Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Послесвечение

Скорость смены изображения на экране дисплея характеризует быстродействие дисплея. Этот параметр важен при отображении большого количества быстро ме- няющ,ейся информации, что характерно для АЦД. Поэтому алфавитно-цифровые дисплеи строятся, как правило, на ЭЛТ с малым временем послесвечения и имеют максимальное быстродействие.  [c.56]

ПО экрану ЭЛТ и управляя яркостью свечения, можно получать различные изображения. Поскольку люминофор продолжает светиться некоторое время после ухода луча (время послесвечения), для стабильного изображения необходимо, чтобы луч повторял вычерчивание изображения многократно, т. е. осуществлялась регенерация изображения. Частота регенерации зависит от времени послесвечения люминофора чем меньше время послесвечения, тем выше частота регенерации.  [c.57]


Для наблюдения периодических и разовых быстропротекающих процессов используют электроннолучевые осциллографы. Осциллографы могут быть рассчитаны на наблюдение одного процесса (однолучевые), двух процессов (двухлучевые) и более. Примерами однолучевых осциллографов могут служить осциллографы С1-19Б — низкочастотный осциллограф, работающий в диапазоне частот 0—1 МГц, имеющий два усилителя, чувствительность 2 мВ/см, входное сопротивление 10 МОм и входную емкость 12 пФ С1-48Б — полупроводниковый малогабаритный осциллограф с аналогичными параметрами. Двухлучевой осциллограф С1-18 работает в диапазоне 0—1 МГц, чувствительность его 1 мВ/см, входное сопротивление 0,5 МОм, входная емкость 50 пФ С1-55—полупроводниковый осциллограф для диапазона 0—10 МГц с чувствительностью 10 мВ на деление, входным сопротивлением 1 МОм и входной емкостью 40 пФ. Отдельные осциллографы имеют трубки с длительным послесвечением, позволяющим наблюдать кривые процессов, протекающих в течение наносекунд.  [c.171]

Рис. 39.7. Схема простого фосфороскопа, обеспечивающего измерение длительности послесвечения до 10" с. Рис. 39.7. Схема простого фосфороскопа, обеспечивающего <a href="/info/220121">измерение длительности</a> послесвечения до 10" с.
В фосфороскопе иного типа объект помещается на прозрачный быстро вращающийся диск. При вращении диска наблюдатель видит фосфоресцирующую полосу, постепенно ослабляющуюся к концу (рис. 39.8). Зная скорость вращения, можно по длине полосы судить о времени послесвечения фосфоресценции. Этот фосфороскоп позволяет измерять времена затягивания до 10 —10 с.  [c.757]

Такие фосфоресцирующие вещества характеризуются длительным послесвечением и, как уже упоминалось, сильной зависимостью длительности от температуры. Повышение температуры значительно сокращает длительность свечения, причем одновременно очень сильно повышается яркость его. Явление можно наблюдать на следующем простом опыте. Возбудим фосфоресценцию экрана сернистого цинка, осветив его ярким светом электрической дуги. Перенесенный в темноту экран будет светиться в течение ряда минут, постепенно угасая. Если к светящемуся экрану с противоположной стороны прижать нагретое тело, например диск, то нагревшаяся область экрана ярко вспыхнет, отчетливо передавая контуры нагретой области. Однако через короткое время эта область окажется темнее окружающей, ибо более яркое свечение сопровождается более быстрым затуханием (высвечиванием). Измерения показывают, что световая сумма, т. е. интеграл по времени от интенсивности свечения, остается практически постоянной даже при ускорении высвечивания в тысячи раз (так, например, при нагревании до 1300 время свечения с нескольких часов сокращается до 0,1 с).  [c.765]


Рис. 34.11. Изменение числа возбужденных частиц от времени послесвечения Рис. 34.11. Изменение числа возбужденных частиц от времени послесвечения
Молекулярное и рекомбинационное свечения резко различаются по своим свойствам. При молекулярном свечении спектры поглощения и люминесценции тесно связаны между собой. Напротив, у рекомбинационного свечения такой связи не наблюдается. Для молекулярного свечения наиболее характерными являются малые времена длительности послесвечения —10 —10 с. Рекомбинационное же свечение обычно имеет послесвечение большой продолжительности. Наконец, затухание их свечения также протекает по различным законам. Так, затухание молекулярной люминесценции следует экспоненциальному закону  [c.171]

В случае рекомбинационного свечения (свечение кристалло-фосфоров) затухание следует гиперболическому закону (4.2). При этом знание величины т оказывается недостаточным для полной характеристики процесса такого затухания на всех его этапах. Поэтому для сравнения длительности послесвечения различных объектов используют времена, в течение которых яркость люминесценции остается выше некоторого наперед заданного порога. За такой порог часто выбирают предел чувствительности человеческого глаза в определенных условиях его адаптации.  [c.174]

Каждое облучение возбужденного кристаллофосфора импульсом ИК-лучей вызывает кратковременную вспышку его свечения (оптическая вспышка), возникающую при рекомбинации оптических электронов. Кроме того, появляется слабое, но довольно продолжительное послесвечение — вторичная фосфоресценция. Вторичная фосфоресценция возникает при задержанной рекомбинации оптических электронов, успевших первоначально локализоваться на ловушках, а затем медленно освобождающих с них тепловым путем. Величина энергии минимальных квантов, достаточных для освобождения ловушек данной системы, называется их оптической глубиной, которая превышает термическую глубину.  [c.187]

Основные методы определения РА основаны на измерении константы равновесия для реакций с передачей протона путем использования масс-спектрометров высокого давления, ионного циклотронного резонанса или проточной техники исследования послесвечения плазмы и др. [23—25].  [c.422]

Послесвечение экрана, с Относительная погрешность при измерениях, %  [c.541]

Люминофоры для светящихся красок без длительного послесвечения [7J  [c.227]

Люминофоры с длительным послесвечением зеленого цвета (7)  [c.227]

Марка Состав Длительность послесвечения в ч  [c.227]

В этом случае ошибки линейности по ходу движка представлялись на экране осциллографа с длительным послесвечением.Таким образом, контролер наблюдал полную картину поведения потенциометра. Фотографированием графика ошибок можно получить документ характеризующий проверенный потенциометр.  [c.306]

Запись процесса производится на неподвижной (электрическая развёртка времени) или подвижной (механическая развёртка времени с помощью вращающегося барабана или диска) светочувствительной бумаге или плёнке. При визуальном наблюдении используются трубки с зелёным свечением, для фотографической записи предпочтительнее пользоваться экраном с синим или белым свечением при регистрации быстрых однократных процессов может быть применена трубка, имеющая экран с послесвечением.  [c.242]

Опыты проводились при постоянных значениях давления, скорости течения и температуры на входе мощность на рабочем участке увеличивалась до тех пор, пока зонд не указывал на появление пара в потоке. Опытные точки снимались при определенной, постепенно возрастающей мощности до тех пор, пока не достигался критический тепловой поток или не исчерпывался запас но мощности. Когда устанавливались нужные условия эксперимента, производилось фотографирование изображения, получаемого на экране осциллографа с послесвечением. После этого сигнал переключался на самописец и записывался на его ленте. Во время работы самописца производилось фотографирование на прозрачном участке трубы.  [c.35]

Рис. 1. Зависимость концентрации и электронной температуры от времени в послесвечении гелиевой криогенной плазмы гфи Т = 4,2К и Пз=1,26-10 см . Рис. 1. Зависимость концентрации и <a href="/info/7521">электронной температуры</a> от времени в послесвечении гелиевой криогенной плазмы гфи Т = 4,2К и Пз=1,26-10 см .

