Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

[<< Стр.]    [Стр. >>]

Общим для всех спектроскопических методов является измерение тех или иных характеристик взаимодействия излучения с веществом (поглощение, отражение, рассеяние, возбуждение и др.) в зависимости от энергии кванта падающего на вещество излучения. И если оптическая спектроскопия в основном использовала область энергий до 5 эВ (инфракрасную, видимую, ультрафиолетовую), то возможность использования такого источника, как СИ, расширила ее в тысячи раз (до десятков КэВ, т. е. на области ВУФ, мягкую рентгеновскую и рентгеновскую).

[<< Стр.]    [Стр. >>]

ПОИСК



Общим для всех спектроскопических методов является измерение тех или иных характеристик взаимодействия излучения с веществом (поглощение, отражение, рассеяние, возбуждение и др.) в зависимости от энергии кванта падающего на вещество излучения. И если оптическая спектроскопия в основном использовала область энергий до 5 эВ (инфракрасную, видимую, ультрафиолетовую), то возможность использования такого источника, как СИ, расширила ее в тысячи раз (до десятков КэВ, т. е. на области ВУФ, мягкую рентгеновскую и рентгеновскую).

[Выходные данные]

© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте