Артефакты

Степень чистоты поля зрения — это характеристика, нормирующая допустимое число артефактов и их размеры в выходном изображении при условии равномерного облучения входной плоскости преобразователя. [c.358]

Рассматриваемый процесс нелинейного объемного усреднения , выражаемого соотношениями (152) и (153), приводит к ряду характерных нелинейных артефактов в изображении дефектов. Эти артефакты связаны с зависимостью чувствительности (а Дц/д) от размеров дефекта в плоскости контролируемого слоя. Поэтому расслоения или включения одинакового контраста и толщины, но разной протяженности будут воспроизводиться с различной эф( ктивной плотностью (ЛКО). Изображения протяженных дефектов будут иметь края с несколько большей кажущейся плотностью, чем центральные области, для которых характерны заниженные значения ЛКО. [c.449]

Шумы реальных РЭМ имеют спектр гиперболической формы F(/(o) = 1//и и могут быть учтены в конкретном случае путем их предварительного анализа по частотному составу и последующей фильтрации, где / — частота рассматриваемого спектра. Кроме того, на поверхности излома, даже испытанного в лаборатории образца, присутствует группа артефактов, искажающих спектр Фурье. Одним из них является неравномерность освещения в электронном микроскопе фасетки с уста- [c.208]

Частично исключить артефакты, связанные с выбором конкретного участка поверхности излома, можно путем исключения индивидуального спектра шумов и помех, который устраняют путем соответствующих преобразований всего спектра. Снимается спектр не перпендикулярно периодической структуре излома, а параллельно ей. Получаемый таким образом спектр помех определяет уровень достоверности в измерительном спектре существенное превышение какой-либо гармоники в измерительном спектре относительно спектра артефактов сигнализирует о достоверном наличии структур с соответствующим периодом. [c.208]

Рис. 1.36. Рентгенограмма сплава u-Ag, полученного консолидацией ИПД, после отжига при различных температурах. Пики, отмеченные звездочкой, являются артефактами, вызванными дифракцией от подложки

Кроме того, при анализе полученных результатов следует учитывать ошибки, связанные с сущностью самого метода тепловой микроскопии. К числу таких ошибок, вносимых техникой эксперимента, так называемых артефактов , относится вакуумное термическое травление, в ряде случаев затрудняющее, например, ин- [c.8]

Ниже приведены характерные артефакты, вероятные причины их образования и пути устранения. [c.620]

В случае появления на пластине после многократной непрерывной съемки изделий проявлений усталости , выражающихся в снижении ее фоточувствительности, возникновении множества мелких артефактов и проявлении на снимке следов предыдущего изображения, делают перерыв в работе данной пластиной на 20—30 мин. [c.622]

Артефакты возникают из-за плохого качества пластин, [c.622]

В целом терминология, использующая понятия М. покоя , М. движения , ф-лы (И), (12) и т. п. артефакты, мешает понять сущность теории относительности, затрудняет в дальнейшем знакомство с совр. науч. литературой. [c.52]

Косвенный метод исследования применяется ограниченно из-за трудности однозначно интерпретировать эффекты контраста на изображении и идентифицировать различные структурные составляющие, из-за частого возникновения артефактов, связанных с деформацией реплики при ее отделении от объекта и при различных манипуляциях с ней. Кроме того, разрешение электронно-микроскопических изображений лимитируется разрешением самой реплики, которое в лучшем случае достигает нескольких десятков ангстремов. В то же время развитие растровой (сканирующей) электронной микроскопии позволяет примерно с тем же разрешением прямо изучать поверхностный рельеф металлического образца, а также по рентгеновскому характеристическому излучению определять химический состав различных структурных составляющих и даже наблюдать картину распределения того или иного химического эле. гента по поверхности объекта. Поэтому практическая значимость косвенного метода невелика и в настоящее время ограничена электронной фрактографией. [c.50]

Сложное, возможны артефакты Только тонкий или реплика [c.64]

Дифракционный предел МР-микроскопии, определяемый длиной волны, составляет единицы—десятки нанометров. Конечно, это намного ниже возможностей электронной микроскопии. Однако в электронной микроскопии для получения необходимого контраста образцы фиксируют, высушивают, напыляют на их поверхность тонкую металлическую пленку или вводят в их состав контрастирующие вещества. В результате этих операций увеличивается вероятность появления артефактов. В противоположность этому МР-микроскопия, занимая по пространственному разрешению промежуточное положение между оптической и электронной, позволяет изучать сравнительно толстые живые образцы тканей и организмы. [c.4]