Основные трудности при создании растровых дисплеев с высокой разрешающей способностью связаны с использованием быстродействующего буферного ЗУ большой емкости. Эта проблема в той или иной степени решается при использовании современных БИС и СБИС. Иногда для снижения требований к быстродействию элементной базы применяют ЭЛТ с большим временем послесвечения (запоминающие ЭЛТ), как, например, в графическом дисплее 15ИГ-160Х210-001 [6]. Однако работать с таким дисплеем менее удобно из-за его низкого быстродействия.  [c.60]

Для многих веществ (главным образом жидкостей и газов) затухание идет настолько быстро, что свечение практически прекращается одновременно с прекращением освещения. Такой тип люминесценции обычно носит название флуоресценции. Наблюдение флуоресценции требует, следовательно, непрерывного освещения. В других случаях (твердые тела) послесвечение происходит в течение большего или меньшего промежутка времени, от вид люминесцен-  [c.756]

Для установления наличия послесвечения и определения его длительности употребляют различные приемы. Простейший прибор, предназначенный для этой цели и носящий название фосфороскопа Беккереля, устроен следующим образом. Исследуемое вещество помещается между двумя дисками, которые можно привести в быстрое вращение. Диски снабжены одинаковым числом секторообразных вырезов и насажены на общую ось так, что вырезы одного диска приходятся против сплошных мест другого (рис. 39.7). Источник,  [c.757]

Как уже отмечалось, люминесценция различных веществ характеризуется разной длительностью послесвечения. При возбуждении люминесценции очень коротким световым импульсом интенсивность ее сначала возрастает (происходит разгорание люминесценции), а затем убывает (чаще всего по экспоненциальному закону). Так как поглощение происходит практически мгновенно, то разгорание люминесценции свидетельствует о переходе молекул после поглощения в некоторое флуоресцентное состояние. Эти процессы могут быть достаточно многообразными, однако в большинстве своем они характеризуются небольшой длительностью.  [c.259]

Из сказанного следует, что длительность рекомбинационнога процесса, а с ним и длительность послесвечения кристаллофосфо-ра в очень сильной степени зависит от скорости освобождения электронов с уровней локализации, на которые они попадают при движении в полосе проводимости. Чем больше энергетическая глубина ловушки, тем труднее электрону выбраться из нее тепловым путем. Поэтому для освобождения из глубоких ловушек требуется довольно значительное нагревание кристаллофосфора.  [c.186]

Люминофор характеризуют спектром поглощения, спектром излучения, яркостью свечения, длительностью послесвечения, энергети-, ческнм и квантовым выходом. Катодолюминофоры характеризуют также светоотдачей, под которой понимают отношение силы испускаемого света (едишщей является свеча) к мощности электронного пото-  [c.198]

Статистическое накопление и обработку сигналов можно проводить в процессе перемещения преобразователя по поверхности изделия (рис. 5.48) или измерения угла ввода, т. е. качания диаграммы направленности. При этом стробированием по времени выделяют слой изделия на некоторой глубине Я, где предполагается наличие дефектов (на рисунке этот слой заштрихован). Корреляционная зависимость помех при этом тем меньше, чем больше степень обногмения зерен в рассеивающем объеме при движении акустического поля преобразователя. Сильная корреляционная зависимость полезных сигналов характерна для протяженных дефектов. При точечных дефектах сигналы коррелируют за счет ширины диаграммы направленности преобразователя. Если в процессе перемещения преобразователя наблюдать сигналы от выделенного слоя на электронно-лучевой трубке с большим послесвечением, то сигнал от дефекта будет отличаться от помех большей яркостью.  [c.296]

Особенностью ЭЛТ является быстрое затухание изображения, требующее его регенерации. Этот процесс производится обычно с помощью ЭВМ, в памяти которой сохраняются данные об изображении. Процесс высвечивания изображения на ЭЛТ повторяется не менее 30 раз в секунду. При такой частоте устраняется мелькание, утомляющее зрение. В последнее время появились конструкции, не требующие регенерации. Это ЭЛТ с большим временем послесвечения, а также плазменные панели. Особенно перспективны последние [86], так как отличаются простотой конструкции и относительно высоким качеством изображения. Плазменная паиель состоит из стеклянных пластин, составляющих замкнутый объем, заполненный газом (на основе неона). Конструктивно панель оформлена так, что газ ведет себя как ди-  [c.15]

