Реплики углеродные

Рис. 5.4. Следы внутризеренного скольжения и ЗГП на углеродных репликах с поверхности образца, деформированного на 53 %. Стрелками обозначены направления оттенения платиной

В практике электронно-микроскопических исследований косвенным методом наиболее широко применяются негативные реплики, полученные конденсацией из паров, поскольку они лучше всего воспроизводят рельеф шлифа. При этом чаще всего используют углеродные реплики, обладающие высокими прочностью, устойчивостью под электронным пучком, отсутствием собственной структуры и хорошей контрастностью. [c.50]

Хорошо известна методика изучения топографии поверхности и измерения шероховатости, основанная на электронномикроскопическом исследовании углеродных реплик, оттененных для усиления контраста тяжелыми металлами [15]. Однако до недавнего времени метод реплик в просвечивающей электронной микроскопии не позволял получить разрешение лучше 2—3 нм по высотам микронеровностей не было разработано также точных количественных методик обработки микрофотографий. В последние 5 лет был достигнут значительный прогресс. Оттенение [c.240]

Металлические кластеры возникают внутри ионных кристаллов или фоточувствительного стекла под действием УФ- или рентгеновского облучения при комнатной температуре. В ходе последующего прогревания при повышенных температурах кластеры вырастают до размеров, видимых в электронном микроскопе. Образцы для электронно-микроскопического исследования получают либо растворением матрицы и осаждением выпадающих частиц на углеродную пленку, либо приготавливая углеродные реплики с поверхности матрицы. Составы фоточувствительных стекол, детали термообработки и протекающие процессы при образовании частиц Ag и Аи рассмотрены в работах [52—56]. [c.18]

А, а платино-углеродные реплики —10—20 А [4,5]. [c.236]

Фиг. 19. Перлит в нормализованной стали с 0,5% G. Углеродная реплика. х20 000.

Поверхности трения исследуют обычно напылением и последующим отделением от поверхности углеродной пленки толщиной 10—20 нм. Такую пленку, сформированную на поверхности металла, необходимо отделять травлением или электрополированием (химическим растворением) примыкающего к пленке слоя материала. Подобная реплика способна давать разрешение 5 и даже [c.61]

В первом приближении можно предположить, что углеродный слой имеет постоянную толщину. Следовательно, из-за того, что склоны выступов и углублений в реплике имеют разные наклоны, путь электронов через реплику и, следовательно, степень поглощения и рассеяния электронов будет меняться, т, е. возникнет контраст изображения. [c.48]

Микроструктура стекол, высококобальтового сплава и покрытия исследовалась на электронном микроскопе УЭМВ-100К методом углеродных реплик. Фазовый состав продуктов коррозии определялся на рентгеновском дифрактометре ДРОН-2 и по электроно-граммам реплик с экстракцией. [c.85]

Как указывалось выше, после отжига при температуре 1073 К никелевое покрытие разбивается на ряд шарообразных частиц. Это позволяет применить метод реплик для определения времени, необходимого для образования связи между углеродным волокном и никелевыми шариками. Была приготовлена серия реплик после различных выдержек при выбранной температуре. Время, необходимое для образования адгезионной связи, определялось по моменту изменения картины от почти полного перехода никелевых шариков на отделяемую реплику до отсутствия их на реплике. Определенное этим способом время адгезии составило примерно 1, 2, 5 и 24 ч для температур соответственно 1373, 1Э53, 1323 и 1273 К. [c.417]

Для получения реплики с извлеченными частицами шлиф исследуемого сплава протравливают таким образом, чтобы растворялась. только матричная фаза после этого на шлиф наносят пленку (например, углеродную), как при изготовлении негативного отпечатка. Далее образец с напыленной пленкой, насеченной лезвием на квадратики, протравливают по режиму, обеспечивающему растворение основы и сохранение второй фазы, до полного отделения пленки с частицами этой фазы (частицы фиксируются в пленке в тех положенпях, которые они занимали в образце). Изготовленная таким способом реплика позволяет изучать поверхностный рельеф шлифа, как и в случае косвенного метода, и, кроме того, получать четкие электронно-микроскопические изображения частиц второй фазы, определять их размеры, форму, распределение и (с помощью микродифракции) атомно-кристаллическую структуру. [c.50]

Метод получения тонких металлических пленок конденсацией в вакууме аналогичен лгетоду получения реплик напылением (на-при.мер, углеродных). Металл, пз которого-необходимо получить тонкую пленку, помещают в испаритель (обычно свернутая в спираль вольфрамовая или молибденовая проволока, через которую пропускают электрический ток). Пар конденсируется на специальной подложке, в качестве которой обычно используют легко растворимые в воде кристаллы Na l или КС1. После отделения ог подложки тонкие пленки готовы для исследования. Они однородны по толщине и практически свободны от загрязнений, неизбежно присутствующих в массивных металлических образцах. Именно на таких пленках толщиной [c.51]

Рис. п. Накопление частиц Pd на поверхности стали 25 Сг 0,5 Pd после предварительной коррозии в 10%-ной H2SO4 в течение 2, 3 и 10 мин. при 25° (электронный микроскоп, углеродная реплика с извлечением). [c.37]

Углеродные реплики. Впервые этот метод был описав Брэдлж [11]. Он состоит в напылении углерода на пластиковые реплики с поверхности пластик затем растворяется, оставляя углеродную реплику, которую можно помещать в держатель образца. Напыление углерода производится в вакууме при пропускании тока силой около 30 а через два соприкасающихся графитовых электрода. Такая реплика напоминает окисную в том отношении,, что получаемый контраст зависит от уровня поверхности в каждой точке по отношению к поверхности в целом (см. фиг. 18). Позднее Наттинг и Смит [73] модифицировали эту методику и стали напылять углерод непосредственно на поверхность металла. В этом случае пленка снимается химическим путем в травителе при подборе подходящего травителя пленка сохраняет дисперсные частицы включений фаз образца. Эти фазы могут быть затем исследованы в том же электронном микроскопе с помощью микродифракции. [c.382]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...