Интерференционные дробные

Если внесенная разность хода, выраженная в длинах волн X исследуемого монохроматического света, равна гпХ, то вся интерференционная картина сместится на т полос, где т может быть и дробным числом ). Измерив это смещение, мы определим значение т. Опыт показывает, что смещение на полосы (т = /lo) наблюдается вполне уверенно и без труда. [c.133]

Если разность размеров плиток выражается числом, не кратным Х/2, интерференционные полосы будут соответственно сдвинуты на дробное число полос. Целое число полос в этом случае отсчитывают, как указано выше для отсчёта дробной доли полосы выравнивают в направлении, параллельном коротким рёбрам плиток. [c.188]

Величина смещения интерференционных полос на поверхности плитки относительно полос на кварцевой пластине выражает дробную долю общего количества длин полуволн света, заключающихся в длине плитки. [c.189]

Для определения полного (целого и дробного) количества длин полуволн, заключающихся в длине плитки, поступают следующим образом. Измеряют плитку предварительно более грубым способом (например, относительным методом на оптиметре с точностью 1 р). Затем на интерференционном компараторе определяют дробные доли длин полуволн не менее чем для трёх, линий спектра. Если длины световых волн этих линий спектра известны, то вычисление общего количества длин полуволн, заключающихся в длине плитки, не представляет затруднений полученное в результате измерения на компараторе сочетание дробных долей длин полуволн для нескольких линий спектра может соответствовать одному, и только одному, значению размера плитки (лежащему в определённом интервале). [c.189]

Разность хода уменьшается с увеличением угла падения, и, следовательно, порядок интерференции уменьшается при переходе от центра интерференционной картины к ее периферии. Первое светлое кольцо появится, когда порядок интерференции сделается равным целому числу k — е, где е — дробная часть порядка интер- [c.27]

Дробную часть порядка интерференции в каждом отдельном случае можно найти экспериментально — либо по диаметрам колец при интерференции равного наклона, либо по смещениям полос при интерференции равной толщины. Сложнее определить целый порядок. Его можно получить, сосчитав число интерференционных полос при изменении разности хода в интерферометре путем передвижения одного из его зеркал. Передвигать зеркало при изменении разности хода следует так, чтобы оно оставалось строго параллельным своему первоначальному положению — в противном случае может нарушиться юстировка прибора. А это приведет к появлению дополнительной разности хода и, следовательно, к ухудшению видимости интерференционной картины. Избежать нарушения параллельности можно, если весьма точно изготовить механические детали прибора. Однако трудности получения направляющих с высокой степенью прямолинейности для больших раздвижений интерферометра заставляют, даже при наличии фотоэлектронных счетчиков интерференционных полос, отказаться от этого метода при большом числе полос. Метод непосредственного определения числа полос применим лишь для малых разностей хода. Вот почему Майкельсон, пользуясь этим методом при сравнениях с длиной волны красной линии кадмия, мог использовать только длину самого маленького — 0,39 мм — из специально изготовленных им эталонов. К большим же разностям хода Майкельсон переходил, сравнивая длину этого эталона с эталоном удвоенной длины и используя при этом явление интерференции в белом свете. Постепенно удваивая длину эталона, экспериментатор доходил до 10-сантиметрового эталона, длину которого уже сравнивал с длиной прототипа метра. [c.50]

Расстояния между кольцами можно измерить и вычислить дробную часть для места совпадения, а, зная предварительное значение разности хода, по месту совпадения можно определить точное значение порядка в центре интерференционной картины, т. е. [c.52]

В табл. 1 даны для каждой длины волны >-o-r i (г = 4) дробные части порядка интерференции, измеренные в вакууме для интерференционного эталона, длина которого по предварительным определениям равна 100, 015 мм. В этой же таблице приводится ряд порядков интерференции, вычисленных по формуле [c.52]

Зависимость смещения интерференционной полосы от давления Р внутри камеры многолучевого интерферометра широко используются для определения дробной части порядка интерференции. [c.192]

Если применяется специальная стеклянная пластина со скосом (см. фиг. 47), то срединный размер определяется непосредственно. Верхняя пластина накладывается ребром близко к середине измерительных поверхностей плиток (фиг. 54). Штрих СО (фиг. 55) проходит при этом приблизительно через линию симметрии обеих плиток, а штрих ЕР — через линию симметрии исходной плитки. Стекло выравнивается так (фиг. 56) чтобы интерференционные полосы на проверяемой плитке были направлены параллельно штриху СО, а на исходной плитке коричневая полоса лежала на точке пересечения штрихов СП и ЕР. Дробные доли полос отсчитываются на-глаз по положению штриха между полосами на проверяемой плитке. Для отсчета целого числа полос, подобно предыдущему, наклоняют стекло до получения черных полос на обеих плитках. Чтобы исключить влияние поперечной непараллельности, проверяемую меру притирают с другой стороны исходной меры и повторяют измерение, а за срединный размер принимают среднее арифметическое из результатов измерения. [c.83]

Разность порядков определяется так называемым способом совпадения дробных частей , основанным на том, что дробные части расположенных вблизи репера интерференционных полос, измеренные для нескольких длин волн, находятся между собой в определенной зависимости, что и позволяет безошибочно определять порядок полос. Точность определения длин концевых мер на интерференц-компараторе составляет 0,06- 0,03) . [c.703]

Рассмотрим теперь измерения разности хода при использовании узких спектральных интервалов, излучаемых источником света. Одним из возможных является метод совпадения дробных частей. Пусть наблюдается двухлучевая интерференция полос равной толщины и результат ее в некоторой точке поля соответствует разности хода Д. Если X — длина волны используемого излучения, то порядок интерференции в рассматриваемой точке поля равен к — ДД. Представим к в виде й е, обозначив через й целую часть порядка, а через е — дробную часть, заключенную в пределах от О до 1. Следовательно, данная точка поля расположена между интерференционными порядками к и 1. Число к обычно не известно, но дробная часть е может быть измерена как некоторая доля ширины интерференционной полосы. [c.181]

Определим сначала экспериментально дробную часть е порядка интерференции. Для этого измерим диаметр О некоторого интерференционного кольца с номером р, ведя счет колец, от центра интерференционной картины и полагая для центрального кольца 1. Из предыдущего следует, что порядок интерференции колец с увеличением диаметра кольца убывает.. Поэтому для кольца с номером р он будет ко — р—1) — е. Из-за малости углов падения условие максимума для кольца с номером р может быть записано в виде [c.213]

Прежде всего покажем, что используя интерференционные картины, описываемые уравнениями (3.8.13) и (3.8.14), можно определить толщину образца t. Пусть для длины волны If порядок интерференции с учетом дробной части в формуле [c.223]

Порядок интерференции к в общем случае является дробным числом. Чтобы рассчитать длину эталона /г, следует знать целый порядок интерференции в центре картины 0 и его дробную часть 8. Определим сначала дробную часть 8 порядка интерференции. Для этого измерим диаметр О некоторого интерференционного кольца с номером ведя счет колец от центра интерференционной картины и полагая для центрального кольца /9 = 0. Порядок интерференции колец с увеличением их диаметра убывает, поэтому для кольца с номером р он будет равен к — р — 1) — 8. Из-за малости углов падения ф разность хода для лучей, образовавших кольцо с номером р, будет [c.186]

Этот метод заключается в следующем. Используя описанный выше метод, определяют дробные части порядков интерференции для центра интерференционной картины в нескольких длинах волн [c.186]

Иначе говоря, мы будем иметь как бы неподвижный индекс (интерференционную картину в нижней части) и подвижную картину, которая может перемещаться относительно неподвижной. Это позволяет проводить весьма точные измерения неизвестной разности фаз, вносимой исследуемым объектом. Измеряется целая и дробная части порядка интерференции. Метод измерения дробной части описан в 24. [c.247]

И исходную и меры притирают к стеклянной пластине так, чтобы они соприкасались вдоль длинных граней. Пластину устанавливают на стол интерферометра. При наклоне стола в поле зрения окуляра возникают три картины полос (рис. 100, а) на каждой из мер и на пластине. Измерения проводят в белом свете, если разность длин мер не превышает 1,5 мкм. Отклонение длины поверяемой меры от длины исходной меры равно полудлине световой волны, умноженной на смещение полос одного номера на мерах. Значение отклонения определяют так же, как при техническом интерференционном методе. Если разность длин исходной и поверяемой мер превышает 1,5 мкм, то измерения выполняют в монохроматическом свете с различными длинами волн и отклонение определяют методом совпадения дробных частей полос. Длину мер предварительно измеряют с погрешностью 0,001 мм. [c.138]

Методы измерения концевых мер. Абсолютный интерференционный метод осуществляется компаратором Кестерса (фиг. 12). В нем пучок параллельных лучей определенной длины волны (одного цвета) разделяется наклонной пластиной 1 на два пучка. Один пучок отражается частично от стеклянной пластины 2, частично от проверяемой плитки 3, другой — от зеркала 4. После нескольких отражений пучки вновь соединяются и интерферируют. между собой. Интерференционная картина рассматривается непосредственно глазом через щель 5 поверхности стола и плитки кажутся пересеченными каждая системой полос б, сдвинутых одна относительно другой. Величина сдвига выражает дробную долю общего числа длин полуволн света, заключающихся в длине плитки. Такое же измерение производится и для двух-трех других линий спектра (других длин волн). Если заранее приближенно определить измеряемый размер, то по дробным [c.669]

Пользуясь интерферометром Майкельсона, Перар, наблюдая кривые видимости, обнаружил зависимость эффективной длины волны не только от расположения отдельных составляющих в линии, но и от того, при какой разности хода получается интерференционная картина. По диаметрам колец равного наклона при каждой разности хода была вычислена дробная часть порядка интер- [c.41]

При измерении длин волн с помопхью многолучевого интерферометра (эталона Фабри и Перо) дробные части порядка интерференции определяют по диаметрам интерференционных колец. Вначале для этого фотографируют интерференционную картину при всех измеряемых длинах волн и затем на негативах, пользуясь [c.53]

В настоящее время фотографическая регистрация интерференционной картины все более заменяется фотоэлектрической. Регистрация дробной части порядка интерференции определяется уже проще, так как достаточно при записях контура линий на регистрограммах отметить положение, соответствующее атмосферному давлению в камере эталона. На рис. 28 для примера приведена такая регистро-грамма с отметкой для зеленой линии d , в подписи к рисунку показано, как вычисляется дробная часть. [c.54]

Обработка фотографий, полученных при помош,и эталона Фабри — Перо, — дело довольно утомительное. Если фотографий много, то лучше всего воспользоваться счетной машиной. Длину волны определяют, измеряя диаметры колец в интерферограм-ме. По этим данным можно вычислить е — дробную часть номера порядка при угле 0 = О (т. е. в месте, соответствуюш,ем центру интерференционной картины). Величину г обычно находят с точностью 10 . Целую часть номера порядка определяют по данным менее точных измерений неизвестной длины волны. Это можно сделать при помош,и либо дифракционной решетки, либо эталона Фабри — Перо с меньшим расстоянием между зеркалами. Целую часть номера порядка р добавляют к измеренной дробной части, получая правильный номер порядка /7 + 8 с точностью (величина р 10 известна с ну- [c.356]

Модуль функции (S) I легко вычислить по формуле (31.10), измерив предварительно видность полос V и 1нтенсивности и /j накладывающихся пучков в точке наблюдения. Значительно труднее измерить добавочную фазу б, входящую в формулу (31.9). Особенно трудно это сделать, когда источниками света являются узкие спектральные линии. Для этого надо сравнить в одном и том же месте интерференционной картины номера интерференционных полос от рассматриваемого источника света с номерами полос от источника с частотой щ. Для номера максимума N-н интерференционной полосы от первого источника можно написать Ш )0 + б = 2яЛ/. В том же месте второй источник, -вообще говоря, не даст максимума. Этому месту будет соответствовать уже дробное число интерференционных полос, определяемое условием со 9 = 2nNo- Отсюда 6 = = 2л (N — No). Таким путем в принципе можно экспериментально определить е только модуль, но и аргумент комплексной степени когерентности Vizi ) Вместе с тем можно определить и корреляционную функцию fi2(0). [c.225]

Интерферометр Жамена предназначен для измерения небольших изменений показателей преломления. Поэтому его называют также интерференционным рефрактометром. Для унижения принципа действия такого рефрактометра вообразим, что на п>ти одного из интерферирующих лучей АВ или СО (рис. 137) помещен плоскопараллельный слой какого-либо вещества толщины I с показателем преломления п . Тогда разность хода между интерферирующими лучами изменится на величину (п — /г ) /, где — показатель преломления окружающего воздуха. В результате интерференционная картина сместится на т полос, причем т гц — Пх) И%, Число т (вообще говоря, дробное) можно найти, наблюдая интерференционные полосы в белом свете до и после внесения исследуемого вещества. Опыт показывает, что смещение на 1/10 полосы (яг == = 1/10) наблюдается вполне уверенно и без труда. [c.237]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...