Структура материала — Контроль и приборов

Принцип действия этих приборов основан на определении исследуемых характеристик состава и структуры материала по его электрическим параметрам (диэлектрической проницаемости и коэффициенту диэлектрических потерь). Для измерения первичных информативных параметров ЭП может быть использована любая схема для измерения параметров конденсаторов с учетом соблюдения двух условий - необходимости вынесения ЭП с дистанционным измерением его параметров и предусмотрения мер по устранению влияния контакта ЭП с поверхностью контролируемого объекта. Эти необходимые условия резко ограничивают выбор измерительных схем. С точки зрения дистанционного контроля [c.456]

Весьма разнообразен круг задач, решаемых оптическими методами контроля ими можно определять толщины и диаметры, показатели преломления и поглощения материала, концентрацию свободных носителей заряда и их подвижность в полупроводниках, плоскостность и плоскопараллельность пластин, наличие анизотропии в элементах оптических систем, однородность отражения зеркал, величину и природу напряжений в материалах, дефекты в структурах интегральных схем и т. д. Однако до настоящего времени сделано очень мало для разработки и внедрения в производство лазерных методов контроля. Настоящая глава ставит своей целью ознакомить читателя с существующими лазерными методами контроля качества материалов и макетами приборов, созданных для решения конкретных задач. [c.178]

Одним из первых промышленных приборов для неразрушающего контроля с использованием эффекта Баркгаузена является Измеритель шумов Баркгаузена ИБШ-2 (Болгария). Он предназначен для контроля изменения структуры и степени пластической деформации проволок и тонких прутков из ферромагнитных материалов. Установка ИБШ-2 позволяет также контролировать марку материала и изменение диаметра проволоки (прутка). Напряжение шума (скачков) измеряется с помощью стрелочного прибора. На установке имеется возможность отбраковать детали по уровню напряжения скачков Баркгаузена. Для этого служит световая сигнализация, устанавливаемая для верхнего и нижнего порогов срабатывания. Шумы (скачки) Баркгаузена можно также наблюдать с помощью осциллографа, для подключения которого имеется специальный выход. Полоса регистрируемого шума 8—80 кГц. Размеры прибора 426 X 256 X 190 мм. [c.30]

Прибор позволяет обнаруживать дефекты, являющиеся нарушением сплошности материала (трещины, раковины, поры, неметаллические включения, расслоения и т. д.), на глубину до 1,5м, а также измерять с высокой точностью толщину изделий при доступе с одной стороны. Прибор осуществляет контроль структуры. металлов относительным методом [1—3]. [c.253]

Электроиндуктивный испытатель электропроводности типа ИЭ-20 предназначен для контроля поверхностных слоев материалов с довольно низкой электропроводностью и отличается от других ранее разработанных приборов типа ИЭ своим назначением, небольшим датчиком, электрической схемой и высокой частотой испытательного тока. Он применяется для сортировки графитов и углей по маркам материала, контроля графита одной определенной марки по пористости, определения равномерности структуры по поверхности деталей, определения направления прессования и т. д. [c.373]

Все эхо-сигналы используются для вычисления отражающей способности каждой (с некоторой дискретностью, например 10 мм) точки объема материала, находящегося под апертурой АР и за ее пределами (обычно не далее двух-трех размеров апертуры) на всех контролируемых глубинах. Сигналы от соседних положений АР, в которые ее ставит оператор при сканировании объекта контроля, также влияет на уровень отраженных сигналов от тех же точек объема и от новых, попадающих в область синтеза выходных данных. В результате в памяти прибора синтезируется трехмерный массив данных об уровне отраженного сигнала от каждой точки объема и на дисплей может быть вызвано произвольно ориентированное в объеме изображение сечения внутренней структуры объекта контроля. Уровни сигналов отображаются уровнями яркости или цветовой гаммой. [c.281]

