Координаты тетрагональные

Тетрагональная система. Рассмотрим класс С40. Выбираем координаты с осью z по оси С4, а оси х, у — перпендикулярными к двум из вертикальных плоскостей симметрии. Отражения в этих двух плоскостях означают соответственно преобразования х —х, г->-г и х-> х, у->- у, г -> z [c.53]

Такой же результат получится и для других классов тетрагональной системы, в которых естественный выбор осей координат диктуется симметрией (D d, D ). В классах же однозначен выбор лишь одной оси (г) — вдоль оси С4 или S4, При этом требования симметрии допускают существование (помимо фигурирующих в (10,6)) еще и компонент [c.53]

Тетрагональность мартенсита в закаленной стали объясняется предпочтительно упорядоченным расположением атомов углерода в решетке железа. Они занимают не любые октаэдрические поры, а только в направлении [001] (с координатами 00 и бы [c.253]

По форме ЭЯ и соответственно по совокупности элементов симметрии ПР делятся на семь сингоний, или систем (рис. 5.2, табл. 5.1 и 5.2). Эти сингонии в свою очередь подразделяются на три категории, различающиеся но числу единичных направлений высшая (кубическая), средняя (гексагональная, тетрагональная, ромбоэдрическая), низшая (ромбическая, моноклинная, триклинная) сингонии. Из 14 решеток Бравэ семь простых (или примитивных), т. е. таких, которые строятся осе-выми трансляциями к узлам в вершинах параллелепипедов повторяемости, а семь сложных, т. е. таких, которые строятся трансляциями к точкам, находящимся либо в центрах граней ЭЯ (базо- и гранецентрированные ячейки), либо в центре объема ЭЯ (объемноцентрированные ячейки, см. рис. 5.2). Сложные ячейки характеризуются так называемым базисом. Базис представляет координаты минимального числа узлов, трансляцией которых строится пространственная решетка (табл. 5.3). В применении к кристаллическим структурам сложных веществ определение базиса включает координаты частиц с указанием их химической природы. Целесообразно оставить понятия пространственная решетка или кристаллическая решетка за решетками Бравэ (абстрактный, математический образ кристалла), а для действительных струк- [c.96]

Пусть геометрический центр произвольной ячейки периодичности совпадает с началом координат. Окружим выделенный типовой элемент (ячейку периодичности) несколькими слоями аналогичных типовых элементов в соответствии со структурой рассматриваемой среды и поместим полученный ансамбль в опасть SI (схема с одним слоем для сред с гексагональной и тетрагональной структурой изображена на рис. 5.1). [c.88]

Для расчета напряжений режущий инструмент условно разбивается на тетрагональные элементы (рис. 4), точки соединения которых называются узловыми. Положение каждой узловой точки г, /, к, I элемента определяется координатами X, у к г. В результате деформации под действием усилий резания каждая узловая точка смещается на величины и, V п 1 ) соответственно в направлении координат х, у я г. Таким образом, результирующее смещение узловой точки [c.14]

Наличие атомов углерода, внедренных в решетке железа, приводит к смещениям атомов железа из их идеальных положений в решетке. Очевидно, эти смещения должны быть наибольшими для атомов, являющихся непосредственными соседями атома углерода, и уменьшаться по мере удаления от него. При этом смещения в направлении тетрагональной оси должны быть значительно большими по сравнению со смещениями в перпендикулярных направлениях [33]. Такой вывод следует из того, что присутствие углерода в растворе вызывает сильное изменение среднего расстояния между атомами железа по оси с и слабое — по осям а, как это видно из приведенной выше (см. рис. 3) зависимости периодов решетки а и с от содержания углерода. Это находится в соответствии также с предполагаемыми координатами атомов углерода в решетке мартенсита расстояние между атомами углерода и железа в направлении [c.674]

В таблице приведены данные о координатах атомов в некоторых структурных типах кубической, тетрагональной и гексагональной систем. На рис. 101 — 109 даны схемы элементарных ячеек [102, 112, 113]. [c.361]

Мы предположили, что в системе координат, связанной с кристаллографическими осями, отличен от нуля только пьезомодуль 14 = 25= 36= 2- Наш выбор коэффициентов еш соответствует. классам 23, 43т, 42т кубической и тетрагональной систем. Результаты будут справедливы также для класса 4, если считать, Ч ю угол 0 отсчитывается от направления, в котором коэффициенты 6i5 = —бп обращаются в нуль, т. е. заменять в окончательных формулах 0 0 Ч- а, где tg 2а = eiU n-Снова ищем решение в виде [c.98]

Тетрагональная система. Рассмотрим класс Выбираем координаты с осью 2" по оси а оси лг, у — перпендикулярными к двум из вертикальных плоскостей симметрии. Отражения в этих двух плоскостях означают соответственно преобразования X— X, у- у, z- z и х х, у- —у, z z, в силу этого Исчезают все компоненты с нечётным числом одинаковых индексов. [c.680]

Структура вольфрамовых бронз имеет слоевой тип, в котором кислородные атомы образуют слегка деформированные слои с координатами z О и 1/2. Атомы В расположены в слоях с координатами z О и z = 1/2, атомы А —в слоях с z l/4. Примером тетрагональной структуры подобного типа может служить ниобат бария-стронция BatSri-sNbjOs, где 0,25 < а 0,75. Об этом соединении будет подробно говориться в гл. 4. [c.100]

Тп от соответствующего решения для композита с периодической тетрагональной структурой. Расчет выполнен для композита, модуль Юнга и коэффициент Пуассона матрицы которого равны соответственно 1 ГПа и 0,35, считалось, что волокна абсолютно жесткие, ориентированные вдоль оси Гз. Макрооднородная деформация композита была задана через компоненты 2 и 22, остальные компоненты тензора макродеформаций — = 0. Для рис. 3.4 величина относительного объемного содержания волокон Уо = 0,4, = 0,46 10 и 32 = —0,28 10 , для рис. 3.5 Уо = 0,545, 1 = 0,30 10 и 22 = —0,12 10 . Было принято, что когда структура периодическая, ось исследуемого волокна д = 1) имеет координаты (0 0), а оси остальных волокон фрагмента, например для д = (—Т/2 0), (0 Г/2), (Т /2 0) и (0 -Г/2), где Т = гр-у/тг/ — период структуры вдоль осей г и Г2. [c.144]

Полученные три соотношения назы1 аются условиями Лауэ Для дифракции рентгеновских лучей на трехмерной решетке. Рассмотрим случай, когда на тетрагональную решетку, расположенную в начале координат, направляются рентгеновские лучи в отрицательном направлении оси г. В этом случае в соответствии с рис. 1-3-4 имеем [c.36]

График рис. 53 построен для простой тетрагональной решетки, рис. 54— для объемноцентрированной тетрагональной решетки [273J, рис. 55—также для объемноцентрированной тетрагональной решетки, но в координатах sin d и с/а 1173]. [c.258]

Однако кристалл ниобата бария-натрия обладает еще одним свойством, с которым мы не встречались до сих пор при температуре около 300 °С он испытывает фазовый переход из тетрагональной структуры в орторомбическую. В результате при охлаждении кристалла, когда его температура проходит через эту точку, материал подвергается микродвойникованию, даже если все указанные выше меры предосторожности были приняты. Иначе говоря, при этом небольшие области кристалла изменяют направление осей а и Ь относительно некоторой фиксированной системы координат при этом направление оси с, заданное в процессе монодоменизации, в основном сохраняется. Микродвойникование можно устранить, для чего необходимо нагреть кристалл до температуры выше 300 °С, но намного ниже температуры Кюри (585°С), после чего, приложив к кристаллу сжимающее усилие порядка 10 дин/см вдоль любой из его осей, кроме оси с, медленно охладить его. При температуре ниже температуры фазового перехода ось, к которой было приложено усилие, станет осью а (или осью к). Само [c.118]

Обсудим теперь обобщенные рэлеевские поверхностные волны в той Hie геометрии (см. рис. III.1). Согласно результатам 3 гл. I, волны, поляризованные в плоскости ху, не связаны с пьезоэффектом. Пусть вектор смещения u = w (a , у, t), Uyix, у, i), 0 . Отличны от нуля компоненты тензора деформации Uxx, Uyy, Uxy и тензора напряжений с х, Оуу, Ощ. Будем считать, что соответствующая часть упругой энергии содержит (в системе координат, связанной с кристаллографическими осями) три упругих модуля Сц=Саа, и Результаты будут справедливы для перечисленных классов, а также для всех классов кубической и тетрагональной систем, не обладающих пьезоэффектом. Обобщение на случай кристаллов ромбической симметрии, где Не представляет особой сложности. Стандартный метод решения задачи о распространении обобщенных поверхностных волн, который мы использовали для исследования сдвиговых ОПВ, приводит к довольно громоздким вычислениям. Поэтому применим несколько иной способ [1201. Будем использовать в качестве независимых переменных компоненты тензора напряжений а, и выразим через них компоненты тензора деформаций Uik. В системе координат х, у, связанной с кристаллографическими осями, имеем, как обычно, [c.105]

Рис. 10.3. Связь кристаллографических осей а, Ь, с с прямоугольной системой координат X, V, 2 для снигоний а) триклинной, б) моноклинной, в) ромбической, г) гексагональной и тригональной, д) тетрагональной, е) кубической.

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...