Спектральные поляризационные измерения

СПЕКТРАЛЬНЫЕ ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ 51Э [c.519]

Измерение интенсивности спектральных линий производится в визуальных приборах, либо на-глаз (стилоскоп), либо с помощью поляризационного фотометра (стилометр). [c.52]

Излучение синхротрона. Как уже отмечалось выше ( 5), распределение энергии в спектре излучения синхротрона может быть точно рассчитано, если известна энергия электронов. Экспериментальная проверка показала, что теоретические формулы хорошо согласуются с опытом [88]. Однако практическое использование синхротрона в качестве стандартного источника сопряжено с рядом трудностей так, например, происходит пространственное перемещение луча, наложение спектров высоких порядков [88а]. Применяя синхротрон в качестве стандартного источника излучения, следует иметь в виду, что излучение синхротрона поляризовано [89] и поэтому с его помощью определяется эффективность всей установки в целом для света определенной поляризации. Для того чтобы найти эффективность установки для естественного света, необходимо знать степень поляризации излучения синхротрона и поляризационные свойства спектральной установки. В настоящее время уже имеется ряд методов для определения степени поляризации излучения в вакуумном ультрафиолете (см. 22), и поэтому эти измерения могут быть проведены. [c.250]

На основе дисперсии, дифракционных и интерференционных явлений построены спектральные приборы, работаюш,ие в очень широкой области спектра. Поляризационные приборы используются для изучения характеристик кристаллов, исследования статических и динамических напряжений, точных угловых и линейных измерений для определения концентраций растворов и др. [c.3]

Оптические устройства и приборы, основанные на совместном использовании явлений интерференции и поляризации, широко применяются в технике физического эксперимента для монохроматизации излучения и для различных исследований и измерений. Использование поляризационных свойств света позволяет значительно повысить точность интерференционных измерений, а также создать перестраиваемые по длинам волн фильтры, выделяющие весьма узкие спектральные диапазоны и обладающие большой светосилой. Приборы и установки, построенные на базе поляризационных явлений, широко используются для диагностики кристаллов и для количественного исследования напряжений в деталях и конструкциях. [c.234]

После освоения технологии синтеза МИС наиболее активно, пожалуй, развивалось (и продолжает развиваться) такое их приложение, как диагностика плазмы. Прежде всего — создание обзорных спектрометров с умеренным спектральным разрешением, фильтров поляризационные измерения получение спектров с пространственным, и временным разрешением пост роение изображений короткоживуш,их плазменных объектов в узких спектральных участках МР-диапазона [46, 61, 91, 94]. В работе [24] вольфрам-углеродная МИС использована для получения спектров лазерной плазмы бериллия в области X ni 5,9щ6,4 нм. Отождествлены линии Is — Зр, is — 4р и 1.S — Ър иона Ве IV. [c.118]

Современные высокоавтоматиэир. ЛОВ-спектрометры, в к-рых как управление процессом из.мерения, так и обработка полученных данных измерений осуществляются ЭВМ, дают возможность получать в реальном масштабе времени амплитудные, разовые и поляризационные спектральные характеристики эл.-магн. волны до и после её взаимодействия с исследуемым объектом, в т. ч, в условиях разл, внеш. воздействий (темп-ра, давление, постоянные электрич. и магн. поля, эл.-магн. излучение разл. частот). Спец. матем. программы позволяют по этим данны.м вЫ числять зависимость от частоты фундам. параметров ис- [c.17]

На спектральную характеристику излучения объекта оказывают влияние спектральные характеристики составных частей пирометра (линз, зеркал и т.д.). Область спектра излучения в пирометрах может ограничиваться или вырезаться встроенными в них селективными фильтрами. Во всем спектральном диапазоне такие средства ослабления потока излучения, как вращающиеся сектора, диафрагмы и серые стекла, поглощают излучение объекта измерения на некоторую постоянную величину. На рис. 9.7 показана блок-схема пирометра. При помо, ,щи серых клиньев и поляризационных фильтров излучение в пи-роме ре ослабляется по определенному закону. Такие приемники излучения, как черненые термобатареи или болометры, являются серыми или черными приемниками, и сигналы, возникающие в них, не зависят от длины волны падающего потока излучения. Фотоэлементы [c.334]

