Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Юстировка объективов

Если на внутренних поверхностях линз объектива появится пыль или налет, то ни в коем случае не следует разбирать объектив для чистки. Это можно делать лишь в специальных мастерских, располагающих приспособлениями для сборки и юстировки объективов.  [c.241]

В связи с погрешностью изготовления оптических деталей и, в частности, погрешностью фокусных расстояний и последних отрезков линз, возникает необходимость продольной юстировки объектива с целью совмещения плоскости изображения объектива с плоскостью сетки. Для этой цели применяются различные компенсаторы установка оправы объектива на резьбе (рис. 13, а), подрезка оправы (рис. 13, б) и установка про-  [c.349]


Устранение неправильности увеличения производится юстировкой объектива 2 (фиг. 131). Отвернув винты, снимают крышку 3 с тубуса 1 микроскопа затем, немного освободив кольца 4, перемещают объектив в осевом направлении, одновременно наблюдая за положением двух смежных миллиметровых штрихов относительно крайних витков спирали при нулевом положении микронной шкалы. После достижения соответствующего увеличения (т. е. при совпадении штрихов миллиметровой шкалы с крайними витками спирали) кольца 4 надежно закрепляют и снова проверяют увеличение. Несовпадение соседних штрихов шкалы с крайними витками спирали не должно превышать 0,5 мк на 1 мм.  [c.266]

Устранение неправильности увеличения осуществляется юстировкой объектива 9 (фиг. 201). Освободив кольцо 10, завертывают объектив 9, если увеличение микроскопа менее нормального. Если увеличение больше, объектив вывертывают. Положение объектива в оправе 8 остается без изменения. Для этого изменяют высоту прокладного кольца присоединением к нему дополнительной шайбы, либо шлифованием существующего кольца. Этим устраняется возможность возникновения параллакса шкал. Неправильность увеличения микроскопа может быть устранена осевым перемещением 30-секундной шкалы. Этот метод можно применять, когда прибор собран и требуется только устранить неправильность увеличения микроскопа. Чтобы переместить шкалу вверх (когда увеличение менее нормального), отвертывают винт 1, кольцо 3 и помещают кольцевую прокладку под оправу 4 шкалы.  [c.387]

Рис. 5. Приспособление для юстировки объективов Рис. 5. Приспособление для юстировки объективов
Прежде чем приступить к юстировке объектива видоискателя, необходимо убедиться, что коллективная линза видоискателя и зеркало хорошо укреплены и не качаются. Объектив видоискателя закреплен в червячной оправе стопорным винтом, освободив который можно вращать объектив видоискателя, смещая его в нужную сторону. Червячная оправа объектива видоискателя имеет возможность вращаться от упора с отметкой бесконечность , до упора с отметкой 1 м,  [c.25]

Юстировка зеркальных камер складывается из трех последовательных операций юстировка объектива, юстировка камеры и юстировка зеркального видоискателя.  [c.189]

Юстировка объектива заключается в установке его правильного рабочего отрезка, который должен быть равен 45,2+0,02 мм. правильный рабочий отрезок объектива устанавливают при помощи юстировочного приспособления, изменяя толщину прокладок между блоком линз и червячной оправой. После проверки или установки правильного рабочего отрезка объектива устанавливают рабочий отрезок камеры. Его можно установить по индикатору-глубомеру или непосредственно по объективу на автоколлиматоре. Меняя толщину прокладок между фланцем объектива и корпусом фотоаппарата, устанавливают правильный рабочий отрезок камеры.  [c.189]


Зеркальный видоискатель юстируют только после юстировки объектива и камеры или в случаях, когда заранее известно, что и объектив и камера имеют точный рабочий отрезок. Юстировка складывается из двух последовательных операций установки зеркала точно под углом 45° и установки коллективной линзы.  [c.189]

Вся предварительная юстировка интерферометра проводится при холодной кювете, т.е. без введения дополнительной разности хода, обусловленной наличием паров исследуемого металла. В процессе юстировки добиваются, чтобы интерференционные полосы, отображаемые объективом L2 на вертикальную щель спектрографа Sp, были строго горизонтальны. Особо проверяется наличие в поле зрения нулевой полосы , для которой порядок интерференции m = О (рис. 5.41,а).  [c.226]

Установить рукоятку рода работ на Т и щель на индекс 2 (боковое окно кожуха справа). Включить прибор в сеть (включение прибора контролируется загоранием сигнальной лампочки на щите управления). Включить тумблер лампа и произвести юстировку лампы с помощью рукоятки, связанной с ее цоколем. При юстировке лампы добиться такого положения, при котором в объективе коллиматора будет видно резкое изображение нити накала лампы. Наблюдение ведется через боковое (левое) окно кожуха.  [c.188]

При юстировке устройства необходимы определенные навыки. Предположим, что пучок проходит вдоль оси объектива и направляется в сторону объекта. Прежде всего возьмем диафрагму с большим отверстием, которое после грубой юстировки заменяется соответствующей точечной диафрагмой. На белом куске бумаги найдем след пучка, который усиливается и увеличивается при поперечном смещении. При продольном смещении необходимо добиться такого положения диафрагмы, когда исчезают дифракционные кольца, вызванные дифракцией света на ней, т. е. когда диафрагма находится в области, где диаметр пучка меньше диаметра отверстия диафрагмы.  [c.114]

На рис. 5, а показано крепление линзы объектива с помощью пружинного и резьбового колец. При креплении нескольких линз в одной оправе, а также при необходимости юстировки системы за счет изменения воздушных промежутков между оптическими деталями, применяются промежуточные кольца, подрезкой которых при сборке выдерживают заданные воздушные промежутки (рис. 5, б).  [c.313]

Основной особенностью этих объективов является высокое качество изображения. Для первых двух групп характерно то, что они должны обеспечивать возможность быстрой установки на камеру с необходимой точностью (0,01—0,02 мм в осевом направлении) без юстировки. Для присоединения объективов к камере используются резьбовое и байонетное соединения.  [c.351]

Для селекции любой из линий, излучаемых лазером (/) на парах меди, применено призменное устройство [11). Затем пучок диаметром 12 мм фокусируется на исследуемый образец, расположенный в реакторе. Рассеянный свет собирается объективом [13) и направляется на входную щель монохроматора. Электронная схема регистрации сигнала содержит предусилитель, дискриминатор, формирователь импульсов и схему совпадения. Второй импульс поступает от задающего генератора, находящегося в блоке питания лазера. Калибровка монохроматора по длинам волн проводится одновременно с регистрацией спектра КР, для чего применяется неоновая лампа [17). Фотодиод [18) используется для контроля стабильности мощности, генерируемой лазером. Юстировка схемы осуществляется с помощью He-Ne лазера [9). Наряду с лазером на парах меди, для возбуждения спектра КР может применяться также Аг" "-лазер [12). Регистрация спектра в диапазоне 800-I-1800 см занимает от 2 до 15 минут. Спектры КР алмазной пленки, полученные при разных температурах, приведены в гл. 3 (см. рис. 3.10).  [c.184]

На фиг. 265 приведены два типа эксцентриковых креплений. Конструкция состоит из эксцентриковой оправы, в которой завальцовкой или резьбовым кольцом укрепляется объектив, и эксцентриковой втулки, надеваемой на оправу. Вращением оправы относительно втулки и втулки относительно корпуса можно смещать оптический центр объектива в плоскости, перпендикулярной оси трубы, и тем самым изменять положение визирной оси системы. После юстировки эксцентриковая оправа жестко закрепляется в корпусе зажимным кольцом.  [c.370]

Последняя юстировка может быть выполнена несколькими способами, что видно из табл. 99, так как призма с крышей имеет действенные сдвиги и повороты, а объектив — действенные сдвиги. Конструктивно удобными оказались поперечные сдвиги объектива с помощью двойной эксцентриковой оправы и наклоны призмы с крышей вокруг осей ОХ и ОУ. Оба эти варианта использованы в приборах ПО-1 и П0-1М.  [c.456]


Для повертывания осей подшипников Для юстировки увеличения верхним кольцом объектива  [c.36]

Погрешности, зависящие от юстировки. Погрешность вследствие эксцентриситета спиральной сетки, достигающего 0,0015 мм при увеличении объектива 5 , может составить 0,0003 мм. Местные ощибки в пределах каждого витка спирали и периодические отступления от равномерности витка юстировкой не устраняются. Погрешность измерения, вызываемая этими причинами, не превышает 0,0005 мм.  [c.104]

