рельефа магнитного поля. [c.46]

Дифракционное поле эллиптических цилиндров представляет собой совокупность дифракционных полей первого и второго типов. В зависимости от Q может превалировать дифракция того или иного типа. На рис. 1.27 показаны зависимости отношения амплитуд первых двух принятых сигналов, первый из которых является в зависимости от Q отраженным либо дифрагированным на ближайшем к преобразователю краю, второй — дифрагированным по первому или второму типу дифракции. Штриховыми линиями показано среднее квадратическое отклонение значений. Из анализа этого рисунка следует, что для объемных дефектов (Q = 0,5. .. 0,15) амплитуда дифрагированного импульса на 15. .. 20 дБ меньше амплитуды отраженного. Для плоскостных дефектов (Q < 0,07) амплитуды обоих дифрагированных импульсов имеют тенденции к выравниванию [22]. [c.44]

Поскольку направленность поля отражения плоскостного дефекта определяется волновым параметром должны, очевидно, существовать такие значения этого параметра, при которых коэффициенты формы объемных и плоскостных дефектов были бы равны между собой и, следовательно, дефекты не могли быть идентифицированы. Минимальный размер плоскостного дефекта, который еще можно отличить от объемного (критический размер) на уровне распознавания Кфо = О, = 3 мм или d , р = 1,4 мм. Следовательно, все дефекты, подлежащие фиксированию по действующим производственным инструкциям, могут быть оценены [c.261]

Проблема свариваемости базируется в большей мере на теории тепловых процессов при сварке. В СССР разработаны и развиваются методы определения теплового состояния при сварке плоскостными, линейными и точечными источниками тепла элементов малых, больших и средних толщин при различных скоростях их перемещений по изделиям из сталей, а также из сплавов с различными физико-металлургическими свойствами. Разработана также теория тепловых полей при сосредоточенных и распределенных источниках нагревов в форме газового пламени и плазм, а также при электроконтактной стыковой и точечной сварке. [c.131]

Поле допуска плоскостности -область в пространстве, ограниченная двумя параллельными плоскостями, отстоящими друг от друга на расстоянии, равном допуску плоскостности [c.421]

К первой группе, согласно ГОСТ 24643—81 относятся допуски цилиндричности, круглости, профиля продольного сечения, плоскостности, прямолинейности и параллельности. На допуски первой группы распространяется правило о том, что если допуски формы и расположения не указаны, то они должны быть ограничены полем допуска размера. [c.107]

Частными видами отклонений от плоскостности являются выпуклость (рис. 10.12, в) и вогнутость (рис. 10.12, г), которые определяют как наибольшее расстояние от точек реального профиля до прилегающей прямой. Поле допуска прямолинейности в плоскости показано на рис. 10.12, д. [c.362]

Эталон представляет собой полый металлический цилиндр /, снабженный с обоих концов обоймами 8, соединенными тяжами 7 на гайках 5 ц 6. Внутренний диаметр трубы эталона определяется размером зеркал, толщина стенок эталона 10—15 мм. Регулировка параллельности основана на изменении формы корпуса с помощью тяжей. Для соединения внутреннего пространства эталона с окружающим воздухом в боковой поверхности цилиндрического корпуса имеются отверстие и штуцер 9. Оба торца трубы такого эталона доведены до высокой степени плоскостности и параллельности, так что к ним можно притереть на оптический контакт зеркала в виде пластин или в виде блоков, состоящих из двух плоских стеклянных 32 [c.32]

Разметка вертикальных рисок может выполняться тремя способами 1) с помощью разметочного угольника 2) рейсмусом с поворотом заготовки на 90° 3) рейсмусом от разметочных призм без поворота заготовки. Разметка вертикальных рисок с помощью угольника (фиг. 229,в) аналогична проведению вертикальных рисок при плоскостной разметке. Разметка с поворотом заготовки на 90° состоит в том, что поле разметки всех горизонтальных рисок заготовку поворачивают на 90° вокруг горизонтальной оси, выверяют вертикальность положения с помощью угольника, а затем [c.296]

