Структуроскоп

Схемы ТВА включают устройства формирования оптических изображений объекта, телевизионную систему и устройство обработки видеосигнала, выполняемого на базе встроенных в структуроскоп микропроцессора или с помощью внешней ЭВМ. В состав математического обеспечения обычно входят программы, обеспечивающие автоматический поиск объектов, контурное слежение и построчное сканирование в пределах заданного контура, [c.114]

Телевизионные и когерентно-оптические структуроскопы [c.115]

Переносной структуроскоп СВЧ Д-2П предназначен для контроля листовых материалов толщиной не более 30 мм в лабораториях, цехах, а также в условиях эксплуатации. Его можно устанавливать на гладкой поверхности горизонтально, наклонно и вертикально. Рабочая площадь обзора без переноса 500 X 500 мм , шаг сканирования h можно изменять в пределах 1—5 мм, скорость сканирования о == 0,2 м/с. [c.240]

Структуроскоп работает в режиме на отражение с двумя спаренными зондами 1 и 2 ц состоит из пяти блоков (рис. 39) I — механизм сканирования и — зондирующее устройство III — блок питания генератора 4 с регулятором 3, IV — блок усиления сигнала после детектора 5 V — блок индикации. Масса переносной части, объединяющей блоки / а II, не более 20 кг. , [c.241]

Трубный структуроскоп СВЧ Д-ЗТ (рис. 40) применяют для контроля цилиндрических труб из стеклопластика с широким диапазоном диаметров и длин в процессе их производства. Режим работы — на отражение . [c.241]

Структуроскоп позволяет обнаруживать распределение отклонения диэлектрической проницаемости от средней величины по образцу и ее анизотропию. [c.242]

Отличительной особенностью скоростных структуроскопов (СС-ЮК [c.242]

Степень чистоты поля зрения 358 Структуроскопы 240—242 — Технические характеристики 104—109, 115, 238—243 [c.486]

Вихретоковые приборы, построенные по структурной схеме, приведенной на рис. 72, могут быть использованы как толщиномеры, структуроскопы, дефектоскопы, измерители зазоров, перемещений и т. д. Назначение прибора определяется прежде всего типом ВТП, параметрами некоторых блоков и программами. [c.138]

Низкочастотные структуроскопы позволяют визуально (по экрану ЭЛТ) или автоматически анализировать форму кривой напряжения измерительной обмотки проходного ВТП, возбуждаемого -током регулируемой амплитуды. Чаще используется промышленная частота 50 Гц, мощность источника при этом достаточно велика и позволяет получить сильное магнитное иоле. В ряде приборов применяют специальные генераторы с набором частот от одного до тысячи герц. Измерение производят но кривой напряжения, полученного при встречном включении обмоток двух ВТП, в одном нз которых находится контролируемый объект, а в другом — стандартный образец. Структурная схема приборов такого типа приведена на рис. 67, б. Для сортировки изделий с помощью таких приборов необходимо провести ряд предварительных экспериментов непосредственно на объектах с последующим их сравнением с данными химического, спектроскопического или металлографического анализа или с результатами других видов разрушающего контроля. По результатам статистической обработки результатов экспериментов выбирают силу намагничивающего тока и режим настройки блока автоматики. [c.152]

Технические характеристики структуроскопов для контроля объектов из ферромагнитных сталей [c.154]

Структуроскоп ВС-ПП отличается от прибора ВС-10П наличием блоков выделения амплитуды третьей гармоники основной частоты, а также блоков автоматической компенсации начального напряжения ВТП. Частота тока возбуждения и конструкция ВТП в обоих приборах одинаковы. В приборе ВС-ПП значительно ниже уровень нелинейных искажений кривой тока возбуждения ВТП (около 0,3 %), что необходимо для использования информации, заключенной в третьей гармонике. [c.155]

Прибор ВС-17П представляет собой дальнейшее развитие структуроскопов серии ВС. Он автоматизирован на основе встроенного микропроцессора, управляющего режимом работы прибора и обработкой информации ВТП. Микропроцессор управляет установкой частоты тока возбуждения, позволяет выделить амплитуду и фазу основной, третьей и пятой гармоники сигнала ВТП и провести совместную обработку по заданным алгоритмам, проверить работоспособность прибора, скомпенсировать начальное напряжение ВТП. Возможна сортировка деталей не по двум ( годные и брак ), а по нескольким группам качества. В основе аналоговой части прибора лежат структурные схемы, приведенные на рис. 67, в, г, но без подключения ЭЛТ к выходам фазовых детекторов, как в схеме на рис. 67, г. Выходами в этом случае служат блоки автоматики и сигнализации. [c.155]

Высокочастотными структуроскопа-ми контролируют качество ферромагнитных материалов при их поверхностном упрочнении, а также твердость [c.155]

Несмотря на высокие технические характеристики структуроскопа [c.341]

