Рентгенографическое определение размеров кристаллитов

Рентгенографический метод, в частности, микроанализ с помощью электронного зонда пригоден для исследования продуктов, образующих пленку на металлах определения размеров и ориентации кристаллов, а также измерения параметров кристаллической решетки. [c.436]

Очень важно уметь распознавать такие напряжения, которые проявляют себя как внутренние напряжения или напряжения от нагрузки. Их воздействие в детали выражается в изменениях размеров, порядок величины которых сказывается на размерах параметров кристаллической решетки кристалла. Для охвата и распознавания таких малых изменений предоставляет свои возможности рентгенографическое определение, в особенности по методу обратной съемки, благодаря чему могут быть определены напряжения сжатия (—) или напряжения растяжения (+). Особым преимуществом при этом является то, что измерение может быть предпринято без отбора проб непосредственно на детали конструкции. [c.267]

Рентгенографический метод пригоден для исследования продуктов, образующих пленку на металлах для определения размеров и ориентации кристаллов, а также измерения параметров кристаллической решетки. [c.369]

Рентгенографически определенный параметр решетки (а = = 5,6398 0,0001 А) частиц Na l диаметром 500 А оказался в точности таким же, как и у массивного кристалла (а = 5,6399 + 0,0001 А) [546]. После принятия соответствующих мер для уменьшения ошибок электронографических измерений Раймер [547] нашел нормальный параметр решетки у частиц Na l, KGI, Gsl размером [c.193]

Если считать, что радиационный рост поликристаллов обусловлен анизотропным изменением размеров составляющих его кристаллов, то коэффициенты роста моно- и поликристаллов могут быть связаны соотношением вида Опол = Я мон. где g — индекс роста — текстурный параметр, характеризующий еклонность к радиационному росту поликристаллических образцов. Существуют различные способы определения индекса роста рентгенографический [39], дилатометрический [40] и метод Gap (41]. Несмотря на различие в методе расчета, принципиальной разницы в индексах роста, определенных различными способами, нет. Все они основаны на предположении, что вклад индивидуальных кристаллов в деформацию радиационного роста поликристалла определяется их ориентировкой в направлении роста поликристалла относительно главных [c.209]

С целью установления размеров, цвета и формы кристаллов кубического нитрида бора контрольные пробы продукта проверяются с помощью бинокулярной лупы или микроскопа. Определение микротвердости и микрохрупкости проводят на приборе ПМТ-3. Контроль структуры кубического нитрида бора определенной зернистости ведется рентгенографически. Абразивная способность для М14—М5 определяется на приборе ГОИ. [c.166]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...