Интенсивность линий, значения рентгенограммах

Интенсивность линий на рентгенограмме является основой фазового анализа. Рентгеновский фазовый анализ особенно важен в случаях, когда по другим методам, например химическому анализу, нельзя судить о фазовом составе. При проведении фазового анализа определяют отношения межплоскостного расстояния d к порядку отражения п всех линий рентгенограммы и сопоставляют значения din с данными для фаз, имеющимися в справочной литературе. В общем случае слабая интенсивность линий свидетельствует о небольшом количестве данной фазы. Чувствительность количественного фазового анализа зависит от многих факторов она возрастает с увеличением отражательной способности атомных плоскостей обнаруживаемой фазы и с ослаблением фона рентгенограммы. Вещества, сильно поглощающие лучи, легко обнаружить в слабо поглощающих смесях, соединения легких элементов в смеси с тяжелыми можно выявить лишь при больших количествах [c.76]

В таблице приведены значения мел<плоскостных расстояний и относительных интенсивностей линий на рентгенограммах некоторых неорганических веществ. Таблица содержит данные лишь для соединений, наиболее широко применяемых в различных областях физики, химической технологии, машиностроения, металлургии и т. д. [c.437]

Для определения относительной интенсивности дифракционных линий измеряем их величину в миллиметрах в соответствии с масштабом по оси ординат. С учетом того, что величина максимальной линии на рентгенограмме равна 100 мм, измеренные значения и будут являться относительной интенсивностью. Результаты измерений вносим в Протокол испытаний. [c.57]

Полученные экспериментально значения межплоскостных расстояний сравнивают с теоретическими значениями межплоскостных расстояний, соответствующих каждой из составляющих фаз. Таким образом определяют, какие линии на рентгенограмме отвечают той или иной фазе. Этот способ применяется для идентификации примесей, при анализе состава осадков, электролитически выделенных из сталей и т. п. В некоторых случаях из соотношения интенсивностей линий отдельных составляющих можно сделать заключение о количественном составе смесей [3]. [c.60]

Полученные значения й и относительная интенсивность линий сравниваются с литературными данными. Необходимо при этом иметь в виду, что относительная интенсивность линий будет совпадать, если рентгенограмма снималась на том же излучении, на котором были получены данные, взятые из литературы. Если это условие не соблюдено, то относительные интенсивности соответствующих линий не будут совпадать из-за различия в значениях некоторых множителей интенсивности. [c.197]

Осуществляется индицирование рентгенограмм с помощью графиков и таблиц главы 3. 3) Сравниваются экспериментальные значения интенсивности линий и величины, вычисленные с помощью таблиц главы 4. 4) Решается частная задача, стоящая перед исследователем (определение напряжений, фазовый анализ и т. д.), с помощью таблиц и графиков, приведенных во второй части справочника. При необходимости пользования расчетными графиками их следует увеличить до нужного размера. [c.12]

В таблице приведены также значения отношения интенсивностей линии и фона на рентгенограммах одного и того же материала (графита), снятых на ионизационной установке с применением счетчиков различных типов. [c.76]

Один из этих методов основан на использовании значения размеров блоков в кристаллах, определенных одним из рассмотренных выше способов по интенсивности линий, по их ширине или по числу пятен на рентгенограммах. [c.724]

Фактор повторяемости. При получении рентгенограмм от поликристаллических образцов интенсивность дифракционных линий также зависит от вероятности нахождения кристаллитов в отражающем положении. Эта вероятность, в свою очередь, зависит от числа эквивалентных плоскостей hkl , для которых d.- hki имеют одинаковые значения. Число эквивалентных плоскостей р, называемое множителем (фактором) повторяемости, зависит от симметрии кристалла. Так, для кубического следующие значения 48 для плоскостей [c.47]

Метод рентгеновского гониометра. Рентгенограмма вращения не всегда позволяет получить полную информацию об интерференционной картине. Дело в том, что в некоторых случаях при исследовании методом вращения вследствие симметрии кристалла в одно и то же место фотопленки попадает несколько интерференционных лучей. Этого недостатка лишен метод рентгеновского гониометра. В этом методе используют монохроматическое излучение, кристалл вращают вокруг выбранной оси, кассета с цилиндрической пленкой движется возвратно-поступательно вдоль оси вращающегося кристалла, поэтому отражения разделяются по их третьей координате. Снимают не всю дифракционную картину, а с помощью определенного приспособления вырезают одну какую-нибудь слоевую линию, чаще всего нулевую (рис. 1,48). При таком методе съемки каждый интерференционный рефлекс попадает в определенное место на пленке и наложения рефлексов не происходит. С помощью такой развертки, используя сферы отражения, определяют индексы интерференции и по ним устанавливают законы погасания (см. выше). Затем по таблицам определяют федоровскую пространственную группу симметрии, т. е. полный набор элементов симметрии, присущий данной пространственной решетке, знание которого в дальнейшем облегчает расчеты проекций электронной плотности. Далее определяют интенсивности каждого рефлекса, по ним — значения структурных амплитуд и строят проекции электронной плотности. [c.52]

Если на элементарную ячейку приходится одна цепь, то для нахождения распределения интенсивности удобно использовать метод Фурье-трансформа-ций [111,3 111,4]. В этом случае находится распределение в обратном пространстве величины Fм или Рм нри всех значениях 8, а затем сравниваются с опытом лишь те из них, которые реализуются, согласно уравнению (6), в точках 8 = Н/1 г обратной решетки. Суш,ественно то, что нри этом не обязательно рассчитывать трансформанту в декартовых координатах, ее можно рассчитать и в цилиндрических координатах, а далее наложить на нее трехмерную сетку точек Нл или двумерную сетку I /га -Ь по слоевым линиям. Такой метод широко используется при анализе структуры цепных молекул, для которых рассчитывают цилиндрически симметричную функцию — квадрат трансформанты Фурье — Бесселя для каждой слоевой I и сравнивают с ней наблюдаемые в точках И значения интенсивности. Мы приводили на рис. 84, 97 примеры квадратов цилиндрических трансформант Фурье для некоторых спиральных молекул. На рис. 151 приведена рентгенограмма натриевой соли дезоксирибонуклеиновой кислоты (ДНК), на рис. 152 — сравнение вычисленных и наблюденных значений интенсивности для этой структуры. В этой кристаллической форме (так называемой -форме) Ка-ДНК имеет моноклинную элементарную ячейку а = 22,0 Ь = 39,8 с = 28,1 А Р =96°,5 пространственная группа С2 [1 И, 31 П1,1,22]. Препараты ее представляют собой нити, получаемые вытягиванием из густого геля. На рис. 152 непрерывными линиями обозначена величина цилиндрически симметричного квадрата трансформанты Фурье — Бесселя Ф1(1И, 98) для ДНК. Вертикальные линии дают величину наблюдаемых дискретных интенсивностей по каждой из слоевых линий I в зависимости от К. Хорошее совпадение свидетельствует [c.248]

Анализ полученных рентгенограмм показал, что в течение двухчасовой приработки отожженных образцов происходило размытие интерференционных линий и уменьшение их интенсивности. Если в исходном состоянии компоненты дублета были хорошо разделены, то с уменьшением содержания серы в масле от оптимального до нуля дублет все более размывался. Объясняется это явление облегчением условий трения в связи с присадкой серы в масло, в силу чего микроискажения не развивались до столь большого значения, какое они имели при начальном износе па масле без присадки серы. С увеличением содержания серы в масле до искажения кристаллической структуры незначительно возрастали. [c.131]

Полученные рентгенограммы были индицированы, исходя из литературных данных (табл. 1). Полученные значения величин совпадают с литературными данными, а исследуемые препараты отличаются друг от друга значениями интенсивностей и наличием или отсутствием некоторых линий (так, например, линия 201 присутствует в рентгенограммах первого препарата и отсутствует в рентгенограммах второго и т. д.). [c.89]

