Рентгенограмма Дебая

Фиг. 57. Схема метода Дебая о — цилиндрическая камера Дебая в плане и схема получения отражения от кристаллической плоскости РР , 6 — цилиндрическая свёрнутая рентгенограмма в — развёрнутая рентгенограмма Дебая.

Рентгенограммы порошка получают в камерах Дебая, в которых радиус г обычно делают таким, чтобы между Т в мм и В в градусах была наиболее простая связь. Так, если [c.167]

Рис. 5.17, Схемы рентгенограмм, получаемых методом порошка при использовании камеры Дебая с цилиндрической пленкой а, б, в) и камеры с плоской пленкой (г. д)

Для метода Дебая—Шерера характерна также повышенная четкость линий на рентгенограмме в области обратного отражения. [c.87]

Рентгеновский фазовый анализ исследуемых термоэлектродов проводился по рентгенограммам, снятым в цилиндрических камерах Дебая (диаметр 57,3 мм) на хромовом излучении. [c.34]

Камера РПК-2 с диаметром цилиндрической кассеты 57,3 мм предназначена для съемки рентгенограмм по Дебаю с цилиндрических образцов и шлифов. Регистрируемые углы скольжения 10—80°. [c.62]

На рентгенограммах (см. рис. 29), снятых с образцов типа шлиф в камере Дебая (РКД) с помощью аппарата УРС-50, [c.38]

Вильямсон, С м о л л м а н. Определение плотности дислокаций в некоторых отожженных и холодно-деформированных металлах по рентгенограммам Дебая — Шерера. Проблемы современной физики. Сборник переводов и обзоров иностранной периодической литературы. Л 9, ИЛ. 1957. [c.220]

Включения можно исследовать большиством рентгеноструктурных методов рентгенограмму Дебая—Шерера получают на экстрагированных осадках, метод обратной рентгеновской дифракции применяют для изолированной частицы, которая экстрагирована или находится в металической матрице. [c.62]

В случае кристаллических порошков или поликристаллических тел структурное исследование можно выполнить по методу, предложенному в 1916 г. Дебаем и Шерером, а также Хеллом. Монохроматический пучок рентгеновских лучей направляется на столбик прессованного кристаллического порошка или палочку из поликрис-таллического материала (рис. 19.7) различные кристаллики препарата имеют всевозможные ориентации, так что падающий пучок образует с атомными плоскостями самые разнообразные углы. Лучи заданной длины волны к отразятся под разными углами от различных атомных плоскостей, соответствующих различным зна-ч, ниям 6 (см. (118.1)), создавая на фотопленке, окружающей препарат, соответствующую дифракционную картину. Рис. 19.8 воспроизводит полученную рентгенограмму в центре виден след прямого пучка вправо и влево расположены следы отраженных лучей, причем каждая пара симметричных следов соответствует отражению от кристаллографических плоскостей одного определенного направления. Зная длину волны % и измеряя углы скольжения 9, мы можем [c.411]

Метод порошка (метод Дебая — Шеррера). Для исследования структуры поликристаллов используют монохроматическое излучение длины волны X. Съемку рентгенограмм производят ли-<6q на плоскую фотопленку, как в методе Лауэ (рис. 1.43), либо на пленку, расположенную на внутренней поверхности цилиндрической камеры, в центре которой установлен образец. В каче-.52 [c.52]

Полученные результаты свидетельствуют, что в целом наноструктурные состояния Си и Ni, полученные консолидацией порошков ИПД кручением, имеют ряд выраженных особенностей. На рентгенограммах, соответствующих данным состояниям, наблюдается лишь один интенсивный рентгеновский пик (111). Среди рассмотренных выше случаев наноструктура, полученная консолидацией порошка ИПД, характеризуется минимальным средним размером зерен, максимальными микроискажениями кристаллической решетки, максимальным значением параметра Дебая-Уоллера. Данное состояние приближается к нано-псевдо-аморфному состоянию, модель которого будет рассмотрена в 2.2. [c.59]

Для определения параметра Дебая-Уоллера В и атомных смещений (/U ) из равновесных положений в кристаллической решетке исходят из результатов исследований изменения интегральных интенсивностей пиков на рентгенограммах или нейтроно-граммах, полученных при различных температурах. При этом используются два основных метода [88, 137]. [c.75]