ВС-ЮП, широкое применение этого прибора в промышленности, в частности для контроля твердости поршневых пальцев на заводах автотракторной промышленности, сдерживалось вследствие нестабильности показаний структуроскопа, связанной с недостаточной точностью установки контролируемого изделия относительно оси проходного вихретокового преобразователя и краев магнитопровода измерительной катушки в производственных условиях, а также необходимости обеспечить минимально допустимое время выдержки поршневого пальца в преобразователе в процессе контроля при максимальной производительности. [c.341]

Стали конструкционные — Основные магнитные характеристики 38, 39 Структура материалов — Средства акустического контроля 281 — 284 Структуроскопы вихретоковые 52 — Технические характеристики 154 [c.351]

Первое - автоматизированные средства диагностирования с анализом сигнала в реальном масштабе времени. Быстродействующие средства виброакустического диагностирования, дефектоскопии, толщинометрии, структуроскопии, акустической эмиссии, магнитных шумов Баркгаузена и многие другие сегодня создаются на основе применения аналоговых и цифровых методов обработки многомерного сигнала. Типичным примером здесь являются анализаторы сигналов с высоким разрешением, амплитуднофазочастотные дискриминаторы, спецпроцессоры быстрого преобразования рядов Фурье и другие аналогичные устройства. [c.224]

Контролируемые параметры и дефекты. Выбор метода и прибора неразрушающего контроля для решения задач дефектоскопии, толщинометрии, структуроскопии и технической диагностики зависит от параметров контролируемого объекта и условий его обследования. Ни один из методов и приборов не является универсальным и не может удовлетворить в полном объеме требования практики. В соответствии с назначением приборов измеряемые и определяемые параметры и дефекты разделяют на четыре группы (табл. 2). [c.11]

Приборы телевизионной и когерентно-оптической структуроскопии. Во многих случаях информация о качестве объектов контроля может быть получена на основе анализа структуры их материала как поверхностной, так и объемной. Для этих целей создан ряд приборов, среди которых наибольшее распространение получили телевизионные анализаторы (ТВА) и когерентно-оптические процессоры (КОП). Действие ТВА основано на сканировании изображения изучаемых структур видеодатчиком (телевизионной камерой или устройством типа бегущий луч ) и последующей машинной обра- [c.114]

На основе изложенных принципов строится математическая модель, производится априорный расчет возможности обнаружения дефектов и осуществляется выбор методов и средств дефектоскопии и структуроскопии. [c.230]

Микрорадиоволновой структуроскоп ДТМ-2 предназначен для неразрушающего контроля плоских изделий из диэлектриков. Методы контроля амплитудный, фазовый, поляризационный, на прохождение , амплитудный, фазовый, на отражение . [c.241]

Микрорадиоволновой структуроскоп ДТМ-3 предназначен для контроля изделий из диэлектриков и ма-гнитодиэлектриков как плоских, так и в форме тел вращения (цилиндров, конусов). [c.242]

Более универсальной моделью прибора, использующего эффект Баркгаузена, является структуроскоп типа Скиф-100 , отличающийся от ранее разработанных магнитошумовых приборов новыми возможностями по определению корреляционных связей между информативными параметрами и параметрами контролируемого материала [5]. [c.79]

Несмотря на указанные ограничения, ВТМ широко применяют для дефектоскопии, определения размеров и структуроскопии материалов и изделий. [c.82]

Структуроскопы. Вихретоковые структуроскопы позволяют оценивать степень химической чистоты электропроводящих материалов, сортировать полуфабрикаты и изделия по маркам (химическому составу) материала, по твердости, прочности и т. д. Структу-роскопами можно выявлять неоднородные по структуре зоны, например мягкие пятна, оценивать глубину и качество механической, термической и химико-7ермической обработки на разных стадиях технологического процесса производства. С помощью струк-туроскопов можно определять п степень механических напряжений, выявлять зоны усталости, контролировать качество поверхностных слоев. [c.152]

Непроизводительные и дорогостоящие механические, металлографические и химические испытания можно заменить неразрушающим вихретоковым контролем только при установлении корреляционных связей между физикохимическими свойствами материала и сигналами ВТП. Эти связи проявляются через электрофизические свойства материала, т. е. через удельную электрическую проводимость о и магнитные характеристики. Поэтому при решении вопроса о возможности контроля того или иного параметра вихретоковым структуроскопом необходимо знать, влияет ли этот параметр на магнитные свойства и о материала. Вихретоковыми структуроскопами можно измерить мгновенное значение несинусоидального напряжения ВТП при перемагничивании стали в сильных переменных магнитных полях либо амилитуду и фазу одной из гармоник напряжения ВТП при перемагничнва-нии объекта в сильных или слабых полях. Чтобы уменьшить влияние на показания приборов ряда мешающих факторов, необходимо разработать по- [c.152]

Вихретоковые структуроскопы для контроля ферромагнитных объектов разделяют на приборы для контроля объектов в низкочастотных полях большой напряженности, в высокочастот ных полях малой напряженности и в двух- и многочастотных полях. [c.152]

