Оттенение поверхностей

Для придания аксонометрическому изображению большей наглядности поверхности оттеняют. Существует несколько способов оттенения поверхностей (фиг. 204 и 205) . В учебной практике применяются также упро- [c.130]

Прежде чем приступить к нанесению оттенений, необходимо определить самые темные и светлые поверхности и степень освещенности всех поверхностей предмета. [c.107]

Отт( нение точками. При точечном методе оттенения светотень наносят точками. На темные части предмета точки наносят близко друг к другу, с увеличением освещенности поверхности расстояние между ними увеличивается (см. рис. 196). [c.108]

Реплики для электронномикроскопического изучения покрытий из окиси алюминия и двуокиси циркония приготавливались с тех же мест, откуда снимались рентгенограммы. Использовались двухступенчатые отпечатки первичный отпечаток выполнялся на специальной пластиковой пленке. При снятии первичного отпечатка мельчайшие частицы исследуемого материала, находившиеся на обратной стороне слоя покрытия и поверхности металла, закреплялись на пленке. Вторичный отпечаток приготавливали методом напыления углерода. Для повышения контраста отпечатка применялось оттенение напылением металлического палладия. Реплики обрабатывались в ацетоне для растворения первичного отпечатка, затем в растворе фтористоводородной кислоты для растворения мельчайших частиц исследуемого материала, закрепившихся на первичном отпечатке. Микроскопические исследования проводились на электронном микроскопе ЕМ 1-2 при увеличении [c.241]

Рис. 5.4. Следы внутризеренного скольжения и ЗГП на углеродных репликах с поверхности образца, деформированного на 53 %. Стрелками обозначены направления оттенения платиной

Необходимость использования реплик в электронных микроскопах просвечивающего типа, с одной стороны, является затруднением, главным образом при снятии реплик с сильно шероховатых изломов. Реплики, полученные с поверхностей изломов, могут иметь большее количество дефектов, чем при обычных металлографических исследованиях, и давать так называемые лол<ные структуры, в ряде случаев напоминающие некоторые фрактографические рисунки [78], что необходимо иметь в виду. С другой стороны, метод реплик, несомненно, обладает рядом преимуществ, главное из которых — возможность применения оттенения для увеличения контрастности и рельеф- [c.188]

Хорошо известна методика изучения топографии поверхности и измерения шероховатости, основанная на электронномикроскопическом исследовании углеродных реплик, оттененных для усиления контраста тяжелыми металлами [15]. Однако до недавнего времени метод реплик в просвечивающей электронной микроскопии не позволял получить разрешение лучше 2—3 нм по высотам микронеровностей не было разработано также точных количественных методик обработки микрофотографий. В последние 5 лет был достигнут значительный прогресс. Оттенение [c.240]

ПОД углом 5—10° позволило, по данным работы [37], довести разрешение по высоте до 0,3—1,0 нм. Получение реплик с помощью импульсного лазерного напыления, как показано в работе [4 ], позволяет увеличить мгновенную скорость осаждения материалов до 1 нм/с и таким образом уменьшить размер зародышей до одноатомных. Применяя импульсное лазерное напыление для получения реплик, в работе [4 ] удалось измерить шероховатость поверхности о до 0,3 нм. Как показано в работе [37 ], разрешение можно увеличить, используя для оттенения смесь вместо [c.241]

Оттенение изображений поверхностей [c.131]

На фиг. 207 дана фронтальная проекция цилиндрической шестерни с эвольвентным профилем зубьев. Оттенение боковых цилиндрических поверхностей ее зубьев выполнено прямыми линиями, параллельными оси шестерни. [c.131]

На основе той же техники были развиты также методы, использующие в качестве материала для вторичных отпечатков металл или закись кремния [65 98]. Преимуществом этих методов перед полистирол-кварцевым является легкость испарения материалов вторичного отпечатка. Однако эти материалы значительно хуже смачивают поверхность полистирола, обладая меньшей миграционной способностью, что приводит к некоторому ухудшению разрешающей способности отпечатков. Поэтому в случае применения полистироловых первичных отпечатков в качестве вторичных целесообразно применять кварцевые оттененные отпечатки. [c.79]

