Выбор оптимальных параметров приборов

Выбор оптимальных параметров приборов [c.186]

Времени постоянная 81—82 Временное запаздывание регулятора 142, 144—146 Время собственное системы 78 Входная функция 24, 203 Выбор оптимальных параметров приборов 186—189 Вынужденные колебания 29, 30, 181— 254 [c.294]

Особое внимание уделено следующим вопросам планирования качества, обеспечения экономической оптимальности качества, подготовки исходных данных для разработки новых приборов, выбора показателей качества и норм требований, выбора оптимальных параметров и разработки оптимальных конструктивных решений выбора и разработки методов и средств контроля и испытаний, подготовки производства, входного контроля материалов, проверки оборудования на технологическую точность, контроля соблюдения технологии, применения статистических методов контроля качества продукции, анализа и оптимизации технологических процессов, изучения поведения приборов в эксплуатации и др. Каждому из этих вопросов посвящен отдельный стандарт или несколько стандартов предприятия. [c.199]

Кроме дефектоскопов разработан комплект устройств и приборов, обеспечивающих качественный магнитный контроль деталей и конструкций за счет выбора оптимальных параметров режима намагничивания и магнитной суспензии. [c.10]

При экспериментальных исследованиях машин и механизмов часто возникает задача об измерении быстро протекающих процессов с минимальными динамическими искажениями регистрируемого сигнала. Вопросам оценки динамических погрешностей большой группы квазистатических приборов (таких, как акселерометры, шлейфы, приборы для измерения усилий и давлений и др.)1 а также выбору их оптимальных параметров посвяш ен ряд работ отечественных и иностранных ученых. Впервые эта задача была рассмотрена акад. А. И. Крыловым [1]. Много работ относится к виброизмерительным приборам и шлейфам [2, 6—8]. [c.156]

Развитие современной техники характеризуется, в частности, возрастанием сложности машин и приборов, а также повышением степени форсирования режимов их работы. При этом на конструктора и проектировщика возлагается задача выбора оптимального сочетания параметров проектируемых устройств. [c.3]

При практической разработке зеркальных систем скользящего падения для рентгеновских телескопов, микроскопов и других приборов часто возникает задача выбора таких параметров системы, при которых одновременно достигаются максимальная светосила и разрешение в заданном поле зрения. Как мы видим, требования получения максимальной светосилы и разрешения противоречат одно другому. Задача поиска оптимальных параметров системы может быть решена как расчетным, так и аналитическим путем. [c.188]

Качество спектра и точность получаемых из него данных могут сильно зависеть от работы экспериментатора, так как он производит выбор оптимальных установок переменных параметров прибора это очень важный фактор в спектральном анализе. В предыдущих разделах упоминались также другие факторы, существенно влияющие на интенсивность поглощения сюда относятся потери излучения, обусловленные рассеянием на внеш- [c.60]

Для выбора рабочей частоты и оптимальных параметров схемы прибора в лаборатории электротехники МЭИ были проведены экспериментальные исследования с латунными и стальными трубками (аустенитного класса). [c.413]

Усовершенствовать аппаратуру целесообразно в нескольких направлениях. Увеличение абсолютной чувствительности расширяет возможность применения оптимальных параметров контроля, как рекомендовалось выше (например, выбора частоты, использования РС-преобразователей и т. д.) при сохранении требуемого порога чувствительности. Введение компенсированной отсечки (см. п. 2.1.2) не увеличивает отношения сигнал — помеха, однако повышает удобства контроля при высоком уровне помехи, поскольку помогает сконцентрировать внимание контролера на полезных сигналах. Введение ВРЧ обеспечивает приблизительно одинаковый уровень помех на всей линии развертки. Дефектоскоп должен иметь широкий диапазон частот для оптимизации их выбора. Генератор дефектоскопа должен излучать короткие колоколообразные импульсы. В комплект прибора должны входить преобразователи РС и фокусирующие с большим диаметром пьезоэлемента. [c.139]