Такое погружение само по себе не является новым как уже отмечалось, в теневых дефектоскопах колебания вводятся в металл в основном именно таким образом, однако для импульсного эхо-метода погружение представляет особые выгоды прежде всего потому, что отпадают проблемы акустического контакта и износоустойчивости искательных головок контакт получается постоянным и весьма надежным, в результате чего теряет свое значение донный сигнал как основной индикатор надежности акустического контакта и появляется возможность ввода УЗК в изделие под любым углом к поверхности. Вследствие этого можно снизить требования к чистоте обработки поверхности изделия, так как колебания вводятся достаточно эффективно в изделие с грубой поверхностью (например, в необработанную поковку). При достаточной мощности зондирующего импульса можно поэтому использовать УЗК значительно более высоких частот, порядка 20—25 мгц, что, в свою очередь, приводит к повышению чувствительности и разрешающей способности метода. При иммерсионном варианте значительно облегчается запись показаний дефектоскопа, а применение в осциллоскопическом индикаторе электроннолучевой трубки с большой длительностью послесвечения и развертки типа В (модуляция электронного луча по яркости) позволяет видеть на экране изображение контуров контролируемого изделия ij дефектов в прозвучиваемом сечении.  [c.348]

К., как и др. виды люминесценции, обладает инерционностью послесвечения, температурным и др. видами тушения, характерным для данного вещества спектром свечения и т. д. Вместе с тем она обладает спе-цифич. свойствами, связанными с особенностями преобразования кинетич. энергии заряж. частицы в кванты излучения значительно меньшей энергии многоэтапный процесс преобразования, наличие дополнительных каналов потерь энергии, часто наблюдающаяся нелинейная зависимость яркости свечения от напряжения и плотности тока, трековый характер возбуждения и т. д.  [c.246]


Пробой газа может произойти за счёт высокой напряжённости эл.-магн. волн при прохождении сфокусиров. лазерного излучения через газ — лазерный пробой (см. Оптические разряды). Н. п., образовавшаяся при газовом пробое, распадается в результате рекомбинации и диффузии заряж. частиц. Такую плазму паз. распадающейся плазмой или плазмой в послесвечении и используют для измерения скоростей рекомбинации и коэф. диффузии заряж. частиц.  [c.352]

ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНЫХ ПРИБЛИЖЕНИЙ МЕТОД — то же, что итераций метод. ПОСЛЕСВЕЧЕНИЕ — люминесценция, наблюдающаяся после прекращения вызвавшего её внеш. воздействия (света, рентг. излучения, потока электронов и т. д.). П,— характерный признак люминесценции.  [c.88]

При изучении слабосветящихся быстропротекающих процессов Р. о. осуществляют с помощью электронно-оптич. преобразователя (ЭОП), к-рый одновременно выполняет роль усилителя яркости. Регистрацию изображения щели, на к-рую спроецировано изображение исследуемого объекта, производят на экране ЭОП с линейной развёрткой, регистрацию точечного изображения — с круговой развёрткой. Послесвечение люминесцентного экрана ЭОП позволяет регистрировать сразу всю картину Р. о. обычным фотографированием. Приборы с ЭОП, предназначенные для получения Р. о., имеют предельное разрешение 10 —10" с (в рекордных случаях до с) при разрешающей спо-собносге на экране 15—20 лин/мм. Пороговая чувст-в11теЛ1лость системы с ЭОП составляет 10 —10  [c.239]


Смотреть страницы где упоминается термин Послесвечение : [c.151]    [c.757]    [c.757]    [c.758]    [c.761]    [c.199]    [c.171]    [c.199]    [c.200]    [c.201]    [c.202]    [c.59]    [c.110]    [c.63]    [c.169]    [c.247]    [c.515]    [c.627]    [c.187]   
Электронные спектры и строение многоатомных молекул (1969) -- [ c.468 , c.511 , c.522 ]



ПОИСК



Визуализация ударных волн в разреженных газах, основанная на свойствах послесвечения

Время послесвечения

Измерение времени жизни метастабильных атомов по поглощению в плазме послесвечения



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте