Основные характеристики интерферометра

Ниже рассмотрены основные характеристики интерферометра Фабри—Перо как спектрального прибора. [c.79]

От точности изготовления пластин зависит основная характеристика интерферометра Фабри—Перо — его реальная разрешающая способность [c.132]

В этом случае основные характеристики интерферометра получатся при подстановке Rl и R2 в (18.3) и (18.4). Максимальное пропускание оказывается равным [c.141]

Основные характеристики интерферометра [c.440]

Теория интерферометра Фабри — Перо изложена в монографиях [239, 474], статьях [240, 590], в учебниках [ПО, 391] и других книгах [209, 210, 238]. Все источники перечислить не представляется возможным. Для удобства здесь приводятся основные характеристики интерферометра Фабри—Перо, необходимые при работе с ним. [c.440]

Рис. 105. К расчету основных характеристик интерферометра Фабри—Перо

Обычно с помощью интерферометров решают вполне определенные физические и технические задачи (например, измерение длин или углов, определение показателя преломления и т.д.). Наблюдение интерференционной картины становится не целью исследования, а средством проведения того или иного измерения. Поэтому оптическая схема интерферометра должна удовлетворять ряду дополнительных требований. Для повышения точности часто вводят значительную разность хода между интерферирующими пучками и работают в высоких порядках интерференции. В таких случаях используют относительно высокую степень монохроматичности излучения резко повышаются и требования к юстировке оптической системы. В дальнейшем рассказано также об исследованиях, в которых интерферометры применяют для изучения основных характеристик излучения (степени монохроматичности, длины волнового цуга и др.). [c.221]

Обратимся теперь к основным характеристикам лазера-интерферометра. Из теории, изложенной в 4.1 (см. 4.5)), следует основное соотношение метода [c.217]

Количественные характеристики интерферометра. Рассмотрим основные оптические характеристики этого интерферометра как спектрального прибора. К числу главных характеристик интерферометра следует отнести пропускание в максимуме, разрешимый спектральный интервал, свободную область дисперсии. [c.123]

Принципиальная оптическая схема лазерного интерферометра представлена на рис. 24.4. В качестве отражателей интерференционного узла используют уголковые отражатели. Такие отражатели обеспечивают минимальную расстройку оптической системы, а значит, стабильность основных характеристик интерференционной картины. Пусть М — точка входного зрачка интерферометра. [c.190]

Основные характеристики трех микроинтерферометров приведены в табл. III.1. МИИ-4 отличается от обычных двухлучевых интерферометров наличием двух микрообъективов большой апертуры. [c.152]

Интерферометр Фабри—Перо. Интерферометр, или эталон Фабри—Перо, является в настоящее время основным прибором в спектроскопии высокой разрешающей силы. Его действие основано на интерференции большого числа лучей, получаемых при многократном отражении световой волны между двумя параллельно расположенными плоскими зеркалами, обладающими частичным пропусканием (рис. 26). В современных интерферометрах, как правило, используют многослойные диэлектрические зеркальные покрытия, которые наносят на подложки из оптического стекла или кварца в вакууме. Они позволяют получать высокие коэффициенты отражения света при малой величине потерь на поглощение. Худшие характеристики имеют покрытия из тонких пленок серебра и алюминия. [c.76]

Основные технические характеристики некоторых отечественных и зарубежных промышленных образцов лазерных измерителей линейных перемеш,ений приведены в работе [8]. В настояш,ее время широко ведется разработка новых промышленных образцов лазерных интерферометров и значительно расширяется круг их возможных применений. [c.248]

Рассмотрим основные параметры многолучевого интерферометра. ПрИ использовании интерферометра для количественной Диагностики прозрачных сред сохраняется смысл и определение большинства характеристик многолучевого интерференционного спектроскопа высокой разрешающей силы. Некоторые из характеристик приобретают большое значение, другие, например, пре-разрешения двух близко расположенных линий источника, играют менее существенную роль и рассматриваться не будут. [c.25]

К многолучевым интерферометрам, которые используются в качестве инструментов для изучения свойств некоторой среды, помещаемой между зеркалами, предъявляются два основных конструктивных требования. Во-первых, конструкция интерферометра должна обеспечивать возможность расположения объекта исследования между зеркалами, при этом элементы интерферометра не должны оказывать какого-либо влияния на параметры исследуемого объекта, а последний не должен разрушать покрытие зеркал или изменять их оптические характеристики. Второе Требование заключается в том, чтобы в конструкции интерферометров были предусмотрены механизмы для точного перемещения одного из зеркал. Это обусловлено значительным влиянием настройки интерферометра уровня освещенности поля интерференции по сравнению с максимальной) на его чувствительность подробное изложение этого вопроса см. в гл V). В остальном все требования к конструктивным элементам и конструкции в целом не отличаются от общепринятых в технике спектроскопии высокой разрешающей силы. [c.86]

Основные оптические характеристики клинового интерферометра вытекают из условия максимумов (17.4) с учетом изменения фаз г] и г )" при отражении. Это условие представим в виде [c.127]

Контраст полос является одной из главных характеристик интерференционного поля. Только в идеальном интерферометре достигается максимальный контраст, равный единице. Рассмотрим основные причины понижения контраста полос в реальном интерферометре. [c.120]

