Рентгенографическое определение размеров

Рентгенографическое определение размеров кристаллитов 140 Рентгенодефектоскопия визуальный метод 195 [c.1198]

Рентгенографический метод, в частности, микроанализ с помощью электронного зонда пригоден для исследования продуктов, образующих пленку на металлах определения размеров и ориентации кристаллов, а также измерения параметров кристаллической решетки. [c.436]

В монографии изложены основные направления и методы исследования свойств металлических порошков дисперсионный анализ, включающий анализ порошков по фракциям, измерение удельной поверхности, определение размеров, форм, микроморфологии и микроструктуры отдельных частиц испытание физических и физико-механических свойств, определяющих плотностные, реологические и электромагнитные характеристики порошков рентгенографические методы исследования структурных несовершенств и инструментальные физические методы локального и общего химического анализа способы анализа фаз и, наконец, оценка условий безопасной работы с порошками. [c.111]

Очень важно уметь распознавать такие напряжения, которые проявляют себя как внутренние напряжения или напряжения от нагрузки. Их воздействие в детали выражается в изменениях размеров, порядок величины которых сказывается на размерах параметров кристаллической решетки кристалла. Для охвата и распознавания таких малых изменений предоставляет свои возможности рентгенографическое определение, в особенности по методу обратной съемки, благодаря чему могут быть определены напряжения сжатия (—) или напряжения растяжения (+). Особым преимуществом при этом является то, что измерение может быть предпринято без отбора проб непосредственно на детали конструкции. [c.267]

Более трудоемким способом определения размеров частиц является рентгенографический анализ, в частности, по уширению дифракционных линий для частиц размером 3—50 нм [51]. [c.70]

Рентгенографический метод пригоден для исследования продуктов, образующих пленку на металлах для определения размеров и ориентации кристаллов, а также измерения параметров кристаллической решетки. [c.369]

Методы технического контроля. Для каждого участка производства, для каждого объекта технического контроля характерны свои методы контроля (табл. 10). Например, при определении качества основных и вспомогательных материалов их подвергают ряду испытаний — химическим, механическим, металлографическим, проверке геометрических размеров (а иногда проводят специальные оптические, рентгенографические и другие анализы). [c.308]

Для определения сжимаемости жидкостей и твёрдых, тел при р —10 —101 н/м применяются П. плунжерного или поршневого типа [см. рис. 1 (а) в ст. Давление высокое]. В процессе сжатия опреде,ляются V (по смещению поршней) и р. Передающей давление средой часто служит само исследуемое вещество. Пря р 10 — Ю Ы/м сжимаемость определяют также др, методами, напр. рентгенографическими (с.м. Рентгенография материалов). Изменение линейных размеров тел под гидростатич. давлением измеряют линейными П. (т. н. дилатометрами). [c.186]

Каждый рентгенографический метод начинается с определения по снимку углов отражения я ) или отклонения 2 . Метод обратной съемки особенно пригоден для определения незначительных изменений размеров кристаллической решетки, которые проявляются в измеримых изменениях угла отражения . Чтобы определить угол отражения, следует продифференцировать уравнение (1), при этом длину волны следует рассматривать как величину постоянную [c.152]

Пикнометрическая (истинная) плотность металлических порошков зависит от их внутренней пористости, дефектности кристаллической решетки, содержания окислов и т. п. и отличается от плотности, вычисленной на основе рентгенографических данных при определении параметров кристаллической решетки материала порошка. При определении пикнометрической плотности пробу-порошка помещают в тщательно высушенный и взвешенный пикнометр, представляющий собой мерный сосуд с известным объемом (10, 25, 50 мл). Пикнометр заполняют порошком на две трети объема и взвешивают, после чего оставшийся свободный объем заполняют пикнометрической жидкостью (бензиловый спирт, керосин), которая должна хорошо смачивать порошок и одновременно быть химически инертной к нему, обладать стабильной плотностью и минимальными значениями упругости паров, вязкости, поверхностного натяжения и размера молекул. [c.166]