Процессы диффузии очень распространены и играют огромную роль во многих важнейших технологических процессах получения и обработки полупроводников, а также при фазовых и структурных превращениях. Диффузия примесей лежит в основе процесса гомогенизации свойств материала при термообработках, в ряде случаев лимитирует очистку, играет огромную роль при распаде пересыщенных твердых растворов, их упорядочении и разупорядочении. Процессы диффузии используются для получения р — я-переходов, для формирования базовых и эмиттерных областей и резисторов в биполярной технологии изготовления полупроводниковых приборов, для создания областей истока и стока в МОП-техно-логии и т. д. Поэтому знание основных законов диффузии, диффузионных параметров примесей необходимо для выбора оптимальных режимов технологических операций, а также для понимания некоторых эффектов, проявляющихся в процессе изготовления полупроводниковых схем и приборов. [c.283]

Повышение требований ко многим типам ОЭП, усложняющиеся условия эксплуатации, совершенствование средств противодействия вызывают необходимость постоянного улучшения методов и средств борьбы с помехами. Одним из наиболее эффективных методов является совершенствование конструктивных параметров прибора, способствующее увеличению динамического диапазона его чувствительности, особенно эффективное по отношению к маскирующим помехам, ослабляющим полезный сигнал. Так, повышение разрешающей способности оптической системы, т. е. угловой чувствительности, повышает эффективность пространственной (угловой) селекции увеличение спектральной разрешающей способности ОЭП увеличивает эффективность оптической спектральной селекции выбор оптимального частотного диапазона электронного канала ОЭП уменьшает влияние модулированных помех. [c.7]

Фиг. 106. Прибор для выбора параметров оптимального режима резания.

Рассмотрены различные методы повышения качества систем с универсальными аналитическими приборами (аналитических информационно-измерительных систем — АИИС). Основное внимание уделено алгоритмическим методам, применение которых доступно пользователю, Приведены алгоритмы функционярования систем автоматизации и методики оценки их характеристик. Даны рекомендации по выбору оптимальных параметров в зависимости от условий применения анализатора. Описаны конкретные АИИС. [c.2]

На этом закончим рассмотрение примеров точностного сии-теза приборов. Наиболее полно этот вопрос изложен в работе [51- В то же время укажем, что точностной сннтиз позволяет определить лишь оптимальные номинальные значения параметров приборного устройства. При этом не затронутыми остаются такие вопросы, как выбор отклонений параметров элементов приборов, технологическое их обеспечение и учет точности изготовления отдельных элементов, влияющих на общую гюгреш-ность работы приборного устройства. [c.179]

Следует помнить, что правильный выбор схемы включения, способ подачк напряжения смещения, сопротивление нагрузки и напряжение смещения определяют основные фотоэлектрические параметры приборов в составе аппаратуры. С повышением сопротивления нагрузки и напряжения смещения вольтовая чувствительность приемников и уровень собственных шумов приемника возрастают, прь этом шум, как правило, растет быстрее. В технических условия и паспортах на приемники излучения приводятся оптимальные значения сопротивлений нагрузки и напряжений с.мещения, при которых обеспечиваются наилучшие параметры приборок. [c.281]

В процессе расчета схемы разработчик сталкивается с необходимостью выбора полупроводниковых элементов, большое разнообразие которых затрудняет выбор оптимального варианта (при этом в первую очередь следует руководствоваться перечнем элементов, разрешенных к применению для данного изделия). Из множества параметров в первую очередь следует выделять основные, по кагорым полупроводниковые приборы наиболее резко отличаются друг от друга. К таким параметрам относят максимальную постоянную мощность, которую прибор может рассеять без теплоотвода или с теплоотводом максимальные напряжения на переходах максимальный ток через переход максимальную частоту усиления максимальную температуру перехода. [c.56]

На этапе синтеза ОЭП (см. гл. 2 п. 4) проектант получает представление о характере анализа изображения в оптико-электронном тракте и выбирает изменяемую часть прибора. В следствие неоднозначности решения задачи синтеза проектанту необходимо установить закон анализа изображения и закон сканирования изображения. Кроме того, в силу специфики постановки задачи синтеза остальные звенья оптико-электронного тракта выбраны только лишь с учетом настоящего уровня развития техники, значения их конструктивных параметров требуют уточнения. Для уточнения Ъхемы объекта проектирования необходимо провести выбор значений конструктивных параметров так, чтобы проектируемый прибор был оптимальным по ТЗ. [c.24]

