Приборы светового сечения для измерення

Измерение толщины покрытий при этом производится двойным микроскопом МИС-11 серийного производства (рис. 81), который предполагается заменить моделью ПСС-2 (прибор светового сечения — рис. 82) поэтому ниже приводятся данные для последнего. [c.89]

Приборы светового сечения предназначены для контроля высококачественных поверхностей и измерения толщины тонких прозрачных пленок в диапазоне 16. .. 320 мкм. Схема измерения методом светового сечения показана на рис. 13. На поверхность изделия проектируется изображение узкой светящейся щели и затем оценивается в отраженных лучах, обычно под углом 45° к нормали (рис. 13, а). При наличии неровностей на поверхности изделия в поле зрения прибора наблюдается деформация изображения щели, пропорциональная их высоте А (рис. 13, б). [c.500]

Все оптические приборы предназначены для измерения величины щероховатости поверхности по параметру Rz. Приборы теневого сечения (ПТС-1) применяют для контроля грубо обработанных поверхностей с 1-го по 3-й классы. Приборы светового сечения (ПСС-2) применяют для контроля поверхностей с 4-го по 9-й классы. Приборы, основанные на принципе интерференции света — интерферометры, применяют для контроля тонко обработанных поверхностей с 10-го по 14-й классы шероховатости. [c.242]

Наибольшее распространение для бесконтактных измерений шероховатостей получили оптические приборы светового сечения, теневой проекции и интерференции света. [c.46]

Приборы, приведенные в табл. 8,. предназначены для контроля высококачественных поверхностей и измерения толщины тонких прозрачных пленок в диапазоне 160—320 мкм. Схема измерения методом светового сечения [c.71]

Теневая проекция и прибор теневого сечения ПТС-1. Теневая проекция является видоизменением светового сечения, удобным для измерения неровностей сравнительно грубых поверхностей профильным методом. [c.113]

Исследования В. А. Егорова показали, что погрешности измерения методом оптического фотографирования при определении критерия Яск для классов чистоты, охватываемых интерференционными приборами, т. е. с 10 по 14-й класс, составляют + (7—15) %, а для классов чистоты, охватываемых приборами, построенными на принципе светового сечения, т. е. с 3-го по 9-й класс, составляют + (4—11) % [3]. [c.239]

Точные результаты получаются при измерении половины угла профиля на микроскопе резьбовыми ножами для ориентирования визирных рисок измерительного прибора параллельно образующей профиля. Для внутренних диаметров свыше 14 мм угол а/2 можно измерять прибором для бесконтактных измерений, работающих по принципу светового сечения. При бесконтактном методе тонкая полоса света, попадающая на профиль измеряемой резьбы, имеет профиль осевого сечения резьбы. Спроектированная микроскопом на поверхность витка резьбы пространственная щель становится видной в окуляре микроскопа в виде тонкой светлой полоски. Угол а/2 измеряется на микроскопе с помощью окулярной сетки. [c.102]

Для исследования начальных стадий коррозии (глубина поражения до 3 мкм) применяют чувствительные микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-10, МИИ-12 [12]. Микроинтерферометр представляет собой соединение двух оптических систем микроскопа и интерферометра. В поле зрения микроинтерферометра наблюдается исследуемая поверхность, на которую накладывается изображение интерференционных полос по величине изгиба этих полос можно судить о глубине изъязвлений. Величина изгиба определяется с помощью окулярного винтового микрометра. Большое распространение для определения глубины коррозии получил метод светового сечения профиля с помощью двойного микроскопа Линника. Этот прибор (рис. 1.10) представляет собой систему двух микроскопов осветительного и микроскопа наблюдения, расположенных под углом друг к другу. При освещении прокорродировавшей поверхности через узкую щель в поле зрения микроскопа видна (в результате различного отражения от выступов и впадин) извилистая линия, точно воспроизводящая профиль язвы в перевернутом виде. Высоту профиля измеряют, подводя визирный крест окуляра с помощью микрометрического винта поочередно к основанию профиля и его вершине. Этим методом можно измерять поражения глубиной от 3 до 100 мкм с точностью 3—5%. При использовании специальных оптических устройств можно повысить верхний предел измерений до 1000 мкм. Точность метода снижается при измерении глубины узких язв с крутыми стенками, в которые затруднено проникновение света. [c.21]