В четвертом столбце приведены относительные интенсивности для тех же линий по стобалльной шкале или буквенные обозначения (в порядке убывания интенсивности о. о. с., о. с., с., ср.). Фазовый анализ проводится путем сравнения собственных экспериментальных значений межплоскостных расстояний и интенсивностей линий с табличными. При проведении анализа следует иметь в виду, что небольшие отклонения в составе могут привести к некоторому изменению межплоскостных расстояний, а съемка рентгенограмм на различных излучениях может несколько изменить относительные интенсивности линий. [c.39]

Б. В тех случаях, когда можно предполагать, какие вещества присутствуют в исследуемом образце, проводят сравнение экспериментальных значений межплоскостных расстояний и относительных интенсивностей линий с эталонными рентгенограммами, приведенными в 5-2. При сравнении следует иметь в виду, что данные этой таблицы относятся только к соединениям стехио-метрического состава, а при образовании твердых растворов значения меж-п.цоскостных расстояний закономерно изменяются. [c.413]

Систематические ошибки а) субъективные ошибки измерения кривизны и профиля линий на рентгенограмме, связанные с различием положений центра тяжести и максимума линии, точечностью линии, смещением соседних линий (наложением кривых интенсивности) б) ошибки аппаратуры износ и старение аппаратуры, влияние конструкции и метода съемки, однородное или неоднородное сжатие пленки, эксцентриситет образца, кривизна пленки, неточность фокусировки, связанная с формой и расположением образующей, положение экватора пленки, наклон первичного пучка лучей, аксиальное и экваториальное расхождение пучка лучей, высота образца (наложение конусов интерференции), точность угловых измерений, сдвиг счетчика, регистрация импульсов, поглощение или пропускание лучей образцом, температура образца, преломление рентгеновских лучей в образце в) ошибки процесса измерения-, неточные шкалы приборов, неточности в угловых экстраполяционных функциях, зависимость поправки на преломление от состояния кристаллов, неопределенность длины волны, асимметрия спектральных линий, неточность абсолютного значения Х-единицы или ангстрема. [c.642]

Для исключения влияния размеров блоков предложено измерять интенсивности трех линий на рентгенограмме [170]. Р1еизвестные величины показателя степени В в формуле для вычисления интенсивности, зависящего от суммы динамических и статических искажений решетки и размера блоков D, связаны со значениями интенсивности / соотношениями [c.771]

Ниже приводится характеристика шламов и накипей, образующихся при фосфатном режиме котловой воды. В табл. 1 приведены данные химического и фазового анализов шламов и.накипей, содержащих фосфаты кальция. На фиг. 2 и 3 представлены фотографии рентгенограмм порошков некоторых из исследованных образцов отложений, а на фиг. 4 приведены графики расчетов рентгенограмм порошков шламов и накипей. На оси ординат отложены значения относительной интенсивности по девятибалльной системе, по оси абсцисс — значения sin 0 рентгеновских линий [1]. [c.265]

Данные рентгенограмм приведены в табл. 9—11. В них даны средние значения относительных интенсивностей и межплоскост-ных расстояний дифракционных линий, принадлежащих, по нашему мнению, разным химическим соединениям, образовавшимся в процессе синтеза. [c.73]

Проводить трудоемкие вычисления непосредственно по уравнению (63) обычно затруднительно, поэтому перед определением проводят ряд предварительных операций. Для выбранной линии с индексами (hkl), пользуясь выражениями (60) и (61), вычисляют величину для различных размеров блоков D. После этого, исходя из известных значений для выбранной пары линий и подсчитав величины Рш для конкретных условий эксперимента, пользуясь выражением (63), строят зависимость отношения интенсивностей PhhilPh h i от величины блоков когерентного рассеяния. Полученная кривая дает возможность определить размер блоков для любого отношения интен сивностей на экспериментальной рентгенограмме. [c.718]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...