Измерение эквивалентной площади

Измерение эквивалентной площади дефектов и амплитуд эхо-сигналов. Эквивалентная площадь дефекта — это площадь плоскодонного отражателя с зеркальной отражающей поверхностью, ориентированного перпендикулярно акустической оси, расположенной на той же глубине и дающего эхо-сигнал той же амплитуды, что и дефект. [c.230]

Применение 319 — 321 Эхо-дефектоскопы ультразвуковые — Измерение эквивалентной площади дефектов и амплитуд эхо-сигналов 230—233 [c.351]

Дефектоскоп с большим динамическим диапазоном дает оператору много преимуществ. Так, оператор может наблюдать за динамикой изменения амплитуды и характера сигнала от дефекта в процессе сканирования, устанавливать несколько уровней чувствительности при контроле по слоям, накладывать на экран ЭЛТ АРД-диаграмму в виде прозрачной маски, обеспечивая тем самым непосредственное измерение эквивалентной площади дефекта, и др. [c.24]

Неточность изготовления эталонных отражателей весьма существенно влияет на уровень чувствительности. Так, если пО перечный размер плоскодонного отверстия, сегмента или зарубки отличается от номинала на 0,2 мм, то в диапазоне обычно рекомендуемых уровней чувствительности это приводит к погрешности в измерении эквивалентной площади 5э до 9%. Если ось бокового сверления непараллельна поверхности тест-образца (что очень часто бывает при изготовлении тест-образца из трубы), то погрешность в среднем составляет 1,7 дБ/град (рис. 55). Отклонение от перпендикулярности преломленной оси пучка плоскому дну отверстия (например, 2Ь = 3 мм) или сегменту вследствие неравномерного истирания призмы или неточности изготовления отражателя приводит к увеличению предельной чувствительности. При Лр — 1° максимальная погрешность в зависимости от характеристики направленности излу чателя и дефекта может достигать 6—8 дБ. [c.98]

На рис. 3.6 приведены АРД-, ЛУО-диаграммы и результаты расчетов амплитуды сигнала от диска в твердом теле с учетом огибания его ультразвуком [4]. При г/гб>1 наблюдается хорошее совпадение результатов расчетов в твердотельном приближении и экспериментальных данных, в то же время заметно различие эксперимента и жидкостного приближения при г/гб 5. Следовательно, при построении рабочих АРД-диаграмм целесообразно применять расчеты в твердотельном приближении, обеспечиваюшем более высокую точность. Эти диаграммы можно использовать при настройке чувствительности, измерении эквивалентной площади дефектов и затухания, что позволяет отказаться от сложных и дорогостоящих испытательных образцов с искусственными дефектами. [c.76]

ИЗМЕРЕНИЕ ЭКВИВАЛЕНТНОЙ ПЛОЩАДИ [c.168]

Применяют два способа измерения эквивалентной площади дефектов с помощью образцов и по АРД-диаграммам. [c.169]

Неточность изготовления эталонных отражателей весьма существенно влияет на уровень чувствительности. Так, если поперечный размер плоскодонного отверстия, сегмента или зарубки отличается от номинала на 0,2 мм, то в диапазоне обычно рекомендуемых уровней чувствительности это приводит к погрешности в измерении эквивалентной площади 5э до 97о- Если ось бокового сверления непараллельна поверхности образца (что очень часто встречается при изготовлении тест-об-разца из трубы), то погрешность в среднем составляет [c.202]

Измерение эквивалентной площади дефекта. Нужно определить площадь или диаметр плоскодонного отражателя, дающего эхо-сигнал той же амплитуды и расположенного на такой же глубине и в таком же материале, что и естественный дефект. Для этого используют тест-образцы с искусственными дефектами и АРД-диафаммы. [c.244]

Обнаружение дефектов, измерение глубины (координат) их залегания и эквивалентной площади дефектов или условных размеров дефектов [c.180]

Определяем эквивалентную площадь 5g выявленного дефекта согласно измерениям глубина расположения дефекта Н = 50 мм, а показание аттенюатора, при котором еще фиксируется эхо-сигнал от дефекта, 37 дБ. [c.228]

Дефектоскопы уровня I позволяют снизить психофизиологическую нагрузку на оператора за счет реализации возможности измерения параметров дефектов, обнаруженных в процессе ручного сканирования. Такие дефектоскопы должны обрабатывать первичную информацию и отображать ее на дисплее в удобной для оператора форме. В оптимальном случае дисплей должен содержать два знакоместа для отображения эквивалентной площади дефекта в мм либо амплитуды в дБ и три знакоместа для [c.370]

Амплитуду эхо-сигнала измеряют методом, который заключается в сравнении эхо-сигнала от дефекта с каким-либо опорным сигналом, полученным тем же преобразователем от отражателя известной величины и геометрической формы. В целях унификации измерения амплитуды эхо-сигнала введено понятие эквивалентная площадь дефекта (или эквивалентный диаметр). [c.26]

Эквивалентную площадь 5, измеряют площадью искусственного отражателя (дна плоскодонного отверстия), расположенного на той же глубине, что и дефект и дающего эхо-сигнал такой же амплитуды. Аналогично определяют эквивалентный диаметр. При измерении эквивалентного размера дефекта по совмещенной схеме наклонным преобразователем ось плоскодонного отверстия соосна акустической оси пучка, при измерении раздельно—совмещенными преобразователями ось отверстия перпендикулярна поверхности. [c.26]

Основными характеристиками выявленных дефектов являются эквивалентная площадь дефекта S или амплитуда U эхо-сигнала от дефекта с учетом измеренного расстояния до него условные размеры дефекта условное расстояние между дефектами координаты дефекта в сечении шва с учетом типа и размеров соединения число дефектов на определенной длине шва. [c.516]

ОСИ. Поскольку отражательные свойства, ориентация и расположение дефектов в сварных швах весьма многообразны, для характеристики размера дефекта введено понятие эквивалентной площади 5 . Отношение эквивалентной площади к действительной 5 /8д=Кв называется коэффициентом выявляемости. Для объемных дефектов сварных швов Д в=0,5...1,2, а для плоских дефектов — значительно меньше. Эквивалентную площадь следует определять с помощью сравнения эхо-сигнала от дефекта с сигналами от различных по величине плоскодонных отверстий, изготовленных в испытательном образце на той же глубине. Хотя сами операции по измерению 5э таким способом не сложны, недостатком его является необходимость иметь большое число образцов с разными по величине и глубине расположения отвер- [c.89]

В целях такой унификации Д. С. Шрайбером введено понят тие эквивалентная площадь дефекта (эквивалентный диаметр). Эквивалентная площадь 5э дефекта измеряется площадью дна- плоскодонного отверстия, расположенного на той же глубине, что и дефект, и дающего эхо-сигнал такой же амплитуды. Аналогично определяется эквивалентный диаметр э. Общепринято, что при измерении эквивалентного размера дефекта по совмещенной схеме наклонным искателем ось плоскодонного отражателя соосна акустической оси пучка, при измерении [c.60]

Как следует из табл. 12, наиболее достоверной измеряемой характеристикой дефекта является эквивалентная площадь 5э, а наименее достоверной — условная высота АН. Учитывая, что обе эти характеристики измерялись для одних и тех же дефектов, следует сделать вывод, что различная достоверность обусловливается не отражательными свойствами дефекта, а разной точностью измерений. На самом деле, 5э обычно измеряют по максимальной амплитуде эхо-сигнала, когда дефект находится на акустической оси пучка, где диаграмма направленности имеет тупую вершину. Искатель при этом тщательно фиксируется на поверхности, а толщина слоя контактной смазки стабилизируется. АН измеряется в двух точках, причем на спаде диаграммы направленности. Естественно, эти факторы плюс нестабильность акустического контакта предопределяют большую ошибку в измерении. Поэтому ДЯ целесообразно измерять только для относительно больших дефектов. Для малых дефектов значительно выгоднее измерять не АН, а /Сф. [c.101]

