Микрофотометр

Убедившись в достаточной равномерности освещения щели (с помощью микрофотометра МФ-2) и подобрав время экспозиции, можно приступить к съемкам окончательной пластинки, предназначенной для расшифровки и фотометрирования. [c.46]

Почернения линий на фотопластинке измеряют с помощью микрофотометра МФ-2, с устройством которого следует ознакомиться по литературе и его описанию. Следует обратить особое внимание на тщательность фокусировки микрофотометра по всей площади фотопластинки. Ширина измерительной щели микрофотометра не должна превышать /з ширины изображения линии на его экране. Ширина осветительной щели не должна заметно превышать полную ширину изображения линии. В противном случае измеренные значения почернений (особенно для больших почернений) окажутся заниженными вследствие влияния рассеянного света. [c.48]

Пользуясь микрофотометром, измерьте почернения отмеченных линий и нескольких линий на спектрограмме, полученной г помощью ступенчатого ослабителя. [c.49]

Полученные спектрограммы обработайте на микрофотометре, (см. стр. 48). С помощью кривой почернения найдите интенсивности линии Ы1 670,78 нм и одной из близлежащих линий аргона или гелия. Постройте графики зависимостей интенсивности линий от давления и силы тока. [c.86]

Сфотографировав СКР смеси и марки почернения, приступают к обработке спектрограммы. Фотометрирование на микрофотометрах МФ-2 (или МФ-4) проводят с шириной щели 0,2—0,3 мм. По правилам фотографической фотометрии (см. задачу 3) определяют наблюдаемые интенсивности в максимуме юм, асм и /зсм для трех линий, принадлежащих трем компонентам исследуемой смеси. Найденные таким образом величины характеризуют истинные интенсивности линий /юм, hem и /зсм, взятые по отношению к интенсивности спектра флуоресценции сернокислого хинина, поскольку он использовался для съемок марок почернений. Поэтому [c.142]

Наиболее высокую точность удается получить, если для замеров воспользоваться микрофотометром — прибором, реагирующим на местную плотность затемнения пленки. При этом можно довольно точно найти положение максимума затемнения линии, что на глаз сделать много труднее. [c.490]

Это позволяет получить однозначную картину распределения изотопа 0 методом авторадиографии, регистрируя распределение активности изотопа ядерной эмульсией типа Р контактным способом. Время экспозиции определялось экспериментально и составляло 1—3 ч. Фотохимическая обработка эмульсии осуществлялась по стандартной схеме с применением проявителя Д-19. Измерение почернения авторадиограммы проводилось на усовершенствованном микрофотометре МФ-4. Измерение концентрации изотопа С проводилось путем сравнения почернений от измеряемого участка 5 и от эталона по следующей формуле [c.178]

Оптическая схема микрофотометров 3—118 Оптически активное стекло 3 — 255 Оптически активны модели — Производство [c.179]

Фотометрирование спектральных линий производится на микрофотометре, предназначенном для количественного спектрального анализа. Оптическая схема микрофотометра показана на фиг. 12. В этой схеме кроме основной оптической системы (позиции 1—9) имеется вспомогательная система освещения 10, 11, 12), предназначенная для облегчения [c.117]

Фиг. 12. Оптическая схема микрофотометра /—лампочка 12й, 25б/я 2 — сферическое зеркало-рефлектор 3 — двойная линза конденсора 4 —отражательные прямоугольные призмы 5 — объективы микроскопа X 0,30 и X Ю 6 — фокусирующая двойная линза 7 — экран с раздвижной шелью (точность установки и отсчёта щели 0,01 мм, за экраном находится селеновый фотоэлемент диаметром 45 мм) < —фотопластинка Р — щель 10,11, 12 — система вспомогательного освещения 10 — отражательная призма 11 — конден-сорная линза 72 — поворотная призма).

Для получения более точных результатов оценку интенсивностей рекомендуется проводить с помощью микрофотометра. Это может быть особенно полезно в тех случаях, когда сравниваемая линия одной из фаз размыта. В таких случаях расчет следует вести путем сравнения площадей S интерференционных максимумов, [c.16]

Таблицы гомологических пар часто состав-а ляют экспериментально. Для этого приготовляют ряд тщательно перемешанных примесей, X. содержащих различные, но точно известные соотношения фаз. На рентгенограммах, снятых с этих смесей, находят пары линий, каждая из которых принадлежит соответствующей фазе. По этим парам и строят таблицы гомологических пар. При применении микрофотометра нет необходимости подбирать совпадающие линии по интенсивности. В этом случае достаточно найти отношение J jh- Данные в таблице гомологических пар, построенной подобным образом, позволяют получить надежные результаты только при оценке интенсивностей линий с помощью микрофотометра. [c.18]

Степень почернения фотопластинки для различных углов рассеяния W( 3) определяется с помощью микрофотометра. На основании этих данных, пренебрегая паразитным рассеянием, можно определить относительное угловое распределение интенсивности рассеянного света из соотношения [c.225]

Точность результатов, получаемых по методу температурного сдувания , может быть повышена при более совершенной обработке (в частности, с применением фотоэлектрического микрофотометра) [c.118]

Микрофотометры N 21/22, J 1/00-1/60 Миниметры В 3/32> G 01 Многоковшовые экскаваторы Е 02 F 3/28 Многоосные автомобили В 62 D 61/00 Многослойное стекло с прослойками из пластмасс, изготовление В 32 В Многослойные изоляционные материалы F 16 L 59/00 Многослойные покрытия (С 23 С 28/00 нанесение на стекло С 03 С 17/34-17/42) Многоцилиндровые ДВС F 02 В (75/18-75/24 с продувкой цилиндров свежей смесью 25/26-25/28) Многошпиндельные станки В 23 (В 9/00-9/12, 39/16-39/24, С 1/04, 1/08, С 1/08-1/14) Модели [В 22 С литьевые (выбор составов для их покрытия 3/00 извлечение вибрационными устройствами при формовании 19/06 изготовление 7/00-7/06 формовочные смеси с особыми добавками для литья по моделям 1/08)> самолетов А 63 Н 27/00, 27/18))] Моделирование процессов, систем или устройств с помощью аналоговых вычислительных машин G 06 О 3/10, 7/48, 7/80 [c.113]

Приборы и аппаратура Микрофотометр регистрирующий. .......... ИФО-451 1 1 250 [c.178]

Линин рентгенограммы имеют некоторую расплывчатость, что является основным источником. ошибки при обмере полученных линий. Наиболее высокую точность удается получить, если для замеров воспользоваться микрофотометром — прибором, реагирующим на местную плотность затемнения пленки. При этом можно довольно точно найти положение максимума загемненпя линии, что на глаз сделать много труднее. [c.530]

В монохроматоре (или спектрометре) нужная длина волны определяется положением выходной щели относительно диспергирован,ного спектра. В спектрографе на месте выходной щели ставится фотографическая пластинка с широким интервалом чувствительности, на которой интенсивность света на каждой длине волны регистрируется в виде серии более или менее непрозрачных полос или линий. Полученная таким образом спектрограмма сканируется световым пятном,, и детектор регистрирует плотность полос на спектрограмме в зависимости от длины волны. Прибор, работающий по такому принципу, называется микрофотометром. [c.167]

При фотографической регистрации спектра для получения почернений линий, соответствующих их интегральным интенсивностям, ширина щели спектрографа должна быть также в несколько раз больше ширины линий. Роль выходной узкой щели спектрометра в данном случае играет щель микрофотометра при фотомет-рировании фотопластинки. [c.126]

При использовании этого метода необходимо иметь в виду, что табличные значения интенсивностей в максимуме линий комбинационного рассеяния были получены фотографическим методом на спектрографе ИСП-51 с камерой Р=270 мм от возбуждающей линии Hg 435,8 нм. При этом линейная дисперсия в средней области спектра была 2,7 нм на 1 мм. Спектр фотографировался с шириной щели 0,04 мм (-- 5 см- на спектре). Для фотомет-рирования использовался микрофотометр МФ-2 с шириной щели 0,2—0,3 мм. [c.141]

При измерениях щирин линий на спектрограммах рекомендуется пользоваться упрощенным приемом, позволяющим не измерять и не строить весь контур линии. Для этого нужно измерить почернение в максимуме линии и почернение фона, по кривой почернений найти интенсивность в максимуме линии и интенсивность фона и определить почернение, соответствующее половинной интенсивности. Затем по фотометрируемому контуру линии непосредственно на микрофотометре определить расстояние между точками контура с половинной интенсивностью. Далее перевести это линейное расстояние в расстояние в длинах волн Ак. Таким образом можно достаточно быстро получить больщой статистический материал. Для уяснения всей формы линии следует измерить и построить один контур полностью. [c.276]

Упражнение 2. Измерение угловой расходимости излучения ОКГ. Для этой цели сфотографируйте пятно лазерного излучения в фокальной плоскости камеры 16. Используйте фотопластинки изопанхром или специальные фотопластинки для ИК-области спектра. Измерение размеров пятна на фотопластинке проводите на компараторах МИР-1, ИЗА-2 или на микрофотометрах МФ-2, МФ-4. Угловую расходимость оцените по формуле а= ЪЦ, где О — диаметр пятна , f — фокусное расстояние камеры. Строго говоря, диаметр пятна нужно определять как диаметр окружности, в точках которой интенсивность излучения в два раза меньше, чем в центре пятна . Однако в настоящей задаче можно ограничиться приближенной оценкой. [c.301]

Использована оптическая система микроскопа М БИ-11 (ЛОМО). Можно микрофотометр и ров ать o6pa3iuJ лучом ОКГ с помощью механиче ского сканатора. Запись распределения плотности фиксируется на самописце и регистрируется на цифровом вольтметре. Изойражение наблюдают и а. ЭЛТ ВКУ (трубки 35ЛК2Б) Использована оптиче ская система микроскопа НУ-2 фирмы Цейсе [c.105]

Методом мениска цветовую интенсивность цветного пенетранта и световую интенсивность люминесцентного пенетранта характеризуют минимальной, еш,е выявляемой, толщиной цветового или флюоресцентного слоя. На обезжиренную ровную стеклянную плитку наносится 1—2 капли гцшетранта, сверху накладывается выпуклая линза малой кривизны, линза легко прижимается. Белое пятно, которое образуется на месте контакта, рассматривается и измеряется под просвечивающим микроскопом при нужном увеличении. Если контуры белого пятна размыты, то проводится измерение светопропускания от точки к точке с помощью спектрального микрофотометра. В случае люминесцентных пенетрантов осуществляется боковое облучение УФ-светом, причем интенсивность облучения нормируется и должна составлягь 500 мкВт/см . [c.158]

Просвечивание изделий Фотообработка ра- диографических снимков Расшифровка радиографических снимков Рентгеновские аппараты, гамма-дефектоскопы, линейные и циклические ускорители, источники нейтронов (реакторы, генераторы), пленки радиографические, экраны усиливающие Кюветы, баки-танки, автоматы Для фо-тообработки, сушильные шкафы Негатоскопы, денситометры, микрофотометры, мерительные лупы, автоматы для считывания снимков Штативные устройства, эталоны чувствительности, знаки маркировочные, кассеты гибкие и жесткие держатели кассет, приспособления для резки пленок Фонари неактиничного света, оборудование для приготовления растворов (весы, баки, мешалки, фильтры, дистилляторы), оборудование для отделения серебра, рамки и кассеты для проявления пленок, лабораторная мебель (стеллажи, шкафы, столы) Эталоны плотностей почернения, атласы радиографических снимков дефектных изделий, лабораторная мебель (столы, шкафы для архива пленок) [c.314]

Плотность почернения снимка оце-ливают на денситометрах или микрофотометрах. Иногда применяют эталоны плотностей почернения в виде узкой полосы радиографической пленки с участками, имеющими различную плотность почернения. [c.332]

Штативы-тележки Фонари неактиничного света Микрофотометры Экраны металлические Столы для зарядки пленок в кассеты [c.67]

Для определения размытия или изменения плотности почернения пленки в полосе размытия производилось фотометрирование пленок с помощью самозаписывающего микрофотометра. Кривые микрофотометри-рования пленок, полученные при просвечивании эталонного клина в различных условиях, приведены на рис. 1. Три пика каждой из кривых соответствуют трем пазам — дефектам глубиной 5, 8 и 10% толщины поперечного сечения клина, равной 150 мм. Эти кривые показывают, что просвечивание с применением свинцовых и флюоресцирующих экранов дает картину более резкую, чем в остальных случаях. [c.343]

Для нахождения величины размытия мы пользовались методикой анализа такого рода кривых, примененной в работе N. Klasens для определения при рентгеновском просвечивании. При этом пилообразная кривая, определяемая зерном пленки и особенностями микрофотометра, заменялась для удобства расшифровки усредненной плавной кривой. [c.343]

Микроструктура 3— 137. 140 — см. под названием отдельных материалов и металлов с подрубрмкой — Микроструктура, например, Древесина — Микроструктура-, Металлы — Микроструктура и т. п. Микротвёрдость — Испытания 3—11 Микрофотометры 3—117, 271 Микрошлифы 3—136 [c.157]

Измеряя при помощи микрофотометра Z.Q и L, находят по уравнению (12) почернение для ряда снимков с различными временами экспозиции (марки почернения) при одних и тех же условиях проявления и затем строят график S — t или 5 — Ig f (фиг. 32), отклады- [c.159]

Для исследования объёмных моделей при помощи рассеянного света применяется установка [33], дающая полосу интенсивного поляризованного света получаемую от узкой щели длиной 50—100 мм и шириной от 0,3 до 3 мм , ширина щели регулируется (фиг. 198, а). Наблюдение полос интерференции рассеянного света делается в направлении 0 под углом к проходящему свету (фиг. 198, б, в). Схему установки Менгеса с микрофотометром для исследований по методу рассеянного света см. [29]. [c.263]

Метод подмешивания основан на сравнении интенсивности линии определяемой фазы с интенсивностью эталонного вещества, количество которого в смеси точно известно. Анализ состоит из следующих этапов. Приготовляется серия смесей, состоящих из определяемой фазы и фазы, являющейся в смесях эталонным веществом. Количество эталонного вещества в смеси выбирают так, чтобы отношение интенсивностей выбранной пары было пропорционально соотношению масс этих веществ в смеси. При визуальной оценке интенсивности сравниваемых линий долж-ны быть равными, т. е. /этДл. ф = 1, при невыполнении этого условия точность метода заметно снижается. При применении микрофотометра интенсивности сравниваемых линий могут быть разными, [c.14]

Приведенные предварительные данные не претендуют на высокую точность. Однако техника обработки фотографий с интерференционных картин может быть усовершенствована (в частности, путем при менения фотоэлектрического микрофотометра) тогда описанный метод окажется вполне применимым и для сравнительно точных измерений при характеристике температурной зависимости текучести смазочных масел. Этот метод, при дальнейшей его разработке, вероятно, даст возможность в некоторых с.тучаях заменить применяем[ые в настоящее время измерения текучести и вязкости смазочных масел при разных температурах при помощи капиллярных вискозиметров получением непрерывной температурной крн-Рие. 8. Температурная кри- вой текучести СДуванием в узкой ПЛОСКО-1 Гаоа 0- ап ный параллельной щели при наличии поперечно. [c.117]

К классу III с допускаемой амплитудой виброскорости Уа= = 0,315 мм/с отнесены оптикаторы, оптические длиномеры, ультраоптимеры, измерительные машины длиной до 1 м, катетометры, контактные интерферометры, приборы для контроля линейных размеров с электронным индикатором контакта и ценой деления 0,1. .. 0,5 мкм, растровые измерительные микроскопы, микроинтерферометры, приборы светового сечения, приборы для контроля цилиндрических и конических зубчатых колес, спектрографы, спектрометры, спектрофотометры, масс-спектрометры, микрофотометры, фотоэлектрические усилители, прецизионные металлорежущие станки средних размеров (внутришли-фовальные, круглошлифовальные с направляющими скольжения, плоскошлифовальные, координатно-расточные и т. п.). [c.121]

I — фотоэлектрический стилометр 2 — спектрограф 3 микрофотометр 4 — спсктропросктор 5 — твердомер 6 стол-мойка 7 — весы аналитические 8 — фотоэлектрокалориметр 9 — титровальная установка 10 — печь муфельная [c.215]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...