В книге рассматриваются вопросы измерения расхода вещества и тепла по методу переменного перепада давления на сужающем устройстве с учетом действительных параметров вещества. Приведены основы теории, оптимальный выбор параметров сужающего устройства и дифманометра-расходоме-ра, схемы, конструкции и расчет вычислительных приборов для измерения расхода паров, газов, жидкостей и тепла их потоков с автоматическим учетом действительных значений плот-% ности (или давления и температуры), энтальпии, коэффициента расширения и других переменных параметров. Описаны методы и приборы для измерения расхода тепла с учетом разности энтальпий и тепла сжигаемого газа. [c.2]

В последнее время точность измерения расхода и количества вещества повысилась. Разработаны дифмано-метры повышенных классов точности, и расширены пределы их измерения в сторону малых перепадов давления (НИИТеплоприбор, Харьковский завод КИП), разработаны вычислительные приборы с автоматическим вводом действительных параметров измеряемого вещества и сужающего устройства (косвенно через температуру вещества), разработаны методики оптимального выбора параметров отдельных звеньев расходомерных устройств (Белорусский филиал Энергетического института им. Г. М. Кржижановского (БелЭНИН), ЦКТИ им. И. И. Ползунова, СКВ Харьковского завода КИП, Казанский завод Теплоконтроль и др.). [c.3]

Независимость основных параметров ионнооптической схемы. В отличие от законов для приборов с однородным полем в рассматриваемом поле фокусное расстояние ионнооптической системы не зависит от радиуса отклонения ионных пучков в магнитном поле. В масс-анализаторе с неоднородным магнитным полем, меняющимся обратно пропорционально радиусу отклонения ионов, угол поворота ионов в поле, радиус траектории, фокусное расстояние, форма поперечного сечения ионного пучка и, наконец, угол расходимости ионного пучка можно выбрать, исходя из конкретных требований, предъявляемых к прибору. При конструировании можно независимо друг от друга варьировать величины этих параметров. Таким образом, особенности неоднородного поля облегчают выбор наиболее оптимального варианта геометрии отклоняющей системы масс-спектрометра. [c.52]

Максимальные объемы годового выпуска изделий при мелкосерийном Уй1, среднесерийном / 2 и крупносерийном производстве Укз примем соответственно равными 1000, 4000 и 10000 изделий. При решении задачи выбора среднее время жизни изделий принималось равным 10 лет, и поэтому величина себестоимости изделий была уменьшена в 10 раз. Уменьшение учитываемых в задаче производственных затрат связано с тем, что расчет оптимального ряда производился относительно среднегодовых объемов работ, а не объемов работ, выполняемых машинами за время их жизни. В результате расчета на ЭВМ БЭСМ-6 по алгоритму 1, описанного в [9], получено, что оптимальный параметрический ряд должен состоять только из пяти типоразмеров приборов, имеющих 1, 5, 6 и 14-й номера, при этом получаются наименьшие суммарные затраты, равные 114000 единиц. Объем выпуска продукции по отдельным типоразмерам должен быть равен соответственно для приборов к 1820, к5 7300, к6 260, к9 3120, кЫ 4410 единиц. Определена также оптимальная область использования каждого из выбранных типоразмеров приборов. Таким образом, по заданным объемам работ, известным зависимостям себестоимости изделия от серийности и затратам на эксплуатацию, коэффициентам производительности приборов при выполнении различных видов работ определен оптимальный ряд изделий, который при наименьших суммарных затратах на производство и эксплуатацию обеспечивает выполнение заданного объема работ (измерение параметров радиоэлектронных схем). Оптимальный параметрический ряд измерительных приборов, обе спечивающий измерение выпускаемых в отрасли интегральных схем, приведен в табл. 5. [c.119]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...