Интерферометр с двумя отражающими поверхностями

Для дистанционной регистрации акустических колебаний поверхности объекта контроля могут применяться оптические, СВЧ и акустические волны в воздухе с использованием эффектов интерференции и эффектов Допплера. Например, бесконтактное оптическое наблюдение за колебаниями поверхности контролируемого твердого тела осуществляется с помощью интерферометра. Луч лазера расщепляется полупрозрачным зеркалом на два луча, которые отражаются от неподвижного зеркала и изделия, поверхность которого колеблется под действием ультразвуковой волны. Лучи принимаются фотоумножителем. Чувствительность метода при приеме в 500 раз меньше, чем при иммерсионном способе контроля. Кроме того, интерферометр — это довольно сложное, громоздкое, чувствительное к вибрациям [c.224]

Бесконтактное оптическое наблюдение за колебаниями поверхности контролируемого твердого тела осуществляют с помощью интерферометра [39]. Луч лазера 1 (рис. 1.39) расщепляется полупрозрачным зеркалом 2 на два луча они отражаются от неподвижного зеркала 3 и изделия 4, поверхность которого колеблется под действием ультразвуковой волны. Лучи принимаются фотоумножителем 5. Разность хода лучей в плечах интерферометра равна нечетному числу четвертей световых волн. Длина волны выбирается довольно большой (6,328-10 м от гелий-неонового лазера). Косинусоидальный закон изменения интенсивности интерферирующих лучей при колебаниях поверхности изделия аппроксимируется линейной зависимостью при амплитуде до 3-10" м. [c.68]

На рис. 6.5, а схематично показано устройство одного из первых вариантов интерферометра. Свет от источника S (обычно протяженного) делится по амплитуде задней поверхностью стеклянной пластинки О с полупрозрачным серебряным покрытием на два пучка, один из которых отражается, а другой пропускается. Отраженный пучок достигает зеркала Mj и после этого возвращается, частично проходя через О в телескоп Т. В то же время другой пучок, который вначале прошел через делитель пучка, поступает на зеркало М2 и также возвращается к О, откуда он частично отражается к телескопу. Поскольку идущий к пучок проходит через пластинку О в общей сложности три раза по сравнению с одним разом для пучка, идущего к Mj, то обычно в точку С помещается компенсирующая пластинка той же толщины и из того же материала, что и О. В общем случае Mj и М2 находятся на различных расстояниях от О и между двумя лучами преднамеренно вводится разность хода (компенсирующая пластинка предназначена только для выравнивания дисперсионного хода через стекло). Соединившись вместе, два пучка создают интерференцию, результат которой определяется разностью хода между ними. [c.131]

Излучение длины волны X, отражаясь от решеток Ri и R2, в условиях автоколлимации (углы падения, дифракции и поворота решеток соответственно равны а = р=ссо, Но = 2с sin ссо) образует два плоских волновых фронта, параллельных друг другу. При равенстве расстояний от делителя до решеток в результате интерференции для длины волны Яо образуется бесконечно широкая светлая полоса, заполняющая всю поверхность решеток. Поток на выходе при этом будет иметь максимальную величину. При периодическом введении между волнами 1 я 2 разности хода А=Я/2 поток через интерферометр будет также периодически изменяться от максимального значения до нуля, [c.477]

Фиг. 142-33. Интерферометр Майкельсона а — устройство и принцип действия. Световой пучок / разделяется плоской полупрозрачной пластиной на два пучка и 1-2. Пучок отражаясь от полупрозрачной пластины, падает перпендикулярно на зеркальную поверхность 5 , отражается от нее, снова проходит через пластину и идет вверх. Пучок 1г проходит через пластину, падает перпендикулярно на поверхность зеркала 5а, отражается от него, падает опять на полупрозрачную пластину и отражается от нее вверх. Поверхности зеркал

Интерференционный контраст является наиболее чувствительным и наиболее точным методом измерения неровностей поверхности. Следует различать двухлучевую и многолучевую интерферометрию. В методе двухлучевой интерферометрии монохроматический свет расщепляется на два одинаковых пучка, перпендикулярных один к другому (рис. 12). Один пучок через объектив падает на исследуемую поверхность и отражается, про- [c.14]

Система для автоматического контроля деформаций на основе исиоль-зования голографического интерферометра с оитоэлектронным преобразователем предназначена для управления процессом диффузионной сварки с одновременным дефектоскопическим контролем, а также может быть использована для механических испытаний с заданными скоростями и величинами деформаций при нагружениях образцов в термо-, криокамерах или вакуумных камерах. Принципиальная схема устройства представлена на рис. 32. Излучение лазера 1 разделяется светоделителем 2 и зеркалом 13 на два потока, которые расширяются и коллимируются системами 5, Более яркий иоток, проходя через пластинку 4, попадает в камеру 5. Отражаясь от поверхности образца б, пучок выходит из камеры по тому же оптическому пути и через объектив 8 попадает на фотопластинку 9, где записывается голограмма. Попадающий в процессе нагружения на онтоэлектронный преобразователь // через линзу Ю световой поток предварительно проходит через голографическую интерферо- [c.393]

Измерительная головка 7 представляет собой подвижный интерферометр. Параллельный пучок монохроматического света от осветителя 5 падает на плоскопараллельную светоделительную пластину Р и разделяется на два когерентных луча. Первый луч проходит на зеркало 10, а второй, отражаясь от пластиныР,— на зеркальную поверхность 6. После отражения от зеркал лучи снова соединяются у пластины 9 и выходят в направлении фотоэлектронного умножителя (ФЭУ) 11. При приближении измерительной головки к поверхности 6 в плоскости диафрагмы 12 ФЭУ возникает интерференционная картина и будут перемещаться интерференционные полосы. В момент, когда фокальная плоскость объектива головки совпадает с зеркальной поверхностью 6, черная полоса интерференционной картины перекроет диафрагму 12 и на выходе ФЭУ будет импульс максимальной амплитуды. [c.90]

Резонаторное устройство состоит из двух зеркал, расположенных у торцов стержня перпендикулярно его оси, отстоящих друг от друга на величину (10 4-10 ) Я,. Эта система представляет собой многолучевой интерферометр, в котором световые лучи, распространяющиеся вдоль оси резонатора, многократно отражаются зеркалами. После каждого отражения они проходят через активную среду и усиливаются за счет индуцированного изл>чения возбужденных атомов. Одно из зеркал выполняется частично пропускающим (Коэффициент пропускания I—5%) и служиг для вывода генерированпого сишала из резонатора. Резонаторная система выполняется в виде сферического эталона ФабрИ Перо (см. гл. Ill, п. 2), в ко7 ором два одинаковых вогнутых сферических зеркала расположен-ы на расстоянии, равном радиусу кривизны зеркал. Особенность конфокальной системы заключается в более низком уровне дифракционных потерь, а также в возможности менее точной обработки зеркальных поверхностей 159]. Часто в качестве резонатора используют торцы кристалла, нанося на них отражающие слои, при этом наилучшие результаты дают многослойные диэлектрические покрытия. [c.80]

Вначале рассмотрим принципиальную оптическую схему интерферометра сдвига, которая была предложена еще в 1912 г. (рис. 14.1) Е. Ветцманом. Светоделителем здесь являлась плоскопараллельная пластинка У, установленная наклонно по отношению к падающему лучу. Два пучка, образованные отражением от первой и второй поверхностей пластины, пройдя объектив 2, фокусировались на плоском зеркальце 5, отражались от него, вновь проходили систему в противоположном направлении и возвращались к коллиматору 4, Таким образом, в фокальной плоскости получалось два изображения апертуры оптической системы, которые соответствовали отражению от первой и второй поверхностей пластины 1 и оказывались смещенными. В области их переналожения наблюдаются интерференционные полосы, частоту которых можно менять, изменяя положение зеркала 3 вдоль оптической оси объектива 2. [c.105]

Схема интерферометра приведена на рис. 140. Свет от протяженного источника S попадает на плоскопараллельную разделительную пластинку Рх, покрытую полупрозрачным тонким слоем серебра или алюминия. Эта пластинка частично пропускает, частично отражает свет, разделяя падающий пучок на два взаимно перпендикулярных пучка. Первый пучок, пройдя через пластинку Рх, отражается обратно зеркалом Мх, а затем частично отражается от пластинки Рх в направлении АО. Второй пучок, отразив , шись от покрытой металлом поверхности пластинки Рх, направляется к зеркалу М2, отражается от него, снова проходит через пластинку Рх и далее идет в направлении АО, как и первый пучок. [c.242]

Бесконтактное оптическое наблюдение за колебаниями поверхности контролируемого твердого тела осуществляют с помощью лазерного интерферометра [14]. Одна из возможных схем показана на рис. 1.30 справа. Луч высокостабилизироваиного лазера 9 расщепляют полупрозрачным зеркалом 8 на два луча, которые отражаются от зеркала 6 и ОК 5, поверхность которого колеблется под действием ультразвуковой волны. Лучи фокусируют линзой 10 и принимают фотоумножителем 11. Разность хода лучей в плечах интерферометра выставлена так, чтобы она была равна нечетному числу четвертей световых волн. Длина волны выбирается довольно большой (например, 0,6328 мкм от гелий-неонового лазера). Тогда косинусоидальный закон изменения интенсивности интерферирующих лучей при колебаниях поверхности изделия аппроксимируется линейной зависимостью при амплитуде до 3-10 м. Из сигнала на фотоумножителе фильтром 12 выделяют низкочастотную составляющую, соответствующую мешающим вибрациям, усиливают ее усилителем 7 и управляют перемещениями зеркала 6, которое укрепляют на компенсирующем его движение пьезоэлементе. Таким образом отстраиваются от влияния вибраций. [c.73]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...