Фотометрирование

Убедившись в достаточной равномерности освещения щели (с помощью микрофотометра МФ-2) и подобрав время экспозиции, можно приступить к съемкам окончательной пластинки, предназначенной для расшифровки и фотометрирования. [c.46]

Сфотографировав СКР смеси и марки почернения, приступают к обработке спектрограммы. Фотометрирование на микрофотометрах МФ-2 (или МФ-4) проводят с шириной щели 0,2—0,3 мм. По правилам фотографической фотометрии (см. задачу 3) определяют наблюдаемые интенсивности в максимуме юм, асм и /зсм для трех линий, принадлежащих трем компонентам исследуемой смеси. Найденные таким образом величины характеризуют истинные интенсивности линий /юм, hem и /зсм, взятые по отношению к интенсивности спектра флуоресценции сернокислого хинина, поскольку он использовался для съемок марок почернений. Поэтому [c.142]

Проводят съемку исследуемого спектра и находят выбранные линии. При этом исследуемый спектр следует сфотографировать как с очень узкой щелью для отождествления линий (ширина щели порядка 1,5 от нормальной), так и со щелью, при которой обеспечивается надежное фотометрирование линий (в 5—10 раз превышающей нормальную). Исследуемый спектр с узкой щелью должен быть сфотографирован вплотную ( встык ) к спектру железа. С другой его стороны вплотную следует сфотографировать спектр основы. Например, если выбранный элемент вводится в виде добавки в угольные электроды, рядом фотографируют спектр чистых угольных электродов. Это необходимо для облегчения поисков линий добавки в спектре. [c.240]

Проводят фотометрирование спектров и необходимые расчеты. При фотометрировании линий рекомендуется вести запись результатов в таблице, в которой в дальнейшем следует поместить и результаты расчетов. Если каждый спектр сфотографирован со ступенчатым ослабителем и возможно фотометрирование линий на нескольких ступеньках спектра, для нахождения относительных интенсивностей линий рекомендуется метод сдвига кривых почернения (см. задачу 3). При этом несколько сглаживаются случайные ошибки фотометрирования. [c.241]

Проведенный расчет показывает, что разрешающая способность разработанной методики лучше 5 мкм. Это подтверждает и экспериментальная кривая распределения изотопа проникшего через серию микротрещин в окисной пленке на цирконии (см. рисунок, кривую 3). Фотометрирование проводилось в направлении, перпендикулярном плоскости микротрещин. [c.180]

Экспозиция выбирается по соответствующим номограммам (рис. 3.2) или опытным путем и зависит от толщины контролируемого изделия, энергии излучения, фокусного расстояния, типа пленки и экрана, тока рентгеновской трубки или активности источника излучения. Экспозицию подбирают так, чтобы оптическая плотность почернения снимка (контролируемого участка шва, околошовной зоны и эталона чувствительности) составляла не менее 1,5 при этом энергия излучения должна находиться в пределах оптимального диапазона. Экспозиция может определяться просвечиванием образца, выполненного в виде клина, в диапазоне необходимых толщин, с учетом оптимального времени просвечивания и последующим фотометрированием. Для определения экспозиции делают несколько снимков образца в необходимом интервале времени просвечивания, используя выбранные источник и преобразователь излучения затем производится фотометрирование (определение плотности почернения изображения ступенек на пленке). После этого на снимке находят участки с одинаковой оптимальной плотностью почернения, определяют толщину металла и строят номограмму для определения времени просвечивания. [c.65]

Метод фотографического фотометрирования с учётом свойств пластинки 3—121 [c.269]

Фотометрирование спектральных линий производится на микрофотометре, предназначенном для количественного спектрального анализа. Оптическая схема микрофотометра показана на фиг. 12. В этой схеме кроме основной оптической системы (позиции 1—9) имеется вспомогательная система освещения 10, 11, 12), предназначенная для облегчения [c.117]

Схема зонда с применением гелий-неонового лазера показана на рис. 2.16.. Лазер ЛГ-56 с блоком питания СБП-5 дает пучом света с длиной волны 1 — = 0,6328 мкм. Фотометрирование интенсивности излучения рассеянного света под углом 20° вперед и назад осуществляется фотоэлектронным умножителем ФЭУ-51. Питание ФЭУ производится от стабилизированного высоковольтного выпрямителя Б5-24, а ток ФЭУ регистрируется микроамперметром М-95. В конструкции зонда использованы стекловолоконные световоды, что позволило выполнить его небольших размеров. Луч света от лазера по трубке 1 направляется через отверстие 2 диаметром 0,7 мм в головке 5 в исследуемый объем среды. Информация о рассеянии света через насадки 3 поступает к торцам световодов 6 и выводится к ФЭУ. Трубка 1 и световоды 6 проходят внутри тубуса зонда 7, с которым соединена головка зонда 5. Насадка 3 предохраняет световод, от механических повреждений. Отверстия в головке лежат в плоскости поляризации света. Продувка воздухом через отверстия 4 предотвращает попадание влаги в рабочие каналы. [c.46]

СПЕКТРОРАДИОМЕТР — спектральный прибор для измерения фотометрия, характеристик (потока, светимости, силы света, яркости и др.) источников оптического излучения. По общей схеме и конструкции С. подобны спектрофотометрам, но имеют спец, осветители, позволяющие сравнивать исследуемый поток с потоком от референтного источника (операция фотометрирования), встроенного в прибор или расположенного вне его. Для измерений спектров удалённых излучателей С. снабжаются собств. осветителями-телескопами или пристраиваются к большим стационарным оптическим телескопам. [c.624]

График зависимости интенсивности зарегистрированных интерференционных полос от смещения, полученный путем фотометрирования не- [c.201]

В процессе проявления кювету с проявителем следует время от времени покачивать, чтобы раетвор перемешивался. В противном случае в участках фотослоя, подвергшихся более интенсивному воздействию света (например, там, где расположены интенсивные линии), происходит местное истощение раствора, процесс проявления замедляется. Это может отразиться на воспроизводимости результатов при последующем фотометрировании. Время проявления зависит от типа фотографической эмульсии, состава проявителя и его температуры. При выполнении задач рекомендуется проявлять фотопластинки при 20° С в свежеприготовленном растворе проявителя № 1 в течение 5 минут. [c.12]

Выбор спектральных линий определяется тем, известны ли для них вероятности спонтанных переходов и можно ли эти линии наблюдать без наложения соседних линий при заданной дисперсии спектрографа и при ширине его входной щели, обеспечивающей надежное фотометрирование. Желательно выбирать линии, лежащие в узкой спектральной области с разницей длин волн не более Юн-20 нм. В противном случае при фотометрических измерениях необходимо учитывать спектральную чувствительность фотоматериала (использовать метод гетерохромного фотометриро-вания). [c.238]

Спектры поглощения водных растворов приведенных веществ обнаруживают характерный четкий максимум поглощения, находящийся в диапазоне 220—290 нм, точное местоположение которого зависит от вида и расположения заместителей в бензольном кольце. Абсолютная величина поглощения зависит от концентрации ингибитора и с переходом от дициклогексиламина к циклогексила-мину и далее к щелочным металлам растет, что отчетливо видно из графиков (рис. 27). Таким образом, метод спектрофотометрического определения производных бензойной, нитробензойной и динит-робензойной кислот в антикоррозионной бумаге сводится к экстрагированию их из бумаги, фотометрированию полученного экстракта для получения оптической плотности при длине волны максимума [c.136]

Для определения размытия или изменения плотности почернения пленки в полосе размытия производилось фотометрирование пленок с помощью самозаписывающего микрофотометра. Кривые микрофотометри-рования пленок, полученные при просвечивании эталонного клина в различных условиях, приведены на рис. 1. Три пика каждой из кривых соответствуют трем пазам — дефектам глубиной 5, 8 и 10% толщины поперечного сечения клина, равной 150 мм. Эти кривые показывают, что просвечивание с применением свинцовых и флюоресцирующих экранов дает картину более резкую, чем в остальных случаях. [c.343]

Участок кривой, полученной при фотометрировании одного из дефектов, приведон на рис. 2, где по оси ординат отложены величины относительной плотности почернения, а по оси абсцисс — ширина дефекта, имеющего форму паза. Эта кривая, лежащая между значениями J9,nax и Z mini ограничена с обеих сторон S-образными участками. Расстояние между точками в и с дает искомую величину размытия изобра кения дефекта. В качестве значения общего размытия можно принять разность Pj2 — [c.343]

Методы количественного спектрального анализа делятся на две группы приближённые, не требующие вспомогательных фотометрических средств, и точные, основанные на фотометрировании спектральных линий. [c.119]

К точным методам относятся 1) визуальный метод количественного спектрального анализа (метод Шайбе и Лиммера), 2) метод фотометрического интерполирования и 3) метод фотографического фотометрирования с учётом свойств пластинки. Сравнение интенсивностей спектральных линий при точных методах производится при помощи фотометрических приспособлений. [c.120]

ГЕТЕРОХРОМНАЯ ФОТОМЕТРЙЯ — подраздел фотометрии, в к-ром рассматриваются методы сравнения интенсивности разноцветных (гетерохромных) излучений. При визуальном фотометрировании различие цветов сравниваемых излучений ведёт к увеличению ошибки, что можно преодолеть, напр., с помощью т. я. [c.450]

Создание и применение импульсных Ф. сопряжено с необходимостью использования приёмников излучения с высоким разрешением во времени и широким динамич. диапазоном. Кроме того, в Ф. для сверхкоротких лазерных импульсов могут оказаться существенными длительность переходной или импульсной характеристики оптич. системы, возможные лучевые пробои оптич. элементов в местах фокусировки пучка, изменения коэф. пропускания сред и т. п. Для Ф. с абс. градуировкой характерны относительно большие систематич. погрешности измерений (обычно 10—20%) фотометрирование с погрешностью менее 5% возможно только в специализир. лабораториях. [c.352]

ЯРКОМЁР—фотометр для измерения яркости. Оптич. схемы Я. с физ. приёмниками излучения показаны в ст. Фотометр на рис. виг. В Я., построенном по первой яз этих схем, изображение светящегося тела (источника И) создаётся в плоскости диафрагмы D, ограничивающей размеры фотометрируемой части этого тела. Постоянство чувствительности такого Я. при перемещении объектива обеспечивается апертурной диафрагмой D , неподвижной относительно D. В более простом Я., построенном по второй схеме (рис. г), фотометрируемый пучок лучей ограничивают габаритная диафрагма и входной зрачок приёмника П. Диафрагма располагается вблизи светящегося тела или (при фотометрировании больших объектов) на нек-ром удалении от него. Простейшим визуальным Я. (эквивалентная оптич. схема к-рого соответствует рис. в) является глаз человека. Промышленностью выпускаются фотометры, с помощью к-рых измеряют яркость постоянных и импульсных источников, визуальный фотометр для измерения т.н. эквивалентной яркости, встроенные в фотоаппараты и отд. фотография. Я, (экспонометры), яркосткые пирометры и др. [c.690]

Шлирен-метод и прямой теневой метод. Для измерения оптических неоднородностей применяется метод абсолютного фотометрирования и метод эталонной оптической неоднородности. При исследовании относительно грубых оптических неоднородностей удобнее пользоваться методами измерения, не требующими кропот- [c.277]

Авторадиографическое исследование разорванных образцов стали 20 с радиоактивным углеродом С также свидетельствует об образовании неравновесного по составу аустенита в деформированной части образцов. Радиоизотоп углерода С вводился в сталь при ее выплавке по методике [ 71 ] в таких количествах, чтобы удельная радиоактивность сплава составляла 3,7 10 - 7,4 10 расп. С Г" (1 - 2 мкКюри Г" ). Количественная оценка содержания углерода в отдельных фазах и структурных составляющих производилась в помощью метода безэталон-ной количественной авторадиографии [72]. Радиоавтограммы сопоставлялись с металлографическими картинами. Это позволило выбрать определенные участки аустенита в головке и шейке разрывных образцов и путем фотометрирования соответствующих им радиоавтограмм определить в них содержание углерода. Для повышения достоверности определения концентрации углерода строились частотные кривые, для чего исследовалось не менее 250 участков изучаемой фазы. [c.53]

Для изучения особенностей ос -> -у-превращення в различных условиях нагрева был привлечен высокотемпературный рентгеноструктурный анализ, позволивший регистрировать а- и 7-фазы непосредственно в процессе фазового перехода. Рентгенограммы снимали в железном излучении. При этом фиксировались отражения (2 0) а-фазы и (222) 7-фазы. Исследование вьтолнялось на закаленных сталях, в которых четко регистрировалась внутризеренная текстура [ 106]. Для характеристики изменений, происходящих в сталях при нагреве, проводили фотометрирование текстурных максимумов вдоль кольца. Сопоставление фотометрических кривых одного и того же максимума в исходном (закаленном) состоянии и после съемки при разных температурах позволяет судить об изменении субструктуры а- и 7-фаз. [c.92]

