Индикатриса рассеяния рентгеновского излучения

Рассмотрим теперь экспериментальные зависимости углового распределения рассеянного рентгеновского излучения. Наблюдаемые индикатрисы рассеяния часто имеют асимметричную форму. На рис. 1.6, изображающем приведенные в работе [10] индикатрисы рассеяния, хорошо видно, как по мере роста угла падения асимметрия как бы перемещается из области углов рассеяния, больших зеркального (0 = 1°), в сторону меньших углов (0 = 3°). Штриховой линией показан контур падающего на образец пучка. Индикатрисы приведены к единичной интенсивности в максимуме. Отрицательные значения А9 соответствуют углам отражения, большим зеркального. Подобные результаты получены на /Са-линии Си авторами работы [32] (рис. 1.7). Особо следует отметить эффект аномального отражения рентгеновских лучей, открытый 26 лет назад [69] и о тех пор неоднократно подвергавшийся исследованию (см. например, работу [23]). Мы не будем здесь подробно его рассматривать (обзор исследований и обсуждение их результатов можно найти в работе [5]). Для нас наиболее существенно то обстоятельство, что пик аномального отражения наблюдается при угле падения, меньшем зеркального, и интенсивность его зависит от шероховатости поверхности отражателя. [c.32]

В п. 1.4 мы говорили о возможности влияния структурных неоднородностей на рассеяние рентгеновского излучения при отражении (подробнее см. работы [5, 281). Совмещая возможности регистрации индикатрисы рассеяния и спектров отражения, можно надеяться на детальное исследование структурных дефектов в приповерхностном слое и решение связанных о ним прикладных задач. [c.40]

Все сказанное выше о связи корреляционной функции поверхности Хв (v) с дифференциальной по 0 и ф индикатрисой рассеяния Ф (0, ф) справедливо для любых длины волны Я и угла скольжения 0Q. Выбор их зависит от свойств поверхности и условий эксперимента. В следующих параграфах мы рассмотрим особенности рассеяния рентгеновского излучения. [c.62]

Выражение (2.47) показывает, что по измеренной индикатрисе рассеяния Ф (0, ф) легко определяется спектральная корреляционная функция Хв ( ) связанная с х (р) преобразованием Бесселя (2.46). При этом, если оптические свойства вещества е . (со) (а следовательно, и коэффициенты Rp и Т) известны достаточно хорошо, то измерения функции Хв ( ) можно проводить, используя зондирование поверхности излучением с различной длиной волны — от видимых до рентгеновских, что значительно повышает достоверность получаемых результатов. Обсудим этот вопрос более подробно. [c.61]

Существо эффекта заключается в появлении дополнительного пика в индикатрисе рассеяния, если угол скольжения падающего пучка превышает критический угол ПВО 0о > 0е. Иллюстрацией может служить рис. 2.6, а, б, на котором приведены экспериментальные угловые диаграммы рассеяния (зеркальная компонента не вычиталась) рентгеновского излучения X = 0,154 нм) от ряда образцов. Дополнительные пики на диаграммах рассеяния соот- [c.67]

Максимальное значение параметра ршах = 2fe = 4яД. Однако большие значения р соответствуют далеким крыльям индикатрисы, где интенсивность рассеянного излучения крайне мала. Поэтому на практике значения р ах ограничены в рентгеновском диапазоне чувствительностью метода измерения, и на сегодняшний день ршах < [c.64]

В этом параграфе мы обсудим особенности, появляющиеся в индикатрисе рассеяния в случае, когда угол скольжения 00 падающего излучения превышает критический угол ПВО 0с, и покажем, что изложенная выше простая и наглядная модель поверхности позволяет объяснить эффект аномального рассеяния рентгеновского излучения (эффект Ионеды), который наблюдался авторами работ [7, 13, 29] и теоретическое объяснение которого дано в работах [2, 13, 16] с использованием более сложных моделей границы раздела и дополнительных предположений о структуре электромагнитного поля. [c.67]

Более строгая теория рассеяния рентгеновского излучения, основанная на подходе Андронова—Леонтовича [1], изложенная в гл. 2, дает качественное описание этих эффектов. В то же время говорить о полном количественном соответствии еще нельзя. Как показали измерения рассеяния ренгеновского и нейтронного излучений на ряде образцов с высоким качеством поверхности [10], зависимость отношения интенсивности рассеянной компоненты к полной интенсивности отраженного пучка с уменьшением угла 0 не переходит из квадратичной (по Бекману) в линейную зависимость от 0 (как следует из теории, изложенной в гл. 2) и, видимо, имеет более сложный характер. Кроме того, в ряде работ (см. например [17, 26]) отмечались трудности в интерпретации индикатрис рассеяния с помощью рассмотренных нами ранее простейших видов корреляционных функций (гауссовской, экспоненциальной). [c.238]

Рассмотрим аппаратуру для измерения рассеяния рентгеновского излучения. Естественно, что приборы, работающие в мягкой и ультрамягкой областях, оказываются существенно более сложными из-за необходимости обеспечения вакуума в приборе, чем в жесткой рентгеновской области. Несмотря на это, необходимость измерения во многих случаях характеристик рассеяния на рабочей длине волны зеркала привела к появлению установок, обеспечивающих возможность измерений при длинах волн до 11,3 нм [12, 26, 82]. На рис. 6.7 приведена схема прибора для измерения индикатрисы рассеяния [26]. Установки, как видно из рисунка, имеют большие линейные размеры для получения пучка с угловой расходимостью в десятки угловых секунд, что необходимо для исследования суперполированных поверхностей, имеющих параметр о до единиц ангстрем и большие корреляционные длины. Измерения проводятся на контрастной характеристической линии, выделяемой из спектра материала анода рентгеновской трубки 1. Щели 2 я 3 обеспечивают требуемую угловую расходимость падающего на образец пучка рентгеновского излучения. С помощью устройства перемещения 4 образец может быть выведен из рентгеновского пучка и тогда, перемещая детектор 6 с узкой щелью 8, записывается контур падающего пучка. Затем, вводя образец 5 и устанавливая его под заданным углом, детектором 6 с помощью механизма перемещения 7 производится запись индикатрисы рассеянного излучения. Подробное рассмотрение процедуры обработки экспериментальных индикатрис рассеяния для вычисления среднеквадратичной шероховатости и корреляционной длины [c.239]

Обратимся теперь к экспериментам по исследованию рассеяния мягкого рентгеновского излучения реальными поверхностями и оценим основные выводы теории рассеяния ка основе приближения Кирхгофа. Изучение зависимостй отражательной способности жесткого рентгеновского излучения от состояния поверхности впервые было предпринято Эревбергом [42). Несколько позже Эллиот [43] изучал связь качества полировки поверхности рентгеновского зеркала о рассчитанными им индикатрисами на основе модели поверхности в виде конических пиков. В работе [68], по-видимому, впервые было проведено исследование рассеяния мягкого рентгеновского излучения шероховатой поверхностью отражателя. Измерения проводились на Яа-линиях алюминия и углерода, угловая ширина падающего на исследуемый образец пучка составляла 8". [c.31]

Несмотря на успехи, достигнутые в технологии обработки сверхгладких поверхностей, в настоящее время поверхностные неоднородности остаются одним из основных факторов, ограничивающих разрешение рентгеновских телескопов и микроскопов скользящего падения [20, 30]. Детальное знание зависимости коэффициента зеркального отражения от микрогеометрии отражающей поверхности, а также углового распределения рассеянного излучения (индикатрисы рассеяния) позволяет количественно [c.47]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...