В этом случае суммарные допуски обозначают знаками составляющих допусков и располагают на первом поле рамки допуска в следующей последовательности знак допуска расположения, знак допуска формы. Например, суммарный допуск параллельности и плоскостности обозначают по типу рис. 26,а перпендикулярности и плоскостности — по типу рис. 26,6 наклона и плоскостности — по типу рис. 26, в. [c.97]

Рис. 8.9. Поле допуска плоскостности

Поскольку поверхностное усилие чисто касательное, функция Q была выбрана так, чтобы обеспечить непрерывность плоскостной результирующей силы в вершине трещины. Таким образом, поле [c.261]

Протяженность этого участка определяет величину синтезированной аппаратуры антенны и разрешающую способность РЛС бокового обзора. Потенциально достижимая разрешающая способность равна половине длины волны излучения, которым облучается объект. Метод синтезирования апертуры антенны является частным случаем обработки информации, используемым в голографии. Этим термином называют способы регистрации информации о параметрах полей, рассеянных объектами, на плоскостных или объемных индикаторах-голограммах. Облучая голограммы светом, возможно получать объемные изображения. [c.126]

Для реализации процессов плоскостного макетирования в свою очередь существует ряд методов. Суть большинства этих методов сводится к тому, что оптимальное расположение изделий на заданной плоскости ищется не путем многократного их вычерчивания на поле чертежа в различных вариантах взаимного расположения, а путем перемещения по полю чертежа заранее изготовленных чертежей или макетов изделий. За счет этого сокращаются сроки и снижается стоимость проектирования. К числу этих методов относится метод аппликаций и темплетов, методы, использующие планировочные доски, и др. [c.12]

При отсутствии указаний о допусках формы плоских поверхностей или прямолинейных кромок и ребер отклонения от плоскостности и прямолинейности ограничиваются полем допуска размера между рассматриваемой поверхностью (линией) и базой [31]. При этом отклонение формы не должно превысить допуска размера Т. [c.291]

Примеры записей на поле чертежа Отклонения от плоскостности поверхности А не более 0,02 мм на длине 100 мм Для поверхности А допускается вогнутость не более 0.02 мм на длине 100 мм Для поверхности А допускается вогнутость не более 0.02 мм на длине 100 мм и не более 0,01 мм по всей ширине [c.1052]

На фиг. 41 показана схема коллиматора со зрительной трубой, с помощью которых также можно проверить прямолинейность и плоскостность поверхностей. В этом случае коллимационную трубку, укрепленную на основании-мостике (аналогичном тому, на котором устанавливают уровень) располагают на проверяемой поверхности а зрительную трубу укрепляют неподвижно на какой-либо подставке. Если оси коллиматора и зрительной трубы совместить, то изображение сеток окажется точно в середине поля зрения зрительной [c.101]

Принцип действия дефектоскопа основан на построчном считывании с магнитной ленты полей, зафиксированных в процессе контроля сварных соединений и преобразований информации в электрические сигналы многоэлементным микроферрозондо-вым преобразователем, с последующей обработкой и частотной селекцией сигналов и регистрацией результатов на электрохимической бумаге. Запись сигналов ведется по четырем каналам — по одному каналу записывается плоскостное полутоновое изображение рельефа магнитного поля, записи по остальным каналам дают возможность судить по амплитуде сигнала от дефектов и их местоположении по толщине изделия. Получение в дефектоскопе двухмерного плоскостного изображения достигается за счет возвратно-поступательного движения по электрохимической бумаге подвижного электрода и пропускания через пишущие электроды (подвижный и неподвижный) электрического тока, пропорционального величине сигнала, поступающего с феррозондов. Подвижный электрод движется синхронно с движением феррозондов над магнитной лентой. Степень потемнения бумаги оказывается тем большей, чем больший по амплитуде сигнал снимается с феррозондов. [c.46]

Инди-рон позволяет записывать круглограммы в полярных координатах с увеличением от 400 до 50 000 на диаграммных дисках с шириной поля 50 мм. Точность вращения шпинделя, по данным фирмы, характеризуется погрешностью, равной приблизительно 0,04 мкм. С помощью прибора можно также контролировать концентричность и соосность наружных и внутренних поверхностей, плоскостность, непараллельность, неперпен- [c.161]

