Аппаратная функция спектральная ширин

В реальных спектральных приборах разрешающая способность определяется шириной так называемого инструментального контура спектральной линии, или аппаратной функцией спектрального прибора. [c.425]

Эффективная спектральная ширина щели. С разрешающей силой и аппаратной функцией спектрального прибора тесно связано понятие спектральной ширины щели, которая определяется как интервал длин волн, соответствующий ширине изображения входной щели 81 или ширине выходной щели 5г [c.346]

Следовательно, можно считать, что спектральный прибор, выделив синусоидальные составляющие из исследуемого излучения, как бы провел экспериментальное разложение заданной функции в ряд Фурье. Математическая операция получения спектра функции E t) и физический эксперимент, заключающийся в разложении электромагнитной волны на составляющие, привели к одинаковым результатам и, по-видимому, близки по количеству получаемой информации об исследуемом излучении. Такое же сравнение математического и физического спектров можно провести и в более сложном случае, когда изучаемая функция не является суммой гармонических колебаний, хотя отличная от нуля ширина аппаратной функции усложняет интерпретацию эксперимента и приводит к дополнительным трудностям, которые здесь не рассмотрены. [c.69]

Осн. характеристиками М., определяющими выбор параметров его оптич. системы, являются лучистый поток проходящий через выходную щель предел разрешения 6Я, т. е. найм, разность длин волн, ещё различимая в выходном излучении М., либо его разрешающая способность г, определяемая, как и для любого др. спектрального прибора, отношением Я/бЯ, а также относительное отверстие объектива коллиматора Ад, Разрешающая способность г, ширина выделяемого спектрального интервала бЯ и спектральное распределение энергии излучения, прошедшего через выходную щель, определяются аппаратной функцией М., к-рую можно представить как распределение потока лучистой энергии по ширине изобра.- [c.210]

В прецизионной С. твёрдых материалов и покрытий для правильной интерпретации результатов измерений в некогерентном излучении вводится представление о многомерной аппаратной функции измерений (АФИ) А(й, ф, х). Ширина АФИ по координатам К, ф, х соответствует спектральному (бЛ), угловому (бф) и пространственному (бх) интервалам, выделяемым в дан-пой схеме измерений. Каждое измеренное значение X и его погрешность АХ рассматриваются как результат операции свёртки многомерных ф-ций Х ), ф, х) А( ь, ф, х) в данных конкретных условиях, описываемых комбинацией параметров к, ф, х, бЛ, бф, бх (при известных поляризации и темп-ре) с соответствующими допусками по каждому из параметров. Функциональные зависимости X от параметров Я, ф, х измеряются так один из параметров сканируется, а [c.626]

Форма аппаратной функции реального спектрального прибора определяется рядом факторов, действующих одновременно конечной шириной щели, аберрациями, дифракцией, различного рода дефектами оптических деталей, фотослоем (при фотографической регистрации). Но спектральные приборы часто используются [c.45]

Величина 6/. называется спектральной шириной аппаратной функции. [c.49]

Относительный вклад каждой из этих причин зависит от конструктивных особенностей прибора. Но любой реальный прибор, регистрируя монохроматическое излучение, дает некоторый контур конечной ширины, описываемый функцией (К). Эта функция определяется свойствами спектрального прибора и называется аппаратной функцией или инструментальным контуром. Каждой длине волны Я, в приборе соответствуют некоторый угол отклонения ф и определенная точка X фокальной плоскости камерного объектива. Поэтому инструментальный контур можно записать также в виде /(ф) или (х). Эта функция дает распределение интенсивности в фокальной плоскости прибора, создаваемое монохроматическим источником. [c.316]

Искажающее действие спектрального прибора можно охарактеризовать аппаратной функцией, которая свойственна данному типу прибора. Аппаратная функция описывает характер распределения потока излучения на выходе спектрального прибора, когда входная щель его освещается монохроматическим излучением с длиной волны А,. Ширина аппаратной функции бЯр характеризует способность спектрального прибора выделять из потока излучения узкие участки спектра в окрестности каждой длины волны X, т. е. реальную разрешающую способность [c.426]

Чем меньше ширина аппаратной функции 8Кр, тем точнее прибор передает истинное распределение энергии в спектре, и только при бесконечно узкой аппаратной функции распределение энергии в спектре было бы тождественно спектру излучения, поданному на вход спектрального прибора. [c.427]

В случае когда источники создают излучение в узком спектре с практически нулевой шириной, с помощью интерферометра мы наблюдаем спектральный профиль, который называется аппаратной функцией IV к Вид функции IV зависит от характеристик спектрометра и входного светового пучка. В идеальном случае функция IV совпадает с функцией Эйри. На практике из-за того, что нельзя достичь идеальной плоскостности, зеркала интерферометра будут иметь некоторые нерегулярности, которые вызовут уширение полос и уменьшение их максимумов. Дополнительное ограничение состоит в том, что падающее на приемную площадку фотодиода излучение составлено из тех плоских [c.567]

Конечная шпрпна анпаратноп функции реальных спектральных приборов также ограничивает возможность различения в спектре двух близких спектральных линий. Если длины волн л и л Ь к двух монохроматических линий от.личаются значительно, так что расстояние между центрами их изображений (т. е. между центрами соответствующих аппаратных функций) больше ширины аппаратной функции. сИ> а (рпс. 1.21, а), то такие линии наблюдаются раздельно, т. е. уверенно разрешаются. Если же бл мало, так что (]1 << а, то аппаратные функции для обеих линий в значительной своей части перекрываются (рис. 1.21, б) и в результирующем распределении мы пе всегда сможем установить наличие двух линий — лпшш пе будут разрешены. Такпм образом, при определении разрешающей способности, по существу, речь идет о разрешении двух близких аппарат- [c.43]

Поскольку любой вид дополнительных аппаратурных искажений. кроме дифракции,приводит к увеличению ширины результирующей аппаратной функции (а>ад), то очевидно, что при дифракционной аппаратной функции данный спектральный прибор с одномерной дисперсией имеет максилгальную разрешающую способность. Ее называют предельной пли теоретической, а иногда дифракционной разрешающей способностью. При реальной аппаратной функции спектрального прибора, отличной от дифракционной, разрешающая способность меньше теоретической, и обычно ее называет реальной пли практической. В частности, разрешающая способность, определяемая согласно критерию Релея. также является теоретической, ее иногда называют релеевской разрешающей способностью. Релеевская разрешающая способность коли- [c.48]

В случае фотоэлектрической регистрации спектра результаты измерений могут фиксироваться либо в цифровом виде, либо в виде записи, полученной с помощью самописца при сканировании спектра. Будем считать, что ширина аппаратной функции спектрального прибора намного меньше измеряемой ширины спектральной линии 6к Если середина выходной щели приходится на максимальную освещенность от спектральной линии -А1, то выходящий поток равен по (7.1.36) Фл, бХкз/гй/ л,, [c.490]

Следует подчеркнуть, что аппаратная функция представляет пространственное распределение энергии монохроматического излучения в направлении днснерсии, длпна же волны во всех точках этого распределения одна и та же. Если же входная щель освещена излучением, имеющим сложный спектр с некоторой зависимостью от длины волны, например излучением спектральной линии конечной ширины, то каждая монохроматическая компонента этой линии отобразится в фокальной плоскости камерного объектива в виде аппаратной функции с конечной шириной а. Поэтому распределение энергии в спектральной линии отличается от истинного расиределення яркости по длинам воли в спектральной линии [c.43]

Каждой точке лпнпн дпсперспп можно приписать определенную длину волны пли частоту, и поэтому лпиепную ширину аппаратной функции а можно выразить в спектральных единицах, например в длинах волн, хотя всем точкам аппаратной функции соответствует одна и та же длина волны. [c.49]

Поскольку равенство с11 = а (см. рис. 1.23) определяет условие разрешения двух аппаратных функций, то, очевидно, спектральная ширина аппаратной функции (1.52) численно равна интервалу длин волн разрешаемых монохроматических линий к и Я — бл. Тогда согласно определению (1.46) можно записать выражение для разрешаюгцей способности в виде [c.49]

Распределение освещенности в спектральной линпи зависит от формы аппаратной функции. Рассмотрим сначала случай широкой входной щели (sj s ) п безаберрацпоиной фокусирующей оптики, т. е. случай чисто щелевой аппаратной функции (1.48) с шириной = S. Будем также считать, что яркость постоянна по ширине п высоте входной щелп. Поскольку в нашем случае (см. рпс. 1.29) на щель отображается источник при условии иолного заполнения коллиматора, то это соответствует некогерентному освещению щели. [c.55]

Таким образом, интервал длпн волн, попадающий в каждую точку непрерывного спектра и определяющий его чистоту , равен спектральной ширине щелевой аппаратной функции 6А п зависит от Уц /5. с1г. ( ). и Г. Следует отметить, что такое рассуждение можно провести для любой точки непрерывного спектра. [c.69]

Очевидно, что д.ля огранпчепного участка непрерывного спектра или спектральных липпп конечной шпрпны со спектральной шириной, соизмеримой со спектральной шириной аппаратной функции, полученные соотношения в общем случае окажутся несправедливыми. Однако можно ожидать, что при Ал бЯ освещенность спектра (в центральной его части) также пропорциональна ширине входной щели, как и в случае непрерывного спектра. Наоборот, при бл > Лл освещенность спектра не зависит от ширины щели, как и в случае монохроматической линии. Если же 6К л ЛЯ. то освещенность спектра более сложно зависит от ширины щели. Строго эти вопросы будут рассмотрены в 1.12. [c.71]

И. наконец, в (1.S0) вместо спектральной ширины щелевой аппаратной функции бл введем определяемую ею практическою разрешающун) способность = л б/,. Тогда окончательно имеем [c.73]

Рассмотрим практически важный случай систематических искажений спектральных линий при работе с широкой щелью, ширина которой миого больше нормальной ширины (5 > о)- т. е. случаи чпсто щелевой аппаратной функции. Щелевая аппаратная функция. как уже отмечалось, имеет форму прямоугольника (см. рис. 1.24.а) с шириной основания 5о и описывается уравнениями (1.48). Входящий во второе из них коэффициент А находится пз ус.ловия нормировкп (1.103) [c.101]

Рассмотрим сначала два крайних случая. Первый случай — ширина входной щели Si настолько велика, что спектральная ширина аппаратной функции 6v значительно больше спектральной шприны линии Дл, или а = 5., > р. Тогда область интегрирования /252 в (4.5). много больше области, где велика величина В (х) = В (у — Уц). и поэто.му можно с достаточным приближением заменить пределы интегрирования в (4.5) на эо. читывал, [c.344]

Смотреть страницы где упоминается термин Аппаратная функция спектральная ширин : [c.606] [c.104] [c.256] [c.318] [c.659] [c.175] [c.42] [c.42] [c.43] [c.53] [c.54] [c.55] [c.62] [c.63] [c.65] [c.70] [c.71] [c.80] [c.90] [c.90] [c.109] [c.117] [c.126] [c.225] [c.256] [c.364] [c.389] [c.206]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...