Выбор того или иного метода или их выгодного сочетания определяется основными задачами исследования. Например, для определения деформаций оптических деталей наиболее точен и удобен метод пробных стекол, а также их исследование при помощи различных интерферометров. При изучении напряжений эффективным является поляризационно-оптический метод, позволяющий не только видеть качественную картину распределения напряжений в деталях, но и достаточно точно оценивать их количественные характеристики. [c.4]

Разнообразие методов, схем и приемов обработки информации обусловлено широким диапазоном задач, решаемых современной интерферометрией, и здесь рассмотрены только основные, наиболее употребляемые методы и приемы. Конкретных устройств допплеровской интерферометрии значительно больше (см., напри-№р. работу [29]). Выбор конкретного схемного решения производится с учетом многих Параметров, из которых основными являются быстродействие — максимально допустимая скорость изменения фазы d(fldt, т. е. максимальное значение Допп.аеровекой частоты, регистрируемое интерферометром пороговая чувствительность — минимальный фазовый сдвиг, регистрируемый интерферометром помехозащищенность — Допустимый уровень внешних помех, выше которого метрологические характеристики интерферометра не гарантируются область применения рис. 18) [c.129]

Для сферического интерферометра Фабри-Перо справедливы основные характеристики плоского параллельного интерферометра (относительная ширина полосы, область дисперсии, контрастность и т. д.). Интерфенционная к тина в С( рическом интерферометре возникает в результате аберрационных искажений, вызванных отступлением реальных поверхностей о идеальных 11421. [c.76]

Сначала детально рассмотрим принципы действия, основные характеристики и области применения спектральных приборов с одномерной дпсперспей — призменных и дифракционных, а затем (в гл. 6) — приборов с двумерной дисперсией — интерферометров Фабри — Перо, обращая особое внимапие па выбор параметров спектрального прибора и условий измереппя. позволяющих получить с тем или иным прибором максимальную информацию об исследуемом спектре. [c.19]

В этом интерферометр интенсивностей и звездный спекл-интерферометр удивительно сходны. Отношение сигнала к шуму, связанное с любым произведением флуктуаций числа фотоотсчетов для одного интервала счета, в интерферометре интенсивностей, как было показано, меньше единицы. Только усреднение по многим независимым произведениям флуктуаций числа фотоотсчетов может привести к улучшению характеристик устройства. Аналогия не оканчивается здесь. В случае интерферометра интенсивностей критическим параметром, определяющим основные характеристики, является параметр вырождения фотоотсчетов, т. е. среднее число фотособытий, создаваемое в отдельном интервале когерентности падаюш,его света. В случае звездного спекл-интерферометра подобную роль играет параметр Л —среднее [c.492]

Защитные стекла предназначены для защиты ннтерферометра от пыли и звуковых колебаний. Оба стекла специально комплектуются. При юстировке интерферометра защитные стекла разворачиваются так, чтобы разность хода в стекле по всему полю была минимальной. Ошибка изготовления отдельных деталей интерферометра учитывается при изготовлении последней детали одного из защитных стекол. Толщина стекла этой детали задается после оценки оптических характеристик и толщин ранее изготовленных оптических деталей основной части интерферометра. [c.200]

Прежде чем перейти к рассмотрению собственно голографической интерферометрии, остановимся в гл. 2 на некоторых основных положениях дифференциальной геометрии и механики сплошных тел, а в гл. 3 — на принципах формирования изображения в голографии. В гл. 2 приводятся сведения, которые являются основой изложения всей книги. В гл. 3 рассматривается с одной стороны, получение исследуемых волновых фронтов, и, с другой стороны, детально. анализируются свойства изображения, в частности, аберрации, которые могут возникать, если оптическая схема, используемая при восстановлении, отлична от х ы регистрации. В этой же главе показано взаимопроникновение понятий механики и оптики. Затем в основной части книги — гл. 4 — исследуется процесс образования интерференционной картины, обусловленной суперпозицией волновых полей, соответствующих двум данным конфигурациям объекта, и обратная задача — измерение деформаций объекта по данной интерференционной картине. В ней, во-первых, показано, как определяют порядок полосы, т. е. оптическую разность хода интерферирующих лучей, и как отсюда находят вектор смещения. Во-вторых, рассмотрены некоторые характеристики интерференционных полос, их частота, ориентация, видность и область локализации, которые зависят от первых производных от оцтйческой разности хода. Затем показано изменение производной от смещения (т. е. относительной деформации и наклона). В-третьих, определено влияние изменений в схеме восстаноэле ния на вид интерференционной картины и методы измерения. Наконец в гл. 5 кратко приведены некоторые возможные примеры использования голографической интерферометрии для определения производных высших порядков от оптической разности хода в механике сплошных сред, [c.9]

До сих пор оперировали такими уравнениями механики сплошных сред, которые относились к кинематике деформации. Поскольку и другие основные соотношения также могут быть использованы в географической интерферометрии, особенно при определении относительной деформации во внутренней области тела или при выводе уразнений связи, то кратко рассмотрим их в этом разделе. В последующих параграфах эти соотношения помогут определить все характеристики деформаций вблизи свободной поверхности. [c.161]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...