Коэффициент модуляции интерференционной

По формуле (II.7) на рис. 115 построены кривые зависимости квадрата коэффициента модуляции интенсивности света от характера поляризации объектного и опорного пучков для голографической интерференционной структуры в регистрирующем слое при экспонировании. Из этого рисунка видно, что наиболее благоприятные условия при линейной поляризации опорного пучка имеют место при получении голограмм металлических объектов, которые при отражении сохраняют близкую к линейной поляризацию света. [c.177]

Рис. 116. Квадрат коэффициента модуляции интенсивности света голографической интерференционной структуры в регистрирующем слое в зависимости от отношения интенсивностей опорного и объектного пучков

В зависимости от того, каким способом зарегистрирована интерференционная структура на светочувствительном материале, а именно в виде вариации коэффициента пропускания (отражения) света или в виде вариации коэффициента преломления (толщины рельефа) светочувствительного материала, принято также различать амплитудные и фазовые голограммы. Первые называются так потому, что при восстановлении волнового фронта модулируют амплитуду освещающей волны, а вторые — потому, что модулируют фазу освещающей волны. Часто одновременно осуществляются фазовая и амплитудная модуляции. Например, обычная фотопластинка регистрирует интерференционную структуру в виде вариации почернения, показателя преломления и рельефа. После процесса отбеливания проявленной фотопластинки остается только фазовая модуляция. [c.22]

Поскольку интенсивность интерференционных полос в плоскости Рг изменяется по закону (1— os л )/2, экспозиция в этой плоскости изменяется от О до своего максимального значения в синусоидальной волне и вся модуляция должна определяться входным светом. При умеренных экспозициях мы будем находиться на изгибе кривой t — Е, где коэффициент усиления мал. В этом случае необходима некогерентная подсветка плоскости Рз, которая обеспечит смещение рабочей точки на линейный участок. [c.566]

Сложные интерферограммы. Более сложные интерферограммы регистрируются в случае, когда изменяется не только температура пластинки, но и отражательная способность поверхности. Папример, при нагревании в кислородной плазме монокристаллов кремния с прозрачной полимерной пленкой на поверхности происходит уменьшение толщины пленки вследствие химической реакции атомарного кислорода с полимерными молекулами, при этом образуются летучие продукты реакции. Интерферограмма при нагревании кристалла и травлении прозрачной пленки на его поверхности имеет вид, показанный на рис. 6.7. Толщина пленки уменьшается от начального значения Но 1,2 мкм до нуля при i 70 с. Высокочастотные осцилляции интенсивности отраженного света связаны с изменением температуры кристалла, а низкочастотная модуляция обусловлена периодическим изменением коэффициента отражения поверхности, на которой имеется пленка переменной толщины. Наличие модуляции приводит к небольшому периодическому смещению интерференционных экстремумов, связанных с изменением температуры кристалла, относительно их положений в отсутствие пленки. Это смещение проявляется в виде небольших вариаций моментов времени, в которые достигаются интерференционные экстремумы, и фиктивных осцилляций скорости нагревания (16/(И, показанных на рисунке. Устранить осцилляции можно несколькими способами а) сглаживанием зависимости 6[1) с помощью полиномов б) использованием образцов, у которых пленка удалена [c.139]

Рассмотрим вопрос о допустимом размере источника в спектральных системах типа СИСАМ, т. е. требования к его пространственной когерентности. Анализ проведем на примере простейшей системы, изображенной на рис. 7.4.4. В случае конечного размера источника угол падения волн 7 и 2 на решетку-анализатор (рис. 7.4.4) будет меняться в пределах от а до а Аа. Вследствие этого дифрагированные волны от волн 1 и 2, соответствующие длине волны настройки Яо, после решетки выйдут по разным направлениям. В результате между ними образуется некоторый угол А(5 = Рг—Рь который приведет к образованию в плоскости решетки интерференционной полосы. Это в свою очередь снизит коэффициент селективной модуляции. Рассчитаем этот угол рассогласования. Из уравнения диф-фракционной решетки имеем соотношения [c.478]

При больших значениях коэффициента модуляции интерференционной структуры (ka) вследствие нелинейного характеразависи- [c.180]

Рис. 115. Квадрат коэффициента модуляции интеисивиости света голографической интерференционной структуры в регистрирующем слое в зависимости от доли интеисивиости слагающей Р 1—поляризации объектного пучка н для разных значений доля интенсивности слагающей P i—поляризации опорного пучка при равных значениях результирующей интенсивности опорного и объектного пучков

Из этого выражения следует, что выходящий поток модулирован множителем os б с коэффициентом модуляции р = = sin (2naL sin ) / (2noL sin ). При 0, т. e. при d = k/sin a, коэффициент модуляции достигает единицы. Способ выделения спектральных составляющих путем модуляции с использованием интерференционного множителя os б называют интерференционной селективной амплитудной модуляцией, а соответствующие спектрометры СИСАМами. [c.476]

Допустимую величину Аа определим из условия обращения в ноль коэффициента модуляции sin (nL ro Ap)/(nL0o Ар), т. е. из условия LAp/Xo=l. При этом ширина интерференционной полосы во вторичной интерференционной картине Ь=Яо/Ар равна ширине решетки L. [c.479]

Рассмотрим принцип действия спектрального прибора на базе интерферометра Майкельсона с использованием временной частотной интерференционной модуляции. Пусть интерферометр освещается монохроматическим излучением (рис. 7.2.2). Поток на выходе интерферометра будет равен Ф(А) =kLxX X (1 + 0S 2яА/Я), где Ьх — спектральная плотность яркости источника а k — коэффициент пропорциональности. При изменении разности хода с постоянной скоростью так, что A = vt, переменная составляющая потока будет Ф (А) = kX os (2nfxt), где частота модуляции fx = v/X. [c.474]

Методами оптической томографии исследуются те объекты, которые вызывают модуляцию зондирующего их излучения оптического диапазона. При этом модуляции может быть подвержена любая из характеристик монохроматической световой волны — амплитуда, фаза, вектор поляризации В зависимости от вида модуляции оптическую томографию можно разделить на абсорбционную, интерференционную, поляризационную К оптической томографии относится также эмиссионная томография оптического диапазона, которая оперирует интенсивностью излучения Модуляцию зондирующей световой волны вызывают оптические неоднородности объекта — пространственные изменения коэффициента поглощения, показателя преломления, величины двулучепрелом-ления [c.72]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...