Анализ поляризованного света

При обычном анализе поляризованного света с помощью одной поляризационной призмы — анализатора — невозможно отличить свет, поляризованный по кругу, от естественного света, а эллиптически поляризованный — от частично линейно поляризованного. [c.53]

На таких общих соображениях построен метод, используемый на практике для общего анализа поляризованного света. На пути исследуемого светового пучка помещается медленно вращающийся анализатор. Анализ изменения освещенности при вращении позволяет сделать однозначные выводы [c.54]

Рис. 124. Схемы анализа поляризованного света а — нулевая б — ненулевая

Поляризационные приспособления, применяемые для анализа поляризованного света. [c.89]

АНАЛИЗ ПОЛЯРИЗОВАННОГО СВЕТА [c.500]

Качественный анализ поляризованного света производится с помощью анализатора, в качестве которого может быть выбрано [c.502]

АНАЛИЗ ПОЛЯРИЗОВАННОГО СВЕТА 503 [c.503]

Для анализа поляризованного света наряду с пластинкой Х/4 используются приспособления, которые позволяют скомпенсировать до нуля (или дополнить до л) любую разность фаз между двумя волнами. Они называются компенсаторами. Простейший компенсатор состоит из двух слабо скошенных кварцевых клиньев (рис. 4.5). Сложенные вместе, они образуют плоскопараллельную кристаллическую пластинку с оптической осью, ориентированной вдоль ее граней. Один из клиньев можно перемещать относительно другого с помощью микрометрического винта, изменяя тем самым их общую толщину и, следовательно, вносимую компенсатором разность фаз между двумя волнами. [c.179]

Для создания приборов и устройств, применяемых для различных целей в технике физического эксперимента. Здесь имеются в виду интерференционные и интерференционно-поляризационные фильтры, резонаторы лазеров, спектральные приборы, построенные на базе интерферометров, интерференционно-поляризационные компенсаторы для анализа поляризованного света, голографические интерферометры и др. [c.15]

Анализ поляризованного света. [c.215]

Предварительно необходимо рассмотреть методы по,лучения и анализа поляризованного света. [c.636]

Методы К. используют для получения и анализа поляризованного света, для создания оптических затворов, модуляторов, дефлекторов и др. [c.325]

Оптический метод исследования напряжений заключается в том, что прозрачная модель из оптически активного материала (большей частью из специального органического стекла) в нагруженном состоянии просвечивается в поляризованном свете. Изображение модели на экране оказывается при этом покрыты м системой полос, форма и расположение которых определяются напряженным состоянием модели. Путем анализа, полученной картины имеется возможность найти величину возникающих напряжений. [c.516]

Обнаружение и анализ эллиптически-и циркулярно-поляризованного света [c.396]

Для полного анализа необходимо превратить эллиптически-или циркулярно-поляризованный свет в плоскополяризованный, анализ которого легко выполняется при помощи поляризационной призмы. [c.396]

Рис. 18.5. Анализ эллиптически-поляризованного света с помощью компенсатора

В настоящей главе описан метод получения эллиптически-поляризованного и циркулярно-поляризованного света при прохождении линейно-поляризованного света через кристаллическую пластинку. Однако это далеко не единственный способ создания указанных типов поляризации. Эллиптическая поляризация наблюдается при отражении линейно-поляризованного света от металла и при полном внутреннем отражении круговая поляризация возникает иногда при этих процессах, а также при воздействии магнитного поля на излучающие атомы (см. эффект Зеемана) и при-других явлениях. Само собой разумеется, что каким бы процессом ни было вызвано появление эллиптически- или циркулярно-поляризованного света, методы анализа его остаются теми же, как и описанные Ё настоящем параграфе. [c.399]

Если эллиптически поляризованный свет падает на анализатор, то сквозь него пройдет только часть света, соответствующая компоненте колебаний, которые он пропускает. Поэтому при вращении анализатора будет наблюдаться частичное затемнение и просветление поля, т. е. такая же картина, как и при анализе частично поляризованного света. Если же свет поляризован по кругу, то вращение анализатора совсем не будет влиять на интенсивность проходящего света, т. е. будет наблюдаться такая же картина, как и при анализе естественного света. [c.53]

Для полного анализа эллиптически или циркулярно поляризованного света необходимо превратить его в линейно поляризованный свет, который легко анализируется при помощи поляризационной призмы, т. е. для этого достаточно использовать кроме анализатора пластинку в четверть волны. [c.53]

