Микрон (микрометр)

Миллиметр мм Микрометр (микрон) мкм [c.16]

Длина 1 мк (микрон) 1 мкм (микрометр) = = 10- д< [c.116]

Длина 1 микрон (мкм) 1 микрометр [c.9]

При проверке V-образных направляющих их можно использовать в качестве сосудов для получения контрольного уровня жидкости. На мостике устанавливается микрометр, расстояние которого от уровня воды по мере передвижения вдоль направляющих определяется на-глаз или при помощи электрического контакта. В первом случае достигается точность замера до 0,01—0,02 во втором — нескольких микрон. [c.664]

По данным С. В. Лашко, Н. Ф. Лашко и В. Л. Гришина, длительность диффузионной пайки эвтектиками Ti—Ni или Си—Ti существенно зависит от толщины прослойки жидкого припоя и может изменяться например, при температуре 980° С от нескольких минут при микронной ее толщине до десятка часов при толщине в сотни микрометров. В связи с этим более широкое применение нашла контактно-реактивная диффузионная пайка, при которой припои с большим содержанием титана образуются при контактно-реактивном плавлении паяемого металла с тонкими 312 [c.312]

Микрометр (микрон) Миллиметр мкн 0,9979-10 10 103 1 10-3 10-4 3,937-10-5 [c.13]

Три из этих единиц нуждаются в дополнительных замечаниях. Микрометр раньше назывался микрон и обозначался мк. Иногда при русском обозначении остальных единиц микрон обозначался греческой буквой ц, (мю), которая входит в совокупность международных (как правило, латинских) обозначений. Несмотря на то, что решением ХП1 Генеральной конференции по мерам и весам название микрон и обозначение мк отменено, его нередко можно встретить в литературе. Ангстрем чаще всего применяется в спектроскопии, однако он постепенно вытесняется в десять раз большей единицей — нанометром, который раньше назывался миллимикрон и обозначался ммк. [c.100]

Мехом 174 Микроватт 125 Микрометр 100, 292 Микрон 100 Микросекунда 112 Мил 101 [c.331]

Возможная точность установочных перемещений колеблется в зависимости от точности станка и назначения соответствующего установочного перемещения в пределах от долей микрометра (микрона) до десятых долей миллиметра. [c.16]

На рис. 32.2 видно, что полосовая доменная структура состоит из длинных узких доменов с шириной от долей микрометра до нескольких микрон, причем соседние домены намагничены в противоположных направлениях. Существует несколько теорий, объясняющих энергетическую выгодность образования полосовой доменной структуры в закритических пленках (в настоящей книге они не рассматриваются). Закритические пленки обладают петлей гистерезиса необычной формы (рис. 32.3) им свойственна так называемая вращательная магнитная анизотропия, под которой понимают возможность осуществления поворота системы полос под действием внешнего поля. Это свойство используется в информационных устройствах. Закритические пленки применяют также в качестве магнитоуправляемых дифракционных решеток, в голографии и в некоторых других областях. [c.315]

Отсчетное приспособление окуляр-микрометра состоит из винта, / гайки, отсчетного барабанчика и каретки с подвижной сеткой. На последней нанесены перекрестие для наводки на отпечаток и две риски для производства отсчетов. Непо-движная сетка состоит из миллиметровой шкалы. Бид сетки в окуляре показан на фиг. 247. Диагональ отпечатка измеряют следующим образом сначала подводят отпечаток к перекрестию так, чтобы его вершина совпала с левым углом отпечатка (установка по фиг. 247, а), затем вращением микрометрического барабанчика окуляра подводят вершину перекрестия к противоположному углу отпечатка (установка по фиг. 247,6). При переходе от установки по схеме а к установке по схеме б, деления микрометрического барабанчика указывают длину диагонали отпечатка в микронах. Поворачивая окуляр на 90° измеряют длину второй диагонали аналогичным образом. Из найденных величин вычисляют среднюю длину диагонали и, согласно формуле [c.378]

Согласно правилу образования кратных и дольных единиц измерений (ГОСТ 766 55) наименование 0,000 001 доли метра микрон и его обозначение мк заменены наименованием микрометр и соответствующим обозначением мкм. [c.3]

Дольная единица (то есть в целое число раз меньшая основной) из ослиной силы не получилась. Но в системе СИ — Международной системе единиц физических величин, утвержденной в 1960 г. XI Генеральной конференцией по мерам и весам, — дольных единиц очень много. Как и кратные единицы (т.е. в целое число раз большие), они не имеют собственных наименований. Обезличка Ничего подобного. Все кратные и дольные единицы имеют четкие названия, состоящие из приставок и названий основных единиц. Теперь не нужно помнить, что ангстрем — это 10 м, а микрон — это м, потому что эти единицы упразднены, точно так же, как и миллимикрон - 10" м. Зато есть дольная единица микрометр", равная миллионной доле метра, потому что приставка микро" соответствует множителю 10 . Есть нанометр, равный 10 м, потому что нано" означает 10 . [c.54]

Толщина пассивирующих пленок при работе анода в пассивном состоянии зависит в основном от природы металла и состава электролита. Например, на благородных металлах Р1, Рс1 и Аи пленки обладают хорошей электронной проводимостью, а их толщина может колебаться от мономолекулярного слоя до 10 м. На металлах группы железа, их сплавах и хроме также образуются хорошо проводящие пассивирующие слои толщиной от 2-10" до 10 м. На свинце оксидные пленки обладают хорошей электронной проводимостью и достигают толщины от одного до нескольких микрометров. На алюминии, титане и тантале образуются пленки с очень низкой электронной проводимостью, что приводит к высокому падению напряжения в пленке, достигающему сотен вольт, при толщине пленок от нескольких до десятков микрон. [c.26]

Мехом 55, 251 Микрометр (микрон) 53, 82, 126 Миллиметр водяного столба 53, 92, 166 [c.503]

Вызывает погрешности приложение слишком больших усилий при измерении. Например, иногда при измерении микрометром не пользуются трещоткой, а с большим усилием нажимают на микровинт при проверке цилиндрическими калибрами проходной калибр с большим усилием вставляют в проверяемое отверстие, а при измерении наружного диаметра вала проходную скобу с силой насаживают на вал, хотя известно, что проходные калибры для отверстий и валов должны проходить под действием собственной массы. Приложение больших усилий при измерениях деформирует измерительный инструмент, вызывает смятие поверхности измеряемой детали. Ниже приводится пример влияния величины измерительного усилия Р на величину ошибки измерения в микронах [c.68]

Микрометр ранее назьшался кшкроном и обозначался мк . Иногда при русском обозначении остальных ели-ниц микрон обозначался греческой буквой ц , входящей в совокупность международных обозначений, в которых, как правило, применяются латинские буквы. Кроме микрона греческой буквой обозначалась и еШ1-ница сопротивления ом, для которой было принято обозначение Д . Это обозначение при.менялось и при русском обозначении других единиц. [c.123]

На фиг. 43 показана схема светового сечения. Для получения надёжных результатов необходимо брать на оцениваемой поверхности 10 замеров. Для перевода делений окуляр-микрометра в микроны,выражающие высоту неровностей, устанавливается переводной коэфициент при помощи металлического объект-микрометра. Так, при увеличении объектива микроскопа 9 и окуляр-ми-крометра 10 переводной коэфициент выражается [c.24]

Диаметр рабочей поверхности подшипника измеряли нутромерами с соточ-ным или микронным индикаторами. Настройку этих нутромеров на нуль осуществляли по установочным кольцам. Рабочие размеры контртела измеряли микрометром. Точность измерений 0,01 мм. [c.90]

Не допускается добавление приставок к названиям внесистемных единиц, являющихся кратными или дольными по отношению к основным и производным единицам систем СИ и МКГСС. Так, не допустимы названия килотонна, мегатонна (так как тонна есть мегаграмм) миллимикрон (так как микрон есть микрометр), килобар (так как бар есть 10 ньютонов на квадратный метр). [c.13]

МУЭЛ используются в качестве датчиков электронных микрометров с пределами измерений от сотых долей микрона до десятых долей миллиметра. [c.562]

Диаметры измеряют с точностью отсчета до сотых долей миллиметра с помощью микрометра 5 и до микрона — с помощью микронного индикатора 2. Наконечники 4 этого поибора выполнены в виде самоустанавливающихся точных полуцилиндров, могущих поворачиваться в таких же полуцилиндрических гнездах. Благодаря этому вне зависимости от поворота наконечников расстояние между точками а к Ь, лежащими на оси измерения, будет таким же, как при параллельном расположении измерительных поверхностей наконечников. Это свойство дает возможность измерять диаметры конуса практически любой конусности, причем для увеличения точности диаметры можно измерить, сравнив их с размерами концевых мер. [c.106]

Сущность измерения углов интерференционным методом путем ечета полос заключается в том, что в прямоугольном треугольнике с малым измеряемым углом меньший катет измеряют в длинах световых волн. Например, при измерении параллельности измерительных поверхностей микрометров интерференционным методом с помощью плоскопараллельной пластины большим катетом является диаметр измерительной поверхности микрометра, а малым — число интерференционных полос на обеих поверхностях, переведенное в микроны. При установке измеряемого клина, притертого к плоской пласгинке на столике интерферометра (например, интерферометра Кестерса, применяемого для измерения концевых мер), на свободной поверхности этого клина, как и на поверхности плоской пластины, наблюдается интерференционная картина. Измерение двугранного угла клина основано на определении числа полос на данном отрезке каждой стороны измеряемого угла. [c.302]

Толщина металлических покрытий колеблется от долей микрона до 30—50 мкм, зависит от назначения покрытия и технологии его нанесения. Металлизацию с толщиной покрытия до нескольких микрометров принято называть тонкопленочной, а более толстую — толстопленочной. -Наиболее проста по технологии металлизация керамики для создания токопроводящего слюя, так как размерные требования к ней менее жесткие. Такое металлическое покрытие должно надежно сцепляться с керамикой, не быть подверженным окислению даже при длительном хранении и небольшом повышении температуры и обладать хорошей электропроводностью и малыми диэлектрическими потерями. [c.85]

Длина волны К используется в УВИ-области спектра. В систе-,ме СИ длины волн выражаются в напо.метрах (1 им = 10 м) и микрометрах (1 мкм=10 м). Раньше они обозначались как миллимикрон (1 ммк=1 им) и микрон (1 мк (или ц) = 1 мкм). В спектроскопии и при измерении межъядериых расстояний в молекулах еще широко используется внесистемная единица — Ангстрем (1 А=10 м=10 см = 10 нм). [c.11]

Внесистемными единицами являются также такие распространенные единицы времени, как минута и час, а также кратные и дольные единицы из.мерения, иногда имеющие собственные наименования, например единица длины — микрон (мк), равный 10 м и в соответствии с правила.ми образования дольных единиц называемый в настоящее время микрометром (мкм) единица массы — тонна (т), равная 1000 кг и как кратная единица массы, называемая также мегаграмм (Мг) и т. д. [c.32]

Метод отпечатков алмазной пирамиды для определения износов металлических деталей. Микрометраж контактными приборами ( микрометрами, индикаторами, нутромерами и др.) не применим при определении малых износов (порядка нескольких микрон), соизмеримых по величине с ошибкой измерения этими приборами. Между тем из- [c.76]

Наряду с этим могут применяться наименования, особо указы ваемые в стандартах для соответствующих единиц измерений. На пример, мегограмм называется тонной, а микрометр — микроном [c.11]

Любая обработанная тем или иным способом металлическая поверхность волниста и шероховата. Волнистость характеризует макрорельеф поверхности. Шаг волны может колебаться в пределах от десятков до тысяч микрометров (микрон), а высота волны от нескольких микрометров до десятков микрометров. Шероховатость характеризует микрорельеф поверхности. Средняя (по десяти точкам) высота неровностей профиля самых гладких поверхностей находится (для 14-ти классов шероховатости) в пределах сотых долей микрометра, а для грубообработанных поверхностей доходит до нескольких сот микрометров. Закономерности формирования геометрии поверхности определяются методами и условиями обработки. [c.32]

Смотреть страницы где упоминается термин Микрон (микрометр) : [c.174] [c.97] [c.224] [c.530] [c.489] [c.105] [c.473] [c.484] [c.170] [c.664] [c.25] [c.154] [c.653] [c.491] [c.321] [c.288] [c.62] [c.16] [c.197] [c.353] [c.6] [c.294]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...