Рассмотренный в предыдущих параграфах широкий круг проблем, связанных с выявлением предельных возможностей оптических информационных систем, передачей солитонов на сверхдальние расстояния и т. д., предъявляет особые требования к точности математических методов описания соответствующих процессов. Традиционные прямые методы решения уравнений шредингеровского типа (сеточные и спектральные [50]) позволяют достоверно вычислять волновые поля на расстояниях, не превышающих нескольких дисперсионных длин. Сеточная дисперсия или искусственная периодизация решения приводит к появлению артефактов. Наибольшие трудности возникают при решении стохастических задач самовоздействия в дальнем поле Применительно к импульсам пикосекундного диапазона длительностей это соответствует сравнительно большим физическим расстояниям Lд l км (то 6 ПС, =1,5 мкм), но по мере перехода в фемтосекундный диапазон область достоверного моделирования быстро сокращается, так, при То=100 фс дисперсионная длина см. [c.220]

Ситуация в отношении сингулярностей такая же, как при конечноэлементных расчетах, поскольку детали сингулярного поля напряжений в окрестности поверхности раздела у кромки не воспроизводятся точно. Таким образом, решаемая задача упрощается, но необходима разработка метода интерпретации расчетных напряжений, например при анализе разрушения. Однако необходимо отметить, что сингулярности, получаемые в теориях эффективного модуля при рассмотрении волокнисто-армированных слоистых тел, являются математическими артефактами. Это обстоятельство обсуждалось в работах [20, 21], где указано на целесообразность использования при анализе разрушения усредненных, а не локальных напряжений. Такая особенность [c.65]

Однако нельзя исключить, что при циклировании процесса насыщение-дегазация указанное поведение является артефактом процедуры циклирования и не имеет отношения к критическому поведению дефектов. Для выяснения ситуации исследовалось влияние продолжительности наводороживания на закон дегазации р( ) [141]. Во избежание неконтролируемого нарастания плотности дефектов величина тока снижалась от 40 мА/см до 2,5 мА/см . Из данных, приведенных на рис. 47, видно, что дебаевская зависимость р ) реализуется при временах насыщения = 15 мин, а с ростом величины до 70 мин она существенно усложняется. В частности оказалось, что в рамках кусочно-дебаевской аппроксимации время релаксации на каждом последующем участке уменьшается по сравнению с предьщущим. [c.172]

Принципиально расшифровка электрорентгенограмм не отличается от расшифровки рентгеновских снимков. На электрорентгенограммах не должно быть артефактов, мешающих расшифровке. Артефакты — это дефекты изображения, не связанные со структурой просвечиваемого объекта. Их появление обусловлено либо плохим качеством селеновых пластин, либо недостаточной квалификацией оператора. [c.50]

При решении практических задач получили распространение просвечивающие, а в последнее время и растровые электронные микроскопы. С их помощью могут быть получены картины клеточных мембран, изображения поверхности бактерий и субклеточных единиц, объемные реконструкции некоторых соединений и т. д. Непосредственное исследование жидких сред в электронных микроскопах невозможно, поэтому обязательной операцией при проведении этих исследований является подготовка препарата, обезвоживание его, высушивание и заключение в некоторую формирующую среду, исключающую появление артефактов, способных исказить результаты исследований. [c.186]

Чтобы улучшить выявляемость мелких дефектов, необходимо улучшить отношение сигнал/шум в видеосигнале. Видеосигнал в радиационно-телевизионной установке является смесью сигнала, несущего информацию об ОК, коррелированного шума и случайного некоррелированного шума. Примерами первой составляющей шума могут быть артефакты люминесцентного экрана, мишени или фотокатода передающей телевизионной трубки. [c.94]

Вычитание изображений. Шум, связанный с артефактами сцинтилляционного экрана и чувствительными элементами телевизионной трубки, можно устранить или значительно уменьшить путем вычитания цифровых изображений. Эту операцию можно объединить с суммированием. [c.94]