Для контроля на частоте 50 Гц Ин-том д-ра Ф. Ферстера (ФРГ) выпускается более простой прибор— Магнатест ВРХ 3.222. Он может работать в одном из трех режимов измерение вектора сигнала (В), изме рение проекции этого вектора на дей ствительную ось (Р), измерение гар МОНИК сигнала (X). Индикатором слу жит стрелочный прибор, шкала кото рого разделена на три сектора, соот ветствующих трем группам сортировки Близкие характеристики имеет аме риканский структуроскоп Мультист ЕМ 1100 . [c.156]

Вихретоковая структуроскопия изделий из неферромагнитных электропроводящих материалов основана на измерении и оценке изменений удельной электрической проводимости. Поэтому структуроскопы для контроля объектов из неферромагнитных материалов часто называют измерителями или испытателями удельной электрической проводимости. [c.156]

Для сортировки объектов по удельной электрической проводимости используют многоцелевые высокочастотные структуроскопы типа Магнатест И, установку ЕС-5000 (см. табл. 15), а также Мультитест ЕМ-1300 (1 — 2500 кГц), НДТ-6 и НДТ-25 (1 —, 2000 кГц) фирмы Нортек (США) и др. Прибор НДТ-6, выполненный по структурной схеме, показанной на рис. 67, [c.156]

Универсальные приборы с микропроцессорами и микроЭВМ. Универсальные вихретоковые приборы и установки позволяют решать широкий круг задач неразрушаюш,его контроля из области дефектоскопии, толщино-метрии и структуроскопии. Они выпускаются многими фирмами как в СССР, так и за рубежом. Приборы и установки такого рода относятся обычно к многопараметровым, т. е. позволяют раздельно контролировать несколько параметров объекта, либо один параметр с подавлением влияния нескольких мешаюш,их факторов. Это достигается одновременным либо последовательным контролем при нескольких частотах тока возбуждения ВТП, либо использованием нескольких гармонических составляющих сигнала ВТП (при контроле ферромагнитных объектов). К многочастотным относятся приборы МИЗ-12 и МИЗ-17 фирмы Зетек (США). В приборе А1ИЗ-17 используется возбуждение ВТП одновременно токами двух частот в диапазоне 1—6000 кГц. Частоты в каналах могут различаться в 2 или в 4 раза. На экран ЭЛТ одновременно выносятся комплексные плоскости сигналов ВТП каждого из двух каналов. Прибор МИЗ-12 отличается тем, что он имеет четыре канала, работающих параллельно на четырех частотах в диапазоне 10—990 кГц. Блок памяти [c.158]

В металлургической промышленности применяют линии контроля качества прутков круглого ( диаметром 5— 25 мм) и шестигранного профиля, разработанные в ФРГ Ин-том д-ра Ф. Фер-стера и фирмой Бэккенбауэра. В состав линии входят следующие приборы вихретоковый дефектоскоп с накладными преобразователями, дефектоскоп с проходными преобразователями, структуроскоп, демагнитизатор. Применяя дефектоскопы с проходными и враш,ающимися накладными преобразователями, можно выявлять как локальные поверхностные дефекты, так и протяженные, плавно изменяющиеся по глубине. [c.330]

Роботизированный технологический комплекс при контроле качества термической обработки деталей типа валика и втулки позволяет полностью исключить субъективные факторы, избежать возможности неправильной сортировки изделий. В состав комплекса входят вихретоковый структуроскоп ВС-ЮП (или ВС-ПП) с набором проходных преобразователей для контроля изделий разного диаметра, промышленный робот типа ПМР-0,5-200КВ, устройства связи прибора с роботом и объектом контроля. Этот комплекс представляет собой стационарное технологическое оборудование (рис. 5), где схват робота берет изделие и устанавливает его соосно с проходным преобразователем, выдерживает изделие внутри преобразователя в течение [c.341]

АЛЕКСАНДР ЛЕОНТЬЕВИЧ ДОРОФЕЕВ ИНДУКЦИОННАЯ СТРУКТУРОСКОПИЯ [c.2]

Метод вихревых токов, или, как мы будем называть его в этой книге по аналогии с индукционным нагревом с помощью токов высокой частоты, индукционный метод используют в трех главных направлениях для выявления несплошностей в поверхностных слоях материалов, при измерениях толщины листов, стенок труб и Покрытий на металлах и, наконец, для структуроскопии. С первыми двумя направлениями читатель может ознакомиться по работам [Л. 23—27]. [c.5]

Индукционная структуроскопия включает сортировку материалов по маркам, оценку степени их химической чистоты, выявление и оценку неоднородных по структуре зон,, оценку глубины и качества химико-термических п других поверхностно-упрочненных слоев,, контроль правильности выполнения термической и механической обработки, оценку внутренних напряжений, а также решение других проблем, связанных со структурой поверхностных слоев. Дело не ограничивается пассивной регистрацией изменений структуры. При выработке ресурса, а также после различных аварийных ситуаций возникает необходимость оценить степень повреждения деталей конструкции, предсказать оставшийся до разрушения запас прочности. Прогнозирование—важная государственная задача. В полном объеме ее удается решить лишь привлекая различные методы испытаний. [c.5]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...