Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Соотношение интенсивностей в компонентах тонкой структуры

Соотношение интенсивностей в компонентах тонкой структуры  [c.318]

Соотношение интенсивностей в компонентах тонкой структуры определяется формулой Ландау — Плачека [140]. Отношение интегральной интенсивности центральной компоненты и интегральной интенсивности обеих компонент Мандельштама — Бриллюэна есть отношение интенсивности света, рассеянного на изобарических флуктуациях плотности, к интенсивности света, рассеянного на адиабатических флуктуациях плотности.  [c.318]


В табл. 23 приведены известные нам измерения соотношения интенсивности в компонентах тонкой структуры.  [c.320]

В 6 в кратком замечании было отмечено, что наиболее рациональная точка зрения на природу крыла линии Релея, по нашему мнению, была высказана Ландау и Плачеком [140] в их работе, посвященной в основном вопросу о соотношении интенсивности в компонентах тонкой структуры.  [c.352]

И. Л. Фабелинский, О соотношении интенсивности в компонентах тонкой структуры линии Релея, ДАН СССР 106, 822 (1956).  [c.482]

Гораздо сильнее может сказаться на соотношении интенсивностей плохая очистка жидкости. Стерин [241, 444] провел специальное исследование, сравнивая компоненты тонкой структуры в хорошо очищенном бензоле, в смеси бензола и толуола и в плохо очищенном бензоле (рис. 41).  [c.202]

Как было показано выше, флуктуации А з замерзать не могут, в то время как флуктуации А , по мнению Волькенштейна, непременно замерзают, поскольку переход к стеклу означает прекращение структурных изменений. Флуктуации А5 приведут к рассеянию несмещенной частоты и, следовательно, увеличат интенсивность центральной компоненты. Волькенштейн [496, 497] рассчитал соотношение интенсивности компонент тонкой структуры линии Релея с учетом А5 , но расчет этот не может быть пока доведен до численных результатов, поскольку в него входят такие величины, как — структурная теплоемкость жидкости, и другие величины, которые пока не поддаются измерению или расчету. Однако качественно эта гипотеза позволяет объяснить увеличенную интенсивность в стеклах вообще и интенсивность центральной линии в особенности.  [c.335]

Однако внешние слои продуктов коррозии ие могут рассматриваться как инертная фаза, не оказывающая влияния на коррозионный процесс. Имеются все основания предполагать, что повышенная абсорбционная способность по отношению к влаге и агрессивным примесям в воздухе [2,71] может приводить к интенсивному течению коррозионных процессов даже в тех условиях, где чистая поверхность металла сохраняет пассивное состояние. Действительно, если проследить за соотношением скоростей коррозии металлов в открытой атмосфере и в жалюзийных помещениях, т. е. в тех условиях в которых образуются разные по структуре продукты коррозии, то оказывается, что скорость коррозии в закрытом помещении через определенное время становится больше, чем в открытой атмосфере (например, в случае железа, алюминия и его сплавов [125] и др. Последнее связано с тем, что в помещении растворимые компоненты продуктов коррозии сохраняются на поверхности металла, в то время как в открытой атмосфере они периодически смываются. Таким образом, проявляется двойственная роль продуктов атмосферной коррозии.  [c.181]


Если выделить одно из изображений, то поверхность второй решетки будет видна покрытой интерференционными полосами. Структура и число наблюдаемых полос зависят от номера выбранной группы, от взаимного наклона решеток относительно друг друга и от соотношения постоянных решеток. Если решетки параллельны друг другу, а постоянные й равны, то вторая решетка будем равномерно освещена. Интенсивность освещения зависит от амплитуды и фазы результирующей волны, распространяющейся в направлении к-Ъ. группы, которые в свою очередь зависят от амплитуд и фаз составляющих ее компонентов.  [c.144]

Дальнейшие измерения соотношения интенсивностей в компонентах тонкой структуры линии Релея сделаны Рэнком и др. [243]. Работа выполнена на интерферометре Фабри — Перо. Для увеличения светосилы и повышения разрешающей силы установки Рэнк и его сотрудники при исследовании тонкой структуры применили [эталон толщиной 10,5 жж. При этом длинноволновая компонента тонкой структуры одного порядка интерференции совпадала с коротковолновой компонентой другого порядка. Наложение удваивает интенсивность и разрешающую силу. Однако точного совпадения порядов можно добиться только для одной жидкости при заданном расстоянии между пластинками интерферометра. Для других жидкостей, как на это указывают сами авторы, будет лишь частичное наложение. Работа автора [145] производилась на  [c.320]

Соотношений, вытекающих из С. п., в большинстве случаев недостаточно для онределеиия относит, интенсивностей компонент тонкой структуры. В 1Т0М случае пользуются приближенными С. п., полученными на основе конкретной модели атома. С . п. также справедливо для компонент сверхтонкого расщепления (см. также Сила осциллятора).  [c.102]

Специалисты в области трения и изнашивания много внимания уделяют исследованию характера микроскопического разрушения в поверхностном слое, который качественно отличается от характера объемного разрушения. Это отличие обусловлено в основном тем, что граница раздела поверхностного слоя с окружающей средой является сильнейшим источником воздействия на глубинные слои. Иллюстрацией фундаментального характера такого воздействия служат поверхностные эффекты П. А. Ребиндера, А. Ф. Иоффе, Роско и Крамера [12], связанные с физической адсорбцией или хемосорбцией активных компонентов среды на поверхности твердого тела (рис. 2.1). Поверхность качественно меняет картину распределения дислокаций в приповерхностном объеме твердого тела. Попытка связать изменения в распределении дислокаций с характером разрушения при изнашивании была сделана в работах Су [208, 209] он получил количественные соотношения для интенсивности изнашивания, выраженные через такие параметры дислокационной структуры, как плотность дислокаций и их вектор Бюргерса. Несмотря на то, что гипотеза отслаивания, сформулированная Су, подвергается вполне обоснованной критике из-за наличия спорных и неясных моментов, она дала новый импульс исследованиям дислокационной структуры разрушаемого поверхностного слоя, фрагментации этого слоя и образования частиц изнашивания [42, 89, 198]. Кроме того, эта гипотеза представляет собой один из возможных физических механизмов усталостного изнашивания, теория которого была сформулирована первоначально  [c.31]


Смотреть страницы где упоминается термин Соотношение интенсивностей в компонентах тонкой структуры : [c.201]    [c.281]    [c.218]    [c.66]    [c.40]   
Смотреть главы в:

Молекулярное рассеяние света  -> Соотношение интенсивностей в компонентах тонкой структуры



ПОИСК



Соотношение компонентов

Структура тонкая

Тонкая структура соотношение интенсивностей



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте