Флуктуации уровня и фазы

Флуктуации уровня и фазы [c.100]

Найдем теперь флуктуации уровня и фазы, являющиеся вещественной и мнимой частями fi(L, у, z). Поскольку, вообще говоря, величина dv комплексна и ее вещественная и мнимая части точно не известны, брать вещественную и мнимую части от выражения (17.31) нецелесообразно. Вместо этого мы воспользуемся соотнощениями [c.107]

Подобным образом найдем и взаимную корреляционную функцию флуктуаций уровня и фазы [c.110]

Заметим, что структурные функции флуктуаций уровня и фазы, вычисленные в приближении Рытова, равны (гл. 17) [c.167]

В данном разделе мы рассмотрим флуктуации уровня % и фазы Si в случае распространения в пределах прямой видимости, используя метод Рытова. Этот метод основан на переходе от волнового уравнения для поля и к нелинейному уравнению Риккати для я з, которое решается методом интегрального уравнения. Подробное изложение метода Рытова дано в гл. 17. Здесь мы приведем без вывода выражение для первой итерации, имею- [c.154]

X sin 8 os dV — R dR sin Q dQ df, ri=(d/2, 0, L). Тогда флуктуации уровня и фазы можно представить в виде [c.156]

Временная корреляция и частотные спектры флуктуаций уровня и фазы плоской волны [c.159]

На основе этого выражения, используя процедуру, аналогичную той, которая была использована выше для гауссовой корреляционной функции, можно рассчитать для рассматриваемой модели турбулентности корреляционные функции для уровня и фазы. Однако из-за сложности получаюш ихся выражений мы их здесь приводить не будем. Приведем лишь вытекающие из них формулы для флуктуаций уровня х и фазы [c.109]

Вещественная часть )ь обозначенная через %, представляет собой так называемые флуктуации уровня. Мнимая часть, обозначенная через 5], описывает флуктуации фазы. В данной главе мы исследуем статистические характеристики х и 1 для плоской волны. Следует отметить, что % отличается от флуктуаций амплитуды (А — (А )1(Ау, где <Л> — средняя амплитуда. Величина X отличается и от флуктуаций логарифма амплитуды 1пЛ 1пЛ — <1пЛ>. Однако при х1 1 величина х приближенно равна [А—Ао)1Ао. [c.103]

Рис. 19.2. Частотные спектры флуктуаций уровня (а) и фазы 1 (со) пло-

Подставляя формулы (6.125) — (6.127) и (6.130) в (6.124), можно найти флуктуации уровня х и фазы Si. Детального анализа мы здесь не проводим, поскольку он совершенно аналогичен случаю плоской волны. Следует отметить, что подобно тому, как обсуждалось в разд. 6.4, существенное влияние на флуктуации могут оказывать направленные свойства излучателя и приемника. [c.162]

В цифровой системе преобразования сигналов возникают и влияют на качество их передачи [62] следующие виды ошибок погрешность, вносимая входным ФНЧ из-за конечной длительности переходов уровня сигнала в верхней части звукового диапазона и за ним недостаточная фильтрация высокочастотных входных сигналов шум, создаваемый входным ФНЧ или усилителем выборки-хранения ошибки входного усилителя выборки-хранения, обусловленные временем установления сигнала погрешность из-за недостаточного времени установления процесса при преобразовании методом последовательных приближений ошибки значений уровней квантования ЦАП, применяемого в составе АЦП шум компаратора ЦАП ошибка из-за переменного эффективного времени выборки во входном устройстве выборки-хранения погрешность, обусловленная временными флуктуациями входных и выходных синхроимпульсов выборки погрешность из-за диэлектрического поглощения в конденсаторах входных и выходных усилителей выборки-хранения ошибка из-за уменьшения значения сигнала в течение фазы хранения нелинейности низкочастотной части характеристик аналоговых цепей, обусловленные неравномерным нагреванием большими токами ле-ментов входных каскадов шумы источника питания и плохого заземления неравномерность уровней квантования в выходном ЦАП производные искажения высокого порядка в выходном устройстве выборки (интегрирования-хранения) шум выходного фильтра, обусловленный ограничением динамического диапазона интегрирующей цепи изменение характеристик в зависимости от температуры и времени. [c.26]

Необходимые усреднения проводятся после получения и обработки результатов моделирования для различных случайных реализаций ф(р) и Е р). Обе величины -ff(po) и S позволяют оценить степень похожести искаженного и неискаженного изображений и установить ее зависимость от числа корреляционных фазовых ячеек L, интенсивности флуктуаций фазы а=Д ф(0), уровня углового разрешения и формы наблюдаемой цели. [c.87]

Число атомов, энергия которых выше некоторого уровня Е, пропорционально фактору Больцмана Очевидно, чем больше флуктуация по уровню энергии и по размерам в кристалле участка с повышенной энергией, тем меньше вероятность флуктуации в пределах исходной фазы. [c.127]

Флуктуации п в турбулентной среде приводят к ряду интересных явлений при распространении через такую среду звуковых волн, радиоволн и света. К их числу относятся флуктуации фазы и угла прихода волн, амплитуды или уровня сигнала, рассеяние волн и другие. [c.170]

Уже первые исследователи критических явлений обратили внимание на своеобразную опалесценцию, которая возникает при прохождении света через вещество, когда его состояние близко к критическому. Опалесценция вызвана необычайно высоким уровнем крупномасштабных флуктуаций плотности. Вещество как бы приобретает мелкозернистую структуру. Ниже критической температуры развитие микрогетерогенности приводит к распаду системы на две фазы, но при Г ]> Гр макроскопическая однородность системы не нарушается. Тепловые флуктуации дают толчок процессу гомогенной нуклеации. С другой стороны, сам этот процесс ограничивает величину наблюдаемых флуктуаций в метастабильной фазе. С ростом пересыщения снижается работа образования критического зародыша и возрастает средний уровень флуктуаций. Оба указанных фактора способствуют зародышеоб- [c.18]

Спонтанное зародышеобразование в метастабильной фазе обусловлено флуктуациями и служит их наглядным проявлением. Один из возмонлных механизмов возникновения островка изотропной фазы состоит в том, что в малом объеме флуктуационным путем создается достаточно большой радиальный градиент плотности. Тогда объем веш ества теряет устойчивость, и внутри него появляется пузырек или капелька со свойствами новой фазы. Минимально необходимая величина градиента плотности определяется свойствами переходного физического слоя между сосуществующими фазами [246]. С приближением к критической температуре переходной слой утолщается, а соответствующий ему градиент плотности стремится к нулю. На первый взгляд кажется, что для гомогенного зародышеобразования требуется существенное повьппе-ние уровня флуктуаций в метастабильной фазе по сравнению с условиями, которые имеют место вблизи линии насыщения. Однако экспериментальные данные не подтверждают этого. Результаты, изложенные в гл. 8, свидетельствуют о слабом росте сжимаемости на изотермах при достижимых перегревах н-гексана (/ 10 см -сек -). Следовательно, по (9.30) мало растут и флуктуации плотности в заданном объеме жидкости. Исключение составляет область вблизи критической точки. Такой же вывод можно сделать из опытов Джалалуддина и Замкова [118] по рассеянию света в перегретом эфире. Рассеяние сохраняет релеевский характер (/ — до тех пор, пока в жидкости не появится много зародышевых пузырьков, г > Гк. Аналогичный результат был получен Морман-ном [120], который наблюдал за рассеянием света в конденсирующихся пересыщенных парах. [c.274]

Сжатое состояние, напротив, имеет асимметрию в фазовом пространстве, и поэтому флуктуации чувствительны к фазе. Теперь, когда мы меняем фазу, флуктуации могут падать ниже, либо становиться выше уровня вакуумных флуктуаций, как на это указывает осцилли-зуюш,ая кривая на рис. 1.10. [c.27]

Когда энергия, необходимая для создания поверхности раздела фаз, относительно велика, процесс образования зародыша в основном определяется вторым членом А/ з уравнения общей свободной энергии фазовых превращений. Особенно это имеет место при небольших степенях переохлаждения (первый член / .РV мал). В этих условиях образование зародыша рвязано с необходимостью значительного искажения атомнокристаллической структуры на возникающей межфазной границе. Такие зародыши называются зародышами некогерентного типа. Они образуются преимущественно по границам зерен с большими углами разориенти-ровки, которые особенно характерны для металлов в рекристаллизован-ном состоянии, а также на свободных поверхностях и инородных включениях. Эти места являются наиболее выгодными потому, что обладают более высокими уровнем свободной поверхностной энергии и степенью искажений кристаллической решетки исходной фазы. Уменьшение размера зерен способствует увеличению числа возникающих зародышей и тем самым ускоряет превращение в целом. А. X. Коттрелл 16] отмечает, что по степени искажения (или неупорядоченности) атомной структуры эти границы и поверхность раздела между некогерентным зародышем и матрицей исходной фазы весьма напоминают друг друга. Возникновение некогерентных зародышей по границам зерен в сплавах облегчается еще и потому, что благодаря повышенной концентрации поверх-ностноактивиых легирующих элементов и примесей и более высоким коэффициентам диффузии атомов на границах (в сравнении с областями неискаженной решетки в зерне) повышается вероятность флуктуаций состава и сокращается время, необходимое для подхода атомов нужного сорта к зародышу. Экспериментально это доказано методом меченых [c.15]

Рис. 1.10. Ширина V распределения фототока как функция разности фаз между двумя полями на входах гомодинного детектора. В самом простом представлении в фазовом пространстве вакуумное состояние имеет вид кружка и, очевидно, симметрично относительно вращения. Оно не имеет какой-либо предпочтительной фазы. Следовательно, когда мы смешиваем вакуумное состояние с локальным осциллятором, ширина V не зависит от Напротив, сжатое состояние представляется в виде эллипса, который выделяет предпочтительное направление в фазовом пространстве. Поэтому ширина V зависит от фазового угла В областях значений фазы около точек i9o + ктг, где /с = О, 1, 2,..., флуктуации падают ниже вакуумного уровня. Свет сжат. В промежуточных областях флуктуации больше, чем флуктуации вакуума. Взято из работы L. А. Wu et а/., J. Opt. So . Am. В. 1987. V. 4. R 1465

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...