Методы выявления и исследования дислокаций

МЕТОДЫ ВЫЯВЛЕНИЯ И ИССЛЕДОВАНИЯ ДИСЛОКАЦИЙ [c.93]

Некоторые структурные изменения в металле после ТМО, например высокую дисперсность кристаллов мартенсита, можно наблюдать при обычном микроскопическом изучении шлифов. Однако наиболее существенные данные об изменении строения упрочненных сталей могут быть выявлены пока что лишь с помощью рентгеноструктурного анализа. Именно этот метод применен в большинстве исследований для оценки размера блоков и изменения плотности дислокаций в результате ТМО. К сожалению, до сего времени крайне мало работ посвящено электронномикроскопическому исследованию структуры упрочненных сталей (а именно этим методом можно проследить за изменением строения мартенситных пластин и выделением карбидной фазы) и еще не разработаны надежные методы выявления дислокаций в мартенситной фазе, что, безусловно, сильно осложняет анализ наиболее тонких структурных изменений стали при ТМО и не позволяет до конца вскрыть механизм упрочнения. [c.80]

Представленная схема хорошо согласуется со многими экспериментальными фактами, обнаруженными методами электронной микроскопии и P А в чистых металлах, подвергнутых интенсивной деформации равноосной формой зерен, значительными искажениями кристаллической решетки, наличием дислокаций высокой плотности в границах зерен и т. д. Вместе с тем закономерности структурных изменений и механизм формирования наноструктур в различных сплавах при интенсивных деформациях остаются еще мало изученными, и их выявление остается актуальной проблемой, требующей дальнейших исследований. [c.47]

Преимущественное развитие усталостных трещин происходит в поверхностных слоях, что обусловлено более ранним по сравнению с остальным объемом металла повреждением поверхностных слоев из-за более раннего накопления в этих слоях критической плотности дислокаций [83]. Поскольку процесс усталости во всей массе протекает неоднородно, то для изучения изменения свойств в процессе циклического нагружения необходимы характеристики, которые позволяли бы судить о процессах, происходящих в локальных объемах металла. В связи с этим при изучении усталостного разрушения широкое применение нашли методы измерения твердости и микротвердости, рентгеновского анализа, оптической и электронной микроскопии. Результаты этих исследований представляют большой интерес для выявления сходства и различия кинетики накопления структурных повреждений и разрушения в условиях объемного циклического нагружения и при фрик-ционно-контактной усталости, поскольку аналогичные методы исследования широко применяются при трении. Методы интегральной оценки структурных изменений, такие, как измерение электросопротивления (проводимости), внутреннего трения, магнитных свойств, несмотря на то что требуют специальной подготовки образцов и соответственно испытательного оборудования, также могут быть полезны для исследования процессов трения. [c.33]

Для выявления микроструктурных изменений в материалах, подвергнутых нагружению ударными волнами, в последнее время стали применяться другие методы исследований. Так, в [67] для изучения микроструктуры меди после ударного нагружения проводились рентгенографические анализы деформационной структуры, в ходе которых определялись параметры структуры, микроискажения решетки и плотность дислокаций. [c.149]

Справочник охватывает практически все существующие методы исследования от самых ранних (отпечатков на шелке) до новейших (фазового контраста, выявления дислокаций, штрихового травления). [c.8]

Эффект магнитной памяти металла к действию на] рузок растяжения, сжатия, кручения и циклического нагружения выявлен в лабораторных и промышленных исследованиях. Уникальность метода магнитной памяти заключается также в том, что он основан на использовании собственного магнитного поля, возникающего в зонах устойчивых полос скольжения дислокаций, обусловленных действием рабочих нагрузок. В результате взаимодействия собственного магнитного поля (СМП) с магнитным полем Земли в зоне концентрации напряжений на поверхности объекта контроля образуется градиент магнитного поля рассеяния, который фиксируется специализированными магнитометрами. Механизм возникновения СМП на скоплениях дислокаций обусловлен закреплением доменных границ, когда эти скопления становятся соизмеримы с толщиной доменных стенок. Ни при какгос условиях с искусственным намагничиванием в работающих конструкциях такой источник информации, как собственное маг- [c.350]

При изучении механизмов пластической деформации методом исследования изменения дислокационной структур )1 был выявлен процесс текстурирования монокристаллов кремния и ниобия. Методом прямого наблюдения дислокационной структуры было (юказано, что при скольжении индентора в поверхностных слоях стали XI8H9T достигается в1>1сокая плотность дислокаций с образованием полос скольжения в виде пакетов. При этом отчетливо наблюдается ориентировка пакетов в направлении, перпендикулярном действию тангенциальных сил [29]. [c.45]

С изложенных позиций легко объясняется появление целого спектра ямок по размеру с более или менее четко выраженной объемной геометрией, и в частности плоскодонных ямок травления. Данный эффект целиком обусловлен малым линейным размером дислокаций, которые частично или полностью вытравливаются в процессе их выявления. Хорошей иллюстрацией в этом случае могут служить так называемые дислокации обработки, появляющиеся после тонких видов шлифовки или полировки порошками типа АСМ-1, rjOs, ZrOj и др. Выявляемые металлографией после таких видов обработки ямки абсолютно не похожи на обычные дислокационные и составляют сплошной фон пустых мелких ямок. И только электронно-микроскопическими исследованиями удается показать присутствие действительно очень большой плотности дислокаций в тонком приповерхностном слое глубиной менее 1 мкм. Аналогичные эффекты возникают при выявлении методом травления ямок ваканслонного типа, т.е. вакансионных кластеров или дислокационных петель, образовавшихся при их захлопывании. Поскольку и здесь существует спектр по размерам кластеров и петель, форма и контрастность ямок будут определяться аналогичными размерными эффектами. [c.185]

Физ. основу методов Р. т. составляет дифракц. контраст в изображении разл. областей кристалла в пределах одного дифракционного пятна. Этот контраст формируется вследствие различий интенсивностей или направлений лучей от разных точек кристалла в соответствии с совершенством или ориентацией крист, решётки в этих точках. Эфiфeкт, вызываемый изменением хода лучей, позволяет оценивать размеры и дезориентации элементов субструктуры в кристаллах (фрагментов, блоков), а различие в интенсивностях пучков используется для выявления дефектов упаковки, дислокаций, сегрегаций примесей и напряжений. Р. т. отличается от др. рентг. структурных методов (см. Рентгеновский структурный анализ. Рентгенография материалов) высокой разрешающей способностью и чувствительностью, а также возможностью исследования объёмного расположения дефектов в сравнительно крупных (до десятков см), почти совершенных кристаллах. [c.637]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...