Дифракция на регулярных структурах

ГЛАВА 9 Дифракция на регулярных структурах [c.149]

Говоря об ионах, прежде всего следует иметь в виду, что они не занимают в пространстве случайные положения, а образуют регулярную периодическую структуру, называемую решеткой . В первую очередь на это указывает кристаллическая макроскопическая форма многих твердых тел (включая металлы). Экспериментально наличие такой структуры впервые было непосредственно подтверждено экспериментами по дифракции рентгеновских лучей (см. гл. 6), а впоследствии вновь неоднократно подтверждалось опытами по дифракции нейтронов, электронно-микроскопическими исследованиями и многими другими непосредственными измерениями. [c.74]

Многие биологические образцы содержат представляющие интерес компоненты с регулярной структурой, например системы белковых клеточных комплексов в вирусах. Однако зачастую в электронных микрофотографиях детали просматриваются недостаточно четко, например, из-за наличия в образцах материала с неупорядоченной структурой. Процедуру, разработанную Клюгом и его сотрудниками, можно описать, ссьшаясь на рис. 5.13. Электронная микрофотография располагается в объектной плоскости, а ее картина в плоскости оптической дифракции фотографируется. Регулярную дифракционную картину создают только те компоненты объекта, которые имеют регулярную структуру. Другие дифракционные эффекты, вызванные наличием неупорядоченного материала, можно распознать и исключить с помощью соответствующей маски. Если электронная микрофотография по-прежнему находится в объектной плоскости, а в плоскости дифракции размещается фильтрующая маска, позволяющая использовать для обработки лишь выбранные дифрагированные лучи, то получается изображение, на котором гораздо яснее вьщеляется картина периодической компоненты объекта. [c.110]

При укладке полярных молекул в регулярную кристаллическую структуру возможно два варианта — параллельное и анти-параллельное расположение цепей. Здесь нас будет интересовать вопрос о расстроенной структуре такого типа. Если представить себе разупорядоченный агрегат полярных цепных молекул, то при его растяжении, способствующем образованию текстуры, молекулы, выстраиваясь параллельно оси растяжения, могут с равной вероятностью принять обе ориентации, т. е. возникает антипарал-лельное их расположение. В случае тенденции к закономерной укладке антипараллельных молекул в пары при дифракции на таких парах возникнут строгие фазовые соотношения, и для расчета интенсивности две таких молекулы можно рассматривать как одну ( пучок из двух молекул), найти такого пучка и далее анализировать дифракционные свойства агрегата с помощью функции распределения. [c.290]

Исследования особснностс11 дифракции на периодических (регулярных) структурах привели к открытию нового способа разложения света на спектральные компоненты. Наряду с пpизмeнны п диспергирующими устройствами появились, в первую очередь благодаря теоретическим и практическим работам Фраунгофера, приборы с дифракционными решетками. Они позволили резко улучшить спектральное разрешение и начать систематическое изучение сплошных и линейчатых спектров. [c.23]

Дифракция ЖР-иалучения на совершенном кристалле благодаря регулярному расположению атомов крис-таллич. структуры носит динаынч. характер (динамич. дифракция см. Дифракция рентгеновских лг/ней). Это означает, что многократное рассеяние излучения на кристаллич. плоскостях сохраняет свои когерентные свойства, в результате чего амплитуда дифраги-ров. Волн становится сравнимой с амплитудой проходящей волны. Интерференция дифрагированных и проходящей волн приводит к образованию результирующего волнового поля в кристалле, к-рое может быть представлено а виде суперпозиции волн, получивших назв.. блоховских. Эфф. длина блоховской волны в кристалле принимает значение от единиц до десятков мкм, что существенно снижает требования к изготовлению ревтгенооптич. влементов. [c.348]

На данных измерений периода решетки практически не сказывается зонная стадия распада, и образование зон Г.—П. можно заметить лишь по эффектам диффузного рассеяния в ближайших окрестностях узлов обратной решетки матричного твердого раствора. Если неоднородности структуры, обусловленные образованием зон, носят регулярный характер (модуляции рассеивающей способности или модуляции межплоскостных расстояний), то диффузное рассеяние концентрируется, образуя сателлиты возле основных рефлексов, и легко выявляется даже при съемке рентгеновской картины поликристаллов [47, 48]. В остальных случаях выявление зон Г.—П. возможно либо при рентгеновском анализе монокристаллов или крупнокристаллических поликристаллов (из-за малости размера ОКР в поликристаллах н наложений эффектов диффузного рассеяния), либо методом электронной дифракции в просвечивающем электронном микроскопе, где область дифракции всегда ограничена малой частью монокристалла (метод микродифракции, см. раздел 2). В некоторых сплавах зоны Г.—ГГ. имеют координацию атомов, отличную от координации атомов в матричном твердом растворе (например, зоны Гинье—Престона— Багаряцкого в сплавах А1—Mg—Si), или упорядоченную структуру (например, зоны Г.—П.П или фаза в" в сплавах А1—Си). При этом эффекты рассеяния должны наблюдаться в точках ОР, соответствующих этой структуре. По характеру распределения диффузного рассеяния можно судить о форме зон и в простейших случаях (при действии только форм-фактора) оценивать их размеры. К-состояние связывается с процессами упорядочения и выде- [c.129]

Таким образом, доказана возможность проявления эффекта квазиполного незеркального отражения с большим коэффициентом телескопичности при дифракции волн на решетках с кусочно регулярными областями свяви первичного и рассеянного полей. Отмеченные геометрические особенности структур играют определяюш,ую роль при реализации соответствующих режимов рассеяния. Дело в том, что проявление описанных выше эффектов является откликом на возбуждение колебаний, близких к собственным для решеток, если последние рассматривать как открытые электродинамические структуры, возбуждение таких колебаний возможно при определенных режимах связи первичного и рассеянного полей, а следовательно, и при определенной конфигурации связывающих объемов. Необходимостью реализации нужных режимов связи вызвано и введение диэлектрического заполнения в геометрии периодических структур. [c.193]

Терминология, применяемая при рентгеновском анализе (которая использовалась также и в случае электронов), несколько отличается от терминологии, ириия гой в обычной оптике. То, что называется дифракцией рентгеновских лучей или электронов, является на самом деле интерференцией когерентных вторичных волп, испущенных более или менее регулярно располо-жеппыми атомаЛ Ш решетки. Дифракция электронов в смысле световой оптики на относительно крупных материальных препятствиях, атомная структура которых ИР играет никакой роли, происходит на весьма малые углы впервые ее наблюдал Берш в 1940 г. в электронном 1 И1кроскопе ) 4]. [c.685]

Д. особенно стараются избежать в фотогр. объективах, применяемых в геодезии, фотограмметрии и аэрофотосъёмке. Для хороших фотообъективов V близка к 0,5%, В отд. случаях Д. можно устранить полностью, ДИФРАКЦИОННАЯ РЕШЁТКА, оптич, прибор, представляющий собой периодич. структуру из большого числа регулярно расположенных элементов, на к-рых происходит дифракция света (напр., параллельных и равноотстоящих штрихов, нанесённых на плоскую или вогнутую оптич, поверхность). Штрихи с определённым и постоянным для данной Д. р. профилем повторяются через одинаковый промежуток й, паз. её периодом (рис. 1). Осн. св-во Д. р.— способность раскладывать падающий на неё пучок света по длинам волн, поэтому она используется в кач-ве диспергирующего элемента в спектральных приборах. Если штрихи нанесены на плоскую поверхность, то Д. р. наз. плоской, если на вогнутую (обычно сферическую) поверхность — вогнутой. Различают отражательные и прозрачные Д. р. У отражательных Д-р. штрихи наносятся на зеркальную (обычно металлическую) поверхность, и наблюдение ведётся в отражённом свете. У прозрачных Д,р, штрихи наносятся на поверхность прозрачной (обычно стеклянной) пластинки (или вырезаются в виде узких щелей в непрозрачном экране), и наблюдение ведётся в проходящем свете, В совр. спектр, приборах применяются гл. обр. отражат. Д. р. [c.169]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...