Толщиномеры Структурная схема

На рис. 23 представлена структурная схема толщиномера СТ-ПЛ. [c.223]

На рис. 21 представлена структурная схема рентгеновских толщиномеров. [c.391]

Рис. 24. Структурная Схема индукционного толщиномера

Вихретоковые приборы, построенные по структурной схеме, приведенной на рис. 72, могут быть использованы как толщиномеры, структуроскопы, дефектоскопы, измерители зазоров, перемещений и т. д. Назначение прибора определяется прежде всего типом ВТП, параметрами некоторых блоков и программами. [c.138]

Толщиномеры диэлектрических покрытий на электропроводящих основаниях. Один из основных параметров толщиномера — погрешность измерения, возникающая, как правило, вследствие влияния мешающих факторов, связанных с измерением параметров объекта. В толщиномерах обычно используют только накладные ВТП, позволяющие оценивать локальную толщину объекта. Структурные схемы толщиномеров определяются способом выделения информации и отличаются от схем дефектоскопов, как правило, отсутствием блоков, применяемых при модуляционном способе. [c.148]

К диэлектрическим покрытиям на электропроводящем основании относятся различные оксидные, фосфатные, лакокрасочные, керамические, эмалевые, пластмассовые и другие покрытия на ферро- и неферромагнитных металлах и сплавах. Толщиномеры диэлектрических покрытий на электропроводящих основаниях представляют собой измерители зазора. Выбрав достаточно большое значение обобщенного параметра контроля, можно получить хорошую чувствительность к зазору при малой погрешности, вызванной влиянием изменений о и толщины основания. Благодаря этому удается создать толщиномеры без применения специальных схем, предназначенных для ослабления влияния мешающих факторов на показания приборов. К ним относятся ранее выпускавшиеся приборы серии ТПН и ТПК. Структурная схема этих приборов приведена на рис. 69. В них применялись параметрические накладные ВТП, включаемые в цепь параллельного резонансного контура. [c.148]

Кроме приборов, приведенных в табл. 12, в промышленности используется большая группа толщиномеров отраслевого назначения, структурные схемы и характеристики которых мало отличаются от схем и характеристик рассмотренных выше приборов. [c.149]

Рис. 84. Структурная схема импульсного эхо-толщиномера

Структурная схема этих, приборов подобна схеме резонансного толщиномера и отличается от нее наличием дополнительного устройства для оценки добротности нагруженного пьезопреобразователя. Собственная частота преобразователя лежит в диапазоне генератора изменяющейся частоты. Прибор имеет два режима работы и соответственно два индикатора. [c.308]

Рис, 8.3. Структурная схема импульсного контактного толщиномера [c.406]

Аппаратура для толщинометрии. На рис. 8.3 показана структурная схема импульсного контактного толщиномера, измеряющего время прихода первого донного сигнала. По этой схеме (с различными вариациями) работают толщиномеры группы Б, толщиномеры группы А с особо широкополосными преобразователями н автоматические импульсные толщиномеры группы в. [c.406]

В отечественной промышленности наиболее широкое применение нашли толщиномеры гальванопокрытий тппа ЭМТ-2, КТП-1А и ППМ. Приборы ЭМТ-2 и КТП-1А построены но структурной схеме, показанной на рис. 47. К приборам прилагаются контрольные образцы п альбом градуировочных графиков. Характеристики приборов приведены в табл. 12. [c.145]

Структурная схема приборов отличается от схемы, показанной на рис. 45, б, наличием цепи обратной связи с выхода фазового детектора на фазорегулятор. Эта цепь используется для уменьшения погрешности, связанной с изменением угла между линиями влияния зазора и толщины (на комплексной плоскости напряжений) при отклонении толщины от номинального значения. Погрешность толщиномера не превышает допустимой лишь прп постоянном значении а объекта. [c.147]

Типы 2 кн. 144—146, 147—148 Толщиномеры импульсные — Принцип действия 2 кн. 237 — Структурная схема [c.324]

Рис. 11. Структурная схема толщиномера прямого измерения

Рис. 12. Структурная схема толщиномера, работающего по методу сравнения двух потоков излучения

Структурная схема импульсного толщиномера (рис. 3.30) включает ряд узлов, назначение и принцип действия которых аналогичны используемым в дефектоскопе (см. п. 2.1.1), а именно генератор зондирующих импульсов 10, преобразователь 9, приемник-усилитель 1. Отметим их некоторые особенности. Ге- [c.240]

Рис. 3.30. Структурная схема импульсного толщиномера

Отметим некоторые дополнительные устройства, не показанные на структурной схеме. Приборы группы А, измеряющие многократное прохождение импульса в ОК, имеют блок селекции, который выбирает начальный импульс (обычно второй донный сигнал) и от него начинает измерение времени. Эти толщиномеры имеют блок счета заданного количества донных сигналов п, что учитывают при преобразовании времени в толщину. Такой прибор иногда снабжают ЭЛТ для выбора оптимального интервала донных сигналов. [c.241]

Иа рисунке 1.5 приведена структурная схема индукционного толщиномера МТ-20И. [c.11]

Структурная схема толщиномеров фирмы Daystrom Согр . приведена на рис. 23. На пути рабочего пучка рентгеновских лучей находится измеряемая полоса 13 и набор эталонных образцов, состоящий из отдельных пластин 12 с дискретностью до 0,01 мм. Суммарная толщина полосы и эталонных образцов равна наибольшей толщине выбранного поддиапазона изме- [c.394]

Схема сравнения с одним источником излучения и двумя приемниками применяется в толщиномерах фирм Еха-tesb Тосиба и G. Е. С. Структурная схема толщиномера горячего проката фирмы Exatest типа GSK приведена на рис. 25, Изучение рентгеновской [c.395]

Рис. 24. Структурная схема радиоизотоп-ного толщиномера типа IrS 40/70 фирмы ExatesI

По идентичным структурным схемам построены толщиномеры фирмы Тосиба и G. Е. С. Измеряемый материал находится в рабочем потоке излучения, а клин задания — в другом потоке. Сигналы, полученные на приемниках излучения, прошедшего через исследуемый объект и клин задания, сравниваются усилителем, на выходе которого включен прибор, показывающий отклонение сравниваемых между собой толщин. При новом задании номинала толщины клин автоматически устанавливается с помощью двигателя таким образом, чтобы его толщи- [c.395]

Рис. 25. Структурная схема рентгеновского толщиномера типа СЬК фирмы Exat sU

Отметим некоторые дополнительные устройства, не показанные на структурной схеме. Приборы группы А, измеряющие многократное прохождение импульса в изделии, снабжены блоком селекции, подобным блоку 3, который обеспечивает выбор начаиь-ного импульса. От выбранного донного сигнала (обычно второго) начинают измерение времени. Эти толщиномеры имеют также блок счета заданного числа п донных сигналов, а в их индикатор входит система деления измеренного времени на п. Такой прибор иногда снабжают ЭЛТ для выбора оптимального интервала измерения. [c.407]

Рис. 5. Структурная схема компен-сациоыиого варианта радиоактивного толщиномера

Структурная схема толщиномера ВИГП-1Ф отличается от схемы, показанной на рис. 48, тем, что напряжение с автогенератора поступает на параллельный контур, а затем детектируется. Прп изменении толщины покрытий изменяется амплитуда и частота колебаний автогенератора, что приводит к изменению напряжения на контуре и отклонению стрелки индикатора. Выбирая режпм работы генератора, удается линеаризовать шкалу в некоторых пределах. В комплект прибора входят аттестованные образцы покрытий, градуировочные графики. [c.145]

Структурная схема толщиномера УФТ, предназначенного для измерения толщины деталей из алюлшниевых сплавов, аналогична схеме фазометра (на [c.147]

Существуют одно-, двух- и трехпараметровые толщиномеры. Подавляемые факторы вариации зазора, ст или Лг. Однопараметровые приборы практически не применяют из-за больших погрешностей, вызываемых влиянием вариаций зазора (даже при плотном прижатии ВТП). Из двухпараметровых приборов наиболее широко известны толщиномеры, для контроля толщины стенок труб и баллонов из неферромагнитных материалов с малой удельной электрической проводимостью. Структурная схема приборов отличается от схемы, показанной на рис. 67, б, наличием цепи обратной связи с выхода фазового детектора на фазорегулятор. Эта цепь используется для уменьщения погрешности, связанной с изменением угла между линиями влияния зазора и толщины (на комплексной плоскости напряжений) при отклонении толщины от нормального значения. Погрешность толщиномера не превышает допустимой лишь при постоянном значении а объекта. Вариации зазора в пределах 0,1 мм не создают погрешности больше допустимой. Существует несколько модификаций таких приборов, различающихся диапазонами диаметров и толщиной стенок труб. Приведем два примера. [c.415]

Остальные блоки структурной схемы специфичны для толщиномера. Автоматическая регулировка усиления 2 обеспечивает постоянную амплитуду принятого донного сигнала, что важно для повышения точности измерения. Блок 6 — помехозащита простейший способ помехозащиты — стробирование, т. е. включение приемника только на время измерительного цикла. Измерительный триггер 3 запускают начальным импульсом и выключают донным сигналом. В результате формируется импульс, длительность которого пропорциональна измеряемому интервалу времени. Блок 4— преобразователь сигнала триггера в удобную для измерения времени форму, например в напряжение. Аналого-цифровой преобразователь 5 трансформирует этот сигнал в цифровой код и подает его на цифровой индикатор 7 и сигнализатор 8, срабатывающий при выходе толщины за пределы допуска. [c.241]

Для измерения толщины сте1слопластика на неметаллической основе при одностороннем доступе используются резонансные СВЧ-колебания, возникающие в незамкнутом резонаторе, ограниченном с одной стороны диафрагмой полуоткрытого объемного резонатора, а с другой - границей раздела стеклопластик - неметаллическая оправка или слой теплозащитного покрытия. Структурная схема резонансного СВЧ-толщиномера приведена на рис. 1.19. [c.30]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...