Оптические методы НК разделяют на три группы. В первую группу входят визуальный и визуально-измерительный методы, которые являются наиболее простыми и доступными, имеют наибольшее распространение и обязательны для применения при диагностировании технических устройств и объектов всех типов. Ко второй группе относятся фотометрический денсиметрический, спектральный и телевизионный методы, которые основаны на результатах измерений с использованием электронных приборов. К третьей группе относятся интерферометрический, дифракционный, фазово-контрастный, рефрактометрический, нефелометриче-ский, поляризационный, стробоскопический и голографический методы, использующие волновые свойства света и отличающиеся наивысшей точностью измерения — с точностью до десятых долей длины волны излучения, — но сложностью в реализации. [c.54]

Наконец, следует отметить, что поляризационные характеристики спектральных приборов также зависят от ширины входной щели. Так, в некоторых случаях при ширине 0,001 мм щель полностью поляризует проходящий свет, а при ее расширении поляризация резко спадает. Поляризационные свойства спектральных аппаратов различны для различных конструкций кроме того, они зависят еще и от длины волны, поэтому эти эффекты доляпгы приниматься во внимание при измерениях относительных интенсивностей по спектру. [c.101]

СКИХ измерений, сиектроиоляриметрические измерения осуществляются путем соединений соответствующего поляриметра со спектральным прибором. Это соединение может осуществляться путем пространственного совмещения зрачков и.ли люков входа и выхода обеих систем, чаще всего путем последовательного соединения, когда, например, люк выхода одного прибора (поляриметра) соединяется с люком входа другого прибора (спектрографа). Однако поляризационная система может быть установлена внутри спектрального прибора. При этом следует иметь в виду, что спектральный прибор сам является поляризатором. Поляризация проходящих через спектральный прибор пучков возникает как результат отражения иа поверхностях его оптической системы, а также и па щелях, в особенности, когда ширина щелей мала. Устранение или учет этих эффектов должен проводиться, сообразуясь с конкретными условиями из.мерепий. [c.519]

Применения К.э. Конденсатор Керра, помещенный между двумя скрещенными поляризационными призмами, пропускает или не пропускает свет, в зависимости от величины наложенного поля. При этом с точностью по крайней мере до 10" ск. К. э. следует без задержки и затягивания за изменениями поля. Налагая на конденсатор переменное поле с большой частотой, получаем чрезвычайно быстро и точно работающий прерыватель для света. На этом основано все расширяющееся применение К. э. при физич. измерениях и в технике. Конденсатор Керра с громадными преимуществами заменяет зубчатое колесо Физо при измерении скорости света (Гавиола и Миттельштет (. С помощью К.э. может быть точно измерено ничтожное время порядка 10 ск., протекающее между моментом поглощения света и вторичным излучением его в виде флуоресценции. При помощи конденсатора Керра можно модулировать световую волну и получить искусственное уширение или расщепление спектральных линий (Рупп, Бром-.10Й). В технике К.э. применяется с успехом при передаче изображений на расстояние, при телевидении и в кнно звуковом (си. ). [c.61]

Используя эти операторы, обратные задачи светорассеяния можно свести к решению систем интегральных уравнений, что иллюстрируется в главе на примере теории поляризационного зондирования атмосферы. Этот оптический метод технически реализуется с помощью поляризационных нефелометров и бистати-ческих схем зондирования. Поскольку операторы перехода, определенные на совокупности элементов матрицы Мюллера, играют существенную роль и в теории, и в практике обработки оптических измерений, в главе дается обстоятельный анализ их основных свойств. В частности, показана их компактность и непрерывность, возможность их представления в виде интегральных операторов, приведена структура регуляризованного аналога, что весьма важно в случаях их применения в схемах обработки экспериментальной информации. Кратко изложены основы их спектрального анализа. Во избежание формализма авторы используют известные аналогии между интегральными операторами и матрицами. [c.14]

Наиболее простой и одновременно наиболее близкий к изложенному выше способ активного формирования контура измеряемой спектральной линии в КЭКР основан на методе измерения параметров эллиптичности антистоксова сигнала, в котором эллиптически поляризованный пучок с помощью поляризационной призмы разделяется на два линейно поляризованных пучка с ортогональными направлениями поляризации [32]. Измеряется отношение их интенсивностей как функция частотной отстройки Дсо /а (Дсо)//ах (Дсо). Поворот поляризационной призмы вокруг оси пучка (его снова можно характеризовать ранее введенным углом б) изменяет/а 1 (Дсо) и/а (Дсо) и тем самым влияет на их отношение. [c.270]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...