Интересные сведения об ориентировке зерен можно получить из анализа расположения в них линий скольжения и когерентных границ двойников, а также с помощью цветного окрашивающего травления. Разная окраска зерен, различно ориентированных в поверхности шлифа, может быть достигнута разными методами тепловым травлением в разных газовых средах, нанесением окис-ной пленки и рассмотрением ее в поляризованном свете и др. [c.273]

В настоящей книге свойства поляризованного света рассматриваются с помощью таких алгебраических выражений, как уравнение (1.28). Этот метод прост, быстро приводит к цели и позволяет непосредственно и легко отобразить физическую картину явления. Его недостаток заключается в необходимости производить длительные, иногда громоздкие алгебраические преобразования. Свойства поляризованного света можно изучать также с использованием сферического отображения, предложенного Пуанкаре [3] и недавно использованного авторами работ [4, 5] ). Их можно изучать также по методу /-круга , который особенно полезен при анализе объемных задач [6]. [c.34]

Идентичность окислов на покрытиях с окислами как химических индивидуумов была ими установлена при рассмотрении в поляризованном свете и, кроме того, для закиси меди путем структурного анализа. [c.69]

Таким образом, метод фотоупругости позволяет на основе анализа интерференционной картины, полученной в поляризованном свете, изучить напряженное состояние прозрачного образца или модели и с учетом зависимостей теории подобия перейти к напряжениям в натурной детали или конструкции. [c.537]

Коэффициенты концентрации напряжений определяются разнообразными методами, включая непосредственные измерения деформаций, применение методов фотоупругости, использование методов теории упругости и проведение расчетов методом конечных элементов. Исследование напряжений методом фотоупругости было до недавнего времени самым широко распространенным способом изучения распределения напряжений и определения коэффициентов концентрации напряжений около различных геометрических особенностей. Метод основан на использовании двойного лучепреломления многих прозрачных материалов при деформировании их под нагрузкой. Анализ интерференционных полос, образующихся при просвечивании деформированных моделей из оптически активных материалов поляризованным светом, позволяет количественно охарактеризовать распределение напряжений в теле и рассчитать коэффициенты концентрации напряжений. В последние годы метод конечных элементов при определении коэффициентов концентрации напряжений в значительной степени потеснил метод фотоупругости. Численные значения коэффициентов концентрации для разно [c.401]

Анализ поляризованного света, в особенности при плеохроизме кристаллов,— сравнительно трудная задача. Дело обстоит несколько проще, когда свет проходит через прозрачны двояко-преломляющий кристалл, т. е. когда нет изменений в амплитуде колебаний вследствие избирательного поглощения одной из поля ризованных составляющих пучка. [c.500]

Указанных признаков для полного анализа поляризованного света в последних двух случаях совершенно недостаточно. Действительно, свет может быть полностью деполяризован, как это имеет место при отражении его, например, от хорошо матированного стекла или в пасмурный день от белых облаков. В этом случае отличить его от поляризованного по кругу вышеуказанныл способом невозможно, так как вращение анализатора не изменит его интенсивности. Точно так же невозможно отличить частично линейно поляризованный свет от эллиптически ноляризовап-ного, так как вращение анализатора в обоих указанных случаях дает один и тот же качественный эффект — изменение интенсивности от максимума до некоторого минимума. [c.503]

Обыкновенный и необыкновенный лучи. Анализ поляризации света показал, что элект зический вектор в обыкновенном луче расположен перпенднкулярно главному сечению, а в необыкновенном — лежит U самом сечении, т. е. обыкновенный луч поляризован в главном сечении одноосного кристалла, а необыкновенный — в плоскости, перпендикулярной главному сечению. [c.231]

Как следует из этого выражения, эллипс превращается в прямую при значениях разности фаз О и 2л. Это означает, что если разность фаз между взаимно перпендикулярными компонентами компенсировать, обращая ее в нуль или 2л, то эллиптически-поляри-зоваииый свет превратится в линейно-поляризованный. Таким образом, зная величину компенсации разности фаз, можно провести полный количественный анализ эллинтически-поляризованного света. Приборы, способные осуществить такую операцию—компенсировать произвольную разность фаз между обыкновенными и необыкновенными лучами, обращая ее в нуль или 2л, — называются компенсаторами. Ознакомимся с двумя их разновидностями. [c.239]