Весьма важно унифицировать процесс измерений. Размер дефекта должен выражаться через какую-то стандартизированную величину, воспроизводимую при любых измерениях. Поэтому в ультразвуковой дефектоскопии в качестве унифицированной единицы измерения принята эквивалентная площадь (эквивалентный диаметр) 5э дефекта, которая измеряется площадью дна плоскодонного отверстия, расположенного на той же глубине, что и дефект, и дающего эхо-сигнал такой же амплитуды. Аналогично определяется эквивалентный диаметр. [c.168]

Для распознавания типа дефекта эффективно измерение отношения эквивалентных площадей при прозвучивании ПЭП с разными углами ввода С1 и аг (коэффициент Ка). Для объемных дефектов зависимость от угла проявляется слабо. Если последовательно сравнивать отношение амплитуды эхо-сигнала от дефекта Ла к амплитуде эхо-сигнала от бокового цилиндриче- [c.190]

Из приведенных в табл. 6.3 данных следует, что наиболее достоверной измеряемой характеристикой дефекта является эквивалентная площадь Sa, а наименее достоверной—условная высота АЯ. Поскольку обе характеристики измерялись для одних и тех же дефектов, можно сделать вывод, что это различие обусловлено не отражательными свойствами дефекта, а погрешностью измерений. [c.203]

На рис. 6.24 приведена зависимость истинных 8 и эквивалентных йд размеров реальных дефектов в вертикальной плоскости. В области размеров объемных дефектов 2< з<8 мм эта зависимость аппроксимируется выражением dз=2ds° , что свидетельствует о возможности определения истинных размеров объемных дефектов по тарировочной кривой. Для плоскостных дефектов (кривая 5), измеренных одним ПЭП, низкое значение градиента дdэ/дds<0,l предопределяет большую ошибку в оценке их эквивалентной площади. Эти [c.204]

Снабдив дефектоскоп устройством для измерения величины сигнала, можно на основе этих формул определять эквивалентную площадь обнаруживаемых дефектов, не прибегая к сравнению с искусственными дефектами в эталонных образцах. [c.124]

Основная измеряемая характеристика компактного дефекта - его эквивалентная площадь, а протяженного дефекта-д словные размеры. Распознавание компактных и протяженных дефектов удобно выполнять с помощью графиков (рис. 54), построенных в безразмерных координатах. Прямые на рис. 54, а соответствуют условной протяженности дефектов Д д, измеренной относительным способом на уровне 6 и 20 дБ от максимума эхо-сигнала для него. Кривые на рис. 54, б соответствуют условной протяженности дефектов Д д, измеренной [c.246]

В реверберационной камере следует измерить время реверберации в диапазоне частот измерений и рассчитать эквивалентную площадь звукопоглощения во всех полосах частот по приложению 4. [c.255]

А — эквивалентная площадь звукопоглощения на частоте измерения, м [c.257]

Если нет образцового источника шума, то проводят измерения времени реверберации в диапазоне частот измерений и определяют эквивалентную площадь звукопоглощения для каждой полосы частот по приложению 4. [c.259]

ИЗМЕРЕНИЕ ВРЕМЕНИ РЕВЕРБЕРАЦИИ И РАСЧЕТ ЭКВИВАЛЕНТНОЙ ПЛОЩАДИ ЗВУКОПОГЛОЩЕНИЯ Б РЕВЕРБЕРАЦИОННОЙ КАМЕРЕ [c.266]