Электронная система регистратора. При исследовании напряжений на прозрачных моделях путем фотометрирования рассеянного света по точкам регистратор (см. рис. 1, поз. 16—17), как измерительная система, должен обеспечивать возможность измерения малых (сравнимых с шумами ФЭУ) интенсивностей света в широком диапазоне измеряемых величин. Лучше всего этому требованию удовлетворяет появившийся в последние годы метод регистрации световых потоков посредством счета фотонов на одноэлектронном уровне [3], который был использован в установке УРС-А. Электронная часть этого регистратора была разработана и изготовлена на кафедре ядерной физики Белорусского Государственного университета но техническому заданию Лаборатории института машиноведения. Основные технические данные регистратора область спектральной чувствительности — 0,4—0,7 МК-, предельная чувствительность — порядка 10 квант1сек емкость регистратора — 10 импульсов число импульсов нормирования дискретно в пределах 10 --н 10 питание от электросети 220 в, 50 гц. [c.33]

М. Ф. Бокштейн, Э. И. Подолъный, А. Н. Салин. Установка УРС-А ИМАШ для исследования напряжений путем фотометрирования света, рассеянного в отдельных точках просвечиваемой модели.— Труды VII Всес. конф. но цоляризационно-онтическому методу исследования напряжений, т. I. Таллин, изд. АН Эст. ССР, 1971. [c.38]

В пирометре Пром1нь применена экономичная схема преобразования напряжения, снимаемого с реохорда фотометрирования, в ток пирометрической лампы. Реохорд фотометрирования непосредственно связан со шкалами, отградуированными в градусах Цельсия. Полный заряд встроенной батареи аккумуляторов обеспечивает непрерывную работу [c.340]

Спектры фотографируются или исследуются визуально. Фотографирование спектров производится на спектрографе. Интенсивность линий определяется фотометрированием сравнительно с эталоном. Такой метод дает возможность получить весьма точный объективный количественный результат. При количественном анализе используется ультрафиолетовая и видимая область спектра в интервале длин волн 200—600 нм. Применяя стилоскоп, спектр рассматривают непосредственно в окуляр интенсивность линий определяют визуально, сравнивая их с некоторыми линиями постоянной интенсивности, например с линиями железа. Этот метод применяется для качественного или нолуколичественного анализа легированного метал- [c.65]

На рис. 65 показана зависимость ширины интерференциальных линий железа (310) а от времени микроударного воздействия для образцов из углеродистой и аустенитной стали. Результаты были получены на основании двукратного, а в некоторых случаях и трехкратного фотометрирования рентгенограмм для каждого состояния образца. Данные рентгенограмм показывают, что в результате микроударного воздействия увеличивается ширина интерференционных линий вследствие роста напряжений II рода и измельчених блоков структурной мозаики. Ширина линий (310) а особенно увеличивается в начальный период микроударного воздействия затем происходит некоторая стабилизация в изменении [c.108]

Фотоматериалы, используемые для записи синтезированных голограмм, описываются характеристической кривой в координатах цифровой сигнал — плотность почернения, которая учитывает свойства устройства записи голограмм. Она измеряется путем фотометрирования сентитометрического клина, соответ- [c.63]

Следует также отметить, что в связи с регистращ<ей спектрально окрашенного изображения (выбрался угол, соответствующий желто-зеленой окраске) вносилась дополнительная неточность, обусловленная неоднородной спектральной чувствительностью использовавшейся фотопленки. Тем не менее полученные снимки после соответствующего отбора позволили провести путем фотометрирования достаточно объективное сравнение контраста восстановленных интерферограмм (рис. 29). Фотометри-рование полученных диапозитивов производилось с помощью микрофотометра. [c.62]

Визуально фотоснимки интерферограмм, полученных в монохроматическом излучении лазера и полихроматическом (белом) свете, выглядят практически неотличимыми. Результаты фотометрирования показьшают весьма незначительное падение контраста при переходе от лазерного ос- [c.62]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...