Полутень

Поскольку основными объектами инженерной графики являются объемные тела, то для их светотеневой характеристики можно использовать довольно простую модель, не требуюш,ую построения падающих теней. В этом случае необходимо показать на изображении тональные различия трех областей света, тени, полутени. [c.57]

Рис. 3.3.1. Последовательные этапы тональной разработки рельефа формы исходное состояние рисунка (а), анализ действия (б), тональное подчеркивание горизонтальных границ света и теней (в), тональное подчеркивание вертикальных границ света и теней (г), тональное обобщение плоскостей (д), нанесение полутени (е)

В заключение осуществляется легкая подтушевка горизонтальных линий, разделяющих свет и полутень. Вертикальные линии на границе полутени и тени должны оставаться незаштрихованными в сторону рассматриваемой плоскости, так как глаз воспринимает относительный контраст темного (тень) и светлого (полутень). Вблизи вертикальных линий штрихи должны располагаться только с одной, более темной стороны, В противном случае форма принимает [c.117]

В контрольной стадии рекомендуется оценить единство интенсивности всех полутеней. Эта интенсивность должна быть подчиненной тональной разработке теневых плоскостей (рис. 3.3.3). Неясность визуального различия в тональном соподчинении теневых и полутеневых граней формы является наиболее частой ошибкой студентов (рис. 3.3.4). [c.118]

При реализации данного действия на ЭВМ необходима специальная программа, состоящая из двух структурных частей поиск выступающих вершин изображения, тональная обработка тени и полутени изображения. Моделирование ориентировочной части действия заключается в отыскании тех вершин изображения, в которых сходятся одновременно три видимых ребра, и в проверке углов между этими ребрами. Если все три плоских угла больше 90°, то вершина определяет те плоскости, на которых осуществляются последующие операции тональной разработки плоскостей. [c.118]

Можно отметить следующие элементы светотени (рис. 12.29) свет, полутень и тень (собственную и падающую). На затененной части имеется рефлекс, а на освещенной — блик. [c.171]

Полутень — умеренно освещенная часть поверхности. Переход от света к полутени на гранных поверхностях может быть резким, а на кривых — всегда постепенный. Последнее объясняется тем, что угол падения лучей света на соседние части изменяется также постепенно. [c.171]

Волновые пучки. Простейшей моделью К. является монохроматич. параксиальный волновой пучок в однородной среде, образуемый соседними зонами полутени при дифракции плоской волны па большом (в масштабе X) отверстии в непрозрачном экране (рис. i). Такой пучок в случае скалярного поля можно описать ф-цией [c.258]

КВАЗИОПТИКА — асимптотич. метод для описания дифракции коротких волн в спсте. ах, размеры к-рых d существенно превышают длину волны .. К. уточняет геометрической оптики метод в окрестностях каустик и фокусов, в зонах полутени, при описании широких волновых пучков и т. п. [c.258]

Для оттенения необходимо применять источник испарения, возможно более близко приближающийся к точечному, потому что в противном случае неизбежно возникновение полутеней . С этой целью либо применяют испарители малых размеров (например, конические), либо помещают испаритель на значительном расстоянии от объекта, что является нежелательным, так как требуется [c.99]

На рисунке освещенные поверхности предмета называют светом, а неосвещенные — тенью. Переход от света к тени называют полутенью. [c.83]

После проявления указанной серии спектрограмм на фотопластинке обнаруживается в виде полутени как бы кривая поглощения, которая имеет вид рис. 304. Для анализа этого снимка по порогу почернения на нем же отпечатывают шкалу длин волн или снимают дважды сверху и снизу линейчатый спектр, например, железа (спектр нормалей) с известными длинами волн. По такому снимку удается определить а) область поглощения данного объекта б) структуру спектра поглощения, т. е. установить, [c.390]

Область внутри параболы (7.24) можно назвать областью полутени. В этой области поле быстро изменяется в поперечном направлении. На границе свет — тень оно равно половине поля падающей волны. Таким образом, дифракционные явления, если под этим понимать отклонение поля от геометрооптического, более всего проявляются в зоне полутени. Качественное поведение амплитуды поля на границе между светом и тенью показано на [c.82]

Общая характеристика поля при кг 1 для обеих поляризаций совпадает в частности, не зависят от поляризации поля в области полутени. [c.82]

В тень за гладким участком тела проникает так называемая волна соскальзывания, порождающая лучи соскальзывания (см. ниже п. 22.8). Особая зона дифракции возникает в районе точки касания В, где накладываются зона полутени и зона волны соскальзывания. [c.239]

Дифракция возмущает эту геометрооптическую картину. На границе между освещенной областью справа от экрана и тенью появляются зоны полутени, заштрихованные на рис. 23.1, а. Такие же зоны возникают и в отраженном поле. В областях вне полутеневых переходных зон имеют место дифракционные лучи, как бы излученные краем экрана. Краевые лучи интерферируют с падающими и отраженными лучами те и другие вместе составляют лучевую структуру поля. В областях А — лучи падающие, отраженные и лучи от краев, нижнего и верх-него в областях 5, С — лучи падающие [c.248]

Эта структура может быть названа первичной. Ее можно уточнить введением так называемой вторичной дифракции дифракционные лучи, уходящие от верхнего края, дифрагируют на нижнем крае, и наоборот, лучи от нижнего дифрагируют на верхнем. Лучи вторичной дифракции расходятся веером во все стороны, в том числе и в зоны полутени, интерферируя с полутеневым полем, и в направлении от нижнего края к верхнему и наоборот, возбуждая дифракционные лучи третичные и т. д. Таким образом, геометрическая теория дифракции позволяет проследить весь процесс формирования дифракционного поля, чего нельзя ожидать, например, от метода физической оптики. [c.248]

Рис. 23.2. К определению границы полутени.