Рис. 134. Схема снятия рентгенограмм порошков по методу Дебая-Шерсра

При построении первого изотермического сечения системы, показанной на рис. 225, сначала следует снять с помощью камеры Дебая — Шеррера рентгенограммы фаз X, У, Z и U7, сверхструктуры в системе В — С и рентгенограммы твердых растворов, образованных на основе металлов А, В и С. Рентгенограмма должна быть сначала снята на отфильтрованном излучении Ка с такой длиной волны, чтобы исключалось аномальное рассеивание в области полосы поглощения. Рентгенограммы 2- или 3-фазных сплавов часто содержат так много ли- ций, что желательно вообще не иметь К -линий на рентгено- [c.358]

Значительно благоприятнее рентгенографическое исследование. Так как при рентгенографическом исследовании бокситов в основном нужно определить минералы, кристаллические структуры которых уже известны, то на практике применяют только порошковый метод Дебая—Шеррера. На рис. 12 представлена рентгенограмма французского боксита, которая снята при Со—К-излучении с фильтром и экспозицией в течение 20 ч. [c.28]

В последние годы большой интерес вызывают многокомпонентные наноструктурные пленки, обладающие уникальным комплексом физико-механических свойств. Эти объекты, как правило, состоят из смеси нескольких кристаллических фаз, внедренных в аморфную матрицу. Получение изображения с индивидуального кристаллита является важной, но довольно трудной задачей. Средний размер нанокристаллитов обычно определяют или из полуширины дифракционных линий на рентгенограмме с помощью формулы Дебая—Шеррера, либо по методу темнопольных (ТП) изображений. Однако первый метод, особенно в случае наноструктур, может приводить к значительным погрешностям вследствие эффекта уширения дифракционных максимумов и их сложной формы. Это связано с вкладом целого ряда факторов, таких как суперпозиция дифракционных линий от нескольких фаз, присутствие нанокристаллитов переменного состава с различными параметрами кристаллической решетки, наличие макро- и микронапряжений. Размер нанокристаллитов, определенный по методу ТП изображений, хорошо подтверждается прямыми наблюдениями при проведении ПЭМ ВР. Однако следует помнить, что в случае наноразмерного масштаба порядка 1 нм и менее размер кристаллитов совпадает с размером светлых областей на ТП изображении, соответствующих аморфному контрасту, что не позволяет однозначно интерпретировать результаты. Размер этих областей обычно составляет 0,5...1,5 нм и зависит от величины дефокусировки. Отметим, что в литературе нет однозначного ответа на вопрос, какой материал, исходя из экспериментально полученных результатов, действительно считать аморфным. Иногда для описания аморфного состояния вещества [c.490]

В работе [525] предпринята интересная попытка определения фактора Дебая—Валлера для частиц Au путем обмера интенсивности всех линий рентгенограммы при комнатной температуре. Исходя из выражения (354), авторы построили показанные на рис. 84 графики зависимости [c.197]

Рентгенограмма металлического порошка снята в рентгеновской камере Дебая—Шеррера на излучении молибдена Ка (Я = 0,7107 А). Для первых шести наблюдаемых линий дебаев-ские углы е оказались равными 7,35 7,82 8,33 10,7 12,8 и 13,9°. [c.10]

В некоторых структурах в зависимости от положения атомов в решетке и кристаллографического направления имеется значительное различие в действительных расстояниях между парами атомов по сравнению с минимально возможными расстояниями между ними. Для изучения этого необходим более сложный анализ, включаюш,ий определение всех средних межатомных расстояний. Хорошим примером может слуя ить структура цементита, представленная на фиг. 8. В элементарной ячейке этой структуры имеются различные расстояния между атомами железа и углерода. Для определения этих расстояний, помимо расчета рентгенограммы, снятой по методу Дебая — Шеррера, и определения периодов решетки, необходимо изучить такн е интенсивности линий на рентгенограмме. [c.165]

ЧТО может привести к ошибке при определении периода решетки. Поскольку нельзя предполагать, что опилки после отжига имеют тот же химический состав, что и исхедная отливка, то на этой стадии исследования их следует подвергнуть химическому анализу этот анализ будет характеризовать состав опилок, действительно выдержанных в камере под рентгеновскими лучами. Из небольшого количества опилок после их просеивания через тонкое проволочное сито для отделения более крупных частиц (во избежание получения несплошных дифракционных линий на рентгенограммах) готовят соответствующий образец для исследования рентгеновским методом. Затем по рентгенограммам, полученным в камере Дебая — Шеррера, определяют периоды решетки при съемке рентгенограмм используют излучение, даюш,ее дифракционные линии под большими брэгговскими углами, поскольку это обеспечивает максимальную точность измерений. [c.101]

