Размерности неплохие

Пара невырожденная размерностей неплохая 168 ---хорошая 168 [c.255]

В связи с последним обозначением заметим, что изменение плотности р с высотой /г над поверхностью Земли может быть приближенно записано в виде (ро—плотность атмосферы на уровне моря), причем эта зависимость неплохо отражает истинное положение вещей до высоты к 80 00 км. Величина X имеет размерность км- . Обратная ей величина Н /Х называется масштабным коэффициентом плотности и имеет простой физический смысл она показывает высоту в километрах, при подъеме на которую плотность воздуха уменьшается в л 2,718 раза. Для Земли Я=7,16 км [3.29]. [c.261]

Хорошие и неплохие размерности. [c.168]

На рис. 43 пунктирной линией показана граница области хороших размерностей [276, VI] (целые точки на границе не входят в область), а сплошной линией — граница области неплохих размерностей [300], [364] (граница в данном случае [c.168]

Понятие топологически версальной деформации вводится аналогично понятию дифференцируемо версальной деформации (см. также п. 3.5). Заметим, что существуют п, р такие, что в пространстве ростков (Е", 0)- Н множество конечной коразмерности составляют ростки, не имеющие конечномерных дифференцируемо -версальных деформаций (например, если пара (п, р) лежит вне области хороших и неплохих размерностей— см. п. 1.9). [c.194]

Применение метода ренормализационной группы для ш числения критических показателей оказалось успешным бл годаря наличию малого параметра исследование четырехме ных моделей показало, что в критической области отклонен от теории Ландау стремятся к нулю при d- 4. При d=4 ост ются лишь логарифмические поправки к степенным закона классической теории. В пространстве размерности d=4—е о клонения порядка е [120, 121]. Оказалось, что коэффициент при первых членах е-разложения численно малы, так что да> при 8=1 они могут неплохо описывать сумму ряда. Для сиб мы с произвольным п получаем [c.88]

В случае течений, ограниченных стенками, нельзя считать, что /(= onst, но можно выдвинуть другие гипотезы о коэффициенте турбулентной вязкости К. Например, в случае плоскопараллельного течения около плоской стенки (но не слишком близко от нее — за пределами вязкого подслоя) к хорошим результатам приводит гипотеза о пропорциональности коэффициента К расстоянию до стенки из нее вытекает логарифмическая формула (6.22) для профиля скорости, согласующаяся с выводами из соображений размерности. Для течений в трубах, каналах и пограничном слое также был предложен ряд гипотез о зависимости К от расстояния до стенки z. В качестве примера можно указать на заметку Госса (1961), в которой показано, что для труб и пограничного слоя к неплохо согласующимся с опытом результатам приводит предположение о пропорциональности К функции 1—(I—z/б) , где Ь — радиус трубы или толщина пограничного слоя, или на гипотезу Сцаблевского (1968) = (1 — 2/6) ехр (—zimb) при и К—К(тЬ) при m z/6[c.320]

Большинство экспериментов по проверке теории Фукса выполнено на пленках щелочных и благородных металлов, так как для этих материалов приемлемы упрощающие допущения теории. К сожалению, открытым остается вопрос о возможности непосредственного применения результатов этой теории к другим металлам, поверхности Ферми которых сильно отличаются от сферических. Тем не менее оказалось, что теория Фукса неплохо описывает закономерности электропереноса в пленках, изготовленных из различных материалов. В соответствии с ожиданиями, величина параметра Р зависит от технологических факторов — в частности, для поликри-сталлических пленок рассеяние на поверхности обычно диффузное (Р = 0), для монокристаллических — частично зеркальное. Характер поверхностного рассеяния в первую очередь зависит от соотношения де-бройлевской длины волны Хв и размеров шероховатостей Д / при Хв >> Дотражение зеркальное, при обратном неравенстве — диффузное. Из-за малых величин Хв (доли нм) электроны в металлах обычно рассеиваются поверхностью диффузно, хотя иногда наблюдалось зеркальное рассеяние. Особенности электропереноса в металлических пленках объясняются зависимостью характера рассеяния от угла падения 9 электронных волн на поверхность (см. рис.2.2), Как и для световых волн, чем больше 9, тем отражение ближе к зеркальному. Если предположить, что имеется некоторый критический угол 0х (при 9 < 9х рассеяние электронов поверхностью диффузное, а при 9 > 9, — зеркальное), то даже для 9, = 89° величина размерного эффекта в тонких пленках значительно уменьшится по сравне- [c.48]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...