Профилометр Принцип действия

Первичным источником информации о распределении рельефа поверхности в автоматизированной системе является профилометр, принцип действия которого основан на "ощупывании" неровностей исследуемой поверхности алмазной иглой датчика и преобразовании возникающих при этом механических колебаний в электрические сигналы. Изменение величины выходного аналогового сигнала профилометра пропорционально изменению высоты рельефа исследуемой поверхности. С помощью интерфейса ввода аналоговых сигналов осуществляются 10-разрядная оцифровка выходного сигнала профилометра и его запись в память персонального [c.30]

Для измерения микронеровностей в пределах от 4-г6 до 14-го классов чистоты поверхности применяют профилометр коН струкции В. М. Киселева, принцип действия которого заключается в возбуждении электродвижущей силы в результате колебательных движений ощупывающей иглы. [c.65]

Какие параметры используют для оценки шероховатости поверхности 2. Какими способами контролируют шероховатость с помощью образцов шероховатости 3. В чем заключается принцип действия профилографа-профилометра 201 4. Какой параметр шероховатости измеряют на микроскопах светового сечения 5. Как выглядит оптическая схема микроинтерферометра 6. Как определяют высоту микронеровностей [c.178]

Современный ощупывающий прибор — универсальный, высокочувствительный, электромеханический профило-граф-профилометр — предназначен для измерения волнистости и шероховатости металлических и неметаллических поверхностей. Принцип действия прибора заключается в том, что колебательные движения ощупывающей иглы с радиусом закругления 10 мкм вызывают из.менения напряжения, которые регистрируются отсчетным устройством. Прибор имеет записывающий механизм и может выдавать профилограмму поверхности. [c.165]

Определение чистоты обработки поверхности методом сравнения с эталоном не является достаточно точным, так как не дает возможности установить истинную величину неровностей. В настояш,ее время требуется точное определение чистоты обработанной поверхности деталей машин. Для этого применяют различные по конструкции и принципу действия приборы (двойной микроскоп Линника, профилометр Киселева и др.). [c.101]

Принцип действия профилометра основан на преобразовании колебания алмазной иглы малого радиуса при ощупывании исследуемой поверхности в изменении сопротивления катушки индуктивности. [c.128]

Подводя итог применению второго метода градуирования, можно отметить, что он является крайне несовершенным, обладает более низкой точностью, требует на градуирование значительного времени и является по существу относительным методом. В то же время этот метод позволяет производить градуирование профилометров вне. зависимости от принципа их действия и по любому критерию. До недавнего времени этот метод был единственным, применяемым для градуирования профилометров. [c.240]

Для более гладких поверхностей служат приборы типа МИИ, т. е. микроинтерферометры, действие которых основано на принципе интерференции света. Они пригодны для измерения шероховатости с О по 14-й класс. Для этой же цели могут быть использованы и выпущенные ранее приборы для определения чистоты обработки по ГОСТу 2789—51. К наиболее употребительным приборам могут быть отнесены профилометр ПЧ-3, позволяющий производить измерения от 5 до 12-го класса, двойной микроскоп МИС-11, дающий замеры классов от 3 до 9-й, и микроинтерферометр МИИ-4 для измерений классов с 10 по 14-й. Все они после небольшой реконструкции могут быть использованы для определений чистоты по ГОСТу 2789— 59. [c.23]

В цеховых условиях возникает потребность в оперативном определении параметров шероховатости поверхности, а не в загп1си про-филограмм. Для этих целей выпускают цеховые профилометры мод. 253 и 283, принцип действия которых основан на преобразовании колебаний иглы с помощью механотроиного преобразователя [c.202]

По принципу действия профилометры и профилографы представляют собой устройства, позволяющие преобразовать линейные перемещения иглы, т. е. механические перемещения, в электрические величины, с последующим обратным преобразованием последних в перемещения запиеывающего пера (профилографы) или стрелки показывающего прибора (про- [c.150]

К оптическим профилирующим приборам относится двойной микроскоп Линника, в основу принципа действия которого положен способ светового сечения. Интерференционные микроскопы, будучи точными средствами измерения, получили распространение при лабораторных исследованиях весьма чистых поверхностей, в то время как в производственных условиях предпочтение отдавалось щуповым приборам. Решающее значение имел в этом отношении профилометр, разработанный в 1933 г. американскими учеными Абботом, Файрстоном, Байским и Вильямсоном. Основной целью, которую ставили перед собой 6 [c.6]

Г. Соммаргреном в работе [70] описан новый оригинальный прибор — оптический гетеродинный профилометр. По принципу действия он является разновидностью интерферометра. Поверхность образца в оптическом гетеродинном профилометре освещается двумя сфокусированными пучками света, слегка различающимися по частоте и поляризованными во взаимно перпендикулярных плоскостях. Отразившись, эти пучки интерферируют так, что результирующая фаза модулируется в соответствии с разницей высот между освещенными точками поверхности. Если один из пучков сфокусирован на фиксированной точке, а другой движется по поверхности, то можно измерить высоты точек по линии сканирования второго пучка, т. е получить профиль поверхности. Деление светового потока на два пучка осуществляется призмой Волластона. В плоскости образца разделение пучков составляет 100 мкм. Исследуемый образец помещается на вращающийся столик и один из пучков совмещается с осью вращения столика, а второй сканируется по образцу при вращении. Небольшой сдвиг в частоте пучков происходит за счет расщепления основной моды Не—Не-лазера (расщепления Зеемана), трубка которого помещена в аксимальном магнитном поле. Описанный прибор позволяет получить чувствительность к высоте шероховатости до 0,1 нм, совмещая в себе преимущества интерферометра с пре- [c.233]

Из числа контактных наиболее распространены средства измерения, получившие название щуповых, принцип действия которых основан на ощупывании исследуемой поверхности иглой с весьма малым радиусом закругления. Щуповые приборы для измерения шероховатости делят на профилометры, непосредственно показывающие значения измеренных параметров, и профилографы, записывающие профиль микронеровностей поверхности. В табл. 6 и 7 приведены основные средства измерения и контроля п аметров шероховагости с краткими техническими характеристиками. [c.698]

Для измерения микронеровностей применяют также профилометр конструкции В. М. Киселева, принцип действия которого заключается в возбуждении электродвижущей силы в результате колебательных движений ощупывающей иглы. На рис. 18 приведена схема этого профилометра (модель КВ-7). Игла 1 с алмазным наконечником, радиус закругления которого 12 мкм, подвешена на пружинах 2. Нижний конец ее ощупывает неровности поверхности детали, а верхний связан с индукционной катушкой 8, которая перемещается в магнитном поле полюсов 4 VI 6 магнита 5. Возбуждаемые этим перемещением малые токи усиливаются и отмечаются гальванометром. Перемещение иглы по проверяемой поверхности осуществляется с помощью электропривода со скорЪстью 10...20 мм/с. Давление иглы на поверхность проверяемой детали в пределах 0,5...2,5 гс/мм . При подключении к профилометру осциллографа можно получить профилограмму исследуемой поверхности. [c.49]

Принцип действия профилометра заключается в следующем. При перемещении датчика по проверяемой поверхности игла, жёстко связа.чная с индуктивной катушкой, совершает колебания. При этом в обмотке последней возбуждается электродвижущая сила, величина которой зависит от скорости колебания иглы. [c.452]

В настояш,ее время промышленность выпускает профило-граф-профилометр модели 252 и профилометр модели 283. Про-филограф-профилометр предназначен для измерения шероховатости и волнистости наружных и внутренних поверхностей изделий из металла и неметаллических материалов, сечение которых в плоскости измерения представляет прямую линию. Для периодической проверки прибора применяются образцы шероховатости с регулярным профилем и одноштриховая контрольная мера. Принцип действия прибора модели 252 (рис. 25) основан на ощупывании исследуемой поверхности алмазной иглой с радиусом закругления 10 мкм и преобразовании колебаний иглы в соответствующие изменения напряжения. [c.565]

Для более точной оценки шероховатости поверхностей применяют профилометры, профилографы и интерференционные микроскопы (рис. 35). Профилометры предназначены для непосредственного показа среднего арифметического отклонения профиля поверхности На. Профилографы записывают профиль поверхности в виде профилограммы. На рис. 36, о показан про-филограф-профилометр, а на рис. 36, б — принцип действия этого щупового прибора. [c.23]

Рис. 3.38. Щуповой профилограф-профилометр и кругломер образаового вращения а — структурная схема профилографа-профилометра б — интегрирующий контур в—принцип действия кругломера

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...