Влияние обезуглероженного слоя на показания прибора (рис. 6-5) может полностью перекрыть полезную информацию о качестве структуры, хотя в большинстве случаев наличие значительного обезуглероженного слоя после термической обработки свидетельствует о плохом качестве термообработки. Имеется достаточное число фактов, свидетельствующих о возможности контроля деталей (например, из сталей типа ЗОХГСА) по этому признаку. При разработке методик контроля на приборе ЭМИД важное значение имеет сила намагничиваюш,его тока. Даже для одной и той же марки материала она зависит от размеров и формы деталей, так как из-за изменения размеров изменяется коэффициент размагничивания и истинное намагничивающее поле. Если конфигурация деталей изменялась, то в большинстве случаев путем изменения тока намагничивания можно добиться такой же закономерности в распределении кривых на экране прибора ЭМИД, как и при испытании образцов другой 8 115 [c.115]

Приборы телевизионной и когерентно-оптической структуроскопии. Во многих случаях информация о качестве объектов контроля может быть получена на основе анализа структуры их материала как поверхностной, так и объемной. Для этих целей создан ряд приборов, среди которых наибольшее распространение получили телевизионные анализаторы (ТВА) и когерентно-оптические процессоры (КОП). Действие ТВА основано на сканировании изображения изучаемых структур видеодатчиком (телевизионной камерой или устройством типа бегущий луч ) и последующей машинной обра- [c.114]

Одним из первых промышленных приборов для неразрушающего контроля с использованием эффекта Баркгаузена является измеритель шумов Баркгаузена ИБШ-2 (Болгария). Он предназначен для контроля изменения структуры и степени пластической деформации проволок и тонких прут ков из ферромагнитных материалов Этот измеритель позволяет также кон тролировать марку материала и изме ненпе диаметра проволоки (прутка) Напряжение шума (скачков) изме ряется с помощью стрелочного при [c.78]

Структура большинства сплавов состоит из элементов, имеющих различные свойства. В отличие от макротвердости, отражающей осредненные свойства конгломерата различных зерен, знание микротвердости позволяет изучать и сравнивать отдельные составляющие сплавов по их твердости и выяснять распределение твердости в пределах одного зерна или кристаллита. При этом изучаемое зерно рассматривается как самостоятельный образец, вкрапленный в окружающий материал. Кроме того, измерение микротвердости дает важные результаты для изучения свойств тонких поверхностных слоев, позволяющие, например, оценить глубину упрочненной зоны после обработки поверхности различными способами (обточкой резцом, сверлением, обдувкой дробью, полировкой и т. д.). Когда известна микротвердость, возможен контроль весьма мелких деталей различных точных приборов и механизмов, например часовых механизмов, а также оказалось доступным выяснять распределение деформации в теле де-гали, например, после холодной обработки давлением. [c.58]

Необходимо всегда помнить, что дефектоскопист должен быть специалистом с обширными знаниями производства, технологического процесса, структуры и свойств материала и сварных соединений, физических явлений и соответственно методов неразрушающего контроля качества, требований норматив1ю-технической документации. Большую роль в работе дефектоскописта играют субъективные факторы, определяющие надежность контроля в комплексе "человек- прибор", при различных внешних условиях процесса контроля. Работа дефектоскописта является высокоинтеллектуальной и исключительно ответственной. [c.225]

Материал подложки для А В " полупроводников получают либо методом Чохральского, либо рекристаллизацией из жидкой фазы. Однако по сравнению с кремнием здесь наблюдается более высокий уровень кристаллических дефектов и дислокаций. Люминесцентные приборы изготавливались методом эпитаксии из паровой фазы иа нагретую подложку. Использовались и гидридные, и галоидные пары, но ни в одном случае не было достигнуто качество слоев, необходимое для эффективных люминесцентных днодов. Проблема заключается в необходимости обеспечить достаточно низкую скорость безызлучательиого распада, т. е. достаточно большое Тб. Более удачные результаты получены осаждением из органометаллических паров. При химическом осаждении можно поддерживать высокую точность контроля состава и толщины различных эпитаксиальных слоев. Может быть получена скорость роста порядка 20 мкм/ч. Техника эпитаксии из молекулярных пучков позволяет контролировать структуру эпитаксиальных слоев. Существенно, что необходимый для образования слоя материал испаряется с разогретой нити. Скорость роста получается низкой (порядка I мкм/ч) и требуется поддержание высокого вакуума. Этот способ еще не получил широкого распространения. [c.262]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...