Исходя из этого и выбирают угол оттенения. Он зависит, в первую очередь, от высоты частиц объекта, нанесенных на пленку-подложку чем больше высота частиц, тем меньше должен быть угол оттенения (измеряемый между нормалью к поверхности пленки и направлением молекулярного пучка испаряющегося металла), так как в противном случае полученные тени будут слишком длинными. Наоборот, чем меньше высота, тем больше должен быть угол оттенения в этом случае маленькие детали будут хорошо различимы по их длинным теням. При этом можно обнаружить существование частиц, размеры которых даже меньше разрешаемого электронным микроскопом расстояния. [c.99]

Металлы, применяемые для оттенения, должны обладать незначительной миграционной способностью по поверхности оттеняемого препарата, так как поверхностная миграция приводит к неподдающемуся контролю изменению размеров теней и расплыванию их границ. Кроме того, металлы должны давать бесструктурные пленки. [c.100]

Рассматриваемый метод позволяет не только оттенять объект, но и исследовать его поверхность. Для этого после оттенения и [c.100]

Как правило, металлические отпечатки, отличающиеся большим собственным контрастом изображения, не требуют дополнительного оттенения. Последнее может быть рекомендовано, как правило, лишь в тех случаях, когда имеется необходимость в определении высоты выступов элементов рельефа (например, карбидных выделений в стали) исследуемой поверхности. Тогда наличие тени дает возможность по известному углу оттенения и длине тени определить высоту рельефа. [c.105]

Этот способ состоит в том, что на образец, с которого необходимо получить отпечаток, предварительно напыляют в вакууме под некоторым углом слой металла так же, как и при оттенении отпечатков. Угол оттенения и толщина пленки оттеняющего металла выбираются из тех л<е соображений (фиг. 50) [94]. После этого на поверхности образца создается отпечаток (исключаются, разумеется, оксидные отпечатки). При отделении отпечатка на нем остается также и напыленный заранее на образец металл. Таким образом мы получаем сразу оттененный отпечаток. При этом следует и.меть в виду, что выступы на таком отпечатке будут казаться впадинами, и наоборот, впадины будут оттенены так, как обычно оттеняются выступы. При расшифровке электронных микрофотографий предварительно оттененных отпечатков на это следует обращать внимание. [c.105]

Оттенение вторичного отпечатка в большинстве случаев затруднено тем, что он смонтирован на сетке контактной стороной вниз. Поэтому при оттенении контактной стороны на отпечатке возникает тень от проволочки сетки. При больших углах оттенения эта тень может занимать значительную часть отпечатка, находящегося между ячейками сетки, что снижает эффективность оттенения. Поэтому в таких случаях следует рекомендовать предварительное оттенение образца или первичного отпечатка, если выявление впадин и выступов на поверхности образца не является существенным. Кроме того, оттенение первичного отпечатка исключает возможность прилипания некоторых участков металлического оттеняющего слоя к образцу, что имеет место в случае оттенения образца. [c.109]

Особо следует остановиться на оттенении отпечатков с изломов. Как правило, оттенению подвергаются первичные отпечатки по причинам, рассмотренным выше. Однако в отличие от образцов с малым рельефом поверхности, таких, как металлографические шлифы, по углу оттенения, т. е. по углу между направлением молекулярного пучка и нормалью к поверхности отпечатка, и высоте тени никаких выводов о высоте того или иного элемента структуры сделать нельзя, так как угол оттенения не остается постоянным для каждого участка поверхности вследствие грубости макрорельефа. Поэтому оттенение только повышает контраст и делает более легкой расшифровку получаемого изображения. В связи с этим несколько смягчают требования к вакууму, при котором производится оттенение. Так как точное соответствие между высотой структурного элемента и длиной его тени не является важным, то оттенение можно производить в вакууме —10 мм рт. ст. [c.148]