При юстировке этого элемента требуется отвернуть стопорный винт 7 (фиг. 50 и 70,6), затем шпилькой, вставленной в отверстие оправы объектива 8, вывернуть его (положение /, фиг. 70,в) и ввернуть (положение II).  [c.165]

Взаимный сдвиг осуществляется либо [движением диафрагмы, либо смещением объектива, либо движением обоих этих элементов. В первом случае преимуществом является то, что падающий на систему световой пучок можно заранее направить в определенном направлении, тогда как во втором случае постоянная позиция диафрагмы обеспечивает при смене и юстировке объектива неизменную конфигурацию голографической установки, что имеет значение ррелу1е всего в голографической интерферометрии. Возможность  [c.113]

Изменение увеличения в меньшую сторону при работе с револьвепчой головкой производят при помощи прокладок, помещаемых мел<ду опорнылш поверхностями головки 23 и окулярной коробки 8. Толщина прокладок определяется по месту. Если увеличение микроскопа при работе с профильной головкой более нормального, то необходимо юстировку объективом произвести по одной из головок с таким расчетом, чтобы для упрощения процесса юстировки другую головку после юстировки требовалось поднять.  [c.288]

После регулирования объектива стопорный винт 16 завертывают и устраняют разнофокусность градусной шкалы и окулярной сетки, возникающую при юстировке объектива.  [c.397]

Частичная разборка затвора. Несмотря на то, что затвор один из наиболее сложных механизмов фотоаппарата, разбирать его и устранять большинство неисправностей удается не снимая его с корпуса фотоаппарата. Такая неполная разборка (именуемая в дальнейшем частичной разборкой ) при соблюдении соответствующих правил позволяет ремонтировать затвор без последующей юстировки объективов. Прежде чем начать разборку затвора, объективы фотоаппарата устанавливают на бесконечность , и через три сопряженные детали карандашом проводят черту так, чтобы она отмечала их правильное положение при установке на бесконечность . Черта должна пройти по оправам видоискателя и объектива (в месте зацепления зубчатых оправ) попуститься вниз на оправу передней линзы объектива. После разметки снимают зубчатую оправу объектива, предварительно отпустив на ней три стопорных винта. Отвинчивая объектив, нужно сделать еще одну отметку на защитном кольце затвора напротив риски, сделанной на оправе объектива, которая соответствовала бы моменту выхода червячной оправы объектива из тубуса. Затвор со снятой передней линзой показан на рис. 9.  [c.14]

В отсутствие интерферометра производят юстировку кон-денсорной линзы и проектирующего объектива. При этом учитывают, что источник света — полый катод — находится на оптической оси. Конденсор 2 (рис. 31) помещают в положение, при котором он дает приблизительно параллельный пучок света.  [c.84]

В интерферометре Физо поверхности контролируемой и эталонной пластинок из-за малости угла (угл. секунды) почти полностью соприкасаются друг с другом и в процессе юстировки могут быть повреждены. Поэтому для контроля поверхностей часто используются бесконтактные П., построенные по схеме интерферометра Майкельсона (рнс. 3). Здесь параллельный пучок света пз объектива 0 входного коллиматора падает на полупрозрачную разделит, пластинку П и нанравляется к зеркалам Л/i и к-рыми в данном случае служат эталонная Э и контролируемая К пластинки. После отражения от зеркал-пластинок оба пучка вновь соединяются разделит, пластинкой П и направляются в объектив Оя выходного коллиматора и интерферируют. При. этом оба зеркала ориентированы так, чтобы контролируемая поверхность К и мнимое изображение эталонной поверхности Э в разде. 1ит. пластинке образовали небольшой В0.ЭДУШНЫЙ клин толщиной в его ср. части (на оп-  [c.171]

