Свет поляризованный, применение его

Свет поляризованный, применение его прн измерении напряжений 139, 238, [c.450]

Если падающий свет линейно поляризован вдоль медленной или быстрой оси пластинки, то в соответствии с (5.4.11) свет будет оставаться линейно поляризованным вдоль локальной медленной или быстрой оси. В этом смысле вектор поляризации отслеживает вращение локальной оси, при условии что вектор поляризации направлен вдоль одной из осей. Действие матрицы Джонса на любой вектор поляризации можно разделить на два этапа. Сначала матрица фазовой задержки действует на вектор Джонса падающей волны, причем для света, линейно поляризованного вдоль одной из главных осей, действие этой матрицы приводит только к фазовому сдвигу светового пучка, а состояние его поляризации сохраняется неизменным. Затем матрица R (ф) поворачивает вектор Джонса на угол ф. В случае линейно поляризованного света такой поворот приводит к тому, что вектор поляризации оказывается параллельным главной оси на выходной грани пластинки. Таким образом, если падающий пучок света поляризован вдоль направления нормальных мод во входной плоскости (г = 0), то вектор поляризации световой волны будет отслеживать вращение главных осей и оставаться параллельным локальной медленной (или быстрой) оси, при условии что коэффициент кручения мал. Это явление называется адиабатическим отслеживанием и имеет важные применения при создании световых затворов на жидких кристаллах. Ниже мы рассмотрим принцип работы таких световых затворов. [c.158]

Большинство кристаллооптических исследований и измерений оптических констант кристаллов производится с помощью поляризационного микроскопа и различных приспособлений к нему. Поляризационный микроскоп в этом отношении является универсальным инструментом. Он нозволяет вести наблюдения как в параллельном поляризованном свете, так и в сходящемся поляризованном свете, как в скрещенной системе поляризационных призм, так и в установленных параллельно ). Область применения его не ограничена размерами и качеством исследуемых кристаллов, что имеет существенное практическое значение. [c.796]

Применение линейно-поляризованного света имеет тот недостаток, что уже незначительный поворот фильтра приводит к появлению ощутимого ослепления. Такой поворот фильтра может быть, например, при его неправильной установке или плохом креплении в фаре, а также при движении в гористой местности и при наклоне мотоциклов во время прохождения ими поворотов. Вследствие этих недостатков линейно-поляризованного света стали искать возможность использования света, поляризованного по кругу (фиг. 62, б). [c.341]

Оптический метод исследования напряжений в поляризованном свете, начало которому положил Максвелл (см. стр. 325), нашел широкое применение в XX веке. Менаже использовал его для проверки теории Фламана о распределении напряжений около точки приложения сосредоточенной силы ). Он воспользовался им также и в решении практической задачи исследования напряжений в арочном мосту ). Поляризационно-оптический метод позволяет установить разность между двумя главными напряжениями. Менаже показал, что сумму двух главных напряжений в исследуемой точке можно найти, если измерить в ней изменение толщины пластинки-модели. Эта идея была использована Кокером, сконструировавшим специальный поперечный тензометр для измерения этих изменений толщины. Он ввел также применение целлулоида, благодаря чему приготовление моделей для поляризационно-оптических испытаний было значительно упрощено. Труды Кокера ) содействовали широкой популяризации метода. Немало молодых научных работников-специалистов по фотоупругости приобрело свой первоначальный опыт в этой области как раз на практической работе в лаборатории Кокера при университетском колледже в Лондоне. [c.460]

При анализе неметаллических включений и рельефных структур оптический контраст может усиливаться применением поляризованного света, для чего микроскоп снабжен поляризатором 21 для создания плоскополяризованного света и вкладным анализатором 20, который используется для анализа изменений света в результате рассеяния его объективом. Вращением анализатора 20 можно добиться изменения яркости свечения отдельных структурных составляющих и изменения контрастности структуры. [c.12]

Существуют несколько способов исследования переориентации кристаллической решетки в ходе пластической деформации. Во-первых, оптический метод. При его реализации обычно используется поляризованный свет, что позволяет выявлять направление кристаллографических осей в соседних частях образца. Для непрозрачных кристаллов этот метод позволяет получить информацию о состоянии поверхности материала. До начала 60-х годов основные результаты о развитии структуры в ходе деформации были получены именно с помощью данного метода [18]. Кроме простого наблюдения за поверхностью, возможны модификации метода нанесение рисок и сеток [10, 19], применение жидких кристаллов при наблюдении тепловыделения в местах локализации деформации [20], излучение на протравленных шлифах зеренной структуры и, конечно, анализ дислокационных конфигураций с помощью ямок травления [21]. [c.106]

ПОЛЯРИМЕТРИЯ — в широком смысле методы исследования структуры, свойств или состояния вещества, в к-рых применяется поляризованный свет наир., спектроскопия молекулярная в поляризованном свете, изучение различных объектов иа основе интерференции поляризованных лучей (с применением микроскопа поляризационного), поляриаа-циопно-оптический метод исследования напряже 1ий и т. д. В узком смысле П. — методы исследования, основанные на измерении величины вращения плоскости поляризации света при прохождении его через оптически-активные вещества, т. е. па измерении их оптической активности. Величина вращения в растворах зависит от их концентрации поэтому П. широко применяется для измерения концентрации оптически-активных веществ (см. Сахариметрия). Измерение вращательной дисперсии — изменения угла вращения для света с ра.зличной длиной волны, — т. н. с п е к т р о II о л я р и м е т-р и я позволяет изучать строение веществ. Измерения производятся поляри.нетрами и спектрополяримет-рамп. [c.165]

Одно из важнейших практич. применений О. т. с.— уменьшение отражат. способности поверхностей оптич. деталей (линз, пластин и пр. подробнее см. в ст. Просветление оптики). Нанося многослойные покрытия из большого (13—17 и более) числа чередующихся слоёв с высоким и низким п, изготовляют зеркала с большим отражения коэффициенто.ч, обычно в сравнительно узкой спектр, области (не только в диапазоне видимого света, но и в УФ и ИК диапазонах). Коэфф. отражения таких зеркал (50—99,5%) зависит как от длины волны, так и от угла падения. С помощью многослойных покрытий разделяют падающий свет на прошедший и отражённый практически без потерь на поглощение на этом принципе созданы эфф. светоделители (полупрозрачные зеркала). Системы из чередующихся слоёв с высоким и низким п используют и как интерференц. поляризаторы, отражающие составляющую света, поляризованную перпендикулярно плоскости его падения, и пропускающие параллельно поляризованную составляющую. Степень поляризации в проходящем свете достигает для многослойных поляризаторов 99%. О. т. с. позволила создать получившие широкое распространение интерференц. светофильтры, полоса пропускания к-рых может быть сделана очень узкой — существующие многослойные светофильтры выделяют из спектр, области шириной в 500 нм интервалы длин волн 0,1—0,15 нм. Тонкие диэлектрич. слои применяют для защиты металлич. зеркал от коррозии и при исправлении аберраций линз и зеркал (см. Аберрации оптических систем). О. т. с. лежит в основе многих других оптич. устройств, измерит. приборов и спектр, приборов высокой разрешающей способности. Светочувствит. слои фотокатодов и болометров б. ч. представляют собой тонкослойные покрытия, эффективность к-рых существенно зависит от их оптпч. св-в. О. т. с. применяется в лазерах и квант, усилителях света прп создании приборов высокого разрешения (напр., при изготовлении интерферометров Фабри — Перо) при изготовлении дихроичных зеркал, используемых в цветном телевидении в интерференц. микроскопии (см. Микроскоп) и т. д. К эффектам О. т. с. относятся также Ньютона кольца, Полосы равного наклона. Полосы равной толщины. [c.494]

Основоположник метода исследования напряжений при помощи поляризованного света Д. К. Максвелл еще в 1850 г. писал Доктор Брью-стер (1816 г.) открыл, что механическое напряжение вызывает в прозрачных телах временную анизотропию в отношении поляризованного света, а Френель (1822 г.) отождествил ату анизотропию с двойным лучепреломлением в кристаллах [9, с. 301]. Просвечивая поляризованным лучом модели из желатина и стекла, он обнаружил линии одинакового цвета (изохромы), соответствующие местам, в которых разность главных средних нормальных напряжений имеет одну и ту же величину. Таким образом была получена полная картина распределения напряжений в модели. Однако предложение Максвелла не получило применения до 1891 г., когда его соотечественник К. Вилсон [9, с. 420] использовал для исследования балки этот оптический метод, получивший название фотоупругости. В России начало оптическому анализу напряжений положил в 1903 г. проф. В. Л. Кирпичев [9, с. 384]. [c.214]

Работа с микроскопами требует специальной техники подготовки препаратов. Применение специальных реактивов, окрашивающих различные волокнистые вещества в разные цвета, при микроскопическом иЛледовании служит для изучения композиции (состава) бумаг. Таким образом, оптические исследования дают возможность установить тип неизвестного материала (т. е. произвести его идентификацию), наличие в нем примесей, особенности его структуры (например, характер помола бумаги, структуру керамического материала) и т. п. Появление механических напряжений в прозрачных деталях может быть обнаружено, и картина распределения этих напряжений может быть оценена по характеру интерференционных полос в поляризованном свете. Карие. 11-13 представлены интерференционные полосы для напряженной модели стержневого изолятора. [c.310]

Вертикальный металлографический микроскоп МИМ-6 имеет в настоящее время широкое применение. С его помощью можно рассматривать микрощлифы не только в светлом поле, но и в поляризованном свете, а также производить фотографирование микроструктуры. Он дает при непосредственном (визуальном) наблюдении увеличение до 950 раз, а при фотографировании - [c.34]

Для распознавания различных волокон, входящих в состав бумаги, возможно также применение поляризованного света. При рассматривании волокон под микроскопом с поляризационным аппаратом они представляются окрашенными в различные цвета в зависимости от их толщины и степени их двойного преломления. Последняя при приблизительно одинаковой толщине волокон находится в непосредственной связи с их строением. Волокна льна и пеньки напр, представляются в поляризованном свете окрашенными в красноватый или фиолетовый цвет, переходящий в желтый или белый хлопок представляется менее ярко, окрашенным, б. ч. в серовато-желтоватый цвет, и т. д. Этот метод еще недостаточно разработан, но по существу представляет большой интерес в виду того, что при помощи его можно распознавать волокна в бумаге даже тогда, когда они сильно измельчены и растерты (жирный размол) и когда они при этом окрашиваются хлор-цинкиодом в одинаковый цвет. Кроме распознавания рода волокон по их происхождению разработаны еще методы распознавания под микроскопом той обработки и отчасти даже степени обработки, к-рой подвергались волокна. Все эти методы по преимуществу колористические. Так напр. 1) можно отличить под микроскопом беленую от небеленой и слабобеленой целлюлозы, окрашивая препарат сначала малахитовой зеленью, а ватем основным фуксином при этом беленая целлюлоза совсем не закрашивается, а небеленая закрашивается в красный цвет полубеленая же целлюлоза закрашивается в разные оттенки розоватого цвета в зависимости от степени отбелки 2) для распознавания под микроскопом сульфитной и натронной или сульфатной целлюлозы закрашивают препарат краской Судан III в сульфитной целлюлозе, внутри трахеид и на их поверхности, а также в сердцевинных лучах можно заметить окрашенные Суданом (в красновато-бурый цвет) частицы не удаленной варкой смолы в натронной же или сульфатной целлюлозе окрашенные частички смолы встречаются очень редко. [c.580]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...