Механический и рентгенографический методы. Эти методы применяют для изучения состояния поверхностного слоя, лежащего под обработанной поверхностью. Механический метод, разработанный Н. Н. Давиденковым, применяют для определения напряжений первого рода, уравновешивающихся в области тела, превосходящей по размерам размеры кристаллического зерна. Метод заключается в том, что с поверхности образца, вырезанного из обработанной детали, последовательно удаляют весьма тонкие слои материала и при помощи тензометрических датчиков измеряют деформацию образца. Изменение размеров образца приводит к тому, что под действием остаточных напряжений он становится неуравновешенным и деформируется. По измеренным деформациям можно судить о величине й знаке остаточных напряжений. [c.91]

Для определения вида и размера возможного дефекта была проведена толщинометрия стенок ТП по нитке№9, ультразвуковой и рентгенографический контроль. Измерения толщины стенок рис.5 проводились на открытых участках ТП, доступных для контроля и расположенных в "8-12-4 ч". Изоляционное покрытие удалялось и поверхность ТП зачищалась до металлического блеска. Для измерений использовался серийный толщиномер УТ-93 П с разрешающей способностью [c.144]

Рентгенографически определенный параметр решетки (а = = 5,6398 0,0001 А) частиц Na l диаметром 500 А оказался в точности таким же, как и у массивного кристалла (а = 5,6399 + 0,0001 А) [546]. После принятия соответствующих мер для уменьшения ошибок электронографических измерений Раймер [547] нашел нормальный параметр решетки у частиц Na l, KGI, Gsl размером [c.193]

Если считать, что радиационный рост поликристаллов обусловлен анизотропным изменением размеров составляющих его кристаллов, то коэффициенты роста моно- и поликристаллов могут быть связаны соотношением вида Опол = Я мон. где g — индекс роста — текстурный параметр, характеризующий еклонность к радиационному росту поликристаллических образцов. Существуют различные способы определения индекса роста рентгенографический [39], дилатометрический [40] и метод Gap (41]. Несмотря на различие в методе расчета, принципиальной разницы в индексах роста, определенных различными способами, нет. Все они основаны на предположении, что вклад индивидуальных кристаллов в деформацию радиационного роста поликристалла определяется их ориентировкой в направлении роста поликристалла относительно главных [c.209]

При рентгенографическом исследовании строения ш-фазы установлено, что элементарные ячейки р и щ-фаз, выбранные определенным образом, совпадают по размерам и имеют одинаковое количество атомов [2] да-фаза образуется в участках, обедненных легирующими элементами и имеющих увеличенные параметры, поэтому ш-фаза по определению не может иметь меньщий удельный объем, чем исходный р-твердый раствор. [c.70]

Рентгенографический метод определения плотности обладает рядом преимуществ не требует специальных приборов, устройств и приспособлений для определения массы и размеров образца, не зависит от других физических свойств вещества (достаточно микронавески порошкового образца массой не более 1 г). [c.184]

С целью установления размеров, цвета и формы кристаллов кубического нитрида бора контрольные пробы продукта проверяются с помощью бинокулярной лупы или микроскопа. Определение микротвердости и микрохрупкости проводят на приборе ПМТ-3. Контроль структуры кубического нитрида бора определенной зернистости ведется рентгенографически. Абразивная способность для М14—М5 определяется на приборе ГОИ. [c.166]

Рентгенографический метод относится к радиационным методам контроля — наиболее распространенным методам дефектоскопии. Широкое применение радиационных методов во всех отраслях народного хозяйства объясняется их высокой чувствительностью, возможностью получения объективной информации, возможностью определения не только размеров дефектов, а также характера и глубины их залегания. Радиационные методы контроля основаны на воздействии рентгеновских или гамма-лучей, прошедших через контролируемое изделие, на фотопленку. Степень почернения пленки зависит от интенсивности падаюшего на нее излучения. По контрастности различных участков пленки можно обнаружить дефект в изделии. [c.93]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...