Микрообъективы

МИИ-9 125- 700 0,5 0,35 — 0,19 1-0,03 0,1 В приборе использована схема с интерференционным микрообъективом ОИН-2. Масса прибора 5 кг [c.71]

Нить лампы I проектируется конденсором 2 в плоскость апер--турной диафрагмы 3. Объектив 5 и пластина 8 проектируют изображение апертурной диафрагмы в плоскости зрачков входа одинаковых микрообъективов 6 и 10, г изображение полевой диафрагмы — -В бесконечность. [c.92]

Пучок света от нити накала осветителя проходит через конденсорную линзу, которая проектирует лучи света на оригинал 4 в виде яркого светового пятна. Благодаря одновременному движению осветителя и оригинала лучи света непрерывно или последовательно импульсами воздействуют на отдельные участки оригинала, как бы развертывая его. Часть света, отраженного от оригинала, поступает в анализатор, состоящий из микрообъектива 5 и револьверной диафрагмы 6. [c.310]

МИКРООБЪЕКТИВЫ - НАМАГНИ ЦЕННОСТЬ [c.719]

Микрообъективы — Крепление линз 329 Микроскопы 330, 344, 345, 599 [c.719]

Принцип действия М. поясняет рис. 1, на к-рои представлена оптич. схема наиб. типичного М. проходящего света. Препарат 7 (стрелочка) находится на предметном столике перед микрообъективом 8 на расстоянии, несколько большем [c.142]

Следует особо выделить следующие три группы микрообъективов. [c.25]

Так как фотоэмульсии, применяемые для изучения следов частиц, имеют значительную толщину (от 0,25 до 0,9 мм), то при работе с ними применяют микрообъективы, оптическая система которых специально рассчитана для работы с толстослойными препаратами. [c.141]

Устройство КФ-4 показано на фиг. 112. Оно состоит из конденсора 1 с револьвером 2 и центрирующими винтами 3, набора фазовых микрообъективов 4 и вспомогательного микроскопа 5. [c.193]

Объект-микрометры предназначены для определения увеличения микрообъектива и цены деления окулярных шкал и сеток при визуальном наблюдении, а также для определения масштаба изображения при микрофотографировании. [c.197]

Примечания. На корпусе микрообъективов в зависимости от их назначения гравируют следующие обозначения [c.222]

Если же разрешающая способность используемого материала недостаточна для записи столь высоких пространственных частот, между опорным и объектным пучками следует установить меньший угол При этом для сведения пучков под малым углом потребуются светоделитель и дополнительные оптические элементы (или линзы с большим фокусным расстоянием). Использование в каждом из пучков системы пространственной фильтрации, состоящей из микрообъектива 01. и точечной диафрагмы SF, помогает устранить шумы лазерного пучка ). Эти системы устанавливаются после зеркал, чтобы уменьшить влияние их дефектов. В наших экспериментах мы использовали коллимирующую оптику, обеспечивающую формирование очень однородных плоских волн, причем изменение интенсивности по сечению пучка составляет не более 5%. Однако во многих случаях не обязательны такие жесткие требования. [c.554]

Импульсы большой мощности вызывают также проблемы, связанные с фокусировкой луча в точку, так как при их фокусировке ионизуется воздух и разрушаются расположенные в этой области другие материалы. Это означает, что для устранения дифракционных эффектов нельзя пользоваться обычными пространственными фильтрами. Для расширения пучков без пространственных фильтров вместо микрообъективов, обычно используемых с маломощными лазерными пучками, должны применяться рассеивающие линзы. [c.674]

Все оптические элементы схемы (зеркала, светоделительные пластинки, микрообъективы, диафрагмы, призмы, затворы) должны устанавливаться в специальных приспособлениях, обеспечиваю- [c.92]

Микрообъективы и точечные диафрагмы. В системе микрообъектив— диафрагма объектив должен иметь малые аберрации для параллельного пучка лазерного света на входе объектива, при этом основная часть лучистого потока должна проходить через малое отверстие диафрагмы. [c.127]

Таким образом, целесообразно использовать оптические системы с малыми фокусными расстояниями (микрообъективы). [c.109]

Как уже было сказано, в голографии для увеличения расходимости пучка используются микрообъективы. Если фокусное расстояние микрообъектива имеет порядок f 1 мм, то из (4.13) следует, что для излучения с длиной волны А. = 0,633 мкм при среднем диаметре рассеивающих частиц на оптических поверхностях 2Г(, = 100 мкм диаметр отверстия диафрагмы равен 15 мкм. Такой диаметр обеспечивает отсутствие дифракционных явлений, обусловленных рассеянием на частицах диаметром 100 мкм и меньших. Большие частицы можно устранить с оптических поверхностей механическим путем. [c.112]

Испытав много микрообъективов, сделанных наугад старыми мастерами, Аббе обнаружил, что у всех хороших объективов условие синусов выполнено. Для малых углов и, когда можно положить 81пп = п, условие Аббе совпадает с теоремой Лагранжа—Гель- [c.312]

Так, для объективов астрономических труб, где источником служат точки, расположенные вблизи оси, важно соблюдение условий синусов и устранение с( )ерической и хроматическй аберраций для точек в центре поля для микрообъективов и ( )отообъективов, предназначенных для (фотографирования щирокого поля зрения, необходимо, кроме соблюдения условия синусов, устранение аберраций, искажающих поле (дисторсия, искривление поля и т. д.), а также хроматической аберрации. Объективы, предназначенные для наблюдения объектов малой яркости, должны иметь возможно большее относительное отверстие, и это вынуждает мириться с некоторыми аберрациями, неизбежными при работе с очень широкими пучками. Исправление хроматизма в приборах, предназначенных для визуальных наблюдений и для фотографии, рассчитано на разные спектральные области применительно к тому обстоятельству, что максимум чувствительности глаза лежит в желто-зеленой части спектра, а чувствительность фотопластинок обычно сдвинута в более коротковолновую область. Объектив коллиматора спектрального аппарата должен быть очень хорошо исправлен на хроматическую аберрацию, тогда как объектив камеры может быть совсем не ахроматизован, но в нем весьма вредны астигматизм наклонных пучков и кома впрочем обычно оптика спектрографа рассчитывается как целое, так что недостаток одной ее части в большей или меньшей степени компенсируется за счет другой части. [c.318]

Растр (оло1 рафических линз, таким образом, можно рассматривать как голограмму совокупности точечных источников света, которая может быть получена с помощью линзового растра или методом последовательного получения голограмм одного и того же точечного источника, образованного высококачественным микрообъективом. В пос-ле.тнем сцгучае удается избежать многократного наложения излечения от таких источников и обеспечить высокую идеггтичность свойств отдельных голографических лиги, составляющих растр. Достижение подобной идентичности обычных линзовых микрообъективов и создание на их основе высококачественного растра является одним из основных преимуществ растра голографических линз. [c.61]

О преимуществах схемы прямой регистрации уже говорилось, к недостаткам ее можно отнести высокие требования к разрешающей способности регистрирующей среды и сильное влияние пятнистой структуры (спек.л-структуры) на качество изображения. В голографической схеме, использующей микрообъективы для создания увеличенно1 о изображения предмета, требования к разрешающей способности минимальны, пятнистая структура мало влияет на изображение, но поле зрения и глубина регистрируемого пространства определяются свойствами применяемого микрообъектива и оказываются весьма мaJ ыми. Таким образом, обе описанные схемы [ологра-фического микроскопа обладают существенными недостатками, ограничивающими возможностг. их применения при микроскопических исследованиях. [c.85]

Наибольшая глубина рисок, измеряемых с помощью двухлучевых микроинтерферометров, определяется апертурой и увеличением микрообъектива. Согласно ГОСТ 9847—79 микроишер-ферометры рекомендованы для измерений неровностей от 0,1 до I мкм. [c.68]

Глубину рисок или ступенек, поверхности которых у верхнего и нижнего краев имеют достаточную отражательную способн<х ть, измеряют приборами МИИ-4 и МИИ-5 интерференционно-индикаторным методом. Интерференционные полосы наводят на резкость последовательно на дно риски и ее край. Глубина риски определяется величиной фокусировочного перемещения микрообъектива. Этим методом можно измерять риски глубиной 20— 100 мкм при ширине до 0,25 мкм [c.68]

Приборы для контроля и измерения поверхностных дефектов и микрогео-метрнн. Благодаря малой глубине резкости микрообъективов обычные микроскопы можно использовать в качестве эффективного и достаточно простого средства измерения глубины поверхностных дефектов. Измерение осуществляется последовательной фокусировкой микроскопа на дно риски или царапины и ее верхний край и регистрацией перемещения тубуса микро- [c.74]