С измеряемой поверхности делают реплику, а с реплики, оттененной хромом,— снимки на электронном микроскопе, по которым определяются размеры отпечатков. [c.245]

Оттенение. Приготовить пластиковую реплику, которая в одно и то же время была бы достаточно тонкой в наиболее тонких участках для получения адекватного контраста и достаточно толстой, для того чтобы работать с ней, довольно трудно. Оттенение рельефной стороны пленки тяжелыми атомами, такими, как золото (они рассеивают электроны гораздо эффективнее, чем сама пластиковая реплика), улучшает контраст изображения различных по толщине участков оттененной пленки (см. фиг. 18). Можно наносить оттеняющий слой непосредственно на поверхность металла, а затем отделять, этот слой вместе с пластиковой пленкой. Эта методика носит название предварительного оттенения. [c.382]

Для придания рисунку большей наглядности и выразительности в техническом рисовании применяют условные средства передачи объема с помощью оттенений — светотени. Светотенью называется распределение света на поверхностях предмета. Светотень играет главную роль при восприятии объема предмета. Освещенность предмета зависит от угла наклона световых лучей. Когда лучи падают на предмет перпендикулярно, то освещение достигает наибольшей силы. В задачу рисующего входит определение степени освещенности различных поверхностей предмета. [c.198]

Оттенение штриховкой поверхностей многогранников. Поверхности многогранников заштриховывают параллельными прямыми по форме предмета. Все вертикальные плоскости штрихуют вертикальными прямыми, горизонтальные плоскости — прямыми, параллельными аксонометрическим осям X и , наклонные плоскости — прямыми, параллельными углу наклона плоскости. Расстояние между штрихами принимают от 1 до 3 мм. Толщину штрихов выполняют неодинаковой. Так, например, выступающее ребро призмы (рис. 336, а) оттеняют наиболее ярким и толстым штрихом, а последующие штрихи — с постепенным ослаблением яркости и толщины. [c.199]

Оттенение на все поверхности многогранника наносят тонкими параллельными прямыми линиями (рис. 336,6). После этого проверяют параллельность линий штриховки. Далее повторно обводят штрихи более яркими линиями различной толщины (рис. 336,в). В теневой части предмета штрихи должны быть ярче и чаще, чем на свету. При оттенении верхних оснований многогранников следует закрыть чистой бумагой остальную часть рисунка, чтобы не смазать рисунок. [c.200]

В каждом законченном рисунке должны быть четко выделены поверхности многогранника, причем так, чтобы контуры предмета не выделялись, а сливались с поверхностью. На рис. 337 а, б, в показаны примеры оттенений штриховкой различных предметов. [c.200]

Оттенение точками. Выявление объема предмета способом нанесения точек основывается на том, что светотень наносят не штрихами, а точками. Схема распределения светотени на предметах при этом такая же, как и для других способов оттенения. В теневой части предмета точки располагают близко друг к другу, в слабоосвещенных местах — реже, на освещенной поверхности — совсем редко. Примеры оттенения точками различных поверхностей показаны на рис. 344. На рис. 345 приведен пример оттенения технической детали корпуса. Следует сказать, что литые поверхности и детали оттеняются чаще всего точками, а обработанные — штрихами. [c.206]

На поверхностях многогранников наиболее темные места тени расположены ближе к источнику света, т. е. на границе светораз-дела. Собственные тени на предмете чаще всего изображают светлее падающих, так как он освещается светом, отраженным от других предметов (рефлексов). Падающие тени у контура основания предмета темнее, а по мере удаления тень становится светлее. При построении светотени на поверхностях вращения переход от самой темной части тени к наиболее светлой должен осуществляться постепенно. Следует заметить, что при построении собственных и падающих теней способом отмывки контуры предмета и падающей тени не обводят карандашом. Светотень наносят так, чтобы не было видно контуров, а были бы четко видны оттененные поверхности предмета и падающие тени от него. [c.275]

В электронной фрактографии наибольшее распространение получили двухступенчатые пластико-угольные реплики, так как техника их изготовления проста, и при этом сохраняется поверхность излома. Использование их очень удобно при исследовании аварийных разрушений, где часто бывает необходимо сохранение излома. Кроме того, реплики могут быть сняты непосредственно на месте аварии и доставлены в лабораторию для дальнейшего исследования. В ряде случаев вследствие большей прицельности пластиковых реплик их используют для количественного анализа. Например, с их помощью может быть проведен количественный фрактографический анализ величины зоны пластического прироста трещины при оценке /Сю в момент начала статического разрушения. Для исследования аварийных изломов иногда могут быть использованы одноступенчатые лаковые реплики, однако их применение ограничено лишь грубой оценкой характера разрушения вследствие малой разрешающей способности. Некоторым преимуществом таких реплик является возможность быстрого исследования без оттенения и напыления. [c.189]

Помимо указанных методов исследования поверхностей деталей существует целый ряд более сложных методов, таких как микроинтерференциальные методы, метод многолучевой интерференции, метод молекулярного оттенения и т. п. [c.366]

Лаковый метод. На поверхность образца наносят каплю очищенного 1 %-ного раствора коллодия в амилацетате. С вертикально поставленного шлифа снимают излишек раствора. После высыхания раствора остается тонкая пленка, отделяемая от образца описанными вьш1е способами (чаще пользуются механическим отделением с помощью желатины). Поскольку лаковая пленка дает очень слабую контрастность изображения рельефа, применяют отгенение рельефа, напыляя на пленку в вакууме под углом к ее поверхности тонкий слой тяжелого металла (чаще пользуются хромом или марганцем). Тонкая лаковая пленка очень слабо рассеивает электроны, и контрастное изображение такой пленки, оттененной тяжелым металлом, является, по существу, изображением только металлического слоя (рис. 2.4 и 2,5). [c.34]

Shadowing — Оттенение. Направленное нанесение углерода или металлической пленки на реплики или исследуемую поверхность для дальнейшего анализа методом электронно-просвечиваю-щей микроскопии. Часто используется для обеспечения контраста и выявления особенностей поверхностей излома. [c.1039]

Лаковый отпечаток (коллодиевый, формваровый и т. п.), снятый с объекта и смонтированный на сетке, напыляется в вакууме металлом под углом, зависящим от структуры. Чем грубее структура изучаемой поверхности, тем под меньшим углом проводится оттенение. Обычно величина этого угла колеблется в пределах 15—45° (считая между нормалью к поверхности отпечатка и на- [c.102]

Для исследования проскальзывания в ультрамелкозернистых СП материалах обычно используют одно- или двухступенчатые реплики. По смещению рисок или специально нанесенных сеток [99] можно определить только компоненты ЗГП в плоскости шлифа ( 7 и W). Для измерения вертикальной составляющей (Уна рис. 11) в работе [100] при приготовлении реплик использовали оттенение хромом, что позволило оценить величину V по ширине рельефа на реплике. Эту методику с достаточной надежностью можно применять только для случаев смещения зерен по границам, наклоненным под относительно большими углами к исследуемой поверхности (>20°). [c.37]

Шраффировка. Шраффировка — это штриховка сеткой, или двойная штриховка. На многогранниках и поверхностях вращения шраффировку наносят по форме предмета аналогично штриховке. Оттенение способом шраффировки требует от рисующего большой аккуратности, внимательности и точности исполнения. [c.203]

Для оттенения шраффировкой сферической поверхности сначала наносят наклонную штриховку в виде меридианов шара, касательных к общей очерковой окружности (рис. 343,6). Затем рисуют горизонтальные штрихи — параллели (рис. 343,а). Горизонтальные штрихи наносят по тому же принципу, что и наклонные. Разница заключается лишь в том, что для нанесения горизонтальных штрихов необходимо делить не наклонный, а вертикальный диаметр шара (см. рис. 343,а). Промежуточные эллипсы (см. рис. 343,6) врисовывают на глаз между основными. [c.203]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...