Изображение вторичное дополнительное

Условию (3.4.26) должна удовлетворять функция v = = sin фД, чтобы в направлении ф возник дополнительный максимум. Интенсивность этих максимумов весьма мала, так как можно показать, что при выполнении (3.4.26) значение /ф будет пропорционально /ф ( os o + sin о) . В силу очень высокого значения № (большое число, например 10 °) интенсивность /ф будет незначительной. Этим и объясняется условное изображение вторичных максимумов и лежащих между ними минимумов в виде мелкой гребенки на рис. 3.4.6. В целом будем наблюдать ряд главных максимумов, которые соответствуют интерференционным порядкам т. [c.142]

При стираний электронного изображения на зеркале (кристалле) с помощью вторичной Электронной эмиссии потенциал Уг уменьшается и поддерживается малое поле в щели, чтобы вторичные электроны легко покидали поверхность кристалла. Время стирания составляет десятки миллисекунд. Изображение может быть стерто и с помощью дополнительной засветки, если поверхность диэлектрического зеркала покрыть тонким слоем чувствительного к пей фотополупроводника. [c.200]

Объектив 2 создает изображение объекта 1 на матовом стекле 3. Стекло рассеивает свет, увеличивая апертуру пучка, попадающего в дополнительный объектив 4, который дает вторичное изображение в фокальной плоскости окуляра 5. [c.18]

Принципы образования контрастного изображения в интерференционном и фазово-контрастном микроскопах различны. При интерференционных схемах первичное изображение в микроскопе остается в полной неприкосновенности. На вторичное (неконтрастное) изображение прозрачного объекта накладывается дополнительная световая волна (так называемая волна сравнения), от взаимодействия с которой изображение объекта не только делается контрастным, но может стать цветным. [c.31]

Однако более удобной является схема, изображенная на рис. 26. На этой схеме первичная обмотка Wi имеет два дополнительных отвода, которые через диоды Дъ и Д подключены к контактам замыкателя стартера. Средняя точка первичной обмотки подключена к плюсу источника питания также через диод (Де). Замыкание контактов стартера в момент пуска двигателя увеличивает коэффициент трансформации, компенсируя тем самым падение напряжение аккумулятора. Однако при этом следует иметь в виду, что снижение напряжения аккумулятора под нагрузкой стартера не является постоянной величиной и зависит от состояния аккумулятора, температуры двигателя, вязкости масла в картере и ряда других причин. Поэтому если отводы первичной обмотки сделаны в расчете на большое снижение напряжения питания при пуске двигателя, а фактически оно оказывается меньше (хороший аккумулятор, прогретый двигатель и т. п.), вторичное напряжение, развиваемое преобразователем, может оказаться излишне высоким и может произойти пробой накопительного конденсатора или выпрямительных диодов. Поэтому их следует выбирать с запасом по пробивному на- [c.41]

Рис. 267. Схематическое изображение поведения первичного и вторичного фототоков. В случае (а) имеется только первичный ток //, который соответствует электронам, действительно освобождённым светом. Этн электроны в конечном итоге задерживаются. В случае ( ), который соответствует более высоким температурам, имеется ещё дополнительный ток соответствующий термически освобождённым электронам из числа ранее задержанных, (с) соответствует случаю, когда электроны с катода не могут перейти в кристалл. Вследствие этого поляризация понижает ток до нуля, несмотря иа непрерывное освещение. В случае е1) ток /// течёт от катода к аноду стационарно.

При заданной геометрии отклоняющей системы её чувствительность те,ч выше, чем меньше скорость электронов, а яркость свечения экрана тем выше, че.ч эта скорость больше. Поэтому во многих О, т. электроны пучка дополнительно ускоряются после отклонения. При очень высоких скоростях перемещения пучка по экрану в его возбуждении участвует лишь малое число электронов и яркость свечения оказывается недостаточной, В этих случаях перед экраном внутри О. т, помещается усилитель тока пучка в виде стеклянной пластины с больши.м числам сквозных микроканалов, в к-рых за счёт вторичной электронной эмиссии кол-во электронов умножается в тысячи раз. Для регистрации медленны.х и одиночных процессов используются также запоминающие О. т., длит, время сохраняющие на экране изображение однократно записанной осциллограммы (см. Запоминающая трубка). [c.481]

На рис. 100 изображен регистр вторичного воздуха закрытого типа к газо-мазутной комбинированной горелке ОЭН-250-ГМВ6, предназначенный для пропуска и дозировки дополнительного вторичного воздуха. Воздух, подаваемый вентилятором, не участвует в расиыливании топлива, а вместе с первичным воздухом подается для его сжигания. Кроме закрытых регистров, используют открытые регистры, через которые в топг у из атмосферы поступает вторич- [c.192]

При анализе интерференционного опыта Поля (см. рис. 5.8) для упрощения будем пренебрегать преломлением в слюде, т. е. заменим пластинку двумя отражающими параллельными плоскостями, расстояние между которыми равно толщине h пластинки. Тогда расстояние между вторичными источниками Si и (мнимыми изображениями источника S) равно 2/г. Легко видеть, что угол схождения лучей в точку наблюдения в этом опыте равен апертуре интерференции 2о). Расстояние SiP равно (a + fe)/ os0, поэтому 2to = 2ft sin 0/ S P = =hs n 20/(a + fe). Толщина h листочка слюды очень мала ( г0,05 мм) по сравнению с а + Ь ( 5 м), поэтому мала и апертура интерференции 2(0 (при любом положении точки наблюдения Р, включая 0 = 45°). Следовательно, размер источника S может быть достаточно большим из (5.51) находим Я(а +Ь)/(2/г sin 20). При К= = 5-10 см, Л=0,05 мм, а + Ь = 5 м и 0 = 45° должно быть 2,5 см. Для демонстрации опыта Поля можно использовать небольшую ртутную лампу без всяких дополнительных щелей, что обеспечивает большую светосилу. С помощью листочка слюды площадью несколько квадратных сантиметров можно получить яркую интерференционную картину больших размеров, покрывающую потолок и стены аудитории. Размер источника ( г 10 мм) гораздо больше расстояния IS1S2I (—0,1 м), так что мнимые изображения источника почти полностью перекрываются. [c.240]

По мнению Аренса, в этом случае при первичном экспонировании образуются преимущественно внутренние центры скрытого изображения. При полном проявлении эти центры не влияют на процесс проявления, так как при вторичной засветке рассеянным светом в еще не экспонированных зернах галогенида серебра образуются преимущественно поверхностные центры скрытого изображения. В зернах, которые уже были предварительно экспонированы, внутренние центры скрытого изображения захватывают электроны, образующиеся при повторной засветке . Таким образом, поверхностные центры скрытого изображения дополнительно не образуются. Поскольку работают с поверхностными проявителями, то предварительно экспонированные зерна оказываются десенсибилизированными для вторичного экспонирования. [c.136]

При взаимодействии с поверхностью пучка первичных быстрых электронов (с энергией в сотни кэВ в случае ПЭМ и десятки кэБ для РЭМ) возникает несколько видов ихтучения вторичные электроны, рентгеновское (тормозное и характеристическое) и оптическое излучения. Анализ пучка вторичных электронов позволяет не только повысить разрешающую способность РЭМ, но и получить ценные сведения о локальных электрических и магнитных полях на поверхности. Детектирование электромагнитного излучения дает возможность одновременно с получением изображения участка поверхности судить о кристаллографической структуре (микродифракция), дефектах (катодолюминесценция) и его составе (оже-спектры). В современных РЭМ эта информация может быть получена с площадок в несколько квадратных нанометров. Если поверхность полностью разупорядочена, дополнительную информацию дает анализ фазового контраста изображения, т.е. сдвига фаз электронных пучков при их взаимодействии с поверхностью. Использование импульсной техники позволяет получать не только статическую картину участков поверхности, но и изучать динамические процессы на ней — диффузию тяжелых атомов, их сефе-гацию, фазовые переходы и др. Временное разрешение может быть доведено до нескольких пикосекунд. [c.123]

Вторичная фотопленка 6, на которой фиксируется изображение, помещается в плоскости, проходящей через точку фокусирования Qi. Перед ней ставится диафрагма (вторичная щель) 5, ограничивающая экспонирующий вторичную фотопленку световой поток и исключающая попадапие па нее света от лучей нулевого порядка, пучка расходящихся лучей первого порядка и лучей высших порядков. Заметим, что наличие кроме полезного еще и паразитных лучей требует, чтобы в спектре доплеровских частот не было нулевой составляющей. Запись и обработка сигналов ведется на средней доплеровской частоте, отличной от нуля, примерно равной половине ширины спектра доплеровских частот принимаемого сигнала ( доп.ср = I /A). Для космических РСА обработку ведут на частоте, равной четверти частоты повторения (F /4). Чтобы ввести нужное смещение частоты, антенну РСА отворачивают от нормали к вектору путевой скорости или вводят дополнительную модуляцию фазы в излучаемый сигнал, нанример, для сдвига частоты на F /4 в зондирующем сигнале вводят сдвиг фазы на тг /2 в каждом периоде зондирования. [c.63]

В СССР определенные достоинства для применения в трактах вторичного распределения телевизионных программ имеет система с полярной модуляцией, аналогичная применяемой в радиовещании (см. рис. 11.15). Здесь вторая гармоника частоты строчной развертки /стр равна частоте поднесущей /пн (2/стр = /пн= =31,25 кГц) и синхронизирована с ней. Их гармоники образуют ряд частот 0 15,625 31,25 46,875 . .. кГц, кратных частоте строчной развертки /стр=15,625 кГц. Частоты /пн и 2/стр образуют нулевые биения, а вторая частота из этого ряда 15,625 кГц лежит в области малой чувствительности уха и поэтому незаметна на слух. Биения между гармониками строчной развертки и частотами надтональной части КСС устраняют несложными дополнительными фильтрами. Наличие биений с частотами 2,1 и 2,25 МГц между первой промежуточной частотой сигнала звукового сопровождения (31,5 МГц) и промежуточными частотами сигналов цветности (38—4,406 МГц и 38 — 4,25 МГц) ухудшает качество изображения, являясь причиной появления на нем темных и светлых полос в такт со звуковым сопровождением. Меры борьбы с этим явлением состоят в повышении линейности тракта УПЧ и применении дополнительных режекторных фильтров, не пропускающих в видеотракт эти частоты преобразования. [c.369]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...