Недостатком измерения эквивалентной площади дефекта с помощью испытательных образцов является необходимость достато шо большого их количества с разлшшыми ди аметрами отверстий, расположенных на разной глубине. Другой способ измерения эквивалентного размера дефекта разработан И. Н. Ермоловым и И. Крукремером, Он базируется на использоваггаи специальных АРД-диаграмм (амплитуда, расстояние, дефект) которые получают экспериментально или на основе расчетов. Для конкретного ПЭП диаграммы графически связывают между собой амплитуду [c.185]

Существуют два способа измерения эквивалентной площади дефектов с помощью тест-образцов а по АРД-диатраммам. Первый способ состоит в том, что эхо-сигнал от дефекта последовательно сравнивается с сигналами от плоскодонных отверстий различной величины, изготовленных на той же глубине, что н дефект в тест-образце, представляющем собой копию контролируемого изделия. Основным преимуществом способа является его простота и доступность. Все операции по измерению эквивалентного размера сводятся к тому, что оператор должен найтч отверстие, от которого фиксируется эхо-сигнал, равный эхо-сигналу от дефекта. [c.61]

Такой же подход должен быть при измерении эквивалентной площади РС-йскателями. Это объясияется тем, что если основные параметры наклонйых искателей, выпускаемых прОмышлен- [c.65]

Измерение эквивалентной площади дефектов эхозеркальным методом (схема тандем ) производят как по специальным диаграммам (рис. 6.2), так и АРДТ-диаграммам, полученным из обобщенных АРД-диаграмм совмещенных ПЭП путем соответствующего преобразования размерностей по координатным осям или экспериментально. АРД-диаграммы РС-ПЭП строятся только экспериментально из-за невозможности учета всех факторов в акустическом тракте дефектоскопа. [c.170]

Для повышения точности измерения размеров по амплитуде сигнала в некоторых руководствах рекомендуется, поворачивая преобразователь или применяя преобразователи с разными углами наклона, найти максимальное отражение от дефекта, а затем его эквивалентный размер. Однако эта операция очень трудоемка. Особенно трудно отыскать оптимальный угол ввода. Так как чувствительность меняется при изменении угла падения, необходимо каждый раз после смены угла ее подстраивать. Для дефектов, расположенных вертикально, найти оптимальный угол наклона при контроле по совмещенной схеме (т. е. одним преобразователем) вообще невозможно. Здесь следует применить эхо-зеркальный метод контроля (см. рис. 3,а). Повысить надежность с бнаружения и точность измерения эквивалентной площади произвольно ориентированных небольших дефектов можно путем снижения частоты ультразвуковых колебаний (см. п. 9.9). [c.214]

Чувствительность настраивают на уровень фиксации, а затем повышают до поискового уровня. При обнаружении дефектов их оценку выполняют на уровне фиксации. При этом в целях унификации измерения амплитуды сигнала вводится понятие эквивалентной площади дефекта. Эту пло-1цадь оценивают площадью искусственного отражателя на испытательных образцгис по ГОСТ 14782-86. Отражатель должен располагаться на той же глубине, что и дефект и давать эхо-сигнал той же амплитуды. Как правило, для сварных соединений уровень фиксации соответствует минимальной эквивалентной площади 3 мм . Дефекты с эквивалентной плоп-1 адью более 7 мм обычно являются недопустимыми. [c.183]

Основной браковочный критерий — амплитуда эхо-сигнала (эквивалентная площадь). Измеренное значение амплитуды А сравнивают со значением контрольного Л,, и браковочного A,jp уровней чувствительности (см. рис. 5.6) с учетом глубины залегания дефекта. Если А > Лрр, дефект считают недопустимым по а.мплитуде (бракуют), если Лрр > А > Л,, — допустимым. Иногда контрольный уровень не используют. В этом случае отбраковывают любой зафиксированный (Л > Лдр) дефект, понятие допустимый дефект здесь не используется. Такая альтернативпая система оценки обычно вводи гся, когда разность размеров недопустимы.х и допустимых дефектов сопоставима с точноа-ью измерения амплитуды эхо-сигналов и. следовательно, не может быть досговерйо зафиксирована. Кроме того, она целесообразна, когда исправление дефектного участка экономически выгоднее, чем на-б, )ил,ение за допустимыми дефектами в последующей эксплуатации иа-, лия. Примером может служить контроль сварных швов тонко-стеиных труб (3. .. 5 мм) малого (25. .. 40 мм) диаметра. [c.216]