Бесконтактные оптические приборы для измерения шероховатости, основанные на принципе светового сечения (ППС), теневого сечения (ПТС) и интерференции света (МИИ) изготовляются в соответствии е ГОСТ 9847—61. Отечественной промышленностью выпускаются четыре типа таких приборов. [c.653]

Половину угла профиля внутренних резьб, диаметром свыше 14 МуЧ можно измерять прибором для бесконтактных измерений, работающих по принципу светового сечения. [c.202]

У внутренних резьб малого диаметра шаг измеряется преимущественно по слепкам или отливкам. Возможно измерение-шага внутренней резьбы на бесконтактном приборе по методу светового сечения. Предельная погрешность метода (по данным ГОИ) равна погрешности измерительного прибора. Для инструментального микроскопа она достигает 20 мк.ч. [c.203]

Двойной микроскоп Линника. Прибор предназначен для измерения чистоты поверхностей 3—9-го классов чистоты. Действие микроскопа основано на принципе светового сечения (фиг. 102). Прибор (фиг. 103) состоит из двух микроскопов микроскоп А служит для освещения исследуемой поверхности (проектирующий микроскоп), микроскоп В — для наблюдения и измерения получаемого очертания кривой [c.452]

Для измерения погрешностей изготовления угла профиля для внутренних резьб диаметром свыше 14 мм можно применять прибор для бесконтактных измерений, работающий по принципу светового сечения. [c.159]

Наряду с контактными приборами могут быть рекомендованы бесконтактные оптические приборы, основанные на принципе светового сечения (ПСС), теневой проекции (ПТС) и интерференции света (МИИ), изготовляемые по ГОСТ 9847—79. В настоящее время промышленность выпускает также оптические приборы для измерения шероховатости поверхности микроинтерферометры МИИ-4, МИИ-9, МИИ-10, МИИ-12, двойной микроскоп МИС-11, двойной микроскоп ПСС-2, прибор теневого сечения ПТС-2. [c.49]

Двойные микроскопы (приборы, основанные на принципе светового сечения) предназначены для измерений шероховатостей поверхностей по методу светового сечения. Метод заключается том, что расположенная параллельно поверхности узкая щель 4 [c.109]

К наиболее распространенным приборам бесконтактного действия, удобным в цеховых условиях, принадлежит двойной микроскоп акад. В. П. Линника (фиг. 52). Он может быть использован для измерения чистоты поверхности от 3 до 9-го класса. Действие его основано на так называемом методе светового сечения (фиг. 52, а). Свет через узкую щель в одной трубке микроскопа падает под углом на измеряемую поверхность (фиг. 52, б) и дает резкие контуры сечения, образуемого тонким световым пучком. Эти контуры наблюдаются через вторую трубку микроскопа, расположенную под углом 90° к первой (фиг. 52, в), с увеличением от 50 до 250 раз. [c.65]

Двойной микроскоп МИС-11 конструкции акад. В. П. Лин-ника — оптический прибор, действие которого основано на использовании метода светового сечения . При помощи двойного микроскопа определяют высоту неровностей. Двойной микроскоп при.меняют для измерения неровностей в диапазоне 3—70 мк. [c.48]

Приборы для определения класса чистоты. Для деталей и изделий, поверхности которых отшлифованы и отполированы в целях декоративной отделки, при оценке качества их обработки нет необходимости в точном определении класса чистоты обработки, но определение порядка величины класса часто бывает необходимым. Для точных определений степени шероховатости по ГОСТу 2789—59 предусмотрены приборы, изготовляемые в соответствии с ГОСТом 9847—61. Это оптические приборы типа ПСС, действие которых основано на принципе светового сечения, и приборы типа ПТС, действие которых основано на принципе теневого сечения. Они предназначаются для измерения шероховатости от 1 до 9-го класса. [c.23]

Электромеханические приборы последовательно, по мере перемещения щупа по поверхности, преобразуют измеряемый профиль в электрическое напряжение для записи или измерения нужного параметра, а оптические приборы для того же назначения одновременно преобразуют участок профиля в интерференционную картину, световое или теневое сечение . [c.478]