Дальнейшее увеличение точности измерений связано с применением авто-коллимационной схемы, показанной на рис. 17. Источник / с помощью конденсора 2 и фильтра 3 освещает ejKy 4 (обычно тонкое прозрачное перекрестие на темном фоне), которая проектируется полупрозрачным зеркалом 5, линзой 6 и микрообъективом 7 на объект 8. Изображение поверхности детали, на которую спроектировано перекрестие, наблюдается системой, состоящей из сетки со шкалой 9 и окуляра /0. Шкала 9 служит для измерения размеров дефекта в горизонтальной плоскости. [c.75]

Модификацией этого метода является автоколлимационный растровый способ измерения глубины неровностей. Схема растрового устройства показана на рис. 18. Растры 2 и 3 проектируются полупрозрачным, зеркалом 4, тубусной линзой 5 и объектом 6 па контролируемую поверхность 7. Растры расположены симметрично относительно фокальной плоскости F F. Шаг растров выбирают с учетом разрешающей способности микрообъектива 6. При точной фокусировке автоколимациониые изображения растров симметрично располагаются относительно рястра-ама-лизатора 8, причем их штрихи смещены на 1/2 шага относительно растра — анализатора 8. Поэтому в момент точной фокусировки в плоскости растра 8 устанавливается фотометрическое равновесие. При дефокусировке оно нарушается и регистрируется визуально или фотоприемником 9—12, как показано на рисунке. [c.75]

ОГ-40 СССР, НИНИН 9 — 20 0,1-0,4 5,0-1,0 3—0,5 10-2 Освещение по методу сьетлою н темного полей. Индикатор часового типа (ИГМ) фиксирует перемещение микрообъектива [c.76]

Даваемые объективами 6 и 10 вторичные изображения полевой диафрагмы проектируются на испытуемую поверхность 7 и зеркало 11. Компенсационная пластина 9 уравнивает длины хода в стекле двух пучков лучей. Отразившись от испытуемой поверхности и зеркала, пучки лучей, вновь пройдя микрообъективы 6 и 10, соединяются полупрозрачной пластиной 8 и объективом 13 вместе с зеркалом 14 направляются в окуляр 12, в фокальной плоскости которого и наблюдается изображение испытуемой поверхности и система интерференционных полос, образованная соединившимися пучками когерентных лучей. При фотографировании интерференционной картины зеркало 14 выводят из хода лучей и с помощью объектива 15 и зеркала 17 лучи направляют на фотопленку, помещенную в кадровом окне 16. Разность хода когерентных световых пучков создается децентрированием объектива 10. Оно вызывает разделение зрачков выхода оптической системы и тем самым создает в поле интерференции переменный наклон пучков, которые разделяет и собирает в фокальной плоскости объектив 13. [c.92]

Однообъективный микроинтерферометр М И И - 9 имеет улучщенную контрастность интерференционной картины и некоторое упрощение конструкции при тех же технических характеристиках. Контрастность улучшена за счет упрощения интерференционной части, выполненной в виде микрообъектива, предложенного А. Н. Захарьевским и показанного на рис. 23. Многолинзовый объектив 4 объединен с пластинами 2 и 3 одинаковой толщины. В центральной части пластины 3 со стороны объектива нанесено плотным напылением круглое зеркало, а на обращенной к ней стороне пластины 2 нанесена полупрозрачная пленка. [c.95]

При помощи диафрагмы из общего отраженного светового потока вырезается узкий пучок, который проецируется микрообъективом на катод К фотоумножителя 7. Этому пучку света на оригинале соответствует световая точка. Электрический сигнал на выходе с фотоголовки пропорционален коэффициенту отражения света от соответствующего участка оригинала. [c.310]

Объективы для микроскопов и микрофотографии. Микрообъективы подразделяются на ахроматы, полуапохро-маты и апохроматы соответственно степени совершенства коррекции. Ахроматы и апохроматы изготовляются сухие и иммерсионные. Последние имеют более высокую апертуру (до 1,7—1,8), что повышает разрешающую способность микроскопов, и. менее чувствительны [c.242]

Механизмы исполнительные — Классификация по изменению момента статической нагрузки 422 Механический эквивалент теп,ла 40 Микроинтерферометры 251 Микроманометры И, 456 Микрообъективы 239, 242 Микроскопы 242, 250 — Разрешаюшая сила 234 [c.543]

Пеле зрения оптич. системы ограничивается размерами УЯ, а разрешающая способность — свойствами применяемого микрообъектива. Если разрешение объектива ограничено только дифракцией, то число разрешаемых элементов на линейном размере поля зрения N = di dyjkL, где — диаметр объектива, dy диаметр усиливающего элемента, Я — длина волны, L — расстояние от объектива до дальнего торца усиливающего элемента. Из этого соотношения видно, что для передачи достаточно большого объёма оптич. информации усиливающий элемент должен иметь достаточно большой диаметр и не быть слишком длинным (что эквивалентно ограничению числа проходов через среду). [c.559]

Микрообъективы по степени исправления хроматич. аберрации разделяются на ахроматы, у к-рых исправлена хроматич. аберрация для двух длин волн и остаётся небольшая окраска изображения, и апохроматы, у к-рых хроматич. аберрация исправлена для трёх длин волн и к-рые дают бесцветное изображение объекта. Существуют также суперапохроматы — линзовые системы, ахроматиаованные одновременно в УФ-и видимой областях спектра (250—700 нм). Плапахро-маты и планапохроматы имеют плоское ноле зрения, что особенно важно для микрофотографии. Кроме того, микрообъективы различаются по длине тубуса, на к-рую они рассчитаны,— на тубусы 160 мм, 190 мм и бесконечность (объективы последнего типа применяются в М. совместно с дополнит, линзой, к-рая переносит изображение из бесконечности в фокальную плоскость окуляра) по среде между объективом и препаратом — на сухие и иммерсионные системы разл. типов водные, глицериновые, масляные и т. д. по методу наблюдения— на обычные и фазово-контрастные по типу препаратов — с покровным стеклом и без него и т. д. Разл. приспособления к М. позволяют улучшать условия наблюдения и расширять возможности исследования. [c.143]

Рис. 1. Приемник звука с интерферометром Маха—Ценце-ра 1 — лазер, г — микрообъективы 3 — ответвители 4 — сигнальный световод на катушке 3 — опорный световод в — фотоприёиник.

Рис. 2. Поляризационный приёмник звука 1 — лазер 2 — четвертьволновая пластина 3 — микрообъективы 4 — световод г — упругий цилиндр в — поляризационный анализатор 7 — фотоприёмнкки.

У большинства распространенных микроскопов всех типов, за исключением металлографических, компоновка оптических и механических узлов почти одинакова. На фиг. И показан один из наиболее распространенных биологических микроскопов, и для наглядности изображена схема хода лучей в микроскопе. Штатив предназначен для крепления и соответствующих перемещений препарата и оптических узлов микроскопа. На основании 1 укреплена колодка с механизмами и предметным столиком 2. Тубусо-держатель 3 несет на себе тубус 4 с окуляром 5 и вращающийся револьвер 6 с микрообъективами. Фокусировка микроскопа произ- [c.20]

Микрообъектив является наиболее существенной частью оптической системы микроскопа и исправлению его аберраций придается большое значение. Поэтому микрообъективы (особенно большого увеличения) представляют собой сложные многолинзовые системы. По степени исправления аберраций микрообъективы можно разделить на несколько групп. [c.22]

Конструкция микроскопа показана на фиг. 28. На основании 1 укреплены осветитель 2, диск со стеклянными светофильтрами, газовые светофильтры и штатив биологического микроскопа 3. На тубусодержателе микроскопа укреплено щипцовое устройство 4 для установки и центрирования микрообъективов и тубус люминесцентного преобразователя 5. На тубусе 5 установлен визуальный наклонный тубус 6. В основании закреплена штанга 7 с кронштей- [c.64]

На кронштейне 6 может быть установлена малоформатная пленочная камера Зенит или дополнительная микрофотонасадка МФН-3. Под фотокамерой 4 на основании устанавливается микроскоп, на котором укрепляется визуальная насадка 7, служащая для наблюдения фотографируемого объекта. В насадку 7 вместо окуляра может быть вставлена одна из гомалей, исправляющих кривизну изображения микрообъектива. Насадка 7 позволяет проводить фокусировку микроскопа при работе с пленочной камерой. [c.125]

Рис. 1. Схема коррелятора с частотной плоскостью. ПА — переменный аттенюатор S — фотозатвор М — зеркало РСД — регулируемый светоделитель 0L — линза микрообъектива SF — точечный пространственный фильтр низких частот l и Сз — коллимирующие линзы Li н La — фурье-преобразующие линзы.

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...