Эквивалентная площадь дефекта, определяемая при прозвучивании продольными волнами, весьма эффективный признак, но измерение его требует снятия валика усиления шва (рис. 41,г). Очевидно, что наибольшая эквивалентная площадь будет у шлаковых включений и защлакованных непроваров, наименьшая— у трещин и одиночных пор. Граничные значения этого пр из1нака для дефектов различного т па устанавливаются на основании статистических данных. Приближенные значения даны в табл. 8. [c.78]

Достоверность дефектометрии, кроме того, определяется степенью точности измерения дефекта по тем илц иным измеряемым информативным признакам [55]. Поскольку форма и отражательные характеристики дефек -та случайны, процесс дефектометрии является случайным и характеризуется теснотой корреляционных связей между информативными признаками и действительными размерами дефектов. В табл. 6.3 приведены коэффициенты корреляции рк между эквивалентной площадью 5э, условной протяженностью вдоль шва AL и условной высотой по сечению шва Н и соответствующими размерами дефектов (S, AL, АЯ ). [c.203]

Рис. 6.29. Эквивалентная площадь дефекта 5э в штатном стыке, ЭШС, измеренная одним ПЭП и БС 5э = 3 мм 5эбс = 70 мм

Для помещения, предназначенного для акустических измерений и имеющего стены с различными коэффициентами поглощения, средний коэффицие11т акустического поглощения и эквивалентная площадь поглощения, для которой а=1, определяются формулами в 1-5. [c.92]

Дефектоскоп ДУК-13ИМ—специализированный прибор для контроля сварных швов. Индикация дефектов происходит по импульсам, возникающим на экране электроннолучевой трубки, а также по появлению звука в телефонных наушниках. Чувствительность дефектоскопа регулируется в широких пределах н обеспечивает выявление дефектов в стали с эквивалентной площадью 2—3 мм на глубине до 100 мм. Для определения координат дефектов, а также измерения толщины изделий в дефектоскопе имеется электронный глубиномер. Благодаря наличию электронной лупы возможен контроль изделий по слоям. Величина контролируемого слоя регулируется в пределах 8—500 мм. Прибор работает от сети переменного тока напряжением 220 или 36 В, а также от аккумуляторной батареи напряжением 12 В. Масса прибора около 4 кг. [c.755]

С 2002 г. в МГТУ им. Н.Э. Баумана проводится портативный восьмиканальный мультипрограммный дефектоскоп СК-2, предназначенный для автоматического, механизированного или ручного УЗ контроля. СК-2 рассчитан на измерение основных параметров дефектов амплитуды эхосигналов, координат дефектов, их эквивалентной площади и высоты, а также на определение типа дефектов. СК-2 позволяет сохранять результаты контроля в процессе его проведения и документировать результаты по завершении контроля. [c.301]

Следует заметить, что за рубежом идут активные дискуссии о том, целесообразно ли измерять эквивалентную площадь из-за малой информативности этого критерия. Однако в качестве экспериментальной базы, послужившей основой для таких сомнений, явились измерения, как правило, дефектов, размеры которых соизмеримы или даже намного превышали диаметр пьезопластины. По нашему мнению, эти результаты нельзя переносить на неболь- [c.318]

Эквивалентную площадь звукопоглощения А, м , в полосе частот измерения следует вьиислять по формуле [c.266]

При измерениях в закрытых помещениях измерительное расстояние d должно быть меньше величины d, , определяемой по форму ле d, — = V А/50, где А эквивалентная площадь звукопоглоп ения на частоте измерения (см. обязательное приложение). [c.271]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...