Сила разрешающая

Углы апертурные 322 Оптические системы идеальные — Главные плоскости и фокусы 320 — Сила разрешающая 323 [c.722]

Формулы 355 Сила разрешающая идеальной оптической системы 323 [c.728]

Сила разрешающая 323 Теллур 328 [c.731]

РАЗРЕШАЮЩАЯ СИЛА — РАЗРЕШАЮЩАЯ СПОСОБНОСТЬ [c.328]

Таким образом, при решении задачи с учетом проскальзывания необходимо осуществить формирование разрешающей системы конечно-элементных уравнений по алгоритму, описанному в разделах 1.1 и 1.2, предполагая, что в элементах трещины используются эффективная матрица жесткости [KiY и эффективный вектор сил, обусловленных начальными деформациями [c.244]

Подставляя /г 1 см, и 1,5 и - = 5000 А, получим т = 10 . Забегая вперед, отметим достоинства эшелона Майкельсона. При ознакомлении со спектральными характеристиками оптических приборов Г гл. Vn мы увидим, что разрешающая сила дифракционной решетки равна [c.153]

Разрешающая сила дифракционной решетки. Положим, что максимумы //2-го порядка длин воли н Х2 наблюдаются соответственно иод углами ф и т. е. [c.194]

Получение большой разрешающей силы в оптическом приборе связано с определенными трудностями. Даже идеальные объективы — неотъемлемая часть спектрографов — вследствие дифракции на их оправе ограничивают разрешающую силу спектральных приборов. Для устранения этого недостатка пользуются высококачественными длиннофокусными объективами большого диаметра. [c.195]

Поскольку точки расположены близко, го sin i ) - [з и = 1,22 X/D. В качестве разрешающей силы объектива принимается обратное значение а1< [c.196]

РАЗРЕШАЮЩАЯ СИЛА ТЕЛЕСКОПА И МИКРОСКОПА [c.198]

Принимая во внимание, что читатель достаточно хорошо знаком с устройством и принципом действия микроскопа и телескопа из курса физики средней школы, остановимся лишь на рассмотрении их разрешающей силы. [c.198]

В геометрической оптике мы встречаемся с задачами другого рода нас интересует возможность раздельного наблюдения двух близких частей рассматриваемого объекта. В этом случае вводится аналогичная по названию, но имеющая иной физический смысл характеристика — разрешающая сила оптического прибора. [c.198]

Разрешающая сила телескопа. Поскольку телескоп служит для наблюдения удаленных небесных тел, можно считать, что на объектив телескопа падает плоская волна. Это позволяет пользоваться полученной нами ранее формулой sin ср = 0,61 Х/г при рассмотрении дифракции плоской волны на круглом отверстии ( pi — угловой радиус первого дифракционного кольцевого минимума, г— радиус объектива телескопа, %—длина падающей световой волны). [c.198]

Как видно из выражения (7.36), чем больше действующий диаметр объектива, тем больше разрешающая сила телескопа. [c.199]

Разрешающая сила микроскопа. Явление дифракции на апертуре объектива ограничивает возможности микроскопа. Как и в других оптических приборах, для количественной характеристики способности микроскопа вводится понятие его разрешающей силы. [c.199]

Таким образом, для разрешающей силы микроскопа в случае освещенных объектов получено то же самое выражение, что и для самосветящихся объектов, Различие в коэффициентах (0,61 и 0,5) [c.202]

Разрешающая сила дифракционной решетки 194, 195 [c.428]

Необходимо отметить универсальность критерия Рэлея, сформулированного выше лишь применительно к задачам спектрального разрешения. Задача разделения двух максимумов возникает и при решении других задач, где не используется спектральное разложение (например, астронома интересует возможность пространственно разделить изображение двух близких небесных светил). В этом случае столь же необходимо условиться о допустимой величине провала на суммарной кривой при различных способах регистрации сигнала. В качестве исходного постулата используется тот же критерий Рэлея, определяющий разрешающую силу оптических инструментов. [c.319]

Однако вернемся к исследованию свойств спектральных приборов, при котором широко используется критерий Рэлея, и введем основное понятие разрешающей силы диспергирующего элемента. [c.319]

Разрешающей силой (иногда употребляют термин хроматическая разрешающая сила) называют отношение /./(5л), где дХ — разность длин волн А-2 — между двумя максимумами, для которых выполняется критерий Рэлея, ал — средняя длина волны, соответствующая центру провала в суммарном контуре. Очевидно, что отношение Х/( >Х) характеризует форму возникающих максимумов, т. е. наблюдаемое в данном опыте уширение линии [c.319]

При вычислении разрешающей силы дифракционной решетки будем исходить из соотношений, полученных в 6.4. Рассмотрим два максимума радиации, выделенных дифракционной решеткой с числом штрихов, равным N. Максимуму излучения длины волны соответствует угол дифракции Ф акс, а максиму -му излучения длины волны /-2 — угол ф макс. Условия возникновения главных максимумов т-го порядка имеют вид [c.320]

Левую часть последнего соотношения можно с достаточной точностью принять равной отношению /./(6>.). Тогда для разрешающей силы дифракционной решетки находим [c.320]

