Структуроскопия Основы

Прибор ВС-17П представляет собой дальнейшее развитие структуроскопов серии ВС. Он автоматизирован на основе встроенного микропроцессора, управляющего режимом работы прибора и обработкой информации ВТП. Микропроцессор управляет установкой частоты тока возбуждения, позволяет выделить амплитуду и фазу основной, третьей и пятой гармоники сигнала ВТП и провести совместную обработку по заданным алгоритмам, проверить работоспособность прибора, скомпенсировать начальное напряжение ВТП. Возможна сортировка деталей не по двум ( годные и брак ), а по нескольким группам качества. В основе аналоговой части прибора лежат структурные схемы, приведенные на рис. 67, в, г, но без подключения ЭЛТ к выходам фазовых детекторов, как в схеме на рис. 67, г. Выходами в этом случае служат блоки автоматики и сигнализации. [c.155]

Хорошие результаты при оценке содержания углерода в поверхностном слое нормализованных деталей дает применение амплитудно-фазовых структуроскопов (изготовленных на основе приборов ДНМ) и резонансных приборов (на основе испытателей электрической проводимости МЭ). [c.137]

Первое - автоматизированные средства диагностирования с анализом сигнала в реальном масштабе времени. Быстродействующие средства виброакустического диагностирования, дефектоскопии, толщинометрии, структуроскопии, акустической эмиссии, магнитных шумов Баркгаузена и многие другие сегодня создаются на основе применения аналоговых и цифровых методов обработки многомерного сигнала. Типичным примером здесь являются анализаторы сигналов с высоким разрешением, амплитуднофазочастотные дискриминаторы, спецпроцессоры быстрого преобразования рядов Фурье и другие аналогичные устройства. [c.224]

Приборы телевизионной и когерентно-оптической структуроскопии. Во многих случаях информация о качестве объектов контроля может быть получена на основе анализа структуры их материала как поверхностной, так и объемной. Для этих целей создан ряд приборов, среди которых наибольшее распространение получили телевизионные анализаторы (ТВА) и когерентно-оптические процессоры (КОП). Действие ТВА основано на сканировании изображения изучаемых структур видеодатчиком (телевизионной камерой или устройством типа бегущий луч ) и последующей машинной обра- [c.114]

На основе изложенных принципов строится математическая модель, производится априорный расчет возможности обнаружения дефектов и осуществляется выбор методов и средств дефектоскопии и структуроскопии. [c.230]

СТРУКТУРОСКОПИЯ СПЛАВОВ НА ОСНОВЕ АЛЮМИНИЯ [c.50]

Основные характеристики ферромагнитных материалов — коэрцитивная сила, остаточная магнитная индукция, основная кривая намагничивания, магнитная проницаемость, площадь и форма петли, спектральный состав индукции или ее производной (э. д. с.) —служат основой различных магнитных и- электромагнитных методов структуроскопии и давно используются для сортировки, оценки твердости, контроля качества термической обработки ферромагнитных материалов. Среди этих методов наиболее важное место занимает коэрцитиметрия. Измерение коэрцитивной силы включает по меньшей мере две операции намагничивание и размагничивание образца (или детали). Имеется почти полувековой опыт применения коэрцитиметров. [c.103]

Все изменения в структуре материала в процессе его изготовления, обработки, зарождения и развития повреждений отргжаются в соответствующих изменениях магнитных и электрофизических параметров. Появление этих изменений объясняется разворотом и перемещением доменов и междоменных границ, составляющих в совокупности доменную структуру материала. В основу методов магнитной структуроскопии положена корреляция между некоторыми магнитными и физико-механическими свойствами материалов, когда они одновременно зависят от одних и тех же факторов химического состава, режима термообработки, напряженного состояния, накопления усталостных повреждений и др. По использованным магнитным информативным параметрам различают следующие разновидности магнитной структуроскопии [c.120]

Корреляция между магнитными и физико-химичес-кими свойствами материала служит основой для магнитного анализа качества и структуроскопии ферромагнитов. Она возникает в тех случаях, когда физические и химические процессы образования и перестройки структуры и фазового состава металла одновременно формируют его магнитные свойства. [c.361]

Воздействие температуры является характерным условием контроля объектов газовой промышленности. Известно, в частности, что температура трубы магистрального газопровода на участке между компрессорными станциями может изменяться на 20-25°С, а изменения температуры труб технологической обвязки и блоков теплообменной аппаратуры на газоперерабатывающих заводах достигают 50°С. При решении задач структуроскопии таких объектов методом вихревых токов температурные изменения удельной электрической проводимости металла являются весьма значительным мешающим фактором, поскольку искажают корреляционную связь между химико-механическими и электромагнитными параметрами объекта, лежащую в основе принципа действия всех вихретоковых структуроскопов. Эти изменения приводят также к расстройке и колебаниям чувствительности вихретоковых дефектоскопов, подавляющее большинство которых использует обработку сигнала способом проекции. [c.173]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...