Достоинство репликового метода состоит в возможности получения очень легких зеркал, причем с одной матрицы может быть снято без ухудшения качества несколько одинаковых реплик. Матрица для пары параболоид—гиперболоид может быть изготовлена единой, что упрощает конструкцию системы и облегчает юстировку. Ряд объективов для солнечных рентгеновских телескопов был изготовлен методом снятия гальванических никелевых реплик с матрицы из коррозионно-стойкой стали (для спутника ОСО-4 [16]), со стеклянных матриц [46]. При изготовлении зеркал для телескопа ЭКСОСАТ [80] на полированную стеклянную матрицу напылялся слой золота, а затем наносился тонкий (50 мкм) слой эпоксидной смолы, который соединял отражающее золотое покрытие с внешней силовой оболочкой из бериллия. Усовершенствованный метод снятия гальванических реплик был применен при изготовлении зеркал для телескопа РТ-4М [11]. На стеклянную матрицу через промежуточный тонкий слой серебра наносился гальванически слой никеля толщиной около 1 мм, на котором затем методом литья формировалась оболочка из эпоксидной пластмассы толщиной около 1,0 см. В работе [77] описан вариант репликового метода, в котором гальванические реплики снимались с алюминиевой матрицы, покрытой канигеном и отполированной. С этой матрицы было снято 25 реплик, которые сохраняли высокий коэффициент отражения (вплоть до 6,4 кэВ).  [c.224]

Картины, наблюдаемые в скрещенном и параллельном полярископах, являются дополнительными предпочтение скрещенному расположению поляризатора и анализатора отдается только из-за более легкой их юстировки по темному полю. Оптическая схема поляризационной установки приведена на рис. 4.7. Активный элемент 4 помещается между поляризатором 3 и анализатором 5. В качестве источника света 1 удобно использовать лазер, пучок излучения которого расширяется телескопической системой 2. Если лазер излучает поляризованный свет, то необходимость в поляризаторе 3 отпадает. Для получения наиболее четкой световой картины на экране (фотопленке) 7 плоскость фокусировки объектива 6 (как и при работе с интерферометрами) следует еовмеш,ать С центральным сечением образца 4,  [c.183]


На рис. 49 показана схема одного из рубиновых ОКГ, выпускаемого нашей оптической промышленностью. Кристалл синтетического рубина диаметром 6,5 мм и длиной 65 мм покрыт с обеих сторон отражающими диэлектрическими покрытиями с максимумом пропускания при Я, = 694,3 нм. Покрытие на верхнем торце является пропускающим, на нижнем — полностью отражающим. Кристалл I облучается светом импульсной ксеноновой лампы 3, помещенной в цилиндрический рес ектор 2 с зеркальной внутренней поверхностью. Излучение лазера проходит через защитное стекло 4 и отклоняющую призму 5. Телескопическая система, служащая для уменьшения угла расходимости лучей, состоит из объектива 6 (i Ky Hoe расстояние 14,95 мм) и 8 (фокусное расстояние 295,71 и дает увеличение 0,05 . В совмещенной фокальной плоскости объективов помещается диафрагма 7. Для юстировки генератора используется визирная труба, параллельная оси телескопической системы. Электрическая система ОКГ,  [c.81]

Модуль излучателя состоит из стержня, лампы-накачки, осветителя, высоковольтного трансформатора, зеркал резонатора, модулятора добротности. В качестве источника излучения используется обычно неодимовое стекло или алюминиево-иттриевый гранат, что обеспечивает работу дальномера без системы охлаждения. Все элементы головки размещены в жестком цилиндрическом корпусе. Точная механическая обработка посадочных мест на обоих концах цилиндрического корпуса головки позволяет производить ее быструю замену и установку без дополнительной регулировки, а это обеспечивает простоту технического обслуживания и ремонта. Для первоначальной юстировки оптической системы используется опорное зеркало, укрепленное на тщательно обработанной поверхности головки, перпендикулярно оси цилиндр рического корпуса. Осветитель диффузионного типа пред ставляет собой два входящих один в другой цилиндра, между стенками которых находится слой окиси магния. Модулятор добротности рассчитан на непрерывную ус тойчивую работу или на импульсную с быстрыми запусками. Основные данные унифицированной головки таковы длина волны 1,06 мкм, энергия накачки—25 Дж, энергия выходного импульса — 0,2 Дж, длительность импульса 25 НС, частота следования импульсов 0,33 Гц (в течение 12 с допускается работа с частотой 1 Гц), угол расходимости 2 мрад. Вследствие высокой чувствительности к внутренним шумам фотодиод, предусилитель и источник питания размещаются в одном корпусе с возможно более плотной компоновкой, а в некоторых моделях все это выполнено в виде единого компактного узла. Это обеспечивает чувствительность порядка 5-10 Вт. В усилителе имеется пороговая схема, возбуждающаяся в тот момент, когда импульс достигает половины максимальной амплитуды, что способствует повышению точности дальномера, ибо уменьшает влияние колебаний амплитуды приходящего импульса. Сигналы запуска и остановки генерируются этим же фотоприемником и идут по тому же тракту, что исключает систематические ошибки определения дальности. Оптическая система состоит из йфокального телескопа для уменьшения расходимости лазерного. луча и фокусирующего объектива для фото приемника. Фотодиоды имеют диаметр активной пло-  [c.140]

