Интенсивность линий на рентгенограммах

Пусть, например, требуется определить содержание цинка в исследуемой двухфазной латуни. Сравнение интенсивности линий на рентгенограмме показало, что совпадают между собой интенсивности линий (220)/Со а-фазы и (220)Ка р-фазы. Согласно данным в табл. 2 в сплаве должно быть 60% Р-фазы. [c.17]

МЕЖПЛОСКОСТНЫЕ РАССТОЯНИЯ И ИНТЕНСИВНОСТИ ЛИНИИ НА РЕНТГЕНОГРАММАХ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ [c.39]

Во многих случаях необходимо знать относительное количество фаз в многофазном сплаве. В настоящее время твердо не установлено, можно ли методом микроанализа решать эту проблему со степенью точности, сравнимой со степенью точности, полученной при измерении интенсивностей линий на рентгенограммах. Если микрошлиф может быть приготовлен так, что он соответствует всему сплаву в целом, то определение отношения площадей, занятых различными фазами, является несложным, хотя и трудоемким процессом. Эти площади пропорциональны объему соответствующих фаз. Очень многие ошибаются, когда предполагают, что для того, чтобы получить отношение объемов фаз, нужно найденное опытным путем отношение площадей возвести в степень 7г. Легко показать, что это не так. Если рассматриваемое сечение действительно характеризует сплав и содержит а % фазы Л и й % фазы В, то и все такие сечения содержат а % фазы Л и % фазы В если мы представим себе ряд таких сечений на некоторую глубину /, то объемы фаз Л и Б будут относиться как al bl=a b. Точно таким же образом можно доказать, что, если через шлиф проведена прямая линия, то при достаточно большом количестве зерен отношение объемов фаз равно отношению длин отрезков прямой, расположенных на той и другой фазе. [c.249]

Интенсивность линий на рентгенограмме является основой фазового анализа. Рентгеновский фазовый анализ особенно важен в случаях, когда по другим методам, например химическому анализу, нельзя судить о фазовом составе. При проведении фазового анализа определяют отношения межплоскостного расстояния d к порядку отражения п всех линий рентгенограммы и сопоставляют значения din с данными для фаз, имеющимися в справочной литературе. В общем случае слабая интенсивность линий свидетельствует о небольшом количестве данной фазы. Чувствительность количественного фазового анализа зависит от многих факторов она возрастает с увеличением отражательной способности атомных плоскостей обнаруживаемой фазы и с ослаблением фона рентгенограммы. Вещества, сильно поглощающие лучи, легко обнаружить в слабо поглощающих смесях, соединения легких элементов в смеси с тяжелыми можно выявить лишь при больших количествах [c.76]

В работе [1 ] не,наблюдали образования соединений между В и 2п в интервале температур 800—1100° С обнаруженное уменьшение интенсивности линий на рентгенограмме 2п было приписано растворению В в 2п. [c.170]

Соединению МпО приписывалось по крайней мере 7 различных структур [12—22]. Разница определяется в основном наличием и интенсивностью линий на рентгенограммах порошка, связанных с упорядочением, обусловленным. характером взаи.много расположения октаэдров МпО [12], [c.181]

Остаточные напряжения третьего рода уравновешиваются в мельчайших объемах — в пределах атомной решетки. Они также не имеют определенной направленности и определяются экспериментально по степени изменения интенсивности линий на рентгенограммах. [c.103]

ИНТЕНСИВНОСТЬ линий НА РЕНТГЕНОГРАММАХ [c.328]

В табл. 14 приведены данные для фазового рентгеноструктурного анализа упрочняющих фаз внедрения (боридов, карбидов, нитридов) и окислов ряда металлов [И]. Химические формулы соединений (в алфавитном порядке химических символов металлов) даны в следующей последовательности бориды, карбиды, нитриды, окислы. Обозначения см. табл. 13. Для каждого вещества указаны мвжплоскостные расстояния и интенсивности линий на рентгенограммах для трех-четырех наиболее интенсивных линий. Для некоторых из перечисленных соединений более подробные таблицы межплоскостных расстояний и интенсивностей, а также структуры содержатся в работах [3], об индексах линий на рентгенограммах см. [3]. [c.76]

Относительная точность методов микроанализа и рентгеновского (по интенсивности линий) изменяется в зависимости от системы общего правила здесь нет. Ниже б1удет показано, что На относительную интенсивность линий на рентгенограммах различных фаз сплава влияют такие факторы, как поглощение, размер и форма зерна. До тех пор, пока их влияние не будет изучено на сплавах рассматриваемой системы, нельзя решить, какой метод оказывается точнее — микроанализ или рентгеновский, [c.250]

В некоторых структурах в зависимости от положения атомов в решетке и кристаллографического направления имеется значительное различие в действительных расстояниях между парами атомов по сравнению с минимально возможными расстояниями между ними. Для изучения этого необходим более сложный анализ, включаюш,ий определение всех средних межатомных расстояний. Хорошим примером может слуя ить структура цементита, представленная на фиг. 8. В элементарной ячейке этой структуры имеются различные расстояния между атомами железа и углерода. Для определения этих расстояний, помимо расчета рентгенограммы, снятой по методу Дебая — Шеррера, и определения периодов решетки, необходимо изучить такн е интенсивности линий на рентгенограмме. [c.165]

На основе максимума интенсивности линий на рентгенограммах установлено существование химического соединения ВаЬ14 [I ]. Рентгенограмма, снятая с порошка, показывает, что это соединение имеет гексагональную элементарную ячейку а = 10,92 0,01 -А, с= 8,94 0,01 А. По данным расчета плотности в работе [1] пришли к выводу, что на элементарную ячейку в ВаЫ приходится шесть формульных единиц. [c.175]

Тетрагональные окислы получаются только в процессе окисления иОг или иОг+х и никогда не образуются при восстановлении или тензиметрнческом разложении окислов урана. Это означает, что указанные окислы метастабильны и подлинного равновесия нет. Истинная структура тетрагональных окислов не установлена, поэтому параметры решетки для них (см. табл. 1.4) всегда приводятся в термах гранецентрированной псевдоячейки, выведенной из флюоритной решетки иОг. Плотности тетрагональных фаз выше, чем плотность иОг. Этот факт, а также распределение интенсивности линий на рентгенограммах окислов говорит о том, что кислород, избыточный против стехиометрического состава, находится, как и в случае ООг+ж и 11469, в порах флюоритной решетки. [c.25]

Регистрирующий микрофотометр МФ-4 используется для определения интенсивности линий на рентгенограммах. Измерение интенсивности проводится фотоэлектрическим методом визуально и с фотографической регистрацией. Действие лщкрофотометра основано на том, что свет от лампы накаливания, пройдя через фотометрируемый участок пленки, попадает на светочувствительный слой фотоэлемента, возбуждая в нем фототок. От фотоэлемента ток поступает в гальванометр и вызывает поворот рамки с зеркалом. При этом на экран [c.63]

В главе 4 приведены данные, необходимые для вычисления интегральной интенсивности линий на рентгенограммах при различных методах ъef ки. [c.328]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...