Причем материалы с большей плотностью и эффективным атомным номером в большей степени подвержены подобным артефактам. Это обстоятельство усиливает эффективность применения энергий, соответствующих меньшим значениям. [c.128]

Требования к величине допустимых погрешностей первого и второго видов принципиально различны. Ошибки первого вида (5]) традиционны для линейных систем, не сопряжены с возникновением ложных структур артефактов и обычно сушественны лишь для передачи высокочастотных составляющих томограммы. При воспроизведении низкочастотной части изображения их вклад незначителен. Поэтому вполне надежным является требование 81 < 20 %. [c.139]

Основным Офаничением цифрового временного вычитания является его подверженность влиянию артефактов, обусловленных движением пациента между моментами времени, когда получаются изображения с контрастом и без контраста. [c.180]

Искажения изображения - так называемые артефакты - могут вызываться рассеянным излучением, неточной коллимацией излучения, направляемого на детекторы, нестабильностью радиационного выхода, конечным количеством измерений, а также особенностями математической профаммы расчета изображения, в которой, в частности, не всегда с идеальной точностью могут быть учтены изменения жесткости излучения по мере прохождения излучения через исследуемый слой. [c.190]

Согласно (60) и рис. 5 величина погрешности ( i) монотонно увеличивается с ростом интегрального ослабления [ig ( о) 1 — 2r/D) , что приводит к ряду важных следствий. Так, изделия разного диаметра, изготовленные из одного материала, на томограмме будут воспроизводиться с различными кажущимися уровнями ЛКО, что создает серьезные трудности при аттестации методом ПРВТ абсолютной плотности материалов. Причем материалы с большей плотностью и эффективным атомным номером в большей степени подвержены подобным артефактам. Это обстоятельство усили- [c.418]

В случае ПРВТ структура артефактов на томограмме зависит от совместного воздействия нелинейных погрешностей многих интегральных проекций (52), (59) и потому не локализована в отдельных точках томограммы, а плавно изменяется в пределах однородных зон образца. Если не предусмотреть специальных мер по коррекции подобных артефактов, то сложная, визуально не очевидная структура ошибок немоноэнергетичности и их аддитивный, по отношению к действительной структуре изделия, характер ограничат фактические возможности обнаружения дефектов случаем, когда амплитуда разноплотности дефектов в несколько раз превысит амплитуду поля ошибок. В типичном случае — это дефекты с реконструированной разноплотностью более 10%. [c.419]

С целью эффективного ослабления нелинейных артефактов при обнаружении локальных дефектов в промышленных изделиях произвольной структуры можно использовать линейную высокочастотную пространстеенную фильтрацию проекций. В силу характерной разницы простраиствеиного спектра нелинейных интегральных артефактов и локальных дефектов последние в этом случае воспроизводятся относительно усиленными на фоне ослабленной низкочастотной структуры изделий. Этот метод, реализованный, например, с применением алгоритма обратного проецирования с фильтрацией двойным дифференцированием (ОПФДД), устойчив к любым изменениям формы и ориентации изделия и одновременно упрощает весь процесс реконструкции. [c.423]

Эти нелинейные артефакты, однако, не следует смешивать с влиянием немоноэнергетичности используемого излучения, поскольку они сохраняются и при моиоэнергетическом приближении. [c.449]

Несколько более трз доемки методы борьбы с локальным наклоном исследуемого участка. При любом наклоне видимый период меньше реального, поэтому, получая ряд спектров Фурье для различных наклонов объектов в РЭМ, можно найти тот, в котором фиксируется наибольший период, — это и будет спектр, по которому максимально достоверно определяются истинные размеры структуры излома. Ряд менее значительных артефактов (импульсные шумы РЭМ, нелинейность разверток на краях кадра и др.) исключается комплексом аппаратно-программных методов. [c.208]

Потенциал электризации электрорадиографической пластины определяется оператором экспериментально и устанавливается переключателем Потенциал зарядки элек-трорентгенографа. Чрезмерный потенциал зарядки приводит к пробою селенового слоя и появлению ложных элементов выходного изображения, отсутствующих в исходном изображении и возникающих в процессе преобразования исходного изображения, называемых артефактами, которые затрудняют расщифровку снимка. [c.620]

На электрорадиографическом снимке должны быть видны изображения контролируемого участка, эталонов чувствительности и маркировочных знаков. Снимки, имеющие артефакты, мешающие расшифровке, к рассмотрению не принимаются. [c.622]

Artifa t — Артефакт. Искусственное образование типа царапины или фрагмента пыли на ме- [c.895]

Фиксированное расстояние называется критическим и во всех случаях принимается равным толщине одного слоя. Аналогичная процедура усреднения была предложена Уитни и Нюйсмером [26] при изучении разрушения образцов с концентратором. Отметим также, что небольшой участок изменения крутизны распределения вблизи кромки <рис. 3.31, а) является, как было показано в разд. 1.8.5, всего лишь артефактом, присущим использованной модели. [c.166]

Изображение с вуалью и артефактами образуется в результате попадания в прибор большого пучка рассеянного света, а также из-за загрязнения препарата, оптических и вспомогательных деталей. В этих случаях следует приготовить новый препарат, вычислить или заменить соответствующие оптические и вспрмогательные детали. [c.166]

Данное сечение не всегда удовлетворяет требованиям, предъявляемым к сечениям Пуанкаре, поскольку отдельные орбиты могут касаться его или не иметь с ним обгцих точек. Это обуславливает дополнительные трудности при анализе таких систем, связанные с необходимостью различать особенности поведения самой динамической системы и артефакты, вызванные неправильностью сечения. Тем не менее, сечение по поверхности удара с успехом применялось для решения таких задач, в которых возврат траектории на поверхность (5) гарантируется видом уравнений (2) — так называемый метод припа-совывания ([5, 29, 33, 37, 61] и др.). [c.242]

Наряду с этим, имеются различные случаи вырождения, которые отнюдь не являются артефактами, а весьма часто встречаются на практике. В каждом таком случае требуется разработка специальных подходов, и современный этап развития теории устойчивости и бифуркаций движений с вырожденными ударами можно характеризовать как начальный. Растущий интерес ученых разных стран к задачам такого рода и поддержка со стороны научных фондов, включая Российский фонд фундаментальных исследований (проекты 93-013-17228, 96-01-01440, 99-01-00281 и др. и ШТА8 (проект 96-2138), позволяет рассчитывать на скорый прогресс в этой области нелинейных колебаний. [c.252]

В этом выражении, как и ранее, А (х) является функцией единичного скачка, а v = v . Величина в угловых скобках равна удвоенному числу неупорядоченных пар молекул, причем в каждой такой паре хотя бы одна молекула находится в ячейке v = О, а расстояние между молекулами пары меньше или равно Л. При этом, конечно, не учитываются пары типа (И) в ячейке v = 0. При любом фиксированном значении Л эта величина вполне может быть непосредственно вычислена для любой заданной конфигурации, и поэтому она годится для оценки функции О(Л) методом Монте-Карло с использованием цепи Маркова. Второй член в угловых скобках является артефактом, обусловленным периодичностью системы, и в дальнейшем мы не будем его згчитывать, полагая, что R < L. Покажем теперь, что величина [c.290]

После того как при заданных значениях У и форме ячейки установлено существование отделенных друг от друга квазиэргоди-ческих наборов состояний, необходимо перейти к решению еще более сложной задачи оценки их влияния на основной предмет исследования определение свойств макроскопического объекта. Так как определение отделенных друг от друга квазиэргодических наборов состояний практически означает просто два или более набора состояний, по которым невозможно провести усреднение с требуемой точностью за соответствующее количество машинного времени, то в этом случае среднее (/), определяемое формулой (1), не может быть вычислено. Может появиться возможность сделать какие-либо заключения о значении одного или нескольких подобных наборов состояний на базе вышеупомянутого кристаллографического подхода. Поведение среднего значения при изменении объема У или N и, возможно, формы У также может подсказать нам разумные предположения о том, является ли некий набор состояний артефактом, связанным с рассмотрением малых систем, или этот набор имеет макроскопическое значение. Именно в этом аспекте интерпретация результатов метода Монте-Карло наиболее затруднительна. [c.307]

Компьютеры, используемые в системах ЭОЦВА, снабжены программными средствами для коррекции артефактов, вызванных движением пациента, выбора последовательности двух сравниваемых изображений, обработки результирующего изображения, а также для проведения вычислительных операций (расчета объема и скорости кровотока, измерения объемов полостей сердца, сосудов и т.п.). [c.182]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...