Контроль методо визирования. Кроме автоколлимационного метода, для контроля отклонений от прямолинейности и плоскостности поверхностей большой протяженностью (до 40—50 м) получил применение метод визирования . Этот метод основан на том, что на контролируемой поверхности располагают освещенную визирную марку, представляющую собой стеклянную пластинку, на которой нанесены концентрические окружности и два взаимно перпендикулярных двойных штриха. Визирная марка смонтирована на подставке. С помощью объектива зрительной трубы, неподвижно установленной на конце контролируемой поверхности или вне ее, изображение марки проектируется в плоскость сетки трубы. В окуляре этой трубь наблюдают одновременно изображение марки и сетку зрительной трубы. Если при передвижении марки вдоль контролируемой поверхности из-за неплоско-сгности этой поверхности произойдет смещение штрихов марки относительно оси трубы в плоскости, перпендикулярной направлению визирования, то величина этого смещения определяется с помощью отсчетных устройств зрительной трубы. Предварительно — перед началом измерения регулируют взаимное положение марки и трубы, располагая марку в двух крайних положениях контролируемой поверхности, с тем чтобы при контроле этой поверхности смещения марки при ее последовательном перемещении от участка к участку находились бы в пределах поля зрения зрительной трубы. [c.176]

Наиболее сложной ремонтной операцией в микрометрах является доводка измерительных иоверхностей, обеспечивающая их плоскостность, взаимную параллельность и перпендикулярность к оси микрометрического винта. При небольшой износе осуществляется совместная доводка пяток комплектом мерных цилиндрических притиров, разность размеров которых равна 0,25 мм и соответствует.деремеще,-нию микровинта при повороте на пол-оборота. При э 4Ртт льнвм износе измеритель- [c.184]

Приводим на рис. 2 в разрезе прибор для сдувания. Этот прибор состоит из латунной прямоугольной камеры 1, размером 55 > (60 мм, вдоль которой выбран паз полу.кругло ю сечения. В этом пазу помещается соответствующей ему формы полуцилиндра стальной вкладыш 2, поверхность которого утоплена относительно верхней плоскости камеры на 0.2 или 0.3 мм. Сверху камеры кладется стальная (или, сообразно надобности, стеклянная) хорошо доведенная до плоскостности и зеркальности крышка 3, плотно прилсимаемая к ка- [c.105]

Природные О,— кристаллы. Усреднённое впутри-кристаллич. электрич. поле является фодсусирующим для заряж. частицы (см. Каналирование заряженных частиц) И в то же время — периодич. ф-цией расстояния, отсчитываемого вдоль прямой, пересекающей кристаллографии. плоскости. Поэтому, если угол и координата вхождения частицы в кристалл таковы, что она пересекает кристаллография, плоскости, то кристалл подобен О. 1-го типа. Длина периода траектории частицы в этом случае определяется межплоскостным расстоянием и углом между вектором ср. скорости частицы и кристаллография, плоскостями. Если же иач. условия таковы, что частицы попадают в режим плоскостного или осевого каналирования, то кристалл подобен О. 2-го типа. [c.406]

Бумага кабельная (ГОСТ 645—67) толщиной 0,12 мм и полу-ватман являются наиболее дешевым и доступным прокладочным материалом. Они применяются для уплотнения пыле- и брызгозащитных соединений. Специально обработанные бумаги с латексной пропиткой и полуватман на герметике позволяют уплотнять масл , бензин и воду. Для герметичности соединения необходимо обеспечить достаточно высокую плоскостность фланцев, обработку не ниже V7, контактное давление 35—70 кПсм , сохранение стыка при действии давления среды. [c.127]