Рис. 7.1. Схема установки для измерений in situ спектров комбинационного рассеяния света 1 — лазер на парах меди, 2 — блок питания лазера, 3 — монохроматор, 4 фотоумножитель, 5 — предусилитель, 6 — амплитудный дискриминатор, 7 — формирователь импульсов, 8 — схема совпадения, 9 — He-Ne лазер, 10 — компьютер, 11 — дисперсионное призменное устройство, 12 — аргоновый лазер, 13 и 16 — объективы, 14 — образец, 15 — оптический фильтр, 17 — неоновая лампа, 18 — фотодиод, а — входная щель монохроматора, Ь — одна из выходных щелей (используется для юстировки) Рис. 7.1. Схема установки для измерений in situ <a href="/info/575108">спектров комбинационного рассеяния света</a> 1 — лазер на парах меди, 2 — <a href="/info/294957">блок питания</a> лазера, 3 — монохроматор, 4 фотоумножитель, 5 — предусилитель, 6 — амплитудный дискриминатор, 7 — формирователь импульсов, 8 — <a href="/info/13814">схема совпадения</a>, 9 — He-Ne лазер, 10 — компьютер, 11 — дисперсионное призменное устройство, 12 — <a href="/info/144128">аргоновый лазер</a>, 13 и 16 — объективы, 14 — образец, 15 — <a href="/info/69687">оптический фильтр</a>, 17 — <a href="/info/196624">неоновая лампа</a>, 18 — фотодиод, а — входная щель монохроматора, Ь — одна из выходных щелей (используется для юстировки)
Фото- и кинообъективы можно разделить на следующие г ч сменные объективы для фотокамер с дальномером сменные объ > ъа для зеркальных фотокамер и кинокамер жестко встроенные обтек е объективы с переменным фокусным расстоянием. Основной <Сс -костью этих объективов является высокое качество изоб, с ч Объективы первых двух групп должны обеспечивать возя быстрой установки в камеру с необходимой точностью (0,01—О 1 в осевом направлении) без юстировки. Для присоединения обтс - 1 в в ка.мере используются резьбовое и байонетное соединения.  [c.313]

Устранение параллакса перемещением объектива достигается установкой прокладных колец под опорный борт оправы объектива 4 (фиг. И). К юстировке параллакса объективом рекомендуется прибегать только при значительной разнофокусности шкалы и указателя, когда устранение этого дефекта нере.мещенпем окулярной  [c.66]

Компарометр имеет ряд недостатков, основными из которых являются сравнительно малый диапазон рабочего перемещения измерительного стержня ( 55 мк) большая толщина штрихов шкалы и указателя, затрудняющая отсчитывание долей деления шкалы невысокое качество изготовления трубки трудность юстировки важных элементов прибора неудачная конструкция узла преломления пучка лучей (фиг. 36) от пластины 2 к объективу 3, затрудняющая юстировку прибора.  [c.95]

Неправильность увеличения устраняют осевым перемещением объектива 2 (фиг. 42). При увеличении более нормального объектив требуется ввернуть и, наоборот, вывернуть, если увеличение меньша нормального. Предварительно освобождают стопорный винт, которым после юстировки закрепляется объектив. Устранение непракиль-ности увеличения производят также при помощи фольговой прокладки, помещенной между опорными поверхностями головки и тубуса, когда увеличение меньше нормального.  [c.115]


Смотреть страницы где упоминается термин Юстировка объективов : [c.370]    [c.329]    [c.25]    [c.427]    [c.366]    [c.349]    [c.356]    [c.124]    [c.126]    [c.377]    [c.311]    [c.317]    [c.159]   
Смотреть главы в:

Ремонт фотоаппаратов  -> Юстировка объективов



ПОИСК





© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте