Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Спектрограф, определение

Масс-спектрографы. Определение массы нейтрона  [c.52]

Получение большой разрешающей силы в оптическом приборе связано с определенными трудностями. Даже идеальные объективы — неотъемлемая часть спектрографов — вследствие дифракции на их оправе ограничивают разрешающую силу спектральных приборов. Для устранения этого недостатка пользуются высококачественными длиннофокусными объективами большого диаметра.  [c.195]


Важнейшее применение рентгеновской спектрографии — исследования с помощью рентгеновских лучей структуры кристаллов (а в последнее время и молекул) и определение параметров кристаЛ лической решетки. В тех случаях, когда мы располагаем монокристаллами достаточных размеров, можно применить для таких рентгеноструктурных исследований метод Лауэ (см. 117), используя рентгеновское излучение со сплошным спектром.  [c.411]

Люминесцентный анализ обладает рядом важных достоинств, которые во многих случаях делают этот метод более предпочтительным по сравнению с другими методами анализа и, в частности, по сравнению с химическим анализом. Во-первых, люминесцентный метод анализа характеризуется очень высокой чувствительностью для проведения анализа достаточно иметь ничтожное количество вещества, например всего лишь Ю" г и даже меньше. Во-вторых, в процессе люминесцентного анализа исследуемое вещество полностью сохраняется, что позволяет многократно проводить анализ на одном и том же образце, анализировать уникальные образцы. В-третьих, люминесцентный анализ осуществляется очень быстро посылается возбуждающий световой сигнал и регистрируется при помощи спектрометра или спектрографа спектр люминесценции. Это позволяет проводить динамический анализ, т. е. отслеживать изменение состава вещества с течением времени. В-четвертых, люминесцентный анализ может выполняться на расстоянии. Так, посылая лазерный луч определенной длины волны в исследуемую область атмосферы и принимая поступающее из этой области люминесцентное излучение, можно изучать характер и степень загрязнения атмосферы в данном месте.  [c.201]

Упражнение 3. Определение дисперсии и разрешающей способности спектрографа.  [c.28]

Делают несколько пробных снимков спектров алюминия и железа для определения выдержки и фокусировки спектра. По спектрам, снятым при разных положениях кассеты спектрографа, находят положение, соответствующее наилучшей резкости линий на спектрограмме (см. задачу 2).  [c.64]

Упражнение 3. Изотопный анализ лития. Определите процентное содержание изотопов Ы и Ьх в пробе лития по относительным интенсивностям компонент изотопов в линии 670,78 нм, измеряемым методом фотографической фотометрии (см. главу 1 4). Для анализа используйте две крайних компоненты линии. Интенсивности этих компонент сильно отличаются друг от друга. Поэтому, чтобы получить их одновременно в области нормальных почернений, рекомендуется фотографировать интерференционную картину через ступенчатый ослабитель, устанавливаемый на щели спектрографа. При этом сильную компоненту изотопа проектируют на ступеньку с минимальным пропусканием, а слабую компоненту Ы — на соседнюю ступеньку с максимальным пропусканием. Для нанесения марок почернений спектр полого катода фотографируют через ступенчатый ослабитель в отсутствие интерферометра (см. упр. 2). При фотометрическом определении интенсивности слабой компоненты необходимо учитывать фон,, интенсивность которого следует вычитать из измеренной интенсивности компоненты.  [c.86]


Упражнение 2. Определение радиального распределения температуры в дуге. Изображение дуги с угольными электродами, повернутое на 90°, спроектируйте на щель спектрографа. Щель должна разрезать поперек изображение столба дуги (см. упр. 2 задачи 14). Сфотографируйте спектр поперечного сечения дуги с чистыми угольными электродами. Радиальное распределение температуры определите по полученным в результате расчета радиальным распределениям максимальных интенсивностей полос.  [c.251]

Химический состав определяют как весовым или объемным методом, так и на спектрографах. Какому из анализов отдать предпочтение, решают в каждом конкретном случае е зависимости от требований к скорости и точности определения.  [c.198]

Спектральный анализ производится как для качественного, так и для достаточно точного количественного определения состава стали — в соответствии со шкалами, специально разработанными для всех основных Элементов. Для спектрального анализа применяются спектрографы и стилоскопы, описанные в специальных руководствах.  [c.271]

Применение масс-спектрометров и масс-спектрографов для определения остаточных давлений в области глубокого вакуума основано на принципе отклонения частиц в электрическом и магнитном полях. Различие заключается только в методе регистрации отклоненных частиц в масс-спектрометрах число ионов определяют по создаваемому ими току, а в масс-спектрографах — по степени почернения фотопластинки.  [c.261]

Другой метод определения температур кипения, предложенный Ричардсоном [111, основан на испарении смеси шести или более элементов в дуге спектрографа. Последовательность появления элементов в дуге соответствует  [c.37]

Ниже мы рассмотрим вопрос об измерениях при помощи спектрографов с дифракционной решеткой и призменных спектрографов. В призменных спектрографах преобладает нелинейная дисперсия. Поэтому для таких спектрографов требуется набор близко расположенных друг к другу стандартных линий вдоль всей фотопластинки. Это необходимо для того, чтобы получить график зависимости дисперсии от расстояния вдоль пластинки. Для определения длины волны некоторой спектральной линии измеряют расстояние между двумя стандартными линиями и неизвестной линией. Чтобы получить искомую длину волны неизвестной линии, добавляют нелинейные поправки. Чем больше стандартных линий, тем лучше можно построить поправочную кривую дисперсии. Из-за ограничений, присущих фотографическому методу, а также из-за влияния температуры и давления на длину волны, которая используется для измерения точности спектрографа, каждая калибровка относится к определенной фотографии.  [c.354]

Спектрограф, микрофотометр, прибор для определения металлов в масле  [c.287]

Если разделение и обогащение стабильных изотопов не требует больших затрат и не более сложно, чем производство радиоактивных изотопов, то иначе обстоит дело с их дозировкой. Определение и дозировка радиоактивных изотопов не представляют никаких трудностей и производится с помощью простых и портативных приборов, тогда как проведение аналогичных исследований со стабильными изотопами требует применения громоздких спектрографов и очень тонких методов измерения. Более того, эти приборы дают приемлемые данные лишь в тех случаях, когда искомый изотоп не слишком растворен в исследуемом образце. Если содержание изотопа меньше 1/400, то оценка усложняется и практическим пределом является концентрация 1/2000. Что касается радиоактивных изотопов, то они выдерживают огромное растворение — 1 милликюри радиоактивного изотопа дает 37 миллионов распадов в секунду. Считая, что счетчик Гейгера регистрирует до 10 распадов в минуту, получим допустимое растворение ниже 1/1 ООО ООО.  [c.232]

Выпускают рентгеновские спектрографы (многоканальные) с несколькими кристалл-анализаторами и счетчиками, настроенными для количественного определения различных элементов в одном образце (квантометры). Очень полезные данные о составе поверхностного слоя можно получить сканированием электронного пучка на поверхности образца. Изображения, полученные в характеристических рентгеновских лучах, дают качественное представление о химическом составе поверхностного слоя, позволяя при этом установить связь между концентрацией и видимой микроструктурой поверхности.  [c.84]


Если соотношение (11) использовать для определения отклика спектрографа на монохроматическое излучение, то функция Н2(х) будет иметь значительно более сложный вид со вторичными максимумами и медленно спадающими крыльями. Наличие их обусловлено рассеянием света в фотоэмульсии и отражениями от задней поверхности фотопластинки. Надо также учесть, что соотношение (И) для фотоматериалов можно применять лишь приближенно из-за нелинейного характера процесса регистрации.  [c.21]

Кроме диспергирующего элемента спектральный прибор должен содержать какую-то фокусирующую оптику, позволяющую создавать четкое изображение входной щели в свете исследуемой длины волны (спектральную линию). Полученный спектр фотографируется на фотопластинку или пленку. Этот прибор называют спектрографом. Излучение определенного интервгша волн можно вывести через выходную щель. Так работает монохроматор.  [c.67]

При помощи подобных опытов можно определить удельный заряд других электрически заряженных частиц, например протонов (яцер водорода), а-частиц (ядер гелия), и убедиться в справедливости второго закона Ньютона в форме (3.24) для случая, когда и с (конечно, в этих опытах вместо электронно-лучевой трубки нужно пользоваться источниками, испускающими соответственно протоны или а-частицы с не слишком большими скоростями). Отметим, кстати, что опыты по определению удельного заряда различных частиц являются одним из важнейших методов определения природы этих частиц (так называемая масс-спектрография).  [c.99]

МАСС-СПЕКТРОСКОПЙЯ (масс-спектрометрия, масс-спектрография, масс-спектральный анализ) — метод исследования вещества путем определения массы т (чаще, отношения массы к заряду т/е) и относит, кол-ва ионов, образующихся (или имеющихся) в веществе. М.-с. применяется для прецизионного определения массы ионов, изотопного анализа, молекулярного хим, анализа, идентификации и установления структуры сложных органич. молекул и др.  [c.57]

Спектрографы, микрофотометры, приборы для определения металлов в масле Г азоанализаторы  [c.124]

Кадмий хорошо определяется спектрографическими методами как в твердой пробе, так и в растворе 14, стр. 5541. Чаще испапьзуются спектральные линии 2288,02 и 3261,06 А. При соблюдении достаточной аккуратности и подходящих стандартах можно производить количественное определение кадмия. Точность определения зависит от прецизионности применяемого спектрографа и при работе на хорошем приборе составляет 5%.  [c.271]

Рентгеноспектральный анализ бокситов также вполне может заменить химический анализ. Методы получения и измерения рентгеновских спектров элементов давно известны, однако только в последние годы был разработан рентгеноспектрометр, который гарантирует безупречную воспроизводимость условий опытов и высокую точность измерений. Для возбуждения рентгеновского характеристичного излучения использованы быстрые электроны или рентгеновское излучение, волны которых короче, чем характеристичное излучение данного элемента. У спектрографов, которые имеются в продаже, предпочтительно возбуждение при помощи коротковолнового рентгеновского излучения, потому что при таком устройстве проба размещается за пределами вакуумного пространства рентгеновской трубки. Исследуемый препарат помещается вблизи окна запаянной трубки, из которой лучи падают на него под определенным углом. Исходящее от пробы вторичное излучение через диафрагму падает на монокристалл, на атомных плоскостях которого оно отклоняется по Брэгговскому уравнению  [c.21]

Масс-спектрографы — это чаще всего уникальные, сложные приборы с фокусировкой ионных пучков по энергиям в электрическом поле и по направлению в магнитном поле, обладающие разрешающей способностью MJts.ni от 10 000 до 500 000. Высокая разрешающая способность у этих приборов достигается с помощью ионнооптических систем с двойной фокусировкой, позволяющих получить минимальные хроматические и сферические аберрации, а также благодаря применению высокостабильных электронных схем, питающих ионный источник, отклоняющие электростатические системы и катушки диспергирующего электромагнита. Точность определения относительных атомных масс методом измерения дефекта массы изотопных дублетов на лучших  [c.6]

Схема установки для определения р показана на рис. 142 1134]. Источниками света /, S служат циркониевые дуговые лампы мощностью 100 в/п, которые с помощью линзы 2 и зеркала 3 (для наблюдения в проходящем свете) и линзы 7 (для наблюдения в отраженном свете) освещают параллельным пучком исследуемые пластины 4 и 5. С помощью линзы 9 и призмы 6 интерференционные полосы проектируются на щель 10 спектрографа, состоящего из линз 11, 13 и призмы 12. На фото11ленке 14 изображается спектр, пред-. ставляющий собой полосы равного хроматического порядка.  [c.234]

Гетерохромная фотометрия. Задача гетерохромной фотометрии состоит в определении относительной яркости спектральпых линий, значительно различающихся по длине волны (>. — X" > > 25 А), когда необходим учет зависимости параметров фотографической эмульсии и параметров спектрографа от длины волны. В настоящее время в практике гетерохромной фотометрии наиболее широкое распространение получил метод, в котором используется вспомогательный эталонный источник излучения с известной зависи.мостью яркости от длины волны или частоты. Для опреде.ления относительной яркости спектральных линий исследуемого источника достаточно знать зависимость яркости эталонного источника от длины волны лишь в относительных единицах, что значительно упрощает технику измерения.  [c.348]


Свет от дуги (с.м. рис. II.5) собирается и направляется на щель спектрографа линзой-конденсором 15. Конденсор, как и дуга, у <-репляется на рельсе спектрографа на определенном расстоянии от щели. Обычно плазма дуги проектируется на входную щель с увеличением 1 1, т. е. расстояние. между дугой и щелью должно быть равным примерно четырем фокусным расстояниям конденсора. Так как плазма дуги неоднородна по высоте и ее ядро не заполняет всю щель по высоте, необходимо изображение электродов расфокусировать, пододвинув конденсор к источнику света на 3—5 см.  [c.136]

Кювета для комбинационного рассеяния света 3 имеет с одной стороны плоское окно, а с другой — зачерненный рог (рог Вуда), который поглощает излучение возбуждающей линии ртути, отраженное от внутренних стенок и окон кюветы. Этот свет сильно мешает наблюдению слабого КР-спектра, Чтобы излучение от источника возбуждения не мешало наблюдению. малоинтенсивного КР-спектра, рассеянный свет фотографируется под углом 90°. Рассеянный свет от кюветы собирается и направляется на щель спектрографа 6 линзой-конденсором 7. Конденсор, как и осветитель, укрепляется на рельсе спектрографа на строго определенном расстоянии от щели. Обычно передняя часть кюветы (дно) проецируется на объектив коллиматора, а задняя (начало рога Вуда) — на щель спектрографа. Для стандартных кювет длиной около 10 см и при фокусном расстоянии конденсора /=9,5 см это.му требованию удовлетворяет расстояние от щели до задней части кюветы— примерно 33 с.м. В связи с тем что линии КР-спектра очень слабы и времена экспозиции при фотографировании достигают нескольких часов, необходимо устранить все посторонние источники света. Для этого на конденсор надеты выдвижные светозащитные кожу.хи, а кассетную часть рекомендуется прикрывать черной материей. Кроме того, необходимо устанавливать более широкие входные щели (порядка 50 мкм), чем в случае полосатых спектров испускания двухатомных молекул. В спектре ртутной лампы наряду с возбуждающей линий А=435,8 нм содержатся еще ряд более слабых линий, и в КР-спектре они могут проявляться как линии релеевского рассеяния. Для того чтобы эти линии идентифицировать на фотопластинке рядом с КР-спектром снимают также и спектр ртутной лампы.  [c.145]

Для точного определения процентного состава металла црименяют спектрограф. В этом случае получаемый спектр исследуемого металла фотографируется на фотопластинку.  [c.188]


Смотреть страницы где упоминается термин Спектрограф, определение : [c.817]    [c.150]    [c.178]    [c.129]    [c.39]    [c.321]    [c.376]    [c.195]    [c.201]    [c.615]    [c.233]    [c.182]    [c.331]    [c.418]    [c.16]    [c.103]    [c.104]    [c.264]    [c.367]    [c.74]   
Прикладная физическая оптика (1961) -- [ c.67 ]



ПОИСК



Определение массы заряженных частиц. Масс-спектрографы Определение массы нейтрона



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте