Интенсивность спектральных линий спектральная и полная

Б. Максимальная и полная интенсивности спектральных линий [c.426]

Возможность последовательного расположения двух интерферометров следует из (17.8). Из этой формулы видно, что угловая дисперсия не зависит от параметра а определяется только углом интерференции ф. На рис. 18.2 дано распределение интенсивности для тонкого (а), толстого (б) интерферометров и суммарное (в) распределение при отношении толщин 4. Максимумы тонкого интерферометра совпадают с каждым пятым максимумом толстого интерферометра. В результате совместной работы двух интерферометров Фабри—Перо получим узкие интерференционные максимумы, ширина которых будет соответствовать толщине толстого интерферометра. Расстояние между ними, выраженное в длинах волн по (17.9), определяется толщиной тонкого интерферометра. При соответствующей кратности р можно получить полную картину сверхтонкой структуры исследуемой спектральной линии в пределах данного порядка интерференции. Определим наибольшее допустимое отношение й /й, так как оно определяет максимальную величину разрешимого спектрального интервала. Для этого следует найти наиболь- [c.137]

Традиц. методом изучения 3. остаётся анализ их положения на Герцшпрупга — Ресселла диаграмме (рис.) (на основании данных об эффективной температуре Уд излучения 3. и её полной светимости L). Светимость L и теип-рэ позволяют найти радиус излучающей поверхности — фотосферы 3. с помощью ф-лы 4ло7 / 2=/,, где o=s5,75-10 г-с -К-- (см. Стефана — Больцмана закон излучения). Темп-ра 3. может быть оценена песк. способами, напр, сравнением распределения знергии в спектре излучения 3. с Планка законом излучения или по относит, интенсивностям спектральных линий разл. элементов, чувствительных к темп-ре. Светимости 3. оцениваются по интегральному (на всех длинах волы) патоку излучения при известном расстоянии до них. Лучшим методом определения расстояния до звёзд остаётся измерение их параллакса (см. Расстояний шкала). [c.68]

Взаимовлияние излучения и вещества характерно для излучающей плазмы. Действителыю, с одной стороны, само излучение обусловлено ускорением частиц и его спектр формируется их тепловым движением, а с др. стороны, радиац. потери плазмы ограничивают её темп-ру, т. е. интенсивность движения частиц. В горячей разреженной плазме И. п. имеет определяющее значение также и в формировании распределения ионов по кратностям ионизации (см. Ионизационное равновесие), а для данного Z/ — по возбуждённым уровням. Эти распределения вместе с максвелловским распределением электронов по скоростям (к-рое обычно легко поддерживается их частыми взаимными столкновениями и потому не искажается излучением) образуют полный набор излучателей для ЛИ, ТИ, ФИ и ЦИ. В свою очередь, частицы плазмы влияют на форму излучаемых спектров, приводя к уширению спектральных линий, й на распространение излучения в среде (см. ниже Запирание излучения, а также Перенос излучения). Наиб, полным взаимовлияние плазмы и излучения оказывается для ЛИ дискретность спектра предопределяет его чувствительность к многообразным уширяющим воздействиям электронов и ионов, а ко1[центрацня излучающих электронов на возбуждённых уровнях в сильной степени определяется скоростью радиац. процессов девозбуждения и возбуждения. [c.108]

КРИВАЯ РОСТА — завпсимость интенсивности спектральной линии поглощения от числа атомов, участвующих в её образовании. Применяется для определения физ. условий и содержания хим. элементов в атмосферах звёзд, а также для определении сил осцилляторов. В качестве параметра, характеризующего иптенсив-ность линии, используется эквивалентная ширина спектральной линии (полная энергия излучения поглощённая в линии, выражаемая шириной соседнего участка непрерывного спектра, в к-ром [c.490]

На высотах 20—70 км земная атмосфера содержит небольшую примесь озона (Oj), макс. относит, концентрация К -рого достигает всего 7 10 Однако большое сечение поглощения (3 10 см ) в спектральной области 2000—3000 А Приводит к полному поглощению излучения с Х<3000 А., в более коротковолновом диапазоне (Х< 1000 А) поглощение определяется диссоциацией молекулярного кислорода и ионизацией атомов кислорода и азота. Для исключения атм. поглощения требуется подъём наблюдат. аппаратуры на высоту 150—200 км. Однако в резонансных линиях кислорода, гелия и водорода атм. поглощение заметно и на больших высотах. Рассеяние солнечного УФ-излучения в резонансных линиях водорода и гелия приводит к появлению фона, следы к-рого прослеживаются на расстояниях вплоть до 120 тыс. км от Земли. Рассеяние на атомах межзвёздной среды, проникающих в Солнечную систему, вызывает появление почти- изотропного фона в линиях водорода и гелия, интенсивность которого равна соответственно 500Л и 10Л (1Я=10 фотонов/см с 4и). [c.219]

Следовательно, в случае статистической независимости фаз ф полная интенсивность может быть представлена в виде суммы интенсивностей отдельных мод. На рис. 2.23 показана временная структура такого многомодового излучения внутри лазерного резонатора. В частотном представлении излучение состоит из большого числа дискретных спектральных линий, частотное расстояние между которыми равно /2L. Каждая мода осциллирует независимо от других, и фазы распределены стохастически в интервале от —я до я. Во временном представлении поле [c.91]

Рассеянный свет в спектрографах. Свет, отражен]ц.1н от поверхностей линз и призм, а также свет, рассеянный на неоднородностях (пылп). попадает на внутренние стенки кожуха спектрографа п, отражаясь от них, может попасть па фотопластинку, создавая на снимке спектрально неразложенный фон — засветку. Интенсивность этого фона монсет быть соизмерима с интенсивностью слабых спектральных линий, так как она определяется полным потоком пзлучения. вошедшим через входную щель в коллиматор, и поэтому мон ет быть достаточно большой. Наличие же фона на снимке Спектра снижает контраст спектральных линий и увеличивает Ошибку из.мерения. [c.125]

В общем случае аппаратная функция А х) дгожет учитывать искажения, которые вносит как онтнческпй прибор, так и регистрирующие устройства, паирпмер фотопластинка в спектрографах пли регистрирующая схема с самописцем в спектрометрах и т. д. Чтобы при этом выделить вопрос об искажении формы распределения интенсивности по контуру спектральных линий или полос от вопросов, связанных с светосилой прибора и т. д., обычно предполагается, что полная энергия наблюдаемого распределения равна полной энергии, входящей в прибор ирп истинном распределении. Мате1матически это означает, что аппаратная функция [c.107]

Как и увеличение размеров источников, немонохроматич-ность света ведет сначала к ухудшению контрастности (видимости) интерференционных полос, а затем к полному исчезновению их. Чтобы не усложнять исследование учетом конечных размеров источника, будем предполагать, что источник света 5 точечный. Пусть и (рис. ПЗ-) — когерентные источники, являющиеся действительными или мнимыми изображениями источника 5. Допустим сначала, что излучение источника 5 состоит из двух близких одинаково интенсивных спектральных линий с длинами волн % ил == Я, 6Я. Точка или линия экрана, где оптическая разность [c.217]

Разрешающая способность, то ссть отношение длины волны к минимально разрешимому спектральному интервалу К Х/АХ, обусловлена угловой шириной главного максимума и определяет возможность раздельного паблюдс ния двух близких спектральных линий возрастает с ростом т и полного числа штрихов N. Условием разрешения близких спектральных линий по Рэлею является совпадение главного максимума для длины волны X и первого нуля интенсивности для длины волны X + АХ [c.154]

Тонкая структура линии рэлеевского рассеяния содержит дискретные линии, обусловленные рассеянием на тепловых волнах (рассеяние Мандельштама-Бриллюэна), расположенные симметрично относительно несмещенной компоненты. Рассеяние с изменением частоты связано с тем, что диэлектрическая восприимчивость х (э. также диэлектрическая проницаемость в = 1 + х) изменяется во времени вследствие тепловых акустических волн в веществе, характерная частота этих изменений равна г/д = и/2а, где и и а — скорость звука и постоянная решетки. Модуляция свойств среды приводит к появлению суммарной и разностной частот рассеянного света г/ г/д. Рассеяние с появлением спектральных компонент, смещенных по частоте относительно исходного излучения, является параметрическим процессом. Вероятность появления одного рассеянного фотона при облучении одной частицы (молекулы или атома) пропорциональна плотности потока квантов в пучке падающего света, но коэффициент пропорциональности (сечение рассеяния а) составляет по порядку величины всего лишь 10 ° см /ср. Отсюда получаем, что отношение интенсивности рассеянного света к интенсивности падающего /о составляет /5 / /о = = Аттапк, где п 10 см — концентрация атомов, к — толщина слоя. При прохождении светом расстояния 1 см в однородном прозрачном твердом теле рассеивается в полный телесный угол (4тг стерадиан) примерно 1з/1о 10 падающей интенсивности. [c.50]

КСЕНОНОВЫЕ ЛАМПЫа Наиболее универсальными источниками света являются ксеноновые (Хе) дуговые лампы высокого давления. Они обеспечивают почти непрерывный спектральный выход в области 270 — 700 нм (рис. 2.3), за исключением нескольких узких линий вблизи 450 нм. Испускание света ксеноновыми дуговыми лампами происходит за счет рекомби-ншщ электронов с ионизованными атомами Хе. Эти ионы образуются при столкновениях атомов Хе с электронами в дуге. Непрерывный спектр испускания возникает при полном удалении электронов из атомов. Атомы Хе, находящиеся в возбужденном состоянии, дают линии в спектре, а не широкие полосы этим обусловлены пики вблизи 450 нм. Интенсивность испускания резко падает в области < 280 нм. При работе многих ксеноновых ламп не происходит образования озона в окружающем воздухе. Кварцевый баллон таких безозонных ламп не пропускает света с длиной волны короче 250 нм, и выходной поток таких ламп быстро падает при уменьшении длины волны. [c.34]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...