К, намагниченность насыщения 1,0 Тл. Магнитная кристаллическая анизотропия носит плоскостной характер. Введение азота до соотношения Sm2Fej7N3 g (5 колеблется от 0,2 до 0,4) сохраняет кристаллическую решетку, увеличивая ее тетрагональность, повышает температуру Кюри до 753 К и намагниченность насыщения до 1,5 Тл. Кроме того, увеличение тетрагональности решетки приводит к появлению одноосной магнитной кристаллической анизотропии с полем анизотропии приблизительно 80 кЭ. Таким образом, получаемый нитрид уже является перспективным материалом для изготовления из него постоянных магнитов. Из литературы известна следующая технология получения постоянных магнитов из этого соединения [4]. Порошок соединения 5т2ре(7 насыщают газообразным азотом при температуре 620...650°С под давлением около 100 кПа. При этом идет следующая реакция азотирования [c.534]

Спектральные изображения источников малых размеров (например, лазерной плазмы) могут быть получены с помощью спектрометра классического типа с добавлением тороидального зеркала, фокусирующего изображение источника на входную щель [34, 57]. Недостатком такой схемы является то, что астигматизм решетки компенсируется зеркалом только в узком спектральном диапазоне, наличие промежуточной щели уменьшает полезное поле зрения. В более совершенной схеме (рис. 7.20) используется комбинация тороидальной решетки ГР и тороидального зеркала ТЗ. Меридиональное положение изображения источника, даваемое зеркалом, соответствует меридиональному положению источника для решетки, сагиттальное положение изображения источника для зеркала и источника для решетки находятся в бесконечности. Расчет показывает, что наилучшая компенсация астигматизма достигается, когда зеркало и решетка имеют близкие фокусирующие свойства, т. е. в симметричном случае для расширения квазистигматической области асимметрия между падяюшим и дифрагированным пучками в решетке может быть скомпенсирована соответствующим изменением соотношения между сагиттальным и меридиональным радиусами зеркала. В работе [88] рассчитан спектрометр на область 9—30 нм, имеющий разрешение 35 мкм в плоскости дисперсии и 4,7 мкм в перпендикулярной плоскости (Я = 15 нм). Отметим, что такого же порядка разрешение может быть получено, если в данной схеме использовать решетку с вне-плоскостным падением. Спектральное разрешение аналогично спектрометру тех же размеров со сферической решеткой. [c.288]

Суммарные допуски формы и расположения, для которых не установлены отдельные графические знаки, обозначают знаками составных допусков и располагают на первом поле рамки допуска в следующей последовательности знак допуска расположения, знак допуска формы. Например, суммарные допуски параллельности п плоскости обозначают согласно рис. 91, а перпендикулярности и плоскостности— согласно рис. 91, б наклона и плоскостпости — согласно рис. 91, в. [c.121]

При отсутствии указаний о допусках формы плоских поверхностей или прямолинейных крдмок и ребер отклонения от плоскостности и прямолинейности ограничиваются полем допуска размера между рассматриваемой поверхностью (линией) и базой (рис. 2.6). При этом отклонение формы не должно превысить допуска размера Тц. Отклонение от плоскостности поверхности, принимаемой за базу, допуском размера не ограничивается и должно нормироваться отдельно и в более жестких пределах, чем допуск размера. Для сопрягаемых призматических элементов с параллельными плоскостями допуск размера ограничивает отклонение от плоскостности обеих [c.416]

Особенность этих приборов состоит в том, что при записи круглограммы не требуется точно центрировгггь деталь на предметном столе, так как эксцентриситет исключается из записи самим прибором электрическим способом. Например, с помощью кругломера модели Индри-рон фирмы Бендикс можно записывать круглограммы в полярных координатах с увеличением от 400 до 50 ОООХ на диаграммных дисках с шириной поля 50 мм. Точность вращения шпинделя, по данным фирмы, характеризуется погрешностью, равной приблизительно 0,04 мкм. С помощью прибора можно также контролировать концентричность и соосность наружных и внутренних поверхностей, плоскостность, непараллельность, неперпендикулярность и т. п. Скорость вращения шпинделя изменяется в пределах от 0,4 до 12 об мин. С помощью фильтров можно регулировать частотную характеристику прибора четырьмя ступенями так. что на круглограмме регистрируются с уменьшением не более [c.488]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...