Можно условно считать, по аналогии с рассмотренной в 7 эталонной задачей, что полутеневая зона симметрична относительно луча, который коснулся края экрана. Вне полутеневой зоны поле вновь имеет лучевую структуру краевые лучи как бы выходят от края, проникая сквозь полутень. [c.249]

Для пространственного эскиза данный метод является наиболее простым. Для придания объемного характера модели на эскизе необходимо лишь единообразие визуального признака каждой плоскости. Независимо от очертания области, ее величины все теневые грани должны быть тождественными по своему тональному решению. То же самое относится к светлым граням и полутеням изображения. Именно визуальный контраст разных систем и единообразие решения тона плоскостей, принадлежащих к одной системе, приводит к Д0ЛЖ1Н0Й выразительности решения. Пример ошибочного решения, в котором нарушен этот принцип, показан на рис. 1.5.6. [c.58]

Рис. 3.3.3. Различие в тональной разработке теней и пoлyтeнeЙJ штриховка теневых граней (а), штриховка полутеней (б), окончательный вид (в)

В некоторых работах отсутствует соподчинение тоиаль-ного решения различных планов формы. Затушевывая задний план изображения в целом (не обращая внимание на свет, тени, полутени), мы тем самым уменьшаем контраст решения его. [c.121]

Искомые рихтовки рельсов по высоте будут равны разностям отметок, полутенных в последнем цикле, и исходных отметок, то есть Ri = Я - Я(, Здесь знак плюс означает, что в данной точке нужно подложить подкладки под рельс и балку толщиной / ,. Знак минус - убрать часть существующих, или все подкпащси. [c.156]

Рентгеновский абсорбционный микроанализ. Для решения ряда практических задач может быть использован метод рентгеновского абсорбционного микроанализа (РАМА). При этом методе, который является составной частью рентгеновской проекционной микроскопии (РПМ), не требуется сложная дорогостоящая аппаратура. Метод РПМ основан на получении увеличенной теневой проекции объекта в расходящемся пучке рентгеновского излучения, испускаемого точечным источником. Разрешение ироекцион-ного метода, лимитируемое размерами источника (величиной полутени) и френелевской дифракцией, достигает [c.498]

Если же полутен условный минимум задачи (2.7) — (2.9), т. е. оптимальное решение X находится на границе области R, не являясь при этом стационарной точкой функции 3 (X), на практике бывает достаточно выполнения условия [c.23]

Pie. 2. Один из лучших снимков части фотосферы Солнца в белом с ете, полученный 30 июля 1970 на советском стратосферном теле-(яопс. в виде мелкой зернистости наблюдается грануляция (размер пеек ок. 1000 км, время жизни Si5 мнн). Слева—солнечное пятно. В центральной его части ( тени ) температура приблизительно на 2000 К ниже средней температуры фотосферы Солнца, вокруг (в полутени ) хорошо видна сложная структура. [c.361]

Отношение интенсивности полного излучения пятна к интенсивности прилежащей фотосферы [2] тень1фото-сфера 0,27, полутень/фотосфера 0,78. [c.975]

В этом параграфе указаны только наиболее типичные светоослабляющие устройства. Иногда еще для ослабления света пользуются отражением от зеркальных поверхностей, комбинацией линз и диафрагм (способ полутеней), изменением площади светящихся поверхностей и другими методами, применение которых ограничено. [c.332]

Дисперсия оптической активности тел измеряется также ну-тел1 соединения соответствующих поляриметрических устройств со спектральными устройствами. Здесь используются преимущественно два типа установок установки па полную темноту или па полутень. [c.523]

На рис. 404 приведена обычная схема полутеневой установки. Здесь с помощью осветительной лпнзы О, и системы образуется полутень, которая затем проектируется с помощью лиизы 0 на входную щель спектрального аппарата так, что граница полутени разделяет щель, а следовательно, и спектр на две части. Вначале при отсутствии оптически активного тела анализатор устанавливают так, чтобы оба спектра были одной и той же интенсивности по всей своей длине. Затем вводится между поляризаторами оптически активное тело и производится ряд съемок спектрограмм при различном положении анализатора. В дальнейшем в спектрограмдгах, соответствующих двум световым полям полутепевого поляриметра, отыскиваются места равного почернения. Связывая эти места с поворотом анализатора от начального (юстировочного) положения, определяют вращательную способность для данной длины волны. [c.525]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...