Учет систематических ошибок

Одним из методов определения параметров решетки наночастиц является электронная дифракция. Анализ систематических ошибок этого метода показал, что для точного определения периода решетки наночастиц пригодны лишь некоторые дифракционные линии например, для кубических нанокристаллов рекомендуется использовать линию (220) [242]. Учет уширения этого дифракционного отражения показал, что в частицах Ag диаметром 3,1 нм и частицах Pt диаметром 3,8 нм параметр решетки сокращается на 0,7 и 0,5 % соответственно по сравнению с массивными серебром и платиной [242]. В [194, 243, 244] методом электронографии с использованием картин муара показано, что изменение диаметра частиц AI от 20 до 6 нм приводит к снижению периода решетки на 1,5 % (рис. 3.6), хотя ранее [245] для частиц AI диаметром >3 нм этого не отмечено. Уменьшение периода решетки от 0,405 нм для массивного образца AI до 0,402 нм для наночастицы А1 диаметром 40 нм обнаружено методом нейтронографии [8]. [c.73]

Решение этих задач связано с применением математических методов статистического анализа. Этим методам и посвящен настоящий раздел, который включает в себя следующие основные вопросы понятие теории погрешностей классификацию и учет систематических погрешностей исключение грубых ошибок и промахов, возникающих в процессе измерения оценку точечных и интервальных значений измеряемого параметра, а также закона его распределения оценку параметра, связанного функционально с результатами ряда измерений экспериментальную оценку параметров данного уравнения. [c.388]

С учетом случайных и систематических ошибок измерений эти данные охвачены уравнением [c.246]

Если мы вычислим со всею возможной точностью, т. е. с учетом возмущений от всех больших планет эфемериду малой планеты, то разность — наблюдение минус вычисление будет зависеть от неточности принятых элементов малой планеты, неточности элементов Земли и от систематических ошибок каталога звезд, к которому привязаны наблюдения планеты. Это обстоятельство позволяет по наблюдениям малых планет определить как поправки к элементам Земли, так и постоянные звездного каталога. Наблюдения должны производиться в течение промежутка времени, охватывающего не менее двух оборотов малой планеты, т. е. в течение 8—10 лет и по возможности далеко от оппозиции. Поэтому в программу наблюдений могут входить только яркие малые планеты. [c.97]

Жесткость цепи подач оказывает большое влияние на точность станков. В состав статических ошибок входят моментные ошибки от постоянных составляющих сил резания и трения. Ошибки эти имеют систематическую и случайную составляющие. Систематическая составляющая при обработке партии деталей может быть исключена введением коррекций или смещением начала отсчета координат. Случайная ошибка вызывает разброс размеров, допускаемая величина которого определяется полем допуска. Приближенно величина случайной составляющей статической моментной ошибки без учета сил резания [c.155]

В работе [18] указывается, что кроме условий работы необходимо учитывать и неоднородность материала, наличие систематических и случайных ошибок при определении свойств, неполный учет действующих нагрузок, неточность расчетных формул. Таким образом, общий коэффициент запаса прочности будет равен [c.175]

Имеются методические трудности однозначного учета фоновой засветки при оптических измерениях ракетными и спутниковыми методами. Трудно точно оценить влияние многократного рассеяния при сумеречных измерениях. В результате имеющиеся расхождения полученных данных нельзя относить только за счет пространственно-временной изменчивости свойств верхней атмосферы. Эти данные, как правило, не свободны от значительных систематических и случайных ошибок измерений или обработки результатов измерений. Что касается физико-химических характеристик верхней атмосферы, то их определение по данным измеряемых для этих высот оптических характеристик дополнительно еще связано с решением обратных задач, относящихся к числу некорректных и во многих случаях не имеющих строгого математического обеспечения. [c.147]

При использовании титрометрической установки ВТИ-3 точность измерения почти не зависит от величины химической неполноты сгорания и с учетом систематических ошибок, по-видимому, составляет около 0,1—0,2% [c.330]

Задача учета систематических ошибок (см. разд, 112.1) является весьма важной для установления точного и приемлехюго результата измерения. Измеряющее лицо должно уметь правильно оценить влияние ошибок на результат. Умение производить запись требуется для ведения протоколов, которые целесообразно вести по определенной схеме, чтобы ничего не упускать из виду (температура, место, время, измерительный прибор). Кроме того, по возможности следует вносить пометки об усилении измерений. [c.793]

Во-вторых, если второе слагаемое формулы (58) будет значительно отличаться от нуля, то это скорее всего будет свидетап -ствовать об остаточном влиянии систематических ошибок двойных неравноточных наблюдений 1, и ю. С учетом сказанного, обработку таких наблюдений можно произвести следующим образом. [c.85]

В методе reate данного класса инициализируются объекты для учета систематических и случайных аддитивных ошибок измерений угловых скоростей как случайные гауссовские вектора, причем значение систематической ошибки остается постоянным в течение всего времени функционирования объекта. Исходные данные для инициализации параметров измерителя считываются из ini-файла проекта в секции RateGyro. [c.236]

Аппаратурные пскаженпя носят систематический характер и определяются параметрами спектрального прибора и регистрирующего устройства. Но кроме систематпческпх искажений в регистрируемый спектр вносятся случайные ошибки, обусловленные различного рода флуктуациоппыми процессами — шумами. Поэтому при рассмотрении вопросов, относящихся к общей оценке искажений регистрируемого спектра и разрешающей способности, необходим совместный учет систематических и случайных ошибок измерения (см. 1.16). [c.41]

Для проверки этого предположения было предпринято изучение концентрационной зависимости относительной интенсивности комнонептов дублета колебания хлороформа в смеси с Sj. Результаты представлены на рис. 4. С целью учета различных систематических ошибок эксперимента оптическая плотность в максимуме длинноволнового компонента дублета для каждой концентрации GH lg в GSj принималась аа единичную, а затем относительно нее рассчитывалась вся кривая оптической плотности. Как видно из рис. 4, по мере увеличения концентрации хлороформа, а следовательно, и уменьшения степени дисперсности его кристаллов в матрице из GS , распределение интенсивности приближается к таковому для чистого кристаллического H I3, что свидетельствует в пользу высказанного предположения. [c.242]

Как уже указывалось выше, важной составляющей логики конструи.рования является учет ошибок конструирования, анализ этих ошибок и систематическая разработка мер, устраняющих появление таких ошибок в дальнейшем. Большую роль в этом должны играть общие меры по повышению надежности и долговечности кузнечно-шталшовочного оборудования, принимаемые заводами-изготовителями. Обычно ихш составляются специальные планы мероприят1 Й, включаю-щие общие мероприятия, мероприятия по совершенствованию конструкций машин, их механизмов и деталей и технологические. мероприятия. [c.559]

Высокая чувствительность потенциометрических установок не гарантирует от ошибок в измерениях температуры при непосго-янсгве температуры холодного спая термопар. Даже при систематическом учете этих колебаний всегда возможны ошибки при внесений поправок на температуру холодного спая в отсчеты по потенциометру. [c.31]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...