Приборы светового сечения (ПСС) называют двойными микроскопами (МИС-11 системы В.П. Линника). Они позволяют измерять шероховатость поверхности до 2 0,8 мкм.Для измерения более чистых поверхностей с Л2 0,8...0,03 мкм применяют микроинтерферометры (МПИ-4 МИИ-5 МИИ-10 МИИ-12), работающие на принципе интерференции света. Поверхность образца (детали) рассматривается в микроскоп и при этом на ее изображение накладываются интерференционные полосы, по искривленшо которых судят о распределении неровностей. Если бы контролируемая поверхность была идеально плоской, то на ней возникли бы прямые параллельные интерференционные полосы. Микронеровности на поверхности изменяют ход лучей и вызыва- [c.46]

Современные средства измерения шероховатости делят в основном на две группы бесконтактные и контактные. Из бесконтактных средств измерения параметров шероховатости наиболее распространены приборы, действие которых основано на принципах светового сечения, теневого сечения, интерференции света и применения растров оптические приборы для измерения шероховатости, основанные на перечисленных принципах, соответственно условно называют ППС, ПТС, МИИ иОРИМ. [c.698]

Метод светового сечения заключается в следующем (фиг. 209) пучок лучей направляется в виде световой полоски под некоторым углом на исследуемую поверхность через узкую щель и объектив. Так как исследуемая поверхность имеет определенную шероховатость, то световая полоска будет иметь вид искривленной линии по форме самой поверхности. Полученное изображение рассма-тривается через микроскоп, наклоненный также под углом к исследуемой поверхности. На принципе светового сечения основан двойной микроскоп акад, В. П. Линника, служащий для измерения высоты неровностей наружных поверхностей в пределах от 5 до 60 мк. Увеличение прибора — от 90 до 270 раз Поле зрения от 0,3 до 1 мм. [c.154]

Двойной микроскоп МИС-П предназначен для измерения шероховатости поверхности профильным методом. Прибор одновременно преобразует весь профиль исследуемой поверхности, давая так называемое световое сечение поверхности. Прибор имеет четыре комплекта спаренных объектов, обеспечивающих увеличение от 90х до 500х при апертурах от 0,13 до 0,50 и поле зрения от 0,3 до 2 мм. На этих приборах можно контролировать поверхности, получаемые при механической обработке деталей практически из любого материала (диапазон измеряемых неровностей от 1,6 до 80 мкм). [c.488]

Максимальные неровности поверхности резания измеряют, используя чаще всего видоизмененный метод светового сечения резца. При измерении высот неровностей на поверхность резания отбрасывается тень лезвия бритвы. При параллельном световом потоке, освещающем лезвие, образуется резкая граница между светом и тенью, которая хорошо выявляет неровности поверхности резаиця, рассматриваемые и измеряемые через микроскоп. Расположение осей осветительного узла и микроскопа то же, что и у прибора, используемого для регистрации профиля резца. [c.101]

Преимущества приборов со световым сечением. Они удобны для цехового применения, просты, надежны и относительно быстро настраиваются, дают в результате измерений конкретные числовые значения неровностей, позволяют получать наглядную картину структуры профиля некоторого участка поверхности, попавшего в поле зрения, ш-кроскопа. [c.469]

В последние годы выполнено большое число работ по усовершенствованию осциллографического метода магнитных измерений. В частности, для получения непосредственно на экране основной кривой намагничивания применяется модуляция яркости луча [Л. 104]. Импульсы подсветки подаются в моменты прохождения намаг-ничиваюшего тока через максимум. Аналогичное устройство предложено в Л. 105]. За рубежом выпускается ряд типов феррографов. Из них широкое распространение получили ферротестер (Венгрия) и феррометр Ферстера (ФРГ). В последнем калибровка осуществляется путем подачи на горизонтальные и вертикальные пластины электроннолучевой трубки калибровочных импульсов определенной величины нри этом регулировкой каналов усиления устанавливается определенной длины световая линия на экране. После такой калибровки расчет индукции и напряженности поля производится по простым формулам, куда входят известные постоянные прибора и параметры образца (сечение, длина средней магнитной линии и число витков). [c.253]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...