Излучение Интенсивность Световая интегральное

Суммарная интегральная 900+70 1400+100 интенсивность светового излучения Вт/м [c.161]

ИК-спектры пленок БМК-5 26 ПСХ-ЛС 35 Интенсивность светового излучения 7, 8, сл., 160, 161, 168, 178 суммарная интегральная 128, 129 УФ-излучения 98 Интенсивность поглощенного света 8 Испытания покрытий [c.186]

Особое значение имеют следующие отделы А. а) колориметрия (см.), оценивающая действие радиации на глав человека с точки зрения цветового восприятия (основных нервных возбуждений), и б) фотометрия (см.), оценивающая радиацию с точки зрения суммарного действия ее на глаз человека (действующая иа глаз человека радиация называется светом). Лишь в тех случаях, когда приемник обладает одинаковой чувствительностью к радиации всех длин волн, можно в качестве характеристики радиации пользоваться ее полной интегральной интенсивностью. Такая оценка радиации представляет особый интерес для геофизики и гелиотехники, т. к. характеризует тепловое ее действие в тех случаях, когда приемник одинаково поглощает радиацию всех длин волн. Поле радиации (в фотометрии — световое поле) в данной точке кроме спектрального состава радиации м. б. охарактеризовано такше направлениями и величинами отдельных ее потоков, зависящими от распределения в разных направлениях интенсивности излучения (в фотометрии яркостей) поверхностей, посылающих радиацию в данную точку, или же от их черной температуры. Т. к. в большинстве [c.257]

Поэтому для анализа статистических характеристик поля отраженного излучения были развиты [3, 4, 12, 74] асимптотически строгие методы решения уравнений для локационной функции Грина второго и четвертого порядков в предельных случаях слабых и сильных флуктуаций интенсивности поля световой волны. Суть этих методов заключается в построении [12] по аналогии с тем, как это делалось в п. 2.2, интегральных уравнений для <02> и <04>, эквивалентных дифференциальным уравнениям (2.68) при п = 1 и п = 2, и последующем интегрировании этих интегральных уравнений. [c.36]

ОПТИКА [ асферическая содержит элементы, поверхности которых, не имеют сферической формы просветленная обладает уменьшенными коэффициентами отражения света у отдельных ее элементов путем нанесения на них специальных покрытий) как оптическая система (волновая изучает явления, в которых проявляется волновая природа света волоконная рассматривает передачу света и изображений по световодам и пучкам гибких оптических волокон геометрическая изучает законы распространения света в прозрачных средах на основе представлений о световых лучах интегральная изучает методы создания и объединения оптических и оптоэлектронных элементов, предназначенных для управления световыми потоками квантовая изучает явления, в которых при взаимодействии света и вещества существенны квантовые свойства света и атомов вещества когерентная изучает методы создания узконаправленных когерентных пучков света и управления ими нелинейная изучает распространение мощных световых пучков в оптически нелинейных средах (твердые тела, жидкости, газы) и их взаимодействие с веществом силовая изучает воздействие на твердые тела интенсивного светового излучения, в результате которого может нарушаться механическая цельность этих тел статистическая изучает статистические свойства световых полей и особенности их взаимодействия с веществом тонких слоев изучает прохождение света через прозрачные слои вещества, толщина которых соизмерима с длиной световой волны физическая изучает природу света и световых явлений) как раздел оптики электронная занимается вопросами формирования, фокусировки и отклонения пучков электронов и получения с их помощью изображений под воздействием электрических и магнитных полей корпускулярная изучает законы движения заряженных частиц в электрическом и магнитном полях нейтронная изучае взаимодейс вие медленных нейтронов со средой) как раздел физики] [c.255]

Рис. 3.26. Зависимость разности температур АТ между тещрерату-рой воздуха и температурой поверхности покрытий от суммарной интегральной интенсивности светового излучения / ксеноновой лампы ДКСТВ-6000 в аппарате ИПК-3 (X, Д) и солнечного света (О, А) для покрытий белого (У) и черного цвета (2).

Зависимость АТ от суммарной интегральной интенсивности светового излучения в лабораторных и природных условиях совпадают, причем эта зависимость имеет линейный характер. Следовательно, для определения температур поверхности покрытий в природных условиях могут быть использованы зависимости АТ от нитенсив- [c.128]

Рис. 3.27. Зависимость разности температур ДГ воздуха и поверхности покрытий от суммарной интегральной интенсивности светового излучения ксеноновой лампы ДКСТВ-6000 для покрытий различных цветов

Для квазиоднородных и квазистационарных сред а и о(я я ) зависят от г и В случае рассеяния с изменением частоты в интегральном члене в (1) появляется дополнит, интегрирование по частоте. При учёте векторного характера эл.-магн. поля яркость / нужно заменить на яркостную матрицу, к-рая описывает не только интенсивность, но и поляризац. свойства излучения, причём а и о(н <— я ) также становятся матричными величинами. Скалярное ур-ние (1) используют в оптике для описания светового излучения в тех случаях, когда можно нрееебречь поляризац. эффектами. [c.565]

Фотоэлектрические приемники также характеризуются довольно резко выраженной спектральной кривой абсолютной чувствительности. В этом случае величина спектральной чувствительности определяет тот фототок, который возникает в цепи фотоэлемент — гальванометр при падении иа светочувствительную поверхность элемента потока лучистой энергии данной длины волны мощностью 1 вт. Поэтому абсолютная спектральная чувствительность фотоэлементов должна измеряться в микроамперах на ватт падающего монохроматического излучения. Одна1 о в силу сложности таких измерений, требующих энергетических оценок лучистого потока, чатце всего измеряют относительную спектральную чувствительность, а вместо абсолютной чувствительности определяют для каждого фотоэлемента только его интегральную чувствительность. Оценивают ее по общей величине фототока, возникающего в цепи при воздействии на фотоэлемент белого света определенной интенсивности. При этом лучистый поток определяют пе в энергетических единицах, а в светотехнических единицах светового потока — люменах, и стандартизуют источник света. В качестве такого стандартного источника света л СССР принята 100-ваттная газонолная лампа накаливания МЭЛЗ с вольфрамовой питью, цветовая температура которой прп нормальном режиме накала лампы составляет 2848° К. Все значения интегральной чувствительности фотоэлектрических приемников относятся к указанной температуре источника. [c.285]

В спектрах люминесценции различных веществ может быть разное количество полос. При изменении структуры веществ интенсивности отдельных максимумов изменяются по-разному. Отношение интенсивностей различных полос, например Iхарактеризует структуру вещества. Часто для определения свойств вещества используют интегральную интенсивность люминесценции, под которой понимают суммарный световой поток излучения на эпределенном участке спектра. Интегральную интенсивность люминесценции чожно определять на люминесцентных фотометрах типа ЛЮФ-57 [Л, 29]. При исследовании структуры полимеров разрабатывают для каждого полимера свои калибровочные спектры. [c.59]

Общей тенденцией в развитии электронной аппаратуры является переход на использование коротковолнового диапазона спектра электромагнитного излучения. Причем последние два десятилетия характеризуются интенсивным освоением оптического диапазона. Исключительно высокая информационная емкость светового поля как носителя информации, высокая скорость распространения оптических сигналов по ипформационцым каналам и принципиальная легкость осуществления математических операций с даумернымн световыми полями предопределили широкий интерес к использованию оптических методов приема, передачи и обработки информации в различных видах радиоэлектронной и оптико-электронной аппаратуры (РЭА и ОЭА). По своей значимости применение оптического излучения при обработке информации в РЭА и ОЭА уже в ближайшем будущем будет не меньшим, чем переход от электровакуумных приборов к полупроводниковым, а от Них — к интегральным микросхемам. [c.3]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...