Амплитуда будет максимальной А = Ь), когда плоскость NN совпадает с большой осью эллипса, и минимальной (Л = а), если она параллельна малой оси. Поэтому при вращении поляризатора мы получим частичное затемнение или просветление поля, т. е. будет наблюдаться та же картина, как и при исследовании поляризатором частично поляризованного света. В частности, если свет поляризован по кругу, т. е. а — Ь, то вращение поляризатора совсем не будет влиять на интенсивность проходящего света, т. е. мы увидим ту же картину, как и при исследовании поляризатором естественного света. Таким образом, анализ при помощи поляризатора не позволяет отличить эл-липтически-поляризованный свет от частично поляризованного, а циркулярно-поляризованный — от естественного. [c.396]

Рассмотрим подробнее это понятие на примере двойного лучепреломления. Пусть речь идет о нормальном падении линейно поляризованного света на кристалл, вырезанный параллельно оптической оси (см. рис. 19). В кристалле распространяются обыкновенный и необыкновенный лучи с взаимно перпендикулярными направлениями линейной поляризации. Для упрощения анализа явления на первом этапе (эудем считать, что в качестве крист 1лла взят турмалин, в котором уже на пути 1 мм обыкновенный луч полностью поглощается. Следовательно, на выходе из достаточно толстой плас1инки имеется только необыкновенный луч, направ- [c.38]

Для анализа определения направления главных напряжений при прохождении эллиптического поляризованного света применяют компенсатор Сенармона. Он состоит из пластинки А./4 и анализатора. Свет после поляризатора проходит объект, пластинку и анализатор Перед измерением анализатор и поляризатор устанавливают в скрещенное положение, а затем вносят пластинку четверть волны (Х/4) и ориентируют ее так, чтобы ее главные направления совпадали с направлением колебаний, пропускаемых анализатором и поляризатором. Разность фаз колебаний, создаваемую объектом, определяют по формуле [c.111]

Экспериментальные исследования направленности развития трещин в неоднородных образцах были проведены на модельных прозрачных материалах /101/, где в качестве матрицы использовалось специально выплавленное стекло марки С-114, а в качестве включений применялись мономинералы граната, сильвина, кальцита, обладающие различными физико-механическими свойствами. Для анализа взаимодействия волны нагружения с неоднородностью использовалась скоростная фоторазвертка в поляризованном свете. Концентрация трещин оценивалась в единичном секторе на различных радиусах от оси канала разряда. Оценка концентрации трещин вблизи неоднородностей проводилась в секторах, представленных на рис.3.9. Возникновение повышенных напряжений в характерных точках границы включение-матрица подтверждается съемкой в поляризованном свете. Причем зона этих напряжений возникает значительно раньше, чем к рассматриваемой зоне подходит магистральная трещина разрушения, и по размеру может превышать размер включения. [c.141]

Основоположник метода исследования напряжений при помощи поляризованного света Д. К. Максвелл еще в 1850 г. писал Доктор Брью-стер (1816 г.) открыл, что механическое напряжение вызывает в прозрачных телах временную анизотропию в отношении поляризованного света, а Френель (1822 г.) отождествил ату анизотропию с двойным лучепреломлением в кристаллах [9, с. 301]. Просвечивая поляризованным лучом модели из желатина и стекла, он обнаружил линии одинакового цвета (изохромы), соответствующие местам, в которых разность главных средних нормальных напряжений имеет одну и ту же величину. Таким образом была получена полная картина распределения напряжений в модели. Однако предложение Максвелла не получило применения до 1891 г., когда его соотечественник К. Вилсон [9, с. 420] использовал для исследования балки этот оптический метод, получивший название фотоупругости. В России начало оптическому анализу напряжений положил в 1903 г. проф. В. Л. Кирпичев [9, с. 384]. [c.214]

Отец Дж. Максвелла часто бывал в академии и при случае брал с собой сына на заседания Эдинбургского общества искусств и Королевского общества. На одном из таких заседаний обсуждался доклад о формах этрусских погребальных урн, причем возник вопрос, каким образом можно построить совершенный овал. Мальчик заинтересовался задачей и предложил остроумное решение ео.. Он изобрел также простое механическое устройство из намотанной вокруг булавок нитки для вычерчивания овальных кривых. Его работа была представлена в 1846 г. профессором Форбсом (Forbes) Эдинбургскому королевскому обществу п была напечатана в Трудах этого общества ). Весной 1847 г. Джемсу представилась возможность побывать в лаборатории Николя, изобретателя поляризационной призмы, и с тех пор он обнаружил высокое умение в экспериментировании с поляризованным светом. Для осуществления поляризации он пользовался отражением от стеклянного зеркала. Впоследствии Николь подарил ему призмы, и Максвелл сконструировал из них прибор для оптического анализа напряжений в поляризованном свете. [c.322]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...