ЭКСПЕРТНЫЕ СИСТЕМЫ (ЭС) - класс систем искусственного интеллекта,способных получать, накапливать, коррелировать знания из некоторой предметной области,представляемые в основном экспертами, выводитьновые знания, решить на основе этих знаний практические задачи и объяснять ход решения. С помощью ЭС решаются задачи, относящиеся к классу неформализованных, слабо структурированных задач. Алгоритмические решения таких задач или не существуют в силу неполноты, неопределенности, неточности, расплывчатости рассматриваемых ситуаций и знаний о них,или же такие решения неприемлемы на практике в силу сложности разрешающих алгоритмов. Различные ЭС, реализованные обычно в виде систем математического обеспечения ЭВМ, ориентированы на задачи идентификации, интерпретации, распознавания, классификации, прогнозирования, диагностики, проектирования, планирования, контроля и предупре>кцения о возникновении нештатных ситуаций, тестирования, отладки, ремонта, обучения, управления. [c.91]

Несмотря на условность критерия Рэлея, он позволяет сравнивать разрешающие силы разных приборов. Ои[5еделим разрешающую силу разных спектральных приборов. [c.194]

Остановимся более подробно на выражении (7.30). В отличие от дисперсии, зависящей от числа П1Трихов иа единицу длины решетки, разрешающая сила проиорцнональна общему числу HJTpHXOR. Можно определить максимальную разрешающую силу дифракционной решетки. Для этого нужно найти максимально возможное значение порядка спектра. Так как d sin ф = тк и отсюда т d sin цч 1, то d/k. Следовательно, [c.195]

Современные дифракционные реиштки обладают довольно большой (до 10 —2-10") разрешающей силой. Ту же разрешающую силу (порядка 0 ) могут иметь интерферометры. Так, например, в интерферометре Фабри — Перо (число интерферирующих пучков равно 30) толщиной h 5 см и m = 2-10 значение разрешающей силы превышает 5-10 . [c.195]

Хотя в призменных приборах разрешающая сила значительно меньше, чем в интерферометрах, прнзмеш1ые спектрографы не утратили своего значе н1я. [c.195]

Разрешающая сила объектива. Положим, что параллельный пучок света падает на объектив диаметром D. Вследствие ограничения ( фонта волны оправой объектива возникает дифракционная карптя в виде концентрических колец. Угловой (вершина угла ссьпадает с центром объектива) радиус первого темного кольца ракен, как известно, [c.196]

Выражение (7.33) показывает, что разрешающая сила объектива пряр.го пропорциональна его диамепт у и зависит от длины световой волны. [c.196]

Нами была проанализирована разрешающая сила спектральных приборов, предназначенных для раздельного наблюдения двух близких по длине спектральных линий. Для количественной характеристики в данном случае было введено понятие разрешаюихей силы, вернее хроматической разрешающей силы, равной Х/бХ. [c.198]

Вот почему телескопы изготовляются с возможно большим диаметром объектива. Уменьшение длины волны также приводит к увеличению разрешающей силы телескопа. Пользуясь методами теории информации, при данных г ш X можно получить разрешающую силу, значител1>но превышающую разрешающую силу, вычисленную по (7.36). [c.199]

Под разрешающей силой микроскопа понимается то минимальное расстояние (линейное или угловое) между близлежащими точками, при котором их еще можно наблюдать раздельно. Вследствие того что объект располагается на небольшом расстоянии от объектива (обычно чуть дальше фокуса объектива), в данном случае не будет наблюдаться точная картина фраунгоферовой дифракции. Однако, так как плоскость изображения ПП объектива находится на расстоянии, существенно превьннающем диаметр объектива, проходящие лучи можно считать почти параллельными. Далее, при рассмотрении дифракции этих лучей на апертурной диафрагме MN [c.199]

Следовательно, при иекогереитиом освеп1,е11ии самосветящегося объекта разрешающая сила микроскопа тем больше, чем больше числовая апертура и чем меныне длина волны света. [c.201]

Увеличение разрешающей силы микроскопа. Из выражения разрешающей силы микроскопа видно, что суш,ествуют два пути ее увеличения а) увеличение числовой апертуры б) уменьшение длины волны света, в котором рассматривается объект. Числовую апертуру можно увеличить как увеличением угла апертуры, так и увеличением показателя преломления окружаюш,ей объект среды. Увеличення п можно добшъся, погружая объект в прозрачную жидкую Среду с возможно большим показателем преломления (со-ответствуюш,ие микроскопы называются иммерсионными). Однако, как известно, для оптически более плотных прозрачных жидкостей /г лг 1, 6, что не приводит к существенному увеличению разрешающей силы. Увеличение разрешающей силы за счет увеличения апертуры также ограничено, так как в предельном случае sin и = = 1. В реальных случаях можно добиться значения sin и = 0,95 при /г = 1. Это означает, что возможно разрешение деталей объекта размером порядка половины длины световой волны. [c.203]

Увеличение разрешающей силы микроскопа путем уменьшения длины световой волны прнв ело к положительному результату. Микроскопы, пспользующне ультрафиолетовые лучи, позволяют увеличить разрешающую силу примерно в два раза. Переход к микроскопам, использующим рентгеновские лучи, позволил бы резко увеличить разрешающую силу. Однако отсутствие оптических линз для рентгеновских лучей делает практически почти невозможным создание рентгеновских микроскопов. Такие принципиальные трудности были преодолены после того, как в 1923 г. Луи де Бройлем была выдвинута гипотеза, согласно которой любой частице с массой т, движущейся со скоростью v, соответствует волна с длиной [c.203]

Отсюда с [едует, что чем больше /, тем меньше (5<р, т.е. тем уже интерференционные полосы. В 6.7 показано, что с увеличением порядка интерференции возрастает разрешающая сила и поэтому вьп одно использовать толстые интерферометры, т. е. работать на высоких порядках интерференции. [c.246]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...