На нормализованной медной проволоке провести прецизионное определение параметров кристаллической решетки. В камере Дебая-Шеррера с медным анодом (никелевый фильтр) снять рентгенограмму образца на асимметрично установленную фотопленку и произвести ее оценку, т. е. определить угол отражения, милле-ровские индексы и постоянную кристаллической решетки [22, с. 114—142 23, с. 221—235 24, с. 145—158]. [c.147]

Рентгенограммы образцов снимались по методу Дебая-Шер-рера в Ре/Сд-излученпи. Плотность препаратов измерялась пик-нометрпческпм методо.м. Температурные зависимости электросопротивления (р) цилиндрических образцов изучались стандартным потенциометрическим. методом в интервале температур от 80 до 400 К. Максимальная погрешность измерений р не превышала 3%. Магнитная восприимчивость (х) исследовалась хЛ1етодом Фарадея между 85 и 900 К в поле напряженностью [c.11]

Так, в работе [79] исследовалось действие осерненного нигрола с 2—3% серы в масле на стальные образцы путем рептге-нографирования но методу Дебая. На рентгенограммах были обнаружены линии, которые по положению и интенсивности соответствовали окислам Рез04 и РегОз. При нагревании образцов в осерненном нигроле до 300—750° С кроме окислов авторы наблюдали появление сульфида Ре5. Однако расшифровки рентгенограмм, содержащих линии РеЗ, авторы не приводят. Действие серусодержащих масел при трении они объясняют тем, что при достаточно высоких температурах на поверхности трения в результате распада пирита (прн 670°С) возникают соединения типа пиротинов, которые имеют дырчатую структуру. При этом вполне возможна диффузия кислорода через пленку. [c.86]

Рентгенограммы дают подобные разультаты, но так как ренг-геновы лучи обладают большей проникающей силой, чем электроны, диаграммы не могут дать такую же детальную картину структуры они более удобны в случаях сильного наклепа, вызванного шлифовкой или обработкой на станке. На шлифованных монокристаллах алюминия, меди и железа пятна Лауэ заменены кольцами Дебая — Шерера и не появляются вновь, пока не растворится значительный слой с поверхности металла 1149], то же происходит с поликристал-лическими образцами [150, 158]. На рис. 21 показана серия рентгенограмм, снятых во время анодной полировки образца сплава нимоник, который сначала был отшлифован тонким напильником, а затем на наждачной бумаге с пО Вышающейся тонкостью абразива. [c.65]

Полигонизацию можно обнаружить с помощью рентгенограмм в холоднодеформированном металле линии Дебая— Шеррера широкие из-за фрагментации и изгиба кристаллической решетки, а пятна Лауэ имеют заметный астеризм. Линии Дебая—Шеррера полигонизованного металла становятся несколько тоньше, а пятна астеризма разбиваются на более мелкие. [c.39]

Метод исследования поликристаллов (метод Дебая — Шеррера). Для исследования металлов, сплавов, крист, порошков, состоящих из множества мелких монокристаллов, используют монохроматич. излучение. Рентгенограмма поликристаллов дебаеграмма) представляет собой неск. концентрич. колец, [c.640]

Определение числа, размеров и разориентировки кристаллитов. Размеры кристаллитов поликрист, материалов существенно влияют на их механич. св-ва. Число N достаточно крупных ( 0,5—5 мкм) кристаллитов, участвующих в отражении рентг. лучей, определяется числом п точечных рефлексов, составляющих дебаевское кольцо рентгенограммы (см. Дебая — Шеррера метод) N = 2nla os 0, где а — пост, величина (параметр аппаратуры), 0 — брэгговский угол. Средний объём кристаллита — отношение объёма образца к N. [c.645]

Смотреть страницы где упоминается термин Рентгенограмма Дебая : [c.243] [c.169] [c.170] [c.170] [c.256] [c.165] [c.94] [c.314] [c.315] [c.466] [c.466] [c.53] [c.58] [c.168] [c.169] [c.572] [c.370] [c